CN214067319U - 一种便于使用的半导体测试治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种便于使用的半导体测试治具，属于测试治具设备技术领域，包括测试托盘，所述测试托盘表面开设有凹槽，所述凹槽内腔安装有电动吸盘，所述测试托盘内腔设有挡板，所述挡板右侧壁中部安装有限位杆，所述测试托盘顶部表面右侧转动连接有锁紧螺栓，所述测试托盘右侧壁顶部一侧镶嵌连接有限位管，所述限位管内腔插接有引导柱，所述测试托盘底部表面四角均安装有支撑机构。本实用新型通过电动吸盘，可对半导体初步固定，并且通过转动锁紧螺栓，可对限位杆锁紧固定，从而能够使得挡板对半导体夹持，提高了半导体后期测试的安全，通过支撑机构，既能起到一定的减震缓冲功能，又能防止测试托盘滑动，提高了半导体测试安全。

Description

一种便于使用的半导体测试治具

技术领域

本实用新型涉及测试治具设备技术领域，尤其涉及一种便于使用的半导体测试治具。

背景技术

半导体是一种介于导体与绝缘体之间的材料，半导体在收音机以及电视机中有着广泛的应用，半导体在商业生产中有着极强的影响力，半导体在使用前需要进行测试，然而现有的半导体测试装。

现有的半导体测试治具在使用的过程中，由于不便于对待检测半导体进行固定，从而测试时容易出现安装不稳的情况，并且现有的半导体测试治具不具有缓冲和防滑功能，进而降低了半导体测试治具的使用安全。为此，我们提出一种便于使用的半导体测试治具。

实用新型内容

本实用新型提供一种便于使用的半导体测试治具，通过电动吸盘，可对半导体初步固定，并且通过转动锁紧螺栓，可对限位杆锁紧固定，从而能够使得挡板对半导体夹持，提高了半导体后期测试的安全，通过支撑机构，既能起到一定的减震缓冲功能，又能防止测试托盘滑动，提高了半导体测试安全。

本实用新型提供的具体技术方案如下：

本实用新型提供的一种便于使用的半导体测试治具，包括测试托盘，所述测试托盘表面开设有凹槽，所述凹槽内腔安装有电动吸盘，所述测试托盘内腔设有挡板，所述挡板右侧壁中部安装有限位杆，所述测试托盘顶部表面右侧转动连接有锁紧螺栓，所述测试托盘右侧壁顶部一侧镶嵌连接有限位管，所述限位管内腔插接有引导柱，所述测试托盘底部表面四角均安装有支撑机构，所述支撑机构由卡板、减震弹簧、底板和防滑垫组成。

可选的，所述凹槽具体设有若干组，且多组凹槽呈阵列式分布。

可选的，所述限位杆一端贯穿测试托盘右侧壁，所述限位杆右端安装有拉手。

可选的，所述锁紧螺栓与限位杆摩擦相连。

可选的，所述引导柱一端与挡板右侧壁表面相连，所述引导柱另一端转动连接有螺帽。

可选的，所述卡板底部表面表面安装有减震弹簧，所述减震弹簧底部表面安装有底板，所述底板底部表面粘接有防滑垫。

本实用新型的有益效果如下：

1、本实用新型通过多组凹槽，可安装多组电动吸盘，进而能够使得电动吸盘对放置在测试托盘上的半导体进行吸附固定，以便于能够提高半导体后期测试的安全，通过拉动拉手，可经限位杆灵活的调节挡板的位置，进而能够使得挡板对放置在测试托盘上的半导体侧面进行限位支撑，以便于能够提高测试托盘对半导体夹持的稳定性，方便后期半导体的测试，通过转动锁紧螺栓，可对限位杆锁紧固定，进而能够挡板对半导体夹持的稳定性，通过限位管，可使得引导柱灵活的抽插，进而能够提高挡板调节的稳定性，防止挡板倾斜，通过螺帽，又能起到对引导柱一端限位的作用。

2、通过在测试托盘底部表面四角均安装有支撑机构，并且支撑机构中的卡板，可对减震弹簧安装固定，然后通过底板又能对减震弹簧提供支撑，进而能够使得减震弹簧底部更加平稳，并且减震弹簧，又能起到一定的减震缓冲功能，提高了测试托盘使用安全，同时防滑垫，又能使得底板具有一定的防滑效果，进而能够防止测试托盘经支撑机构在桌面上滑动，提高了半导体测试治具使用安全。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例的一种便于使用的半导体测试治具的整体结构示意图；

图2为本实用新型实施例的一种便于使用的半导体测试治具的侧面剖面结构示意图；

图3为本实用新型实施例的一种便于使用的半导体测试治具的局部A结构示意图；

图4为本实用新型实施例的一种便于使用的半导体测试治具的支撑机构结构示意图。

图中：1、测试托盘；2、凹槽；3、电动吸盘；4、挡板；5、限位杆；6、拉手；7、锁紧螺栓；8、限位管；9、引导柱；10、螺帽；11、支撑机构；1101、卡板；1102、减震弹簧；1103、底板；1104、防滑垫。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本实用新型作进一步地详细描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本实用新型保护的范围。

下面将结合图1～图4对本实用新型实施例的一种便于使用的半导体测试治具进行详细的说明。

本实用新型实施例提供的一种便于使用的半导体测试治具，包括测试托盘1，所述测试托盘1表面开设有凹槽2，所述凹槽2内腔安装有电动吸盘3，所述测试托盘1内腔设有挡板4，所述挡板4右侧壁中部安装有限位杆5，所述测试托盘1顶部表面右侧转动连接有锁紧螺栓7，所述测试托盘1右侧壁顶部一侧镶嵌连接有限位管8，所述限位管8内腔插接有引导柱9，所述测试托盘1底部表面四角均安装有支撑机构11，所述支撑机构11由卡板1101、减震弹簧1102、底板1103和防滑垫1104组成，通过电动吸盘3，可对半导体初步固定，并且通过转动锁紧螺栓7，可对限位杆5锁紧固定，从而能够使得挡板4对半导体夹持，提高了半导体后期测试的安全，通过支撑机构11，既能起到一定的减震缓冲功能，又能防止测试托盘1滑动，提高了半导体测试安全。

本实用新型实施例提供的一种便于使用的半导体测试治具，所述凹槽2具体设有若干组，且多组凹槽2呈阵列式分布，从而能够通过多组凹槽2安装多组电动吸盘3，进而能够使得电动吸盘3对放置在测试托盘1上的半导体进行吸附固定，以便于能够提高半导体后期测试的安全。

本实用新型实施例提供的一种便于使用的半导体测试治具，所述限位杆5一端贯穿测试托盘1右侧壁，所述限位杆5右端安装有拉手6，从而能够通过拉动拉手6可经限位杆5灵活的调节挡板4的位置，进而能够使得挡板4对放置在测试托盘1上的半导体侧面进行限位支撑，以便于能够提高测试托盘1对半导体夹持的稳定性，方便后期半导体的测试。

本实用新型实施例提供的一种便于使用的半导体测试治具，所述锁紧螺栓7与限位杆5摩擦相连，从而能够通过转动锁紧螺栓7可对限位杆5锁紧固定，进而能够挡板4对半导体夹持的稳定性。

本实用新型实施例提供的一种便于使用的半导体测试治具，所述引导柱9一端与挡板4右侧壁表面相连，所述引导柱9另一端转动连接有螺帽10，从而能够通过限位管8可使得引导柱9灵活的抽插，进而能够提高挡板4调节的稳定性，防止挡板4倾斜，通过螺帽10，又能起到对引导柱9一端限位的作用。

本实用新型实施例提供的一种便于使用的半导体测试治具，所述卡板1101底部表面表面安装有减震弹簧1102，所述减震弹簧1102底部表面安装有底板1103，所述底板1103底部表面粘接有防滑垫1104，从而能够通过卡板1101可对减震弹簧1102安装固定，然后通过底板1103又能对减震弹簧1102提供支撑，进而能够使得减震弹簧1102底部更加平稳，同时减震弹簧1102，又能起到一定的减震缓冲功能，提高了测试托盘1使用安全，通过防滑垫1104，又能使得底板1103具有一定的防滑效果，进而能够防止测试托盘1经支撑机构11在桌面上滑动，提高了半导体测试治具使用安全。

本实用新型实施例提供一种便于使用的半导体测试治具，通过在测试托盘1表面开设有多组凹槽2，并且多组凹槽2呈阵列式分布，同时凹槽2内腔安装有电动吸盘3，从而能够通过多组凹槽2安装多组电动吸盘3，进而能够使得电动吸盘3对放置在测试托盘1上的半导体进行吸附固定，以便于能够提高半导体后期测试的安全，通过在测试托盘1内腔设有挡板4，并且挡板4右侧壁中部安装有限位杆5，同时限位杆5一端贯穿测试托盘1右侧壁，且限位杆5右端安装有拉手6，从而能够通过拉动拉手6可经限位杆5灵活的调节挡板4的位置，进而能够使得挡板4对放置在测试托盘1上的半导体侧面进行限位支撑，以便于能够提高测试托盘1对半导体夹持的稳定性，方便后期半导体的测试，通过在测试托盘1顶部表面右侧转动连接有锁紧螺栓7，并且锁紧螺栓7与限位杆5摩擦相连，从而能够通过转动锁紧螺栓7可对限位杆5锁紧固定，进而能够挡板4对半导体夹持的稳定性，通过在测试托盘1右侧壁顶部一侧镶嵌连接有限位管8，并且限位管8内腔插接有引导柱9，同时引导柱9一端与挡板4右侧壁表面相连，且引导柱9另一端转动连接有螺帽10，从而能够通过限位管8可使得引导柱9灵活的抽插，进而能够提高挡板4调节的稳定性，防止挡板4倾斜，通过螺帽10，又能起到对引导柱9一端限位的作用，通过在测试托盘1底部表面四角均安装有支撑机构11，并且支撑机构11由卡板1101、减震弹簧1102、底板1103和防滑垫1104组成，同时卡板1101底部表面表面安装有减震弹簧1102，减震弹簧1102底部表面安装有底板1103，且底板1103底部表面粘接有防滑垫1104，从而能够通过卡板1101可对减震弹簧1102安装固定，然后通过底板1103又能对减震弹簧1102提供支撑，进而能够使得减震弹簧1102底部更加平稳，同时减震弹簧1102，又能起到一定的减震缓冲功能，提高了测试托盘1使用安全，通过防滑垫1104，又能使得底板1103具有一定的防滑效果，进而能够防止测试托盘1经支撑机构11在桌面上滑动，提高了半导体测试治具使用安全。

需要说明的是，本实用新型为一种便于使用的半导体测试治具，包括测试托盘1、凹槽2、电动吸盘3、挡板4、限位杆5、拉手6、锁紧螺栓7、限位管8、引导柱9、螺帽10、支撑机构11、卡板1101、减震弹簧1102、底板1103和防滑垫1104，部件均为通用标准件或本领域技术人员知晓的部件，其结构和原理都为本技术人员均可通过技术手册得知或通过常规实验方法获知，保证各设备能正常运行，在这里不做过多的限制要求。

显然，本领域的技术人员可以对本实用新型实施例进行各种改动和变型而不脱离本实用新型实施例的精神和范围。这样，倘若本实用新型实施例的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内，则本实用新型也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (6)

1.一种便于使用的半导体测试治具，包括测试托盘(1)，其特征在于：所述测试托盘(1)表面开设有凹槽(2)，所述凹槽(2)内腔安装有电动吸盘(3)，所述测试托盘(1)内腔设有挡板(4)，所述挡板(4)右侧壁中部安装有限位杆(5)，所述测试托盘(1)顶部表面右侧转动连接有锁紧螺栓(7)，所述测试托盘(1)右侧壁顶部一侧镶嵌连接有限位管(8)，所述限位管(8)内腔插接有引导柱(9)，所述测试托盘(1)底部表面四角均安装有支撑机构(11)，所述支撑机构(11)由卡板(1101)、减震弹簧(1102)、底板(1103)和防滑垫(1104)组成。

2.根据权利要求1所述的一种便于使用的半导体测试治具，其特征在于：所述凹槽(2)具体设有若干组，且多组凹槽(2)呈阵列式分布。

3.根据权利要求1所述的一种便于使用的半导体测试治具，其特征在于：所述限位杆(5)一端贯穿测试托盘(1)右侧壁，所述限位杆(5)右端安装有拉手(6)。

4.根据权利要求1所述的一种便于使用的半导体测试治具，其特征在于：所述锁紧螺栓(7)与限位杆(5)摩擦相连。

5.根据权利要求1所述的一种便于使用的半导体测试治具，其特征在于：所述引导柱(9)一端与挡板(4)右侧壁表面相连，所述引导柱(9)另一端转动连接有螺帽(10)。

6.根据权利要求1所述的一种便于使用的半导体测试治具，其特征在于：所述卡板(1101)底部表面表面安装有减震弹簧(1102)，所述减震弹簧(1102)底部表面安装有底板(1103)，所述底板(1103)底部表面粘接有防滑垫(1104)。

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