CN215179814U - 一种具有滤波和防散射的结构及双能ct探测器 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及探测器技术领域，尤其涉及一种具有滤波和防散射的结构及双能CT探测器，具有滤波和防散射的结构包括支撑座；探测器板设置在所述支撑座上；多排所述高能晶体和多排所述低能晶体平行间隔设置在所述探测器板上，且所述高能晶体与所述低能晶体间隔排布；支撑板，所述支撑板设置在所述支撑座上，所述支撑板的下端面上设置有多排第一凹槽，所述第一凹槽与所述高能晶体一一对应设置，所述高能晶体位于所述第一凹槽中；滤波片，设置在所述第一凹槽的槽底面上，且与所述高能晶体的上端面贴合；第一防散射片，设置在所述第一凹槽的侧壁面上。本实用新型能够防止散射线照射到高能晶体上，消除对高能晶体的影响，同时降低成本。

Description

一种具有滤波和防散射的结构及双能CT探测器

技术领域

本实用新型涉及探测器技术领域，尤其涉及一种具有滤波和防散射的结构及双能CT探测器。

背景技术

目前单能CT(Computed Tomography电子计算机断层扫描)只对物质形状进行成像，无法实现物质成分的识别。双能CT可以通过两组不同的能量实现对物质原子序数及电子密度的分析，进而判断物质的成分。

目前实现双能CT的手段主要有3种，一种是通过不断控制射线源发射的不同能量的X射线；第二种是用两个不同的射线源分别发射不同能量的X射线；另外一种是在探测器上同时分布具有不同能量响应的高能晶体和低能晶体，高能晶体前放置滤波片，滤波片滤掉低能射线，留下高能射线。

但是目前这3种方式都有各自的缺点：不断控制射线源发射不同能量的X射线的方式对射线源寿命影响较大，相应技术要求较高；用两组射线源和探测器的方式成本较高；探测器上同时布置高能和低能晶体的方式实现结构虽然简单，但是对高能晶体进行有效滤波是设计的一个难点。

针对第三种方式的一种实现形式是：高能晶体和低能晶体均在电路板一侧，在高能晶体的上方对应的准直器上放置滤波片，但是由于准直器与探测器晶体间有缝隙，滤波片只能对正上方过来的射线滤波，从侧面过来的散射线依然会照射到高能晶体上，并影响其信号，虽然通过使用二维准直器可以消除侧面过来的射线，但是二维准直器造价较高，严重影响产品的成本。

因此，需要一种具有滤波和防散射的结构及双能CT探测器来解决上述技术问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种具有滤波和防散射的结构及双能CT探测器，能够防止散射线照射到高能晶体上，消除对高能晶体的影响，同时降低成本。

为达此目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种具有滤波和防散射的结构，包括：

支撑座；

探测器板，所述探测器板设置在所述支撑座上；

多排高能晶体和多排低能晶体，多排所述高能晶体和多排所述低能晶体平行间隔设置在所述探测器板上，且所述高能晶体与所述低能晶体间隔排布；

支撑板，所述支撑板设置在所述支撑座上，所述支撑板的下端面上设置有多排第一凹槽，所述第一凹槽与所述高能晶体一一对应设置，所述高能晶体位于所述第一凹槽中；

滤波片，设置在所述第一凹槽的槽底面上，且与所述高能晶体的上端面贴合；

第一防散射片，设置在所述第一凹槽的侧壁面上。

进一步地，所述支撑板的下端面设置有与所述第一凹槽平行间隔设置的第二凹槽，所述第二凹槽与所述低能晶体一一对应设置，所述低能晶体位于所述第二凹槽中。

进一步地，于所述第二凹槽的侧壁上设置有第二防散射片。

进一步地，还包括一维准直器，所述一维准直器设置在所述支撑座上，所述支撑板和所述探测器板均位于所述一维准直器与所述支撑座之间。

进一步地，所述支撑座上开设有第一定位槽，所述探测器板位于所述第一定位槽中。

进一步地，所述支撑座上开设有与所述第一定位槽相连通的第二定位槽，所述第二定位槽位于所述第一定位槽下方，所述第二定位槽中设置有防散射板，所述防散射板与所述探测器板平行间隔设置。

进一步地，所述探测器板的上端面设置有第一定位凸起，所述一维准直器上设置有第二定位凸起，所述支撑板夹设在所述第一定位凸起与所述第二定位凸起之间。

进一步地，所述支撑座背离所述探测器板的一侧设置有支撑凸起。

进一步地，所述支撑凸起于所述支撑座上间隔设置多个。

一种双能CT探测器，包括如上所述的一种具有滤波和防散射的结构。

本实用新型的有益效果：

本实用新型所提供的一种具有滤波和防散射的结构，在支撑座上设置有探测器板，在探测器板的上端面设置有多排高能晶体和低能晶体，支撑板罩设在高能晶体上，在支撑板的第一凹槽中设置有与高能晶体贴合的滤波片和第一防散射片，不需要二维准直器，就可以实现高能晶体收到的射线全部是经过滤波片的高能信号，而且高能晶体的侧面有第一防散射片，能够防止散射线照射到高能晶体的侧面，从而能够防止散射线照射到高能晶体上，消除对高能晶体的影响，同时降低成本。

本实用新型所提供的双能CT探测器，包括如上所述的具有滤波和防散射的结构，能够防止散射线照射到高能晶体的侧面，从而能够防止散射线照射到高能晶体上，消除对高能晶体的影响，同时降低成本。

附图说明

图1是本实用新型一种具有滤波和防散射的结构的示意图；

图2是本实用新型一种具有滤波和防散射的结构的主视图；

图3是图2中A处的局部放大图。

图中：

1、支撑座；11、支撑凸起；2、探测器板；21、高能晶体；22、低能晶体；23、第一定位凸起；3、支撑板；31、第一凹槽；311、滤波片；312、第一防散射片；32、第二凹槽；321、第二防散射片；4、一维准直器；41、第二定位凸起；5、防散射板。

具体实施方式

下面结合附图和实施方式进一步说明本实用新型的技术方案。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本实用新型，而非对本实用新型的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本实用新型相关的部分而非全部。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

为了能够防止散射线照射到高能晶体的侧面，从而能够防止散射线照射到高能晶体上，消除对高能晶体的影响，同时降低成本。如图1-图3所示，本实用新型提供一种具有滤波和防散射的结构。本具有滤波和防散射的结构包括：支撑座1、探测器板2、多排高能晶体21、多排低能晶体22、支撑板3、滤波片311和第一防散射片312。

其中，探测器板2设置在支撑座1上；多排高能晶体21和多排低能晶体22平行间隔设置在探测器板2上，且高能晶体21与低能晶体22间隔排布；支撑板3设置在支撑座1上，支撑板3的下端面上设置有多排第一凹槽31，第一凹槽31与高能晶体21一一对应设置，高能晶体21位于第一凹槽31中；滤波片311设置在第一凹槽31的槽底面上，且与高能晶体21的上端面贴合；第一防散射片312设置在第一凹槽31的侧壁面上。

在支撑板3的第一凹槽31中设置有与高能晶体21贴合的滤波片311和第一防散射片312，不需要二维准直器，就可以实现高能晶体21收到的射线全部是经过滤波片311的高能信号，而且高能晶体21的侧面有第一防散射片312，能够防止散射线照射到高能晶体21的侧面，从而能够防止散射线照射高能晶体21上，消除对高能晶体21的影响，同时降低成本。

具体地，支撑板3采用低密度的碳纤维或聚酯等材料，X射线穿过时衰减很小，对探测器数据收集影响很小。第一防散射片312由钨、铅材料也可以是铜、铝等滤波材料制成。

进一步地，支撑板3的下端面设置有与第一凹槽31平行间隔设置的第二凹槽32，第二凹槽32与低能晶体22一一对应设置，低能晶体22位于第二凹槽32中。具体地，在支撑板3的下端面上平行间隔凸设有多根楞，相邻的楞之间形成第一凹槽31和第二凹槽32。通过设置第一凹槽31和第二凹槽32便于对高能晶体21和低能晶体22进行定位，通过设置第一凹槽31便于滤波片311和第一防散射片312的安装。

进一步地，于第二凹槽32的侧壁上设置有第二防散射片321。通过设置第二防散射片321防止散射线对低能晶体22的侧面照射，从而影响到低能晶体22的性能。

进一步地，还包括一维准直器4，一维准直器4设置在支撑座1上，支撑板3和探测器板2均位于一维准直器4与支撑座1之间。通过设置一维准直器4使得样品发出的照射到高能晶体21和低能晶体22上的射线变为平行光束。

进一步地，支撑座1上开设有第一定位槽，探测器板2位于第一定位槽中。通过开设第一定位槽，便于在支撑座1上安装探测器板2，同时对探测器板2进行定位。

进一步地，支撑座1上开设有与第一定位槽相连通的第二定位槽，第二定位槽位于第一定位槽下方，第二定位槽中设置有防散射板5，防散射板5与探测器板2平行间隔设置。具体地，在本实施例中，仿散射板为铅板，在其他实施例中也可以采用钨或者其他防散射材料制成，在此不做限制。通过设置防散射板5，能够对防止高能晶体21和低能晶体22下方的散射线通过下方照射到高能晶体21和低能晶体22上，对高能晶体21和低能晶体22造成影响。

进一步地，探测器板2的上端面设置有第一定位凸起23，一维准直器4上设置有第二定位凸起41，支撑板3夹设在第一定位凸起23与第二定位凸起41之间。通过设置第一定位凸起23和第二定位凸起41，便于夹设支撑板3，从而保证支撑板3安装稳定牢靠。

进一步地，支撑座1背离探测器板2的一侧设置有支撑凸起11。在本实施例中，支撑凸起11于支撑座1上间隔设置多个。通过设置有多个支撑凸起11保证支撑座1的稳定性。

本实施例还提供了一种双能CT探测器，包括如上的一种具有滤波和防散射的结构，能够防止散射线照射到高能晶体21的侧面，从而能够防止散射线照射高能晶体21上，消除对高能晶体21的影响，同时降低成本。

显然，本实用新型的上述实施例仅仅是为了清楚说明本实用新型所作的举例，而并非是对本实用新型的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型权利要求的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种具有滤波和防散射的结构，其特征在于，包括：

支撑座(1)；

探测器板(2)，所述探测器板(2)设置在所述支撑座(1)上；

多排高能晶体(21)和多排低能晶体(22)，多排所述高能晶体(21)和多排所述低能晶体(22)平行间隔设置在所述探测器板(2)上，且所述高能晶体(21)与所述低能晶体(22)间隔排布；

支撑板(3)，所述支撑板(3)设置在所述支撑座(1)上，所述支撑板(3)的下端面上设置有多排第一凹槽(31)，所述第一凹槽(31)与所述高能晶体(21)一一对应设置，所述高能晶体(21)位于所述第一凹槽(31)中；

滤波片(311)，设置在所述第一凹槽(31)的槽底面上，且与所述高能晶体(21)的上端面贴合；

第一防散射片(312)，设置在所述第一凹槽(31)的侧壁面上。

2.根据权利要求1所述的一种具有滤波和防散射的结构，其特征在于，所述支撑板(3)的下端面设置有与所述第一凹槽(31)平行间隔设置的第二凹槽(32)，所述第二凹槽(32)与所述低能晶体(22)一一对应设置，所述低能晶体(22)位于所述第二凹槽(32)中。

3.根据权利要求2所述的一种具有滤波和防散射的结构，其特征在于，于所述第二凹槽(32)的侧壁上设置有第二防散射片(321)。

4.根据权利要求1所述的一种具有滤波和防散射的结构，其特征在于，还包括一维准直器(4)，所述一维准直器(4)设置在所述支撑座(1)上，所述支撑板(3)和所述探测器板(2)均位于所述一维准直器(4)与所述支撑座(1)之间。

5.根据权利要求1所述的一种具有滤波和防散射的结构，其特征在于，所述支撑座(1)上开设有第一定位槽，所述探测器板(2)位于所述第一定位槽中。

6.根据权利要求5所述的一种具有滤波和防散射的结构，其特征在于，所述支撑座(1)上开设有与所述第一定位槽相连通的第二定位槽，所述第二定位槽位于所述第一定位槽下方，所述第二定位槽中设置有防散射板(5)，所述防散射板(5)与所述探测器板(2)平行间隔设置。

7.根据权利要求4所述的一种具有滤波和防散射的结构，其特征在于，所述探测器板(2)的上端面设置有第一定位凸起(23)，所述一维准直器(4)上设置有第二定位凸起(41)，所述支撑板(3)夹设在所述第一定位凸起(23)与所述第二定位凸起(41)之间。

8.根据权利要求1所述的一种具有滤波和防散射的结构，其特征在于，所述支撑座(1)背离所述探测器板(2)的一侧设置有支撑凸起(11)。

9.根据权利要求8所述的一种具有滤波和防散射的结构，其特征在于，所述支撑凸起(11)于所述支撑座(1)上间隔设置多个。

10.一种双能CT探测器，其特征在于，包括如权利要求1-9任一项所述的一种具有滤波和防散射的结构。

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