CN215375658U - 一种全自动发光二极管老化测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及芯片设备检测领域，尤其是一种全自动发光二极管老化测试装置，包括主体，所述主体的内部设置有检测仓，所述检测仓的一侧内壁设置有光输出检测板，所述U型架的两端固定设置于T型块的外壁，两组所述夹持夹之间夹持有电性连接发光二极管的电路板，所述冷风仓和检测仓之间设置有圆形通孔，所述冷风仓的内部设置有若干铜管，所述铜管贯穿冷风仓并连接制冷片，通过U型架上的滑槽滑块和夹持夹固定不同规格的电路板，通过光输出检测板测试二极管老化程度，通过制冷片降低铜管温度，通过铜管降低风的温度，将冷风吹向检测仓，降低U型架和电路板的温度，从散热口排出热风，其结构简单实用性强适合推广。

Description

一种全自动发光二极管老化测试装置

技术领域

本实用新型涉及芯片设备检测领域，尤其涉及一种全自动发光二极管老化测试装置。

背景技术

发光二极管灯具有节能环保的优点，是芯片程序烧录产业中重要的一部分；发光二极管灯在制作完成后，往往会出现暗光、闪动、故障、间断亮等现象，使得发光二极管灯具不能像预期实用寿命那么长，影响发光二极管产品的质量，因此，厂家采用老化试验用来检测发光二极管的光衰、色温、电线等变化；现有技术中，大量的发光二极管灯在老化过程中发热产生的热量得不到有效散发，造成老化房内温度过高，严重影响老化测试，甚至引起安全事故。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决大量的发光二极管灯在老化过程中发热产生的热量得不到有效散发，造成老化房内温度过高等缺点，而提出的一种全自动发光二极管老化测试装置。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

设计一种全自动发光二极管老化测试装置，包括主体，所述主体的内部设置有检测仓，所述检测仓的一侧内壁设置有光输出检测板，所述检测仓的内壁设置有T型槽，所述T型槽的内部插设有T型块，所述检测仓内部设置有U型架，所述U型架的两端固定设置于T型块的外壁，所述U型架的外壁设置有四个滑槽，所述滑槽的内壁固定连接有弹簧，所述弹簧的另一端固定连接有滑块，所述滑块的外壁固定连接有夹持夹，两组所述夹持夹之间夹持有电性连接发光二极管的电路板，所述主体的内部设置有冷风仓，所述冷风仓和检测仓之间设置有圆形通孔，所述圆形通孔内部设置有风扇，所述冷风仓的内部设置有若干铜管，所述主体的内部设置有两个制冷仓，所述制冷仓的内部设置有若干制冷片，所述铜管贯穿冷风仓并连接制冷片，所述主体的上方设置有进风口，所述主体的外壁设置有散热口。

优选的，所述主体的外壁设置有液冷装置，所述液冷装置的输液管贯穿主体并与制冷仓的下端连接，所述制冷仓的上端设置有回液管，所述回液管贯穿主体并连接液冷装置。

优选的，所述主体的内部设置有温控开关，所述温控开关与液冷装置电性连接。

优选的，所述U型架的上端设置有把手。

本实用新型提出的一种全自动发光二极管老化测试装置，其有益效果在于：通过U型架上的滑槽滑块和夹持夹固定不同规格的电路板，通过光输出检测板测试二极管老化程度，通过制冷片降低铜管温度，通过液冷装置降低制冷片的温度，通过风扇从进风口吸风，通过铜管降低风的温度，将冷风吹向检测仓，降低U型架和电路板的温度，从散热口排出热风，其结构简单实用性强适合推广。

附图说明

图1为本实用新型提出的一种全自动发光二极管老化测试装置立体结构示意图；

图2为本实用新型提出的一种全自动发光二极管老化测试装置检测仓示意图；

图3为本实用新型提出的一种全自动发光二极管老化测试装置爆炸图；

图4为本实用新型提出的一种全自动发光二极管老化测试装置风扇结构示意图。

图中：1、主体；2、检测仓；3、检测板；4、T型槽；5、T型块；6、U型架；7、滑槽；8、弹簧；9、把手；10、滑块；11、夹持夹；12、冷风仓；13、圆形通孔；14、风扇；15、铜管；16、制冷仓；17、制冷片；18、进风口；19、散热口；20、液冷装置；21、输液管；22、回液管；23、温控开关。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。

参考图1-4，一种全自动发光二极管老化测试装置，包括主体1，主体1的内部设置有检测仓2，检测仓2的一侧内壁设置有光输出检测板3，检测仓2的内壁设置有T型槽4，T型槽4的内部插设有T型块5，检测仓2内部设置有U型架6，U型架6的两端固定设置于T型块5的外壁，U型架6的外壁设置有四个滑槽7，滑槽7的内壁固定连接有弹簧8，弹簧8的另一端固定连接有滑块10，滑块10的外壁固定连接有夹持夹11，两组夹持夹11之间夹持有电性连接发光二极管的电路板，主体1的内部设置有冷风仓12，冷风仓12和检测仓2之间设置有圆形通孔13，圆形通孔13内部设置有风扇14，冷风仓12的内部设置有若干铜管15，主体1的内部设置有两个制冷仓16，制冷仓16的内部设置有若干制冷片17，铜管15贯穿冷风仓12并连接制冷片17，主体1的上方设置有进风口18，主体1的外壁设置有散热口19，主体1的外壁设置有液冷装置20，液冷装置20的输液管21贯穿主体1并与制冷仓16的下端连接，制冷仓16的上端设置有回液管22，回液管22贯穿主体1并连接液冷装置20，主体1的内部设置有温控开关23，温控开关23与液冷装置20电性连接，U型架6的上端设置有把手9。

本实用新型,使用时通过U型架6上的滑槽7滑块10和夹持夹11固定不同规格的电路板，通过光输出检测板3测试二极管老化程度，通过制冷片17降低铜管15温度，通过液冷装置20降低制冷片17的温度，通过风扇14从进风口18吸风，通过铜管15降低吸进风的温度，将冷风吹向检测仓2，降低U型架6和电路板的温度，从散热口19排出热风，其结构简单实用性强适合推广。

以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

Claims (4)

1.一种全自动发光二极管老化测试装置，包括主体(1)，其特征在于，所述主体(1)的内部设置有检测仓(2)，所述检测仓(2)的一侧内壁设置有光输出检测板(3)，所述检测仓(2)的内壁设置有T型槽(4)，所述T型槽(4)的内部插设有T型块(5)，所述检测仓(2)内部设置有U型架(6)，所述U型架(6)的两端固定设置于T型块(5)的外壁，所述U型架(6)的外壁设置有四个滑槽(7)，所述滑槽(7)的内壁固定连接有弹簧(8)，所述弹簧(8)的另一端固定连接有滑块(10)，所述滑块(10)的外壁固定连接有夹持夹(11)，两组所述夹持夹(11)之间夹持有电性连接发光二极管的电路板，所述主体(1)的内部设置有冷风仓(12)，所述冷风仓(12)和检测仓(2)之间设置有圆形通孔(13)，所述圆形通孔(13)内部设置有风扇(14)，所述冷风仓(12)的内部设置有若干铜管(15)，所述主体(1)的内部设置有两个制冷仓(16)，所述制冷仓(16)的内部设置有若干制冷片(17)，所述铜管(15)贯穿冷风仓(12)并连接制冷片(17)，所述主体(1)的上方设置有进风口(18)，所述主体(1)的外壁设置有散热口(19)。

2.根据权利要求书1所述的一种全自动发光二极管老化测试装置，其特征在于，所述主体(1)的外壁设置有液冷装置(20)，所述液冷装置(20)的输液管(21)贯穿主体(1)并与制冷仓(16)的下端连接，所述制冷仓(16)的上端设置有回液管(22)，所述回液管(22)贯穿主体(1)并连接液冷装置(20)。

3.根据权利要求书1所述的一种全自动发光二极管老化测试装置，其特征在于，所述主体(1)的内部设置有温控开关(23)，所述温控开关(23)与液冷装置(20)电性连接。

4.根据权利要求书1所述的一种全自动发光二极管老化测试装置，其特征在于，所述U型架(6)的上端设置有把手(9)。

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