CN215067119U - 一种具有针尖保护装置的垂直探针卡 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及探针卡技术领域，公开了一种具有针尖保护装置的垂直探针卡，通过固定板的下端壁凹设有多个呈矩阵式排列的通孔，测试探针分别嵌设于通孔内设置，且测试探针的下端部均分别伸出通孔外设置，针尖保护盖可拆卸的盖设于固定板的下端壁上，针尖保护盖的内侧壁凹设有一容置槽，测试探针的下端部均位于容置槽内，且测试探针的下端部均分别与容置槽的底部间隔连接，针尖保护盖的上端壁均与固定板的下端壁抵接设置，通过针尖保护盖对测试探针起到良好的保护作用，且起到防尘的作用，提高了探针卡的使用寿命和测试精度，提高了探针卡的性能可靠性，且结构简单，使用方便，成本低廉，实用性强。

Description

一种具有针尖保护装置的垂直探针卡

技术领域

本实用新型涉及探针卡技术领域，特别涉及一种具有针尖保护装置的垂直探针卡。

背景技术

探针卡是一种测试接口，主要对裸芯进行测试，通过连接测试机和芯片，通过传输信号对芯片参数进行测试；探针卡主要目的是将探针卡上的探针直接与芯片上的焊垫或凸块直接接触，引出芯片讯号，再配合周边测试仪器与软件控制达到自动化量测的目的，探针卡应用在IC尚未封装前，针对裸晶系以探针做功能测试，筛选出不良品、再进行之后的封装工程。芯片测试过程非常重要，并且高度依赖探针卡的可靠性。

然而，目前现有的垂直探针卡在移动搬运过程中针尖容易被碰到，导致探针损坏，影响探针卡的使用寿命。

实用新型内容

本实用新型的主要目的是提出一种具有针尖保护装置的垂直探针卡，旨在解决现有的垂直探针卡在移动搬运过程中针尖容易被碰到，导致探针损坏，影响探针卡的使用寿命的技术问题。

为实现上述目的，本实用新型提出的具有针尖保护装置的垂直探针卡，包括固定板、测试探针以及针尖保护盖，所述固定板和针尖保护盖均呈圆盘形结构设置，所述固定板的下端壁凹设有多个呈矩阵式排列的通孔，所述测试探针分别嵌设于所述通孔内设置，且所述测试探针的下端部均分别伸出所述通孔外设置，所述针尖保护盖可拆卸的盖设于所述固定板的下端壁上，所述针尖保护盖的内侧壁凹设有一容置槽，所述测试探针的下端部均位于所述容置槽内，且所述测试探针的下端部均分别与所述容置槽的底部间隔连接，所述针尖保护盖的上端壁均与所述固定板的下端壁抵接设置。

进一步地，还包括紧固螺栓，所述针尖保护盖的下端壁的两侧分别凹设有一通孔，所述固定板的下端壁的两侧分别凹设有一与所述通孔相对应的螺纹孔，所述紧固螺栓分别穿设于所述通孔，并旋于所述螺纹孔内设置。

进一步地，所述紧固螺栓的下端部的外周壁分别凸设有一限位凸台，且所述限位凸台的上端壁分别与所述通孔的下端壁抵接设置。

进一步地，所述针尖保护盖采用工程塑料材质形成。

进一步地，所述固定板采用陶瓷材质形成。

进一步地，所述测试探针采用铼钨材质形成。

采用本实用新型的技术方案，具有以下有益效果：本实用新型的技术方案，本实用新型通过固定板的下端壁凹设有多个呈矩阵式排列的通孔，测试探针分别嵌设于通孔内设置，且测试探针的下端部均分别伸出通孔外设置，针尖保护盖可拆卸的盖设于固定板的下端壁上，针尖保护盖的内侧壁凹设有一容置槽，测试探针的下端部均位于容置槽内，且测试探针的下端部均分别与容置槽的底部间隔连接，针尖保护盖的上端壁均与固定板的下端壁抵接设置，通过针尖保护盖对测试探针起到良好的保护作用，且起到防尘的作用，提高了探针卡的使用寿命和测试精度，提高了探针卡的性能可靠性，且结构简单，使用方便，成本低廉，实用性强。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本实用新型提出的一种具有针尖保护装置的垂直探针卡的整体结构示意图；

图2为本实用新型提出的一种具有针尖保护装置的垂直探针卡的分解结构示意图；

图3为本实用新型提出的一种具有针尖保护装置的垂直探针卡的部分分解结构示意图。

本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

需要说明，本实用新型实施例中所有方向性指示（诸如上、下、左、右、前、后……）仅用于解释在某一特定姿态（如附图所示）下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本实用新型要求的保护范围之内。

本实用新型提出一种具有针尖保护装置的垂直探针卡。

如图1至图3所示，在本实用新型的一实施例中，该具有针尖保护装置的垂直探针卡，包括固定板101、测试探针102以及针尖保护盖103，所述固定板101和针尖保护盖103均呈圆盘形结构设置，所述固定板101的下端壁凹设有多个呈矩阵式排列的通孔（未图示），所述测试探针102分别嵌设于所述通孔内设置，且所述测试探针102的下端部均分别伸出所述通孔外设置，所述针尖保护盖103可拆卸的盖设于所述固定板101的下端壁上，所述针尖保护盖103的内侧壁凹设有一容置槽1031，所述测试探针102的下端部均位于所述容置槽1031内，且所述测试探针102的下端部均分别与所述容置槽1031的底部间隔连接，所述针尖保护盖103的上端壁均与所述固定板101的下端壁抵接设置。

具体地，还包括紧固螺栓104，所述针尖保护盖103的下端壁的两侧分别凹设有一通孔1032，所述固定板101的下端壁的两侧分别凹设有一与所述通孔1032相对应的螺纹孔1011，所述紧固螺栓104分别穿设于所述通孔1032，并旋于所述螺纹孔1011内设置。

具体地，所述紧固螺栓104的下端部的外周壁分别凸设有一限位凸台1041，且所述限位凸台1041的上端壁分别与所述通孔1032的下端壁抵接设置。

具体地，所述针尖保护盖103采用工程塑料材质形成，工程塑料刚性和强度好，耐腐蚀、抗老化，耐磨损、抗静电电绝缘性能好，对测试探针起到良好的保护作用，提高了探针卡的使用寿命和测试精度。

具体地，所述固定板101采用陶瓷材质形成，陶瓷固定板具有良好的绝缘性能，从而避免探针与固定板之间产生漏电，有效降低了探针卡的漏电值，提高了探针卡的性能可靠性。

具体地，所述测试探针102采用铼钨材质形成，具有硬度/抗劳性佳，稳定度佳的优点，适合长时间测试。

具体地，本实用新型通过固定板的下端壁凹设有多个呈矩阵式排列的通孔，测试探针分别嵌设于通孔内设置，且测试探针的下端部均分别伸出通孔外设置，针尖保护盖可拆卸的盖设于固定板的下端壁上，针尖保护盖的内侧壁凹设有一容置槽，测试探针的下端部均位于容置槽内，且测试探针的下端部均分别与容置槽的底部间隔连接，针尖保护盖的上端壁均与固定板的下端壁抵接设置，通过针尖保护盖对测试探针起到良好的保护作用，且起到防尘的作用，提高了探针卡的使用寿命和测试精度，提高了探针卡的性能可靠性，且结构简单，使用方便，成本低廉，实用性强。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是在本实用新型的实用新型构思下，利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (6)

1.一种具有针尖保护装置的垂直探针卡，其特征在于，包括固定板、测试探针以及针尖保护盖，所述固定板和针尖保护盖均呈圆盘形结构设置，所述固定板的下端壁凹设有多个呈矩阵式排列的通孔，所述测试探针分别嵌设于所述通孔内设置，且所述测试探针的下端部均分别伸出所述通孔外设置，所述针尖保护盖可拆卸的盖设于所述固定板的下端壁上，所述针尖保护盖的内侧壁凹设有一容置槽，所述测试探针的下端部均位于所述容置槽内，且所述测试探针的下端部均分别与所述容置槽的底部间隔连接，所述针尖保护盖的上端壁均与所述固定板的下端壁抵接设置。

2.根据权利要求1所述的具有针尖保护装置的垂直探针卡，其特征在于，还包括紧固螺栓，所述针尖保护盖的下端壁的两侧分别凹设有一通孔，所述固定板的下端壁的两侧分别凹设有一与所述通孔相对应的螺纹孔，所述紧固螺栓分别穿设于所述通孔，并旋于所述螺纹孔内设置。

3.根据权利要求2所述的具有针尖保护装置的垂直探针卡，其特征在于，所述紧固螺栓的下端部的外周壁分别凸设有一限位凸台，且所述限位凸台的上端壁分别与所述通孔的下端壁抵接设置。

4.根据权利要求1所述的具有针尖保护装置的垂直探针卡，其特征在于，所述针尖保护盖采用工程塑料材质形成。

5.根据权利要求1所述的具有针尖保护装置的垂直探针卡，其特征在于，所述固定板采用陶瓷材质形成。

6.根据权利要求1所述的具有针尖保护装置的垂直探针卡，其特征在于，所述测试探针采用铼钨材质形成。

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