CN214622839U - Soc卡插槽测试治具 - Google Patents

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何昆铭
李国利
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Abstract

本实用新型提供一种SOC卡插槽测试治具。所述SOC卡插槽测试治具包括:测试插头、测试插槽、控制信号处理电路、第一指示灯、第二指示灯及远程重启控制按键;测试插头为PCIE×N插头,测试插头中的M条通道为标准信号转接部,其余通道为控制信号转接部;测试插槽为PCIE×K插槽,测试插槽中的M条通道为与标准信号转接部电性连接的标准信号测试部,其余通道置空;所述控制信号处理电路分别电性连接第一指示灯、第二指示灯、远程重启控制按键及控制信号转接部,能够在不使用原版SOC卡的情况下完成SOC卡插槽测试,提升SOC卡插槽测试效率。

Description

SOC卡插槽测试治具
技术领域
本实用新型涉及计算机技术领域,尤其涉及一种SOC卡插槽测试治具。
背景技术
随着科技的发展,诸如笔记本电脑和一体机电脑等计算机设备已经得到了充分的普及,在多领域,多方位得到了广泛的应用,用户可以利用上述的计算机设备进行数据的存储、传输及处理。
但现有的计算机产品通常采用的均是国外平台的芯片组,长期以来,而国外平台的芯片组在核心技术对我们是完全封闭的,致使我们无法深入掌握其核心技术原理,使产品使用存在技术风险和维护不可控的安全隐患,且严重依赖进口,产品受到的管控严重,存在随时因芯片组断供而导致产品无法生产的风险。
与此同时,随着用户对网络安全、系统数据安全和个人信息安全防护意识日益增强,用户对于计算机设备的数据安全要求越来越高,因此,在目前很多在给用户提供的计算机产品中都植入加密芯片和加密系统以满足用户对数据安全的需求,且为了提升产品的保密性能,越来越多的保密系统开始采用国产芯片平台。
目前常用的加密技术通常需要搭配客户的基于国产平台的系统级芯片 (systemon a chip,SOC)卡使用,通过将SOC卡插入位于主板上的SOC卡插槽中,进而实现基于SOC卡的涉密操作。在现有的产品生产过程中,为了测试SOC卡插槽是否可用,需要将原版SOC卡插入SOC卡插槽中,并进入相应系统并配置好远程网络,才能完成测试,长期使用原版SOC卡进行测试不符合SOC卡的保密要求,且测试效率低下,测试成本高。
如何设计出一种SOC卡插槽测试方法,既能满足产品生产测试并提高生产效率,又能满足用户对系统安全的要求,避免长期使用原版SOC卡测试导致产品泄密,变得很有必要。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种SOC卡插槽测试治具,能够在不使用原版 SOC卡的情况下完成SOC卡插槽测试,提升SOC卡插槽测试效率,降低SOC卡插槽测试成本。
为实现上述目的,本实用新型提供一种SOC卡插槽测试治具,用于测试位于主板上的SOC卡插槽,包括:测试插头、测试插槽、控制信号处理电路、第一指示灯、第二指示灯及远程重启控制按键;
设N、M及K均为自然数,且N大于M,K大于或等于M,所述SOC卡插槽为PCIE×N插槽,该SOC卡插槽中的M条通道为传输标准PCIE×M信号的标准信号传输部,其余通道为传输SOC卡控制信号的控制信号传输部;所述测试插头为PCIE×N插头,所述测试插头中的M条通道为标准信号转接部,其余通道为控制信号转接部;所述测试插槽为PCIE×K插槽,所述测试插槽中的M条通道为标准信号测试部,其余通道信号置空;
所述标准信号测试部电性连接所述标准信号转接部,所述控制信号转接部电性连接控制信号处理电路,所述控制信号处理电路分别电性连接第一指示灯、第二指示灯及远程重启控制按键;
所述测试插头能插入所述SOC卡插槽中,且所述测试插头插入所述SOC卡插槽中时,所述标准信号传输部电性连接标准信号转接部,所述控制信号传输部电性连接控制信号转接部。
N等于8,M等于4,K等于4或8。
所述SOC卡插槽用于连接SOC卡,所述SOC卡采用龙芯、兆芯或申威平台。
本实用新型的有益效果:本实用新型提供一种SOC卡插槽测试治具,用于测试位于主板上的SOC卡插槽,包括:测试插头、测试插槽、控制信号处理电路、第一指示灯、第二指示灯及远程重启控制按键;设N、M及K均为自然数,且N大于M,K大于或等于M,所述SOC卡插槽为PCIE×N插槽,该SOC 卡插槽中的M条通道为传输标准PCIE×M信号的标准信号传输部,其余通道为传输SOC卡控制信号的控制信号传输部;所述测试插头为PCIE×N插头,所述测试插头中的M条通道为标准信号转接部,其余通道为控制信号转接部;所述测试插槽为PCIE×K插槽,所述测试插槽中的M条通道为标准信号测试部,其余通道信号置空;所述标准信号测试部电性连接所述标准信号转接部,所述控制信号转接部电性连接控制信号处理电路,所述控制信号处理电路分别电性连接第一指示灯、第二指示灯及远程重启控制按键;所述测试插头能插入所述 SOC卡插槽中,且所述测试插头插入所述SOC卡插槽中时,所述标准信号传输部电性连接标准信号转接部,所述控制信号传输部电性连接控制信号转接部,能够在不使用原版SOC卡的情况下完成SOC卡插槽测试,提升SOC卡插槽测试效率,降低SOC卡插槽测试成本。
附图说明
为了能更进一步了解本实用新型的特征以及技术内容,请参阅以下有关本实用新型的详细说明与附图,然而附图仅提供参考与说明用,并非用来对本实用新型加以限制。
附图中,
图1为本实用新型的SOC卡插槽测试治具的示意图;
图2为本实用新型的SOC卡插槽测试治具与主板相连时的示意图;
图3为使用本实用新型SOC卡插槽测试治具的SOC卡插槽测试方法的流程图。
具体实施方式
为更进一步阐述本实用新型所采取的技术手段及其效果,以下结合本实用新型的优选实施例及其附图进行详细描述。
请参阅图1并结合图2,本实用新型提供一种SOC卡插槽测试治具,用于测试位于主板100上的SOC卡插槽200,包括:测试插头1、测试插槽2、控制信号处理电路3、第一指示灯4、第二指示灯5及远程重启控制按键6;
设N、M及K均为自然数,且N大于M,K大于或等于M,所述SOC卡插槽 200为PCIE×N插槽,该SOC卡插槽200中的M条通道为传输标准PCIE×M信号的标准信号传输部201,其余通道为传输SOC卡控制信号的控制信号传输部 202;所述测试插头1为PCIE×N插头,所述测试插头1中的M条通道为标准信号转接部11,其余通道为控制信号转接部12;所述测试插槽2为PCIE×K插槽,所述测试插槽2中的M条通道为标准信号测试部21,其余通道信号置空;
所述标准信号测试部21电性连接所述标准信号转接部11,所述控制信号转接部12电性连接控制信号处理电路3,所述控制信号处理电路3分别电性连接第一指示灯4、第二指示灯5及远程重启控制按键6。
具体地,在本实用新型的一些实施例中,N等于8,M等于4,K等于8。
相应地,在该些实施例中,所述SOC卡插槽200为PCIE×8插槽,其中4条通道为用于传输标准的PCIE×4信号标准信号传输部201,另外4条通道为用于传输SOC卡控制信号的控制信号传输部202,也即所述SOC卡插槽200可以等效为一个传输标准的PCIE×4信号的标准PCIE×4插槽和一个传输SOC卡控制信号特殊PCIE×4插槽。
相应地,在该些实施例中,所述测试插头1为PCIE×8插头(PCIE×8金手指),其中,4条通道为标准信号转接部11,另外4条通道为控制信号转接部12,也即所述测试插头1分别用于转接标准的PCIE×4信号和SOC卡控制信号的两个PCIE×4插头;
相应地,在该些实施例中,所述测试插槽2为PCIE×8插槽,其中4条通道为标准信号测试部21,另外4条通道信号置空,也即所述测试插槽2可以等效为一个用于从标准信号转接部11接收标准的PCIE×4信号的PCIE×4插槽和一个信号置空的备用PCIE×4插槽。
进一步地,由于测试插槽2的另外4条通道信号置空,因此在本实用新型的一些实施例中,K也可以等于4,也即所述测试插槽2为PCIE×4插槽,4条通道均为标准信号测试部21,不设备用的信号置空通道,这不会影响本实用新型的实现。
具体地,所述测试插头1能插入所述SOC卡插槽200中,且所述测试插头1 插入所述SOC卡插槽200中时,所述标准信号传输部201电性连接标准信号转接部11,所述控制信号传输部202电性连接控制信号转接部12。
测试时,将所述测试插头1插入所述SOC卡插槽200中,所述标准信号传输部201电性连接标准信号转接部11,所述控制信号传输部202电性连接控制信号转接部12;
然后,在所述标准信号测试部21上连接一个辅测设备,所述辅测设备通过一标准PCIE×4插头与所述标准信号测试部21电性连接,此时主板100上输出的标准PCIE×4信号能够通过标准信号传输部201传输至标准信号转接部11,再由标准信号转接部11传输至标准信号测试部21,最后由标准信号测试部21 传输至辅测设备,若此时辅测设备能够正常工作,即可以判定SOC卡插槽200 的标准信号传输部201是正常的,否则SOC卡插槽200的标准信号传输部201是异常的;
接着,再控制所述主板100分别执行开机、软重启、硬重启及远程重启程序,并根据所述主板100执行开机、软重启、硬重启及远程重启时第一指示灯4 及第二指示灯5的亮灭状态,判断所述SOC卡插槽200中传输SOC卡控制信号的通道是否正常,若所述主板100执行开机、软重启、硬重启及远程重启程序时,所述第一指示灯4及第二指示灯5的亮灭状态均与预设的标准亮灭状态一致,则可以判定所述SOC卡插槽200的控制信号传输部202正常,否则判定SOC卡插槽 200的控制信号传输部202异常;
最后,若SOC卡插槽200的标准信号传输部201和控制信号传输部202均是正常的,则可以判定SOC卡插槽200是正常的,否则判定SOC卡插槽200是异常的。
值得一提的是,所述主板100还设有主控模块101、与主控模块101电性连接的硬重启按键102以及与主控模块101电性连接的开机按键103,所述主控模块101还电性连接一键盘。
通过按下所述开机按键103,使得所述主板100执行开机程序,通过按下所述键盘上的预定按键使得所述主板100执行软重启程序,通过按下所述硬重启按键102使得所述主板执行硬重启程序,通过按下所述远程重启控制按键6,使得控制信号处理电路3向主板100模拟发出远程重启信号,控制所述主板100执行远程重启程序。
所述主板100执行开机程序时,所述第一指示灯4及第二指示灯5的标准亮灭状态为所述第一指示灯4闪三次,第二指示灯5闪一次;
所述主板100执行硬重启程序时,所述第一指示灯4及第二指示灯5的标准亮灭状态为所述第一指示灯4闪一次,第二指示灯5闪一次;
所述主板100执行软重启程序时,所述第一指示灯4及第二指示灯5的标准亮灭状态为所述第一指示灯4闪三次,第二指示灯5始终不亮;
所述主板100执行远程重启程序时,所述第一指示灯4及第二指示灯5的标准亮灭状态为所述第一指示灯4闪一次,第二指示灯5闪一次。
具体地,所述SOC卡插槽200用于连接SOC卡,所述SOC卡采用龙芯、兆芯或申威平台,也即所述SOC卡为国产SOC卡。
从而本实用新型的SOC卡插槽治具能够模拟原版SOC卡实现SOC卡插槽测试,提升SOC卡插槽测试效率,降低SOC卡插槽测试成本。
请参阅图3,使用本实用新型SOC卡插槽测试治具的SOC卡插槽测试方法,包括如下步骤:
步骤S1、提供一SOC卡插槽测试治具及主板100,所述主板100上设有SOC 卡插槽200,所述SOC卡插槽测试治具包括:测试插头1、测试插槽2、控制信号处理电路3、第一指示灯4、第二指示灯5及远程重启控制按键6;
设N、M及K均为自然数,且N大于M,K大于或等于M,所述SOC卡插槽 200为PCIE×N插槽,该SOC卡插槽200中的M条通道为传输标准PCIE×M信号的标准信号传输部201,其余通道为传输SOC卡控制信号的控制信号传输部 202;所述测试插头1为PCIE×N插头,所述测试插头1中的M条通道为标准信号转接部11,其余通道为控制信号转接部12;所述测试插槽2为PCIE×K插槽,所述测试插槽2中的M条通道为标准信号测试部21,其余通道信号置空;
所述标准信号测试部21电性连接所述标准信号转接部11,所述控制信号转接部12电性连接控制信号处理电路3,所述控制信号处理电路3分别电性连接第一指示灯4、第二指示灯5及远程重启控制按键6。
具体地,在本实用新型的一些实施例中,N等于8,M等于4,K等于8。
相应地,在该些实施例中,所述SOC卡插槽200为PCIE×8插槽,其中4条通道为用于传输标准的PCIE×4信号标准信号传输部201,另外4条通道为用于传输SOC卡控制信号的控制信号传输部202,也即所述SOC卡插槽200可以等效为一个传输标准的PCIE×4信号的标准PCIE×4插槽和一个传输SOC卡控制信号特殊PCIE×4插槽。
相应地,在该些实施例中,所述测试插头1为PCIE×8插头(PCIE×8金手指),其中,4条通道为标准信号转接部11,另外4条通道为控制信号转接部12,也即所述测试插头1分别用于转接标准的PCIE×4信号和SOC卡控制信号的两个PCIE×4插头;
相应地,在该些实施例中,所述测试插槽2为PCIE×8插槽,其中4条通道为标准信号测试部21,另外4条通道信号置空,也即所述测试插槽2可以等效为一个用于从标准信号转接部11接收标准的PCIE×4信号的PCIE×4插槽和一个信号置空的备用PCIE×4插槽。
进一步地,由于测试插槽2的另外4条通道信号置空,因此在本实用新型的一些实施例中,K也可以等于4,也即所述测试插槽2为PCIE×4插槽,4条通道均为标准信号测试部21,不设备用的信号置空通道,这不会影响本实用新型的实现。
步骤S2、将所述测试插头1插入所述SOC卡插槽200中,使得所述标准信号传输部201电性连接标准信号转接部11,所述控制信号传输部202电性连接控制信号转接部12。
步骤S3、提供一具有标准PCIE×M插头的辅测设备,将所述辅测设备的标准PCIE×M插头插入所述标准信号测试部21中,并根据辅测设备是否正常工作,判断所述SOC卡插槽200的标准信号传输部201是否正常。
具体地,所述步骤S3中,主板100上输出的标准PCIE×4信号能够通过标准信号传输部201传输至标准信号转接部11,再由标准信号转接部11传输至标准信号测试部21,最后由标准信号测试部21传输至辅测设备,若此时辅测设备能够正常工作,即可以判定SOC卡插槽200的标准信号传输部201是正常的,否则SOC卡插槽200的标准信号传输部201是异常的。
步骤S4、控制所述主板100分别执行开机、软重启、硬重启及远程重启程序,并根据所述主板100执行开机、软重启、硬重启及远程重启程序时第一指示灯4及第二指示灯5的亮灭状态,判断所述SOC卡插槽200的控制信号传输部 202是否正常。
具体地,所述步骤S4中,若所述主板100执行开机、软重启、硬重启及远程重启程序时,所述第一指示灯4及第二指示灯5的亮灭状态均与预设的标准亮灭状态一致,则可以判定所述SOC卡插槽200的控制信号传输部202正常,否则判定SOC卡插槽200的控制信号传输部202异常;若SOC卡插槽200的标准信号传输部201和控制信号传输部202均是正常的,则可以判定SOC卡插槽200是正常的,否则判定SOC卡插槽200是异常的。
值得一提的是,所述主板100还设有主控模块101、与主控模块101电性连接的硬重启按键102以及与主控模块101电性连接的开机按键103,所述主控模块101还电性连接一键盘。
通过按下所述开机按键103,使得所述主板100执行开机程序,通过按下所述键盘上的预定按键使得所述主板100执行软重启程序,通过按下所述硬重启按键102使得所述主板执行硬重启程序,通过按下所述远程重启控制按键6,使得控制信号处理电路3向主板100模拟发出远程重启信号,控制所述主板100执行远程重启程序。
所述主板100执行开机程序时,所述第一指示灯4及第二指示灯5的标准亮灭状态为所述第一指示灯4闪三次,第二指示灯5闪一次;
所述主板100执行硬重启程序时,所述第一指示灯4及第二指示灯5的标准亮灭状态为所述第一指示灯4闪一次,第二指示灯5闪一次;
所述主板100执行软重启程序时,所述第一指示灯4及第二指示灯5的标准亮灭状态为所述第一指示灯4闪三次,第二指示灯5始终不亮;
所述主板100执行远程重启程序时,所述第一指示灯4及第二指示灯5的标准亮灭状态为所述第一指示灯4闪一次,第二指示灯5闪一次。
具体地,所述SOC卡插槽200用于连接SOC卡,所述SOC卡采用龙芯、兆芯或申威平台,也即所述SOC卡为国产SOC卡。
从而使用本实用新型SOC卡插槽测试治具的SOC卡插槽测试方法能够在不使用原版SOC卡的情况下完成SOC卡插槽测试,提升SOC卡插槽测试效率,降低SOC卡插槽测试成本。
综上所述,本实用新型提供一种SOC卡插槽测试治具,用于测试位于主板上的SOC卡插槽,包括:测试插头、测试插槽、控制信号处理电路、第一指示灯、第二指示灯及远程重启控制按键;设N、M及K均为自然数,且N大于M, K大于或等于M,所述SOC卡插槽为PCIE×N插槽,该SOC卡插槽中的M条通道为传输标准PCIE×M信号的标准信号传输部,其余通道为传输SOC卡控制信号的控制信号传输部;所述测试插头为PCIE×N插头,所述测试插头中的M条通道为标准信号转接部,其余通道为控制信号转接部;所述测试插槽为PCIE ×K插槽,所述测试插槽中的M条通道为标准信号测试部,其余通道信号置空;所述标准信号测试部电性连接所述标准信号转接部,所述控制信号转接部电性连接控制信号处理电路,所述控制信号处理电路分别电性连接第一指示灯、第二指示灯及远程重启控制按键;所述测试插头能插入所述SOC卡插槽中,且所述测试插头插入所述SOC卡插槽中时,所述标准信号传输部电性连接标准信号转接部,所述控制信号传输部电性连接控制信号转接部,能够在不使用原版SOC卡的情况下完成SOC卡插槽测试,提升SOC卡插槽测试效率,降低SOC卡插槽测试成本。
以上所述,对于本领域的普通技术人员来说,可以根据本实用新型的技术方案和技术构思作出其他各种相应的改变和变形,而所有这些改变和变形都应属于本实用新型权利要求的保护范围。

Claims (3)

1.一种SOC卡插槽测试治具,其特征在于,用于测试位于主板(100)上的SOC卡插槽(200),包括:测试插头(1)、测试插槽(2)、控制信号处理电路(3)、第一指示灯(4)、第二指示灯(5)及远程重启控制按键(6);
设N、M及K均为自然数,且N大于M,K大于或等于M,所述SOC卡插槽(200)为PCIE×N插槽,该SOC卡插槽(200)中的M条通道为传输标准PCIE×M信号的标准信号传输部(201),其余通道为传输SOC卡控制信号的控制信号传输部(202);所述测试插头(1)为PCIE×N插头,所述测试插头(1)中的M条通道为标准信号转接部(11),其余通道为控制信号转接部(12);所述测试插槽(2)为PCIE×K插槽,所述测试插槽(2)中的M条通道为标准信号测试部(21),其余通道信号置空;
所述标准信号测试部(21)电性连接所述标准信号转接部(11),所述控制信号转接部(12)电性连接控制信号处理电路(3),所述控制信号处理电路(3)分别电性连接第一指示灯(4)、第二指示灯(5)及远程重启控制按键(6);
所述测试插头(1)能插入所述SOC卡插槽(200)中,且所述测试插头(1)插入所述SOC卡插槽(200)中时,所述标准信号传输部(201)电性连接标准信号转接部(11),所述控制信号传输部(202)电性连接控制信号转接部(12)。
2.如权利要求1所述的SOC卡插槽测试治具,其特征在于,N等于8,M等于4,K等于4或8。
3.如权利要求1所述的SOC卡插槽测试治具,其特征在于,所述SOC卡插槽(200)用于连接SOC卡,所述SOC卡采用龙芯、兆芯或申威平台。
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