CN214122393U - 用于mosfet动态参数测试的rsw测试电路及测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了用于MOSFET动态参数测试的RSW测试电路及测试装置，属于半导体电器件测试技术领域，其具体包括RSW测试电路具体包括主机、信号发生器、多继电器板、电压上浮电路、多工位电路板、工位开关和控制开关，信号发生器、多继电器板和电压上浮电路均与主机电连接，信号发生器与电压上浮电路并联连接，电压上浮电路的K接口与多继电器板的K接口并联连接，多继电器板与信号发生器电连接，所述主机、信号发生器、多继电器板、电压上浮电路均通过控制开关与电源连接，多工位电路板通过工位开关与多继电器板连接，多工位电路板上的每个测试工位对应一个工位开关。

Description

用于MOSFET动态参数测试的RSW测试电路及测试装置

技术领域

本实用新型属于半导体电器件测试技术领域，具体为用于MOSFET动态参数测试的RSW 测试电路及测试装置。

背景技术

MOSFET是金属-氧化物半导体场效应晶体管，其广泛应用在模拟电路与数字电路的场效晶体管，是容量最大、需求增长最快的电子器件，同时也是最好的功率开关器件，MOSFET 在出厂前需要对其动态参数进行检测，判断其是否在某个部位存在问题，继而判断其是否存在质量问题。目前，市场上销售的MOSFET测试装置类型较多，但是其大都存在以下几个缺陷：

1、在测试的过程中，是单个测试的，测试效率低。

2、在测量的过程中容易出现偏差，导致无法准确找出故障的问题，测试精度低。

3、其上的测试电路器件不能分立测试。

实用新型内容

针对上述现有的MOSFET测试装置基本都是单个测试的，测试效率低，本实用新型提出了用于MOSFET动态参数测试的RSW测试电路及测试装置，其具体技术方案如下：

用于MOSFET动态参数测试的RSW测试电路，包括主机、信号发生器、多继电器板、电压上浮电路、多工位电路板、工位开关和控制开关，所述主机上设置有控制板，所述信号发生器、多继电器板和电压上浮电路均与主机上的控制板电连接，所述信号发生器与电压上浮电路并联连接，所述电压上浮电路的K接口与多继电器板的K接口并联连接，所述多继电器板与信号发生器连接，所述主机、信号发生器、多继电器板、电压上浮电路均通过控制开关 (5)与电源连接，所述多工位电路板通过工位开关与多继电器板连接，所述多工位电路板上的每个测试工位对应一个工位开关。

进一步限定，所述用于MOSFET动态参数测试的RSW测试电路还包括显示灯组，所述显示灯组与多继电器板电连接。

进一步限定，包括测试箱体以及用于MOSFET动态参数测试的RSW测试电路，所述测试箱体包括上部测试腔和下部控制腔，所述上部测试腔设置在下部控制腔上方，所述用于MOSFET动态参数测试的RSW测试电路上的主机、信号发生器、多继电器板和电压上浮电路安装在下部控制腔内。

进一步限定，所述上部测试腔包括测试腔Ⅰ和测试腔Ⅱ，所述测试腔Ⅰ和测试腔Ⅱ并列设置，所述显示灯组包括显示灯组Ⅰ和显示灯组Ⅱ，所述显示灯组Ⅰ与测试腔Ⅰ连接，所述显示灯组Ⅱ与测试腔Ⅱ连接。

进一步限定，所述测试腔Ⅰ和测试腔Ⅱ内均设置有MOSFET测试板，所述MOSFET测试板上设置有多个测试工位，所述多个测试工位与多工位电路板连接。

进一步限定，所述用于MOSFET动态参数测试的RSW测试装置还包括搁置板，所述搁置板安装在测试箱体上，所述搁置板设置在上部测试腔和下部控制腔之间。

进一步限定，所述控制开关安装在测试箱体的上部。

与现有相比，本实用新型的有益效果在于：

1、本实用新型用于MOSFET动态参数测试的RSW测试电路，其上设置有主机、信号发生器、多继电器板、电压上浮电路、多工位电路板、工位开关和控制开关，信号发生器、多继电器板和电压上浮电路均与主机电连接，信号发生器与电压上浮电路并联连接，电压上浮电路的K接口与多继电器板的K接口并联连接，多继电器板与信号发生器电连接，主机、信号发生器、多继电器板、电压上浮电路均通过控制开关与电源连接，多工位电路板通过工位开关与多继电器板连接，多工位电路板上的每个测试工位对应一个工位开关。通过多工位电路板可以一次性对多个MOSFET进行测试，提高了MOSFET的检测效率。在主机内设置有控制板，该主控板可以进行同等电压电流监控，并有数据对干扰做出处理和修正，精度可达PA级；该测试电路以匹配不同的测试机柜，适配市场上常见的80％标准机柜。

2、RSW测试电路的测试电路上设置有显示灯组，显示灯组通过多继电器板控制，可以对不合格的MOSFET进行指示、区别警报，即通过多继电器板控制通路的开通关断，通过设备通断路电流的变化，给出信号，从而控制显示灯。

3、本实用新型用于MOSFET动态参数测试的RSW测试装置，其包括测试箱体以及用于 MOSFET动态参数测试的RSW测试电路，测试箱体包括上部测试腔和下部控制腔，用于MOSFET动态参数测试的RSW测试电路上的主机、信号发生器、多继电器板和电压上浮电路安装在下部控制腔内，上部测试腔包括测试腔Ⅰ和测试腔Ⅱ，测试腔Ⅰ和测试腔Ⅱ并列设置，通过转换工位开关，可实现测试腔Ⅰ和测试腔Ⅱ可以分区工作，在测试腔Ⅰ测试时，可更换测试腔Ⅱ的MOSFET器件；在测试腔Ⅱ测试时，可更换测试腔Ⅰ的MOSFET器件。

4、测试腔Ⅰ和测试腔Ⅱ内均设置有MOSFET测试板，MOSFET测试板上设置有多个测试工位，多个测试工位与多工位电路板连接，即一个MOSFET测试板可以同时测试多个MOSFET 器件，测试效率大大提高。

5、搁置板安装在测试箱体上，搁置板设置在上部测试腔下方，搁置板上用于放置MOSFET 测试板，方便MOSFET器件的安装和拆卸。

附图说明

图1为RSW测试电路的连接示意图；

图2为RSW测试装置的结构示意图；

图3为RSW测试装置上测试腔1与测试腔2的工作示意图；

其中，1-测试箱体，2-搁置板，3-测试腔Ⅱ，4-显示灯组Ⅱ，5-控制开关，6-显示灯组Ⅰ， 7-测试腔Ⅰ。

具体实施方式

下面结合附图及实施例对本实用新型的技术方案进行进一步的解释说明，但本实用新型并不限于以下说明的实施方式。

本实用新型用于MOSFET动态参数测试的RSW测试电路，包括主机、信号发生器、多继电器板、电压上浮电路、多工位电路板、工位开关和控制开关5，主机上设置有控制板，信号发生器、多继电器板和电压上浮电路均与主机上的控制板电连接，信号发生器与电压上浮电路并联连接，电压上浮电路的K接口与多继电器板的K接口并联连接，多继电器板与信号发生器连接，主机、信号发生器、多继电器板、电压上浮电路均通过控制开关5与电源连接，多工位电路板通过工位开关与多继电器板连接，多工位电路板上的每个测试工位对应一个工位开关。

上述用于MOSFET动态参数测试的RSW测试电路还包括显示灯组，显示灯组与多继电器板电连接。

用于MOSFET动态参数测试的RSW测试装置，穷包括测试箱体1以及上述用于MOSFET动态参数测试的RSW测试电路，测试箱体1包括上部测试腔和下部控制腔，上部测试腔设置在下部控制腔上方，用于MOSFET动态参数测试的RSW测试电路上的主机、信号发生器、多继电器板和电压上浮电路安装在下部控制腔内。上部测试腔包括测试腔Ⅰ7和测试腔Ⅱ3，测试腔Ⅰ7和测试腔Ⅱ3并列设置，显示灯组包括显示灯组Ⅰ6和显示灯组Ⅱ4，显示灯组Ⅰ6 与测试腔Ⅰ7连接，显示灯组Ⅱ4与测试腔Ⅱ3连接。测试腔Ⅰ7和测试腔Ⅱ3内均设置有 MOSFET测试板，MOSFET测试板上设置有多个测试工位，多个测试工位与多工位电路板连接。上述用于MOSFET动态参数测试的RSW测试装置还包括搁置板2，搁置板2安装在测试箱体 1上，搁置板2设置在上部测试腔和下部控制腔之间。控制开关5安装在测试箱体1的上部。

实施例1

参见图1，本实施例用于MOSFET动态参数测试的RSW测试电路，其包括主机、信号发生器、多继电器板、电压上浮电路、多工位电路板、工位开关、显示灯组和控制开关5，主机上设置有控制板，信号发生器、多继电器板、电压上浮电路均与主机上的控制板电连接，信号发生器与电压上浮电路并联连接，电压上浮电路的K接口与多继电器板的K接口并联连接，多继电器板与信号发生器电连接，主机、信号发生器、多继电器板、电压上浮电路均通过控制开关5与电源连接，多工位电路板通过工位开关与多继电器板连接，多工位电路板上设置有两个测试工位组，每个测试工位组设置有10个测试工位，多工位电路板上每个测试工位对应一个工位开关，显示灯组与多继电器板电连接，显示灯组有两个，分别为显示灯组Ⅰ6和显示灯组Ⅱ4，每个显示灯组上设置有10个显示灯，显示灯与测试工位一一对应设置。通过多工位电路板可以一次性对10个MOSFET进行测试，提高了MOSFET的检测效率；且能够实现MOSFET的分立测试，即在测试腔Ⅰ7工作时，可拆卸或安装测试腔Ⅱ3的MOSFET器件；在测试腔Ⅱ3工作时，可拆卸和安装测试腔Ⅰ7的MOSFET器件。

实施例2

参见图2，本实施例用于MOSFET动态参数测试的RSW测试装置，其包括测试箱体1以及实施例1中用于MOSFET动态参数测试的RSW测试电路，测试箱体1由上部测试腔和下部控制腔组成，上部测试腔设置在下部控制腔上方，用于MOSFET动态参数测试的RSW测试电路上的主机、信号发生器、多继电器板和电压上浮电路安装在下部控制腔内，上部测试腔由测试腔Ⅰ7和测试腔Ⅱ3组成，测试腔Ⅰ7和测试腔Ⅱ3并列设置，在测试腔Ⅰ7和测试腔Ⅱ3 上设置有测试口，显示灯组有两个，分别为显示灯组Ⅰ6和显示灯组Ⅱ4，显示灯组1设置在测试腔Ⅰ7上方，显示灯组2设置在测试腔Ⅱ3上方，显示灯组1上的显示灯与测试腔Ⅰ7的测试工位一一对用连接，显示灯组2上的显示灯与测试腔Ⅱ3的测试工位一一对应连接，在测试腔Ⅰ7和测试腔Ⅱ3内均设置有MOSFET测试板，每个MOSFET测试板上设置有10个测试工位，10个测试工位均与多工位电路板连接，在测试箱体1上安装有搁置板2，搁置板2 设置在上部测试腔和下部控制腔之间，搁置板上用于放置MOSFET测试板，方便MOSFET器件的安装和拆卸，方便操作；控制开关5安装在测试箱体的上部。通过转换工位开关，可实现测试腔Ⅰ和测试腔Ⅱ可以分区工作，在测试腔Ⅰ测试时，可更换测试腔Ⅱ的MOSFET器件；在测试腔Ⅱ测试时，可更换测试腔Ⅰ的MOSFET器件，参见图3，是测试腔Ⅰ7和测试腔Ⅱ3 的工作流程。

本实用新型的主机、信号发生器、多继电器板以及主机上的控制板均是市场上的在售产品，主机的型号是KEW-3500C，信号发生器的型号是AWG5200，多继电器板的型号是KEW-G100，主机上的控制板的型号是HCD-A1-181，电压上浮电路是运算放大电路，开始由信号发生器产生小信号从而控制运放键电流电压含放大，由主机上的控制板进行采样、数据处理，最终实现MOSFET的动态状态测试。

Claims (7)

1.用于MOSFET动态参数测试的RSW测试电路，其特征在于，包括主机、信号发生器、多继电器板、电压上浮电路、多工位电路板、工位开关和控制开关(5)，所述主机上设置有控制板，所述信号发生器、多继电器板和电压上浮电路均与主机上的控制板电连接，所述信号发生器与电压上浮电路并联连接，所述电压上浮电路的K接口与多继电器板的K接口并联连接，所述多继电器板与信号发生器连接，所述主机、信号发生器、多继电器板、电压上浮电路均通过控制开关(5)与电源连接，所述多工位电路板通过工位开关与多继电器板连接，所述多工位电路板上的每个测试工位对应一个工位开关。

2.如权利要求1所述的用于MOSFET动态参数测试的RSW测试电路，其特征在于，所述用于MOSFET动态参数测试的RSW测试电路还包括显示灯组，所述显示灯组与多继电器板电连接。

3.用于MOSFET动态参数测试的RSW测试装置，其特征在于，包括测试箱体(1)以及权利要求2所述的用于MOSFET动态参数测试的RSW测试电路，所述测试箱体(1)包括上部测试腔和下部控制腔，所述上部测试腔设置在下部控制腔上方，所述用于MOSFET动态参数测试的RSW测试电路上的主机、信号发生器、多继电器板和电压上浮电路安装在下部控制腔内。

4.如权利要求3所述的用于MOSFET动态参数测试的RSW测试装置，其特征在于，所述上部测试腔包括测试腔Ⅰ(7)和测试腔Ⅱ(3)，所述测试腔Ⅰ(7)和测试腔Ⅱ(3)并列设置，所述显示灯组包括显示灯组Ⅰ(6)和显示灯组Ⅱ(4)，所述显示灯组Ⅰ(6)与测试腔Ⅰ(7)连接，所述显示灯组Ⅱ(4)与测试腔Ⅱ(3)连接。

5.如权利要求4所述的用于MOSFET动态参数测试的RSW测试装置，其特征在于，所述测试腔Ⅰ(7)和测试腔Ⅱ(3)内均设置有MOSFET测试板，所述MOSFET测试板上设置有多个测试工位，所述多个测试工位与多工位电路板连接。

6.如权利要求4或5所述的用于MOSFET动态参数测试的RSW测试装置，其特征在于，所述用于MOSFET动态参数测试的RSW测试装置还包括搁置板(2)，所述搁置板(2)设置在上部测试腔和下部控制腔之间。

7.如权利要求6所述的用于MOSFET动态参数测试的RSW测试装置，其特征在于，所述控制开关(5)安装在测试箱体(1)的上部。

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