CN214539881U - 一种半导体器件研发用半导体检测设备 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种半导体器件研发用半导体检测设备，包括外壳、散热器、底座和安装座，所述外壳一侧设置有显示板，且显示板一侧的外壳上设置有控制板，所述外壳一侧分离安装有底座，所述底座顶部边缘设置有限位槽，所述第一电动推杆端部安装有承重板，所述限位槽内卡接安装有安装框，所述安装框内安装有绝缘网，且绝缘网上设置有观察窗。本实用新型通过在限位槽内安装有安装框，通过在对半导体进行检测时，将安装框安装在限位槽内，使绝缘网对电流进行阻隔，之后进行检测工作，通过观察窗可对半导体进行观察，避免工作人员操作失误，导致被电流伤害的问题，有效地提高了该设备对于工作人员的保护性。
Description
技术领域
本实用新型涉及涂料加工技术领域，具体为一种半导体器件研发用半导体检测设备。
背景技术
半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，半导体应用范围较广，在半导体生产过程中需要进行较多的检测，保证生产的半导体的质量，这时需要一种半导体器件研发用半导体检测设备。
现有的检测设备存在的缺陷是：
1、现有的检测设备由于需要电流对半导体进行检测，如果操作不当，容易对工作人员造成伤害；
2、现有的检测设备缺少限位装置，半导体在检测过程中，容易发生较大的偏移，导致检测结果有偏差；
3、现有的检测设备由于检测效率问题，需要多次进行检测，导致设备检测时间加长，内部热量产生较大，对内部各零件有一定损伤，为此我们提出一种半导体器件研发用半导体检测设备来解决现有的问题。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种半导体器件研发用半导体检测设备，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种半导体器件研发用半导体检测设备，包括外壳、散热器、底座和安装座，所述外壳一侧设置有显示板，且显示板一侧的外壳上设置有控制板，所述外壳底部固定安装有散热器，且散热器的底部四角皆设置有散热孔，且散热孔内安装有安装杆，所述安装杆端部安装有电机，且电机输出端转动安装有扇叶，所述外壳一侧分离安装有底座，所述底座顶部边缘设置有限位槽，所述底座内部靠中间设置有安装孔，且安装孔内安装有第一电动推杆，所述第一电动推杆端部安装有承重板，所述限位槽内卡接安装有安装框，所述安装框内安装有绝缘网，且绝缘网上设置有观察窗，所述底座一侧安装有安装座，所述安装座顶部安装有第二电动推杆，且第二电动推杆端部安装有伸缩杆，所述伸缩杆一端的底部安装有连接杆。
优选的，所述伸缩杆上转动安装有旋钮，且安装座一侧与外壳一侧之间安装有电线。
优选的，所述连接杆端部安装有检测头，且检测头与承重板配合使用。
优选的，所述散热孔上安装有过滤网，且过滤网上安装有把手。
优选的，所述显示板一侧的顶部安装有显示屏，且显示屏下方的显示板上安装有信号灯。
优选的，所述外壳底部四角皆安装有减震支腿，且减震支腿底部安装有支脚。
优选的，所述控制板上设置有按键，且按键分别有方向键和数字键。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
1、本实用新型通过在限位槽内安装有安装框，通过在对半导体进行检测时，将安装框安装在限位槽内，使绝缘网对电流进行阻隔，之后进行检测工作，通过观察窗可对半导体进行观察，避免工作人员操作失误，导致被电流伤害的问题，有效地提高了该设备对于工作人员的保护性。
2、本实用新型通过在第一电动推杆端部安装有承重板，通过将半导体放置在承重板上，之后控制第一电动推杆收缩，使安装孔对半导体进行限位固定，防止半导体在工作过程中发生较大的偏移，导致检测结果有误差，有效地提高了该设备对于半导体检测的准确性。
3、本实用新型通过在外壳底部安装有散热器，通过电机通电运行，带动扇叶进行转动，使外壳内部的空气流动，将外壳内部的热空气通过散热孔排出，保证外壳的热量，防止设备长期工作，导致产生的热量，对外壳内部的零件造成损伤，有效地提高了该设备的使用寿命。
附图说明
图1为本实用新型的正面结构示意图；
图2为本实用新型的背面结构示意图；
图3为本实用新型的底座组件结构示意图；
图4为本实用新型的底座内部结构示意图；
图5为本实用新型的散热器结构示意图。
图中：1、外壳；101、减震支腿；2、显示板；201、显示屏；202、信号灯；3、控制板；301、按键；4、散热器；401、散热孔；402、过滤网；403、安装杆；404、电机；405、扇叶；5、底座；501、限位槽；6、安装孔；601、第一电动推杆；602、承重板；7、安装框；701、绝缘网；702、观察窗；8、安装座；801、第二电动推杆；802、伸缩杆；803、旋钮；804、电线；9、连接杆；901、检测头。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“内”、“外”“前端”、“后端”、“两端”、“一端”、“另一端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置有”、“连接”等，应做广义理解，例如“连接”，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
请参阅图1-5，本实用新型提供的一种实施例：一种半导体器件研发用半导体检测设备，包括外壳1、散热器4、底座5和安装座8，外壳1底部四角皆安装有减震支腿101，且减震支腿101底部安装有支脚，外壳1一侧设置有显示板2，显示板2一侧的顶部安装有显示屏201，且显示屏201下方的显示板2上安装有信号灯202，且显示板2一侧的外壳1上设置有控制板3，控制板3上设置有按键301，且按键301分别有方向键和数字键；
具体的，外壳1底部固定安装有散热器4，且散热器4的底部四角皆设置有散热孔401，散热孔401上安装有过滤网402，过滤网402可防止外界灰尘顺着散热孔401进入外壳1内部，且过滤网402上安装有把手，散热孔401内安装有安装杆403，安装杆403端部安装有电机404，且电机404输出端转动安装有扇叶405，电动机是把电能转换成机械能的一种设备，它是利用线圈（也就是定子绕组）产生旋转磁场并作用于转子（如鼠笼式闭合铝框）形成磁电动力旋转扭矩，本实用新型通过在外壳1底部安装有散热器4，通过电机404通电运行，带动扇叶405进行转动，使外壳1内部的空气流动，将外壳1内部的热空气通过散热孔401排出，保证外壳1的热量，防止设备长期工作，导致产生的热量，对外壳1内部的零件造成损伤，有效地提高了该设备的使用寿命，电机404可采用YE2，外壳1一侧分离安装有底座5，底座5顶部边缘设置有限位槽501；
具体的，底座5内部靠中间设置有安装孔6，且安装孔6内安装有第一电动推杆601，第一电动推杆601端部安装有承重板602，电动机经齿轮减速后，带动一对丝杆螺母，把电动机的旋转运动变成直线运动，通过利用电动机正反转完成推杆动作，本实用新型通过在第一电动推杆601端部安装有承重板602，通过将半导体放置在承重板602上，之后控制第一电动推杆601收缩，使安装孔6对半导体进行限位固定，防止半导体在工作过程中发生较大的偏移，导致检测结果有误差，有效地提高了该设备对于半导体检测的准确性，第一电动推杆601可采用中铝IPT1100-100mm；
具体的，限位槽501内卡接安装有安装框7，安装框7内安装有绝缘网701，且绝缘网701上设置有观察窗702，本实用新型通过在限位槽501内安装有安装框7，通过在对半导体进行检测时，将安装框7安装在限位槽501内，使绝缘网701对电流进行阻隔，之后进行检测工作，通过观察窗702可对半导体进行观察，避免工作人员操作失误，导致被电流伤害的问题，有效地提高了该设备对于工作人员的保护性，底座5一侧安装有安装座8，安装座8顶部安装有第二电动推杆801，第二电动推杆801可对检测头901进项上下移动，第二电动推杆801可采用HY01，且第二电动推杆801端部安装有伸缩杆802，伸缩杆802上转动安装有旋钮803，旋转旋钮803，可调节伸缩杆802的水平位置，使其能进行手动校准，且安装座8一侧与外壳1一侧之间安装有电线804，伸缩杆802一端的底部安装有连接杆9，连接杆9端部安装有检测头901，且检测头901与承重板602配合使用。
工作原理：使用本装置前，使用人员先对装置进行检测，确认没有问题后使用，首先将半导体放置在承重板602上，之后控制第一电动推杆601收缩，使半导体进入安装孔6内，安装孔6对半导体进行限位，之后控制第二电动推杆801和伸缩杆802，调整检测头901的位置，将检测头901对准半导体后，将安装框7安装在限位槽501内，绝缘网701将电流进行阻隔，对工作人员进行保护，之后即可进行半导体检测工作，当工作时间较长时，打开散热器4，使电机404带动扇叶405进行转动，将外壳1内的热量排到外界，以保护设备内部的零件。
对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
Claims (7)
1.一种半导体器件研发用半导体检测设备，包括外壳（1）、散热器（4）、底座（5）和安装座（8），其特征在于：所述外壳（1）一侧设置有显示板（2），且显示板（2）一侧的外壳（1）上设置有控制板（3），所述外壳（1）底部固定安装有散热器（4），且散热器（4）的底部四角皆设置有散热孔（401），且散热孔（401）内安装有安装杆（403），所述安装杆（403）端部安装有电机（404），且电机（404）输出端转动安装有扇叶（405），所述外壳（1）一侧分离安装有底座（5），所述底座（5）顶部边缘设置有限位槽（501），所述底座（5）内部靠中间设置有安装孔（6），且安装孔（6）内安装有第一电动推杆（601），所述第一电动推杆（601）端部安装有承重板（602），所述限位槽（501）内卡接安装有安装框（7），所述安装框（7）内安装有绝缘网（701），且绝缘网（701）上设置有观察窗（702），所述底座（5）一侧安装有安装座（8），所述安装座（8）顶部安装有第二电动推杆（801），且第二电动推杆（801）端部安装有伸缩杆（802），所述伸缩杆（802）一端的底部安装有连接杆（9）。
2.根据权利要求1所述的一种半导体器件研发用半导体检测设备，其特征在于：所述伸缩杆（802）上转动安装有旋钮（803），且安装座（8）一侧与外壳（1）一侧之间安装有电线（804）。
3.根据权利要求1所述的一种半导体器件研发用半导体检测设备，其特征在于：所述连接杆（9）端部安装有检测头（901），且检测头（901）与承重板（602）配合使用。
4.根据权利要求1所述的一种半导体器件研发用半导体检测设备，其特征在于：所述散热孔（401）上安装有过滤网（402），且过滤网（402）上安装有把手。
5.根据权利要求1所述的一种半导体器件研发用半导体检测设备，其特征在于：所述显示板（2）一侧的顶部安装有显示屏（201），且显示屏（201）下方的显示板（2）上安装有信号灯（202）。
6.根据权利要求1所述的一种半导体器件研发用半导体检测设备，其特征在于：所述外壳（1）底部四角皆安装有减震支腿（101），且减震支腿（101）底部安装有支脚。
7.根据权利要求1所述的一种半导体器件研发用半导体检测设备，其特征在于：所述控制板（3）上设置有按键（301），且按键（301）分别有方向键和数字键。
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