CN214067208U - 一种具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及半导体电子器件技术领域，具体为一种具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置，包括装置主体，所述装置主体包括器件测试主体、装置主杆和检测器，所述器件测试主体的一侧固定连接有装置底座，所述器件测试主体的一侧固定连接有装置主杆，所述装置主杆的一侧固定连接有横杆，所述器件测试主体的内部开设有第二滑轨。本实用新型通过设置有器件测试主体、装置主杆和检测器，可通过旋转转杆，带动丝杆旋转，当丝杆旋转时可带动螺纹套旋转，因为两组螺纹套内部螺纹相反，所以呈相互靠近移动，此时第一夹持板与第二夹持板相互靠近，使装置对电子器件进行夹持，方便工作人员进行检测，大大提升了装置使用的便捷性。
Description
技术领域
本实用新型涉及半导体电子器件技术领域，具体为一种具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置。
背景技术
半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，如二极管就是采用半导体制作的器件，无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的。大部分的电子产品，如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关联，与之搭配的测试装置也层出不穷。
但是，现有的测试装置存在检测时，电子器件不易固定，导致检测交过不准确，同时对不同大小的电子器件无法进行固定检测，因此，需要设计一种具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置，以解决上述背景技术中提出的检测时，电子器件不易固定，导致检测交过不准确，同时对不同大小的电子器件无法进行固定检测的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置，包括装置主体，所述装置主体包括器件测试主体、装置主杆和检测器，所述器件测试主体的一侧固定连接有装置底座，所述器件测试主体的一侧固定连接有装置主杆，所述装置主杆的一侧固定连接有横杆，所述器件测试主体的内部开设有第二滑轨，所述第二滑轨的内部滑动安装有第一滑块，且第一滑块的数量为两组，两组所述第一滑块的一侧皆固定连接有螺纹套，且两组螺纹套内部螺纹相反，两组所述螺纹套的内部螺纹连接有丝杆，所述丝杆的一侧固定连接有转盘，所述转盘的一侧固定连接有转杆，所述横杆的内部开设有第一滑轨，所述第一滑轨的内部滑动安装有第二滑块，所述第二滑块的内部设置有定位装置，所述第二滑块的一侧设置有升降机构。
优选的，两组所述螺纹套的一侧分别固定连接有第一夹持板与第二夹持板，所述第一夹持板的一侧固定连接有第一海绵垫，所述第二夹持板的一侧固定连接有第二海绵垫。
优选的，所述转杆的表面套接有防滑垫。
优选的，所述定位装置包括第一弹簧和空心筒，所述第二滑块的内部开设有空心筒，所述空心筒的内部固定连接有第一弹簧，所述第一弹簧的一侧固定连接有限位块，所述第一滑轨的内部开设有限位槽，所述限位块的一侧滑动安装于限位槽上。
优选的，所述升降机构包括收缩筒和连接杆，所述第二滑块的一侧固定连接有收缩筒，所述收缩筒的内部开设有第三滑轨，且第三滑轨的数量为两组，两组所述第三滑轨相靠近的一侧滑动安装有第三滑块，所述第三滑块的一侧固定连接有连接杆，所述连接杆的表面开设有升降槽，所述连接杆的内部横向穿插有插销，所述插销的一侧卡合有卡槽，所述收缩筒的一侧固定连接有限位板，且限位板的数量为两组，两组所述限位板的一侧固定连接有固定板，所述插销的一侧固定连接有拉环，所述连接杆的一侧固定连接有检测器。
优选的，所述插销的表面套接有第二弹簧，所述第二弹簧的一侧固定连接于固定板上。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
1、通过设置有器件测试主体、装置主杆和检测器，当工作人员使用此装置时，可通过旋转转杆，带动丝杆旋转，当丝杆旋转时可带动螺纹套旋转，因为两组螺纹套内部螺纹相反，所以呈相互靠近移动，此时第一夹持板与第二夹持板相互靠近，使装置对电子器件进行夹持，方便工作人员进行检测，大大提升了装置使用的便捷性。
2、通过设置有第一弹簧和空心筒，当装置使用时，可通过第二滑块在第一滑轨内滑动，可使装置对不同大小的电子器件进行检测，大大提升了装置的实用性，同时，当装置调试到工作位置时，可通过限位块与限位槽相互卡合使装置达到固定效果，大大提升了装置使用时的稳定性。
3、通过设置有收缩筒和连接杆，当工作人员使用装置进行检测时，可拔动拉环将插销拔出连接杆内部，此时可通过拉动连接杆使第三滑块在第三滑轨内部滑动使检测器对电子器件进行检测，大大提升了装置使用的便捷性，当装置使用完成后也可通过连接杆向收缩筒内部收缩，达到装置的保护作用，大大提升了装置的使用寿命。
附图说明
图1为本实用新型的结构正视剖面示意图；
图2为本实用新型的图1中A处局部结构放大示意图；
图3为本实用新型的升降机构示意图；
图4为本实用新型的结构侧视示意图。
图中：100、装置主体；110、器件测试主体；111、装置主杆；112、横杆；113、第一滑轨；114、第一海绵垫；115、第一夹持板；116、丝杆；117、第二滑轨；118、装置底座；119、第一滑块；120、螺纹套；121、转杆；122、防滑垫；123、转盘；124、第二海绵垫；125、第二夹持板；126、第二滑块；127、检测器；200、定位装置；210、第一弹簧；211、空心筒；212、限位块；213、限位槽；300、升降机构；310、第三滑轨；311、插销；312、卡槽；313、第二弹簧；314、限位板；315、固定板；316、拉环；317、升降槽；318、连接杆；319、第三滑块；320、收缩筒。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-4，本实用新型提供的一种实施例：
一种具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置，包括装置主体100，装置主体100包括器件测试主体110、装置主杆111和检测器127，器件测试主体110的一侧固定连接有装置底座118，器件测试主体110的一侧固定连接有装置主杆111，装置主杆111的一侧固定连接有横杆112，器件测试主体110的内部开设有第二滑轨117，第二滑轨117的内部滑动安装有第一滑块119，且第一滑块119的数量为两组，两组第一滑块119的一侧皆固定连接有螺纹套120，且两组螺纹套120内部螺纹相反，两组螺纹套120的内部螺纹连接有丝杆116，丝杆116的一侧固定连接有转盘123，转盘123的一侧固定连接有转杆121，横杆112的内部开设有第一滑轨113，第一滑轨113的内部滑动安装有第二滑块126，第二滑块126的内部设置有定位装置200，第二滑块126的一侧设置有升降机构300，当工作人员使用此装置时，可通过旋转转杆121，带动丝杆116旋转，当丝杆116旋转时可带动螺纹套120旋转，因为两组螺纹套120内部螺纹相反，所以呈相互靠近移动，此时第一夹持板115与第二夹持板125相互靠近，使装置对电子器件进行夹持，方便工作人员进行检测，大大提升了装置使用的便捷性。
进一步的，两组螺纹套120的一侧分别固定连接有第一夹持板115与第二夹持板125，第一夹持板115的一侧固定连接有第一海绵垫114，第二夹持板125的一侧固定连接有第二海绵垫124，当装置使用时，第二夹持板125与第一夹持板115对电子器件进行夹持时，通过第二海绵垫124与第一海绵垫114对电子器件紧密贴合，大大减少了装置对电子器件的磨损，提升了装置的实用性。
进一步的，转杆121的表面套接有防滑垫122，当工作人员使用装置时，空可通过握住防滑垫122对转杆121进行旋转，增加手部与转杆121之间的摩擦，大大提升了装置使用的便捷性。
进一步的，定位装置200包括第一弹簧210和空心筒211，第二滑块126的内部开设有空心筒211，空心筒211的内部固定连接有第一弹簧210，第一弹簧210的一侧固定连接有限位块212，第一滑轨113的内部开设有限位槽213，限位块212的一侧滑动安装于限位槽213上，当装置使用时，可通过第二滑块126在第一滑轨113内滑动，可使装置对不同大小的电子器件进行检测，大大提升了装置的实用性，同时，当装置调试到工作位置时，可通过限位块212与限位槽213相互卡合使装置达到固定效果，大大提升了装置使用时的稳定性。
进一步的，升降机构300包括收缩筒320和连接杆318，第二滑块126的一侧固定连接有收缩筒320，收缩筒320的内部开设有第三滑轨310，且第三滑轨310的数量为两组，两组第三滑轨310相靠近的一侧滑动安装有第三滑块319，第三滑块319的一侧固定连接有连接杆318，连接杆318的表面开设有升降槽317，连接杆318的内部横向穿插有插销311，插销311的一侧卡合有卡槽312，收缩筒320的一侧固定连接有限位板314，且限位板314的数量为两组，两组限位板314的一侧固定连接有固定板315，插销311的一侧固定连接有拉环316，连接杆318的一侧固定连接有检测器127，当装置使用时，可通过第三滑块319在第三滑轨310内滑动对不同大小或不同的位置进行检测，大大提升了装置的实用性。
进一步的，插销311的表面套接有第二弹簧313，第二弹簧313的一侧固定连接于固定板315上，当工作人员使用此装置时，拉动拉环316时，第二弹簧313进行收缩，当工作人员松开拉环316时，可通过第二弹簧313的弹性势能将插销311进行复位，大大提升了装置使用的便捷性。
工作原理：当工作人员使用此装置时，可通过旋转转杆121，带动丝杆116旋转，当丝杆116旋转时可带动螺纹套120旋转，因为两组螺纹套120内部螺纹相反，所以呈相互靠近移动，此时第一夹持板115与第二夹持板125相互靠近，同时第二海绵垫124与第一海绵垫114与电子器件紧密贴合，使装置对电子器件进行夹持。
当工作人员使用此装置时，当装置调试到工作位置时，可通过第一弹簧210的弹性势能将限位块212顶入限位槽213使装置达到稳定效果，同时，调试时，向一侧滑动第二滑块126，通过限位块212向下挤压第一弹簧210可使第二滑块126在第一滑轨113内部滑动，达到装置的调节效果。
当工作人员使用装置进行检测时，可拔动拉环316将插销311拔出连接杆318内部，此时可通过拉动连接杆318使第三滑块319在第三滑轨310内部滑动使检测器127对电子器件进行检测，当装置使用完成后也可通过连接杆318向收缩筒320内部收缩，达到装置的升降效果。
对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
Claims (6)
1.一种具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置，包括装置主体(100)，其特征在于：所述装置主体(100)包括器件测试主体(110)、装置主杆(111)和检测器(127)，所述器件测试主体(110)的一侧固定连接有装置底座(118)，所述器件测试主体(110)的一侧固定连接有装置主杆(111)，所述装置主杆(111)的一侧固定连接有横杆(112)，所述器件测试主体(110)的内部开设有第二滑轨(117)，所述第二滑轨(117)的内部滑动安装有第一滑块(119)，且第一滑块(119)的数量为两组，两组所述第一滑块(119)的一侧皆固定连接有螺纹套(120)，且两组螺纹套(120)内部螺纹相反，两组所述螺纹套(120)的内部螺纹连接有丝杆(116)，所述丝杆(116)的一侧固定连接有转盘(123)，所述转盘(123)的一侧固定连接有转杆(121)，所述横杆(112)的内部开设有第一滑轨(113)，所述第一滑轨(113)的内部滑动安装有第二滑块(126)，所述第二滑块(126)的内部设置有定位装置(200)，所述第二滑块(126)的一侧设置有升降机构(300)。
2.根据权利要求1所述的一种具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置，其特征在于：两组所述螺纹套(120)的一侧分别固定连接有第一夹持板(115)与第二夹持板(125)，所述第一夹持板(115)的一侧固定连接有第一海绵垫(114)，所述第二夹持板(125)的一侧固定连接有第二海绵垫(124)。
3.根据权利要求1所述的一种具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置，其特征在于：所述转杆(121)的表面套接有防滑垫(122)。
4.根据权利要求1所述的一种具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置，其特征在于：所述定位装置(200)包括第一弹簧(210)和空心筒(211)，所述第二滑块(126)的内部开设有空心筒(211)，所述空心筒(211)的内部固定连接有第一弹簧(210)，所述第一弹簧(210)的一侧固定连接有限位块(212)，所述第一滑轨(113)的内部开设有限位槽(213)，所述限位块(212)的一侧滑动安装于限位槽(213)上。
5.根据权利要求1所述的一种具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置，其特征在于：所述升降机构(300)包括收缩筒(320)和连接杆(318)，所述第二滑块(126)的一侧固定连接有收缩筒(320)，所述收缩筒(320)的内部开设有第三滑轨(310)，且第三滑轨(310)的数量为两组，两组所述第三滑轨(310)相靠近的一侧滑动安装有第三滑块(319)，所述第三滑块(319)的一侧固定连接有连接杆(318)，所述连接杆(318)的表面开设有升降槽(317)，所述连接杆(318)的内部横向穿插有插销(311)，所述插销(311)的一侧卡合有卡槽(312)，所述收缩筒(320)的一侧固定连接有限位板(314)，且限位板(314)的数量为两组，两组所述限位板(314)的一侧固定连接有固定板(315)，所述插销(311)的一侧固定连接有拉环(316)，所述连接杆(318)的一侧固定连接有检测器(127)。
6.根据权利要求5所述的一种具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置，其特征在于：所述插销(311)的表面套接有第二弹簧(313)，所述第二弹簧(313)的一侧固定连接于固定板(315)上。
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| CN202022792258.3U CN214067208U (zh) | 2020-11-26 | 2020-11-26 | 一种具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置 |
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| CN202022792258.3U CN214067208U (zh) | 2020-11-26 | 2020-11-26 | 一种具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置 |
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| CN202022792258.3U Active CN214067208U (zh) | 2020-11-26 | 2020-11-26 | 一种具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置 |
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| CN (1) | CN214067208U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114236269A (zh) * | 2021-11-25 | 2022-03-25 | 重庆科技学院 | 一种便于固定的多功能材料电性能测试装置 |
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2020
- 2020-11-26 CN CN202022792258.3U patent/CN214067208U/zh active Active
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| CN114236269A (zh) * | 2021-11-25 | 2022-03-25 | 重庆科技学院 | 一种便于固定的多功能材料电性能测试装置 |
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