CN214150929U - 一种复合绝缘子芯棒劣化检测器 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种复合绝缘子芯棒劣化检测器，包括主体机构，主体机构包括空心绝缘杆，空心绝缘杆的一端固定连接有探头叉，探头叉的内部开设有空槽，探头叉的底端固定连接有固定叉，固定叉内部开设有第一插槽，所述探头叉的内部设置有调节机构，本实用新型的有益效果是：通过将微型泡克尔传感器探头置于复合绝缘子表面进行电场测量，根据两个传感器测量结果的相对比较判断复合绝缘子是否有缺陷,微型泡克尔传感器内部仅含玻璃光学器件，无电子器件及金属部件，体积小，不畸变被测电场，测量准确；重量轻，便于杆上操作；光缆隔离，确保安全；无需记录和处理大量和繁琐的测量数据，便于现场操作和应用。

Description

一种复合绝缘子芯棒劣化检测器

技术领域

本实用新型涉及电力技术领域，具体为一种复合绝缘子芯棒劣化检测器。

背景技术

绝缘子通常除由玻璃或陶瓷制成外，另有在玻璃纤维引拔芯棒的外表面套装硅橡外套及硅橡胶伞裙的复合绝缘子。绝缘子在架空输电线路中起着两个基本作用，即悬挂/支撑导线和保证高压导线/导体的对地绝缘。复合绝缘子因具有良好的防污闪性能、重量轻、及便于安装维护等优点，在高压输电线路和变电站得到了越来越多的应用。

投运年限较长的以及重要区段的受多重应力作用的复合绝缘子会发生局部老化和导通性缺陷，在运行中发生老化脆断、引起导线坠地，或在运行中发生闪络，引起高压线路跳闸，从而发生重大送电事故。究其原因，是复合绝缘子高压端的芯棒、硅橡胶外套以及两者的界面，在材质不良或密封不良及进潮情况下、高场强及局部放电使芯棒发生电老化、另外由电晕产生的臭氧和空气中的水分结合生成的硝酸类物质对芯棒产生化学腐蚀，因电老化和化学腐蚀的双重原因使芯棒上产生炭化的导电性通道，降低了绝缘子的耐电强度、进一步发展引起高压端芯棒的脆断。因此，在运行中如何对复合绝缘子进行的带电检测一直是一个重要的课题，也是运行单位的一个难题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种复合绝缘子芯棒劣化检测器，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种复合绝缘子芯棒劣化检测器，包括主体机构，所述主体机构包括空心绝缘杆，所述空心绝缘杆的一端固定连接有探头叉，所述探头叉的内部开设有空槽，所述探头叉的底端固定连接有固定叉，所述固定叉内部开设有第一插槽，所述探头叉的内部设置有调节机构，所述主体机构的内部设置有测量机构。

优选的，所述调节机构包括滑槽，所述滑槽开设在探头叉一侧的表面，所述滑槽的内部滑动连接有滑动杆，所述滑动杆的内部开设有第二插槽，所述滑槽的表面开设有限位槽，所述限位槽的内部滑动连接有限位滑块，所述限位滑块的内部开设有螺纹槽，所述螺纹槽的内部螺纹连接有螺纹杆，所述螺纹杆的一端固定连接有旋钮，所述探头叉的一端表面开设有通孔。

优选的，所述测量机构包括信号处理组件，所述信号处理组件固定连接在空心绝缘杆的表面，所述信号处理组件的内部固定连接有第一双芯光缆和第二双芯光缆，所述第一插槽的内部固定插接有第一探头，所述第二插槽的内部固定插接有第二探头。

优选的，所述第一双芯光缆和第二双芯光缆分别与第一探头和第二探头固定连通。

优选的，所述螺纹杆与通孔转动连接，所述螺纹杆通过轴承与限位槽的内壁转动连接。

优选的，所述限位滑块与滑动杆固定连接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：通过将微型泡克尔传感器探头置于复合绝缘子表面进行电场测量，根据两个传感器测量结果的相对比较判断复合绝缘子是否有缺陷,微型泡克尔传感器内部仅含玻璃光学器件，无电子器件及金属部件，体积小，不畸变被测电场，测量准确；重量轻，便于杆上操作；光缆隔离，确保安全；无需记录和处理大量和繁琐的测量数据，便于现场操作和应用。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型图1中A部分结构放大图；

图3为本实用新型的电光晶体泡克尔效应原理图。

图中：1、主体机构；11、空心绝缘杆；12、探头叉；13、空槽；14、固定叉；15、第一插槽；2、调节机构；21、滑槽；22、滑动杆；23、第二插槽；24、限位槽；25、螺纹杆；26、通孔；27、旋钮；28、限位滑块；29、螺纹槽；3、测量机构；31、信号处理组件；32、第一双芯光缆；33、第二双芯光缆；34、第一探头；35、第二探头。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-3，本实用新型提供一种技术方案：一种复合绝缘子芯棒劣化检测器，包括主体机构1，主体机构1包括空心绝缘杆11，空心绝缘杆11的一端固定连接有探头叉12，探头叉12的内部开设有空槽13，探头叉12的底端固定连接有固定叉14，固定叉14内部开设有第一插槽15，探头叉12的内部设置有调节机构2，主体机构1的内部设置有测量机构3，主体机构1作为测量载体，使用绝缘材料保护使用者安全。

调节机构2包括滑槽21，滑槽21开设在探头叉12一侧的表面，滑槽21的内部滑动连接有滑动杆22，滑动杆22的内部开设有第二插槽23，滑槽21的表面开设有限位槽24，限位槽24的内部滑动连接有限位滑块28，限位滑块28的内部开设有螺纹槽29，螺纹槽29的内部螺纹连接有螺纹杆25，螺纹杆25的一端固定连接有旋钮27，探头叉12的一端表面开设有通孔26，调节结构2通过调整两个探头的距离来适应绝缘子不同的伞裙距离。

测量机构3包括信号处理组件31，信号处理组件31固定连接在空心绝缘杆11的表面，信号处理组件31的内部固定连接有第一双芯光缆32和第二双芯光缆33，第一插槽15的内部固定插接有第一探头34，第二插槽23的内部固定插接有第二探头35，测量机构3通过电光晶体泡克尔效应进行测量，信号由信号处理组件进行处理。

第一双芯光缆32和第二双芯光缆33分别与第一探头34和第二探头35固定连通，便于发送和接收光信号。

螺纹杆25与通孔26转动连接，螺纹杆25通过轴承与限位槽24的内壁转动连接，便于螺纹杆25稳定转动。

限位滑块28与滑动杆22固定连接，便于调节两探头间的距离。

具体的，使用本实用新型时，首先根据被侧复合绝缘子的伞裙的间距调节两个探头之间的距离，转动旋钮27，旋钮27带动螺纹杆25转动，螺纹杆25带动限位滑块28滑动，限位滑块28带动滑动杆22滑动，调整好间距后，检测人员手持空心绝缘杆11，将探头叉上的两个探头同时置于复合绝缘子的相邻节距的两个伞窝处，如果被侧复合绝缘子芯棒上存在导通性缺陷，则信号处理组件31发出相应指示，同时发出警报声，按相同的节距，从高压端测量到低压端(或重点测量高压端部位)即可。光缆的绝缘强度不低于空心绝缘杆11的绝缘强度(＞工频300kV/m)，信号处理组件31置于距离检测人员1m远的地方，便于操作，安全无误。也可以用其测量悬式绝缘子串的零值绝缘子，其时将上下探头同时置于相邻两片绝缘子的伞裙边沿的外侧1-2cm处、非接触进行测量即可。

检测原理：复合绝缘子中间无金属部件，不能像悬式绝缘子串那样测量电压分布，只能测量芯棒沿面的轴向空间电场强度，判断绝缘子芯棒上是否存在局部导通性缺陷，正常复合绝缘子沿面不同部位的轴向场强的分布为一光滑的曲线；但当芯棒上存在局部导通性通道时，缺陷处的场强值降低，两侧的场强增高，场强分布曲线发生畸变和局部凹陷，从而可利用此特性对其进行检测和判断。

测量探头原理：为准确测量绝缘子沿面的轴向场强，并且不因测量探头而影响原来的电场分布，使用依据电光晶体泡克尔效应的微型光纤传感器，当将该晶体探头置于被测电场中时，从光纤输出的信号随被测电场的大小而变化。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“同轴”、“底部”、“一端”、“顶部”、“中部”、“另一端”、“上”、“一侧”、“顶部”、“内”、“前部”、“中央”、“两端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

此外，术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量，由此，限定有“第一”、“第二”、“第三”、“第四”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置”、“连接”、“固定”、“旋接”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (4)

1.一种复合绝缘子芯棒劣化检测器，包括主体机构(1)，其特征在于，所述主体机构(1)包括空心绝缘杆(11)，所述空心绝缘杆(11)的一端固定连接有探头叉(12)，所述探头叉(12)的内部开设有空槽(13)，所述探头叉(12)的底端固定连接有固定叉(14)，所述固定叉(14)内部开设有第一插槽(15)，所述探头叉(12)的内部设置有调节机构(2)，所述主体机构(1)的内部设置有测量机构(3)；

所述调节机构(2)包括滑槽(21)，所述滑槽(21)开设在探头叉(12)一侧的表面，所述滑槽(21)的内部滑动连接有滑动杆(22)，所述滑动杆(22)的内部开设有第二插槽(23)，所述滑槽(21)的表面开设有限位槽(24)，所述限位槽(24)的内部滑动连接有限位滑块(28)，所述限位滑块(28)的内部开设有螺纹槽(29)，所述螺纹槽(29)的内部螺纹连接有螺纹杆(25)，所述螺纹杆(25)的一端固定连接有旋钮(27)，所述探头叉(12)的一端表面开设有通孔(26)；

所述测量机构(3)包括信号处理组件(31)，所述信号处理组件(31)固定连接在空心绝缘杆(11)的表面，所述信号处理组件(31)的内部固定连接有第一双芯光缆(32)和第二双芯光缆(33)，所述第一插槽(15)的内部固定插接有第一探头(34)，所述第二插槽(23)的内部固定插接有第二探头(35)。

2.根据权利要求1所述的一种复合绝缘子芯棒劣化检测器，其特征在于：所述第一双芯光缆(32)和第二双芯光缆(33)分别与第一探头(34)和第二探头(35)固定连通。

3.根据权利要求1所述的一种复合绝缘子芯棒劣化检测器，其特征在于：所述螺纹杆(25)与通孔(26)转动连接，所述螺纹杆(25)通过轴承与限位槽(24)的内壁转动连接。

4.根据权利要求1所述的一种复合绝缘子芯棒劣化检测器，其特征在于：所述限位滑块(28)与滑动杆(22)固定连接。

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