CN215116568U - 变频器性能测试通用变阻系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种变频器性能测试通用变阻系统，所述系统包括：外壳，设置于所述外壳内的3组线绕可调电阻、三个电抗器、第一预设数量的风扇；每组线绕可调电阻分别与一个电抗器的一端连接，所述三个电抗器的另一端互相连接；每组线绕可调电阻由第二预设数量的线绕可调电阻电性连接而成，所述线绕可调电阻每间隔预设大小的阻值引出一个导电可调环，每个导电可调环与单级大电流插头连接，所述单级大电流插头都设置于同一侧；所述风扇用于送风至所述线绕可调电阻，以使所述线绕可调电阻散热。本实用新型的一种变频器性能测试通用变阻系统，用于满足不同型号的变频器进行温升及性能测试的需求。

Description

变频器性能测试通用变阻系统

技术领域

本实用新型涉及变频器技术领域，特别是涉及一种变频器性能测试通用变阻系统。

背景技术

在变频器开发设计过程中，需要进行温升及性能测试，用于验证元器件在最严苛条件下的发热情况及变频器能达到的最大能力。因此，在温升测试中需要保证变频器一直处于最大负载条件，并且保持输入电压，输入电流和输出电流稳定。

目前变频器温升测试有2种常见负载：一种是压缩机负载；另一种是RL Load阻感性负载。压缩机负载需要配合空调系统使用，且不同变频器对应的压缩机型号不同，空调系统组建过程耗时较长。另外，空调系统受到环境温度及系统压力的影响，无法长时间维持在同一个状态。因此，压缩机负载不适宜进行温升测试。RL Load负载是由RX20-T线绕可调电阻和电抗器搭配，用来代替压缩机负载，可以用来检验变频器的发热情况。在温升测试过程中，RL Load阻值保持不变，从而保证输出电流在整个温升测试过程中不变。输入电流受到前端程控电源调节，也可以保持测试过程中的稳定。

目前不同变频器会搭建单独配套的RL Load负载，用于温升和性能测试。此种方式，成本较高，且在搭建RL Load负载过程耗费大量人力成本和时间成本。

因此，希望能够解决如何使用同一电阻系统满足不同变频器性能测试需求的问题。

实用新型内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本实用新型的目的在于提供一种变频器性能测试通用变阻系统，用于解决现有技术中如何使用同一电阻系统满足不同变频器性能测试需求的问题。

为实现上述目的及其他相关目的，本实用新型提供一种变频器性能测试通用变阻系统，外壳，设置于所述外壳内的3组线绕可调电阻、三个电抗器、第一预设数量的风扇；每组线绕可调电阻分别与一个电抗器的一端连接，所述三个电抗器的另一端互相连接；每组线绕可调电阻由第二预设数量的线绕可调电阻电性连接而成，所述线绕可调电阻每间隔预设大小的阻值引出一个导电可调环，每个导电可调环与单级大电流插头连接，所述单级大电流插头都设置于同一侧；所述风扇用于送风至所述线绕可调电阻，以使所述线绕可调电阻散热。

于本实用新型的一实施例中，还包括：外接端子排对接单级大电流接头和外接端子排。

于本实用新型的一实施例中，所述第二预设数量为大于等于1的自然数。

于本实用新型的一实施例中，所述壳体底部设有万向轮。

于本实用新型的一实施例中，所述线绕可调电阻上设有温度检测装置，所述壳体侧面设有温度显示装置，所述温度检测装置用于实时传输线绕可调电阻的温度至所述温度显示装置，所述温度显示装置用于显示温度检测装置测得的线绕可调电阻的温度。

于本实用新型的一实施例中，所述外壳靠近单级大电流插头的一侧可以打开。

于本实用新型的一实施例中，所述线绕可调电阻的阻值为大于等于1欧姆。

于本实用新型的一实施例中，所述预设大小的阻值为大于等于0.1欧姆。

如上所述，本实用新型的一种变频器性能测试通用变阻系统，具有以下有益效果：用于满足不同型号的变频器进行温升及性能测试的需求。

附图说明

图1a显示为本实用新型的变频器性能测试通用变阻系统于一实施例中的正视图图；

图1b显示为本实用新型的变频器性能测试通用变阻系统于一实施例中的俯视图；

图1c显示为本实用新型的变频器性能测试通用变阻系统于一实施例中的侧视图；

图1d显示为本实用新型的变频器性能测试通用变阻系统于一实施例中的爆炸图；

图1e显示为本实用新型的变频器性能测试通用变阻系统于一实施例中的连接示意图；

图1f显示为本实用新型的变频器性能测试通用变阻系统于又一实施例中的连接示意图；

图1g显示为本实用新型的变频器性能测试通用变阻系统于再一实施例中的连接示意图；

元件标号说明

111 外壳

112 线绕可调电阻

112-1 第一组线绕可调电阻

112-2 第二组线绕可调电阻

112-3 第三组线绕可调电阻

112-1-1 第一线绕可调电阻串

112-1-2 第二线绕可调电阻串

112-2-1 第三线绕可调电阻串

112-2-2 第四线绕可调电阻串

112-3-1 第五线绕可调电阻串

112-3-2 第六线绕可调电阻串

113 电抗器

114 风扇

115 导电可调环

116 单级大电流插头

117 外接端子排对接单级大电流接头

117-1 外接端子排对接单级大电流接头的第一接口

117-2 外接端子排对接单级大电流接头的第二接口

117-3 外接端子排对接单级大电流接头的第三接口

117-4 外接端子排对接单级大电流接头的第四接口

117-5 外接端子排对接单级大电流接头的第五接口

117-6 外接端子排对接单级大电流接头的第六接口

118 外接端子排

119 万向轮

120 温度检测装置

121 温度显示装置

具体实施方式

以下通过特定的具体实例说明本实用新型的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本实用新型的其他优点与功效。本实用新型还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本实用新型的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是，在不冲突的情况下，以下实施例及实施例中的特征可以相互组合。

需要说明的是，以下实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本实用新型的基本构想，故图式中仅显示与本实用新型中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制，其实际实施时各组件的型态、数量及比例可为一种随意的改变，且其组件布局型态也可能更为复杂。

本实用新型的变频器性能测试通用变阻系统，用于满足不同型号的变频器进行温升及性能测试的需求。

如图1a至1d所示，于一实施例中，本实用新型的变频器性能测试通用变阻系统，包括：外壳111，设置于所述外壳111内的3组线绕可调电阻112、三个电抗器113、第一预设数量的风扇114；每组线绕可调电阻112分别与一个电抗器113的一端连接，所述三个电抗器113的另一端互相连接；每组线绕可调电阻由第二预设数量的线绕可调电阻112电性连接而成，所述线绕可调电阻112每间隔预设大小的阻值引出一个导电可调环115，每个导电可调环115与单级大电流插头116连接，所述单级大电流插头116都设置于同一侧；所述风扇114用于送风至所述线绕可调电阻112，以使所述线绕可调电阻112散热。所述电性连接包括：串联、并联或串并联。

具体地，于一实施例中，还包括：外接端子排118对接单级大电流接头117和外接端子排118。所述外接端子排118对接单级大电流接头117用于通过导线与单级大电流插头116连接，所述外接端子排118对接单级大电流接头117和外接端子排118通过导线连接。所述外接端子排118对接单级大电流接头117用于连接所述外接端子排118和单级大电流插头116，所述外接端子排118用于与变频器连接，用于为所述变频器提供不同的电阻。端子排，意为承载多个或多组相互绝缘的端子组件并用于固定支持件的绝缘部件。端子排的作用就是将屏内设备和屏外设备的线路相连接，起到信号(电流电压)传输的作用。有了端子排，使得接线美观，维护方便，在远距离线之间的联接时主要是牢靠，施工和维护方便。

具体地，于一实施例中，所述每组线绕可调电阻由第二预设数量的线绕可调电阻112电性连接而成。所述每组线绕可调电阻由多个线绕可调电阻112电性连接而成。例如每组线绕可调电阻由两个线绕可调电阻串并联而成，每个线绕可调电阻串由三个线绕可调电阻串联而成。总共12个线绕可调电阻112分为上下两层。12个线绕可调电阻112均匀安装在上下两层，每层6个。上下两层的电阻电性连接，且固定在同一侧表面。下层的6个电阻，每两个电阻依次并联，然后与同一电抗器113的一端连接。

具体地，于一实施例中，所述3组线绕可调电阻包括：第一组线绕可调电阻112-1、第二组线绕可调电阻112-2和第三组线绕可调电阻112-3。所述第一组线绕可调电阻112-1包括第一线绕可调电阻串112-1-1和第二线绕可调电阻串112-1-2，所述一线绕可调电阻串112-1-1和第二线绕可调电阻串112-1-2并联。所述第二组线绕可调电阻112-2包括第三线绕可调电阻串112-2-1和第四线绕可调电阻串112-2-2，所述三线绕可调电阻串112-2-1和第四线绕可调电阻串112-2-2并联。所述第三组线绕可调电阻112-3包括第五线绕可调电阻串112-3-1和第六线绕可调电阻串112-3-2，所述五线绕可调电阻串112-3-1和第六线绕可调电阻串112-3-2并联。

具体地，于一实施例中，所述三个电抗器113采取星型连接，安装在底部，每个电抗器113空出的一端分别与依次下层的2个电阻电性连接。所述电抗器113感量范围0.5mH～5mH。

具体地，于一实施例中，所述第一预设数量的风扇114为四个风扇114。所述风扇114与所述线绕可调电阻112相对设置，所述风扇114用于送风至所述线绕可调电阻112，以使所述线绕可调电阻112散热。风扇114数量可变，满足电阻散热即可。风扇114可选择交流电机或者直流电机，以使用方便为宜。

具体地，于一实施例中，所述线绕可调电阻112上设有温度检测装置120，所述壳体侧面设有温度显示装置121，所述温度检测装置120用于实时传输线绕可调电阻112的温度至所述温度显示装置121，所述温度显示装置121用于显示温度检测装置120测得的线绕可调电阻112的温度。

具体地，于一实施例中，所述壳体底部设有万向轮119。可用于快速移动变频器性能测试通用变阻系统，切换测试地点。

具体地，所述第二预设数量为大于等于1的自然数。

具体地，于一实施例中，所述外壳111靠近单级大电流插头116的一侧可以打开，用于切换变频器性能测试通用变阻系统的电阻值。

具体地，于一实施例中，所述线绕可调电阻112的电阻为大于等于1欧姆，所述线绕可调电阻112每间隔大于等于0.1欧姆引出一个导电可调环115。

具体地，于一实施例中，所述温度检测装置为热电偶。

具体地，于一实施例中，所述线绕可调电阻112的阻值为10欧姆，所述线绕可调电阻112每间隔0.5欧姆引出一个导电可调环115。以每个电阻10Ω，间隔0.5Ω选择一组档位为例，可产生的阻值组合如下所示(以其中与一个电抗器113连接的2个线绕可调电阻串举例，计算结果均保留2位小数)：其中，第一路是指第一线绕可调电阻串112-1-1，第二路是指第二线绕可调电阻串112-1-2，U相阻值是指所述第一线绕可调电阻串112-1-1和所述第二线绕可调电阻串112-1-2并联后的电阻值。其他四组线绕可调电阻串的阻值也可以相同设置。相对于传统滑动调节阻值的变阻器，采取提前预置的阻值，阻值切换通过更改单级大电流插头116的位置，手动切换阻值，实现电阻值快速调整，节省测试时间。通用变阻系统可适配多种变频器性能，实现温升以及可靠性测试，具体测试阻值可选择，最大阻值按照实际需求确认。无需针对不同变频器组建单独电阻。

具体地，于一实施例中，讲解如何使用本系统，如图1e所示，所述外接端子排对接单级大电流接头有六个接口，所述外接端子排对接单级大电流接头的六个接口分别对应一线绕可调电阻串。为了表示方便，将六个接口分别画在了各自对应线绕可调电阻串的一侧。所述3组线绕可调电阻从左至右命名为第一组线绕可调电阻112-1、第二组线绕可调电阻112-2、第三组线绕可调电阻112-3。所述第一组线绕可调电阻112-1包括第一线绕可调电阻串112-1-1和第二线绕可调电阻串112-1-2。所述第一线绕可调电阻串112-1-1通过单级大电流插头与外接端子排对接单级大电流接头的第一接口电性连接，所述第二线绕可调电阻串112-1-2通过单级大电流插头与外接端子排对接单级大电流接头的第二接口电性连接。所述外接端子排对接单级大电流接头的第一接口117-1和第二接口117-2与外接端子排电性连接，所述单级大电流插头与外接端子排对接单级大电流接头的第一接口117-1和第二接口117-2电性连接，所述第一线绕可调电阻串112-1-1和第二线绕可调电阻串112-1-2与变频器的U相相对应。每个线绕可调电阻都有很多个单级大电流插头，可以基于不同电阻的需求选择相应的单级大电流插头。所述第二组线绕可调电阻112-2包括：第三线绕可调电阻串112-2-1和第四线绕可调电阻串112-2-2.所述第三线绕可调电阻串112-2-1通过单级大电流插头与外接端子排对接单级大电流接头的第三接口117-3电性连接，所述第四线绕可调电阻串112-2-2通过单级大电流插头与外接端子排对接单级大电流接头的第四接口117-4电性连接，所述单级大电流插头与外接端子排对接单级大电流接头的第三接口117-3和第四接口117-4电性连接，所述外接端子排对接单级大电流接头的第三接口117-3和第四接口117-4与外接端子排电性连接，所述单级大电流插头与外接端子排对接单级大电流接头的第三接口117-3和第四接口117-4电性连接，第三线绕可调电阻串112-2-1和第四线绕可调电阻串112-2-2与变频器的V相相对应。所述第三组线绕可调电阻112-3包括：第五线绕可调电阻串112-3-1和第六线绕可调电阻串112-3-2。第五线绕可调电阻串112-3-1通过单级大电流插头与外接端子排对接单级大电流接头的第五接口117-5电性连接，所述第六线绕可调电阻串112-3-2通过单级大电流插头与外接端子排对接单级大电流接头的第六接口117-6电性连接，所述单级大电流插头与外接端子排对接单级大电流接头的第五接口117-5和第六接口117-6电性连接，所述外接端子排对接单级大电流接头的第五接口117-5和第六接口117-6与外接端子排电性连接，所述单级大电流插头与外接端子排对接单级大电流接头的第五接口117-5和第六接口117-6电性连接，所述第五线绕可调电阻串112-3-1和第六线绕可调电阻串112-3-2与变频器的W相相对应。

具体地，于一实施例中，讲解如何使用本系统，如图1f所示，每个线绕可调电阻都有很多个单级大电流插头，可以基于不同电阻的需求选择相应的单级大电流插头。具体线绕可调电阻与外接端子排对接单级大电流接头的连接方式不变，但是由于每个线绕可调电阻都有很多个单级大电流插头，基于不同的电阻需求，换了不同的单级大电流插头，而有了如图1f所示的连接。

具体地，于一实施例中，如图1g所示，所述线绕可调电阻上设有温度检测装置，所述壳体侧面设有温度显示装置，所述温度检测装置用于实时传输线绕可调电阻的温度至所述温度显示装置，所述温度显示装置用于显示温度检测装置测得的线绕可调电阻的温度。还包括通过电源为所述风扇供电，通过开关控制风扇的开启与关闭。

综上所述，本实用新型变频器性能测试通用变阻系统，用于满足不同型号的变频器进行温升及性能测试的需求。所以，本实用新型有效克服了现有技术中的种种缺点而具高度产业利用价值。

上述实施例仅例示性说明本实用新型的原理及其功效，而非用于限制本实用新型。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本实用新型的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰或改变。因此，举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本实用新型所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由本实用新型的权利要求所涵盖。

Claims (8)

1.一种变频器性能测试通用变阻系统，其特征在于，所述系统包括：

外壳，设置于所述外壳内的3组线绕可调电阻、三个电抗器、第一预设数量的风扇；

每组线绕可调电阻分别与一个电抗器的一端连接，所述三个电抗器的另一端互相连接；

每组线绕可调电阻由第二预设数量的线绕可调电阻电性连接而成，所述线绕可调电阻每间隔预设大小的阻值引出一个导电可调环，每个导电可调环与单级大电流插头连接，所述单级大电流插头都设置于同一侧；

所述风扇用于送风至所述线绕可调电阻，以使所述线绕可调电阻散热。

2.根据权利要求1所述的变频器性能测试通用变阻系统，其特征在于：还包括：外接端子排对接单级大电流接头和外接端子排。

3.根据权利要求1所述的变频器性能测试通用变阻系统，其特征在于：所述第二预设数量为大于等于1的自然数。

4.根据权利要求1所述的变频器性能测试通用变阻系统，其特征在于：所述外壳底部设有万向轮。

5.根据权利要求1所述的变频器性能测试通用变阻系统，其特征在于：所述线绕可调电阻上设有温度检测装置，所述外壳侧面设有温度显示装置，所述温度检测装置用于实时传输线绕可调电阻的温度至所述温度显示装置，所述温度显示装置用于显示温度检测装置测得的线绕可调电阻的温度。

6.根据权利要求1所述的变频器性能测试通用变阻系统，其特征在于：所述外壳靠近单级大电流插头的一侧可以打开。

7.根据权利要求1所述的变频器性能测试通用变阻系统，其特征在于：所述线绕可调电阻的阻值为大于等于1欧姆。

8.根据权利要求1所述的变频器性能测试通用变阻系统，其特征在于：所述预设大小的阻值为大于等于0.1欧姆。

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