CN215311500U - 一种过滤膜基材过滤功能检测装置 - Google Patents

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Abstract

本实用新型公开一种过滤膜基材过滤功能检测装置,包括底座、底板、第一收集箱、第二收集箱、出料密封门、筛桶、密封盖、进料密封门、第一限位块、第一限位孔、底座板体、第二限位块、第三限位块、第一连接块、电缸、第二连接块、推动杆、第一限位柱、板体、第一T形导轨、第二T形导轨、第二限位柱、电机、滑槽、第一支撑板、第二支撑板、第一圆槽、第二圆槽、第三T形导轨和观察窗。本实用新型采用电机和电缸驱动,自动化程度高,可实现对膜基材进行大批量的检测,从而提高检测结果的可靠性,解决了传统技术中通常由人工进行抽样检测,人工成本高,且无法对膜基材进行大量检测,使抽样检测结构不具有可靠性的问题。

Description

一种过滤膜基材过滤功能检测装置
技术领域
本实用新型属于过滤功能检测技术领域,具体涉及一种过滤膜基材过滤功能检测装置。
背景技术
膜基材是一种聚合物,又可称为高分子或者巨分子,可作为塑料的生产原料,其实它是合成树脂中的一种,形状与天然树脂中的松树脂相似,按照合成树脂的分子结构主要有热塑性和热固性之分,热塑性是指反复加热后仍有可塑性,热固性是指加热后会硬化的性质。膜基材通常呈颗粒状,工厂产出的膜基材通常会掺有残次品,所以要进行过滤筛选,过滤后也仍掺有部分残次品,因此需要对过滤后的膜基材进行检测从而对过滤设备的过滤功能进行评估,传统技术通常由人工进行抽样检测,人工成本高,且无法对膜基材进行大量检测,使抽样检测结构不具有可靠性,针对这一情况现设计一种过滤膜基材过滤功能检测装置。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种过滤膜基材过滤功能检测装置,解决了传统技术中通常由人工进行抽样检测,人工成本高,且无法对膜基材进行大量检测,使抽样检测结构不具有可靠性的问题。
本实用新型的目的可以通过以下技术方案实现:
一种过滤膜基材过滤功能检测装置,包括底座,所述底座上转动设有底板,底板上滑动设有第一收集箱、第二收集箱和出料密封门,底板上转动设有筛桶,筛桶上设有密封盖,密封盖的一端设有滑动连接的进料密封门。
所述底板包括第一支撑板和第二支撑板,第一支撑板上设有第一圆槽,第二支撑板上设有第二圆槽,第二支撑板的一端固定设有第三T形导轨;所述筛桶包括桶体,桶体上固定设有第一限位环和第二限位环,桶体上设有阵列分布的筛孔,桶体的一端固定设有转轴;所述密封盖包括盖体,盖体上设有第三圆槽和第四圆槽,盖体的一端固定设有第四T形导轨,第三圆槽与第一限位环配合,第四圆槽与第二限位环配合,桶体与盖体转动连接。
进一步的,所述底座包括底座板体,底座板体上对称设有第一限位块,第一限位块上设有第一限位孔,底座板体的一端固定设有第二限位块和第三限位块,第二限位块上转动设有第一连接块,第一连接块上固定设有电缸,电缸的输出轴与第二连接块固定连接,第三限位块上转动设有推动杆,推动杆的一端固定设有第一限位柱。
进一步的,所述底板包括板体,板体上固定设有支撑杆、第一T形导轨、第二T形导轨和对称分布的第二限位柱,支撑杆的一端固定设有电机,板体的一端设有滑槽,所述第一支撑板与第二支撑板之间对称设有固定连接的观察窗。
进一步的,所述进料密封门包括第一密封板,第一密封板上设有第一T形槽,第一密封板的一端设有第四限位块,所述出料密封门包括第二密封板,第二密封板上设有第二T形槽,第二密封板的一端固定设有第五限位块。
进一步的,所述第一收集箱包括第一收集箱体,第一收集箱体上设有第三T形槽,第三T形槽与第二T形导轨滑动配合,第一收集箱体与板体滑动连接。
进一步的,所述第二收集箱包括第二收集箱体,第二收集箱体上设有第四T形槽,第四T形槽与第一T形导轨滑动配合,第二收集箱体与板体滑动连接。
本实用新型的有益效果:
1、本实用新型提出的过滤膜基材过滤功能检测装置,结构简单,采用电机和电缸驱动,自动化程度高,节约人力成本;
2、本实用新型提出的过滤膜基材过滤功能检测装置,功能实用,可实现对膜基材进行大批量的检测,从而提高检测结果的可靠性。
附图说明
下面结合附图对本实用新型作进一步的说明。
图1是本实用新型实施例的整体结构示意图;
图2是本实用新型实施例的底座结构示意图;
图3是图2的A处结构放大示意图;
图4是本实用新型实施例的底板结构示意图;
图5是本实用新型实施例的筛桶结构示意图;
图6是本实用新型实施例的密封盖结构示意图;
图7是本实用新型实施例的进料密封门结构示意图;
图8是本实用新型实施例的出料密封门结构示意图;
图9是本实用新型实施例的第一收集箱结构示意图;
图10是本实用新型实施例的第二收集箱结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本实用新型保护的范围。
在本实用新型的描述中,需要理解的是,术语“开孔”、“上”、“下”、“厚度”、“顶”、“中”、“长度”、“内”、“四周”等指示方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的组件或元件必须具有特定的方位,以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。
如图1所示,一种过滤膜基材过滤功能检测装置,包括底座1,所述底座1上设有转动连接的底板2,底板2上滑动设有第一收集箱7、第二收集箱8和出料密封门6,底板2上转动设有筛桶3,筛桶3上设有密封盖4,所述密封盖4与筛桶3转动连接,密封盖4的一端设有滑动连接的进料密封门5。
如图2、图3所示,所述底座1包括底座板体11,底座板体11上对称固定设有第一限位块12,第一限位块12上设有第一限位孔13,底座板体11的一端固定设有第二限位块14和第三限位块15,第二限位块14上转动设有第一连接块16,第一连接块16上固定设有电缸17,电缸17的输出轴与第二连接块18固定连接,第三限位块15上转动设有推动杆19,推动杆19的一端固定设有第一限位柱110,第二连接块18与推动杆19转动连接。
如图4所示,所述底板2包括板体21,板体21上固定设有支撑杆22、第一T形导轨24、第二T形导轨25和对称分布的第二限位柱23,支撑杆22的一端固定设有电机213,板体21的一端设有滑槽26,板体21上固定设有第一支撑板27和第二支撑板28,第一支撑板27上设有第一圆槽29,第二支撑板28上设有第二圆槽210,第二支撑板28的一端固定设有第三T形导轨211,所述第一支撑板27与第二支撑板28之间对称设有固定连接的观察窗212,所述第二限位柱23与第一限位孔13配合,板体21与底座板体11转动连接,所述第一限位柱110置于滑槽26内,当电缸17伸缩带动推动杆19转动时,第一限位柱110在滑槽26内滑动,使板体21转动。
如图5所示,所述筛桶3包括桶体31,桶体31上固定设有第一限位环32和第二限位环33,桶体31上设有阵列分布的筛孔34,桶体31的一端固定设有转轴35,所述第一限位环32置于第一圆槽29内,第二限位环33置于第二圆槽210内,桶体31与第一支撑板27和第二支撑板28转动连接,所述转轴35与支撑杆22转动连接,电机213的输出轴穿过支撑杆22并与转轴35固定连接。
如图6所示,所述密封盖4包括盖体41,盖体41上设有第三圆槽42和第四圆槽43,盖体41的一端固定设有第四T形导轨44,第三圆槽42与第一限位环32配合,第四圆槽43与第二限位环32配合,桶体31与盖体41转动连接,盖体41的下端与第一支撑板27、第二支撑板28以及观察窗212的上端贴合。
如图7、图8所示,所述进料密封门5包括第一密封板51,第一密封板51上设有第一T形槽52,第一T形槽52贯穿第一密封板51,第一密封板51的一端对称固定设有第四限位块53,所述出料密封门6包括第二密封板61,第二密封板61上设有第二T形槽62,第二密封板61的一端固定设有第五限位块63,第一T形槽52与第四T形导轨44滑动配合,第一密封板51与盖体41滑动连接,第二T形槽62与第三T形导轨211滑动配合,第二密封板61与第二支撑板28滑动连接,当第五限位块63通过螺栓螺纹配合与第二支撑板28固定连接,第四限位块53与盖体41贴合时,进料密封门5与出料密封门6贴合对筛桶3的一端进行密封。
如图9、图10所示,所述第一收集箱7包括第一收集箱体71,第一收集箱体71上设有第三T形槽72,所述第二收集箱8包括第二收集箱体81,第二收集箱体81上设有第四T形槽82,第三T形槽72与第二T形导轨25滑动配合,第一收集箱体71与板体21滑动连接,第四T形槽82与第一T形导轨24滑动配合,第二收集箱体81与板体21滑动连接。
使用时,打开进料密封门5,将膜基材导入筛桶3内,关闭进料密封门5,启动电机213,开始过滤筛选,合格品被筛选至第一收集箱7内,过滤筛选结束后,关闭电机213,启动电缸17,底板2向上转动,打开出料密封门6,不合格品进入到第二收集箱8中,通过对比第一收集箱7和第二收集箱8内的膜基材多少实现对过滤功能的检测,检测结束。
在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“示例”、“具体示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解,本实用新型不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理,在不脱离本实用新型精神和范围的前提下,本实用新型还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。

Claims (6)

1.一种过滤膜基材过滤功能检测装置,包括底座(1),其特征在于,所述底座(1)上转动设有底板(2),底板(2)上滑动设有第一收集箱(7)、第二收集箱(8)和出料密封门(6),底板(2)上转动设有筛桶(3),筛桶(3)上设有密封盖(4),密封盖(4)的一端设有滑动连接的进料密封门(5);
所述底板(2)包括第一支撑板(27)和第二支撑板(28),第一支撑板(27)上设有第一圆槽(29),第二支撑板(28)上设有第二圆槽(210),第二支撑板(28)的一端固定设有第三T形导轨(211);所述筛桶(3)包括桶体(31),桶体(31)上固定设有第一限位环(32)和第二限位环(33),桶体(31)上设有阵列分布的筛孔(34),桶体(31)的一端固定设有转轴(35);所述密封盖(4)包括盖体(41),盖体(41)上设有第三圆槽(42)和第四圆槽(43),盖体(41)的一端固定设有第四T形导轨(44),第三圆槽(42)与第一限位环(32)配合,第四圆槽(43)与第二限位环(33)配合,桶体(31)与盖体(41)转动连接。
2.根据权利要求1所述的一种过滤膜基材过滤功能检测装置,其特征在于,所述底座(1)包括底座板体(11),底座板体(11)上对称设有第一限位块(12),第一限位块(12)上设有第一限位孔(13),底座板体(11)的一端固定设有第二限位块(14)和第三限位块(15),第二限位块(14)上转动设有第一连接块(16),第一连接块(16)上固定设有电缸(17),电缸(17)的输出轴与第二连接块(18)固定连接,第三限位块(15)上转动设有推动杆(19),推动杆(19)的一端固定设有第一限位柱(110)。
3.根据权利要求1所述的一种过滤膜基材过滤功能检测装置,其特征在于,所述底板(2)包括板体(21),板体(21)上固定设有支撑杆(22)、第一T 形导轨(24)、第二T形导轨(25)和对称分布的第二限位柱(23),支撑杆(22)的一端固定设有电机(213),板体(21)的一端设有滑槽(26),所述第一支撑板(27)与第二支撑板(28)之间对称设有固定连接的观察窗(212)。
4.根据权利要求1所述的一种过滤膜基材过滤功能检测装置,其特征在于,所述进料密封门(5)包括第一密封板(51),第一密封板(51)上设有第一T形槽(52),第一密封板(51)的一端设有第四限位块(53),所述出料密封门(6)包括第二密封板(61),第二密封板(61)上设有第二T形槽(62),第二密封板(61)的一端固定设有第五限位块(63)。
5.根据权利要求3所述的一种过滤膜基材过滤功能检测装置,其特征在于,所述第一收集箱(7)包括第一收集箱体(71),第一收集箱体(71)上设有第三T形槽(72),第三T形槽(72)与第二T形导轨(25)滑动配合,第一收集箱体(71)与板体(21)滑动连接。
6.根据权利要求3所述的一种过滤膜基材过滤功能检测装置,其特征在于,所述第二收集箱(8)包括第二收集箱体(81),第二收集箱体(81)上设有第四T形槽(82),第四T形槽(82)与第一T形导轨(24)滑动配合,第二收集箱体(81)与板体(21)滑动连接。
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