CN214040062U - 一种非接触式位置检测装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及位置检测技术领域，其目的是提供一种非接触式位置检测装置，具有较强抵抗干扰磁场的能力、能够保证检测精度。所述非接触式位置检测装置包括磁体组件和用于检测磁场变化并计算所述磁体组件旋转角度的检测组件，所述磁体组件包括可绕中心旋转的底座及固定设置在所述底座上表面的至少一个磁体组，每个所述磁体组包括两个相对于所述底座的中心位置对称的磁体(1)，同组的两个所述磁体(1)在竖直方向上磁极相反设置。本实用新型提供的解决了现有非接触式位置检测装置容易受外界电磁干扰的影响，检测精确度不高的问题。
Description
技术领域
本实用新型涉及位置检测技术领域，特别是涉及一种非接触式位置检测装置。
背景技术
随着汽车制造等工业领域自动化程度的不断提高，位置检测需求越来越多。在非接触式位置检测装置工作时，外部系统的电子元器件所产生的电磁信号，会对非接触式位置检测装置造成电磁干扰，从而影响位置检测的精确度。如中国专利文献CN208383051U公开了一种旋转式位置检测装置，包括永磁体和能够检测旋转磁信号并输出旋转角度电信号的磁信号检测电路板，磁信号检测电路板上布有磁信息号检测和处理电路；永磁铁安装在翻板转轴的末端；磁信号检测电路板为圆形。这种非接触式位置检测装置的永磁铁为一块并且设置于翻板转轴的中心位置，这种磁铁在旋转过程中产生的磁场强度较弱，很容易受外界电磁干扰的影响，导致检测结果不准确，在外界磁场干扰较强时甚至有可能失去位置检测的作用，影响后面工序的正常进行，形成安全隐患。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题在于现有技术的非接触式位置检测装置容易受外界电磁干扰的影响，检测精确度不高，而提供一种具有较强抵抗干扰磁场的能力、能够保证检测精度的非接触式位置检测装置。
为解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案如下：
一种非接触式位置检测装置，包括磁体组件和用于检测磁场变化并计算所述磁体组件旋转角度的检测组件，所述磁体组件包括可绕中心旋转的底座及固定设置在所述底座上表面的至少一个磁体组，每个所述磁体组包括两个相对于所述底座的中心位置对称的磁体，同组的两个所述磁体在竖直方向上磁极相反设置。
优选地，所述磁体组件还包括与所述底座固定连接的固定附件，所述磁体嵌入所述固定附件内。
优选地，所述底座为磁屏蔽底座。
优选地，所述检测组件扣设于所述磁体组件的上方，所述检测组件包括磁屏蔽罩以及设置于所述磁屏蔽罩内的检测芯片，所述检测芯片位于所述底座的中心位置上方且高于所述磁体的顶部，所述检测芯片与所述底座同轴。
优选地，所述检测芯片设置于检测电路板上，所述检测电路板水平安装于固定支架上，所述固定支架与所述磁屏蔽罩固定连接。
优选地，所述磁体为矩形磁体。
优选地，所述底座的上表面固定设置有一个所述磁体组。
优选地，所述底座为圆形底座。
本实用新型的上述技术方案相比现有技术具有以下优点：
(1)本实用新型的非接触式位置检测装置，其中磁场组件包括至少一个磁体组，每个磁体组具有两个磁体，这种由至少两个的偶数个磁体构成的磁场稳定性更好，具有较强的抵抗外部磁场干扰的能力，能够更好地被检测芯片检测到，从而确保检测组件对磁场组件的检测精度，保证检测结果的准确性。
(2)本实用新型的非接触式位置检测装置，通过设置磁屏蔽底座和磁屏蔽罩，能够对各个方向的外界电磁干扰进行屏蔽，进一步保证位置检测的精确度。
下面结合附图对本实用新型的非接触式位置检测装置作进一步说明。
附图说明
图1为本实用新型非接触式位置检测装置的分解示意图；
图2为本实用新型非接触式位置检测装置的剖面示意图；
图3为本实用新型非接触式位置检测装置中磁体设置位置示意图；
图4为本实用新型非接触式位置检测装置中磁体磁场分布示意图。
图中附图标记表示为：
1-磁体，2-磁屏蔽底座，3-固定附件，4-磁屏蔽罩，5-检测芯片，6-检测电路板，7-固定支架。
具体实施方式
如图1、2所示，本实用新型的一种非接触式位置检测装置包括磁体组件和检测组件。其中，磁体组件会产生旋转，而检测组件用于检测磁场变化并计算出磁体组件旋转的角度。
磁体组件包括可绕中心旋转的底座及固定设置在底座上表面的至少一个磁体组，在本实施例中，磁体组件的底座优选为圆形且为磁屏蔽底座2，磁屏蔽底座的材料选用磁导率高的软磁材料，例如：坡莫合金、纯铁等。每个磁体组包括两个相对于磁屏蔽底座2的中心位置对称的磁体1，同组的两个磁体1在竖直方向上磁极相反设置。磁体1通过注塑方式嵌入固定附件3内，固定附件3与磁屏蔽底座2固定连接。固定附件3采用不导磁材料制成。磁体1、固定附件3随磁屏蔽底座2一起旋转。
如图3所示，在本实施例中，磁屏蔽底座2的上表面固定设置有一个磁体组，该磁体组中的两个磁体1相对于磁屏蔽底座2的中心位置对称，两个磁体1均为矩形磁体，而且其中一个磁体1的N极朝上，另一个磁体1的S极朝上。
检测组件扣设于磁体组件的上方，在本实施例中，磁体组件的轴线与检测组件的轴线重合。检测组件包括磁屏蔽罩4以及设置于磁屏蔽罩4内的检测芯片5。磁屏蔽罩4的材料选用磁导率高的软磁材料，例如：坡莫合金、纯铁等。检测芯片5位于磁屏蔽底座2的中心位置上方且高于磁体1的顶部，检测芯片5与底座同轴。检测芯片5设置于检测电路板6上，检测电路板即为PCBA,Printed Circuit Board Assembly。检测电路板6水平安装于固定支架7上，固定支架7与磁屏蔽罩4固定连接。
下面分别对磁体组件和检测组件的安装过程进行简述：
(1)磁体组件的安装
将两个磁体1通过注塑方式嵌入固定附件3内，固定附件3与磁屏蔽底座2也可以通过注塑方式固定连接，磁屏蔽底座2的中心与电机或其他装置的转轴相连。
(2)检测组件的安装
检测电路板6通过两处热铆或两个螺钉安装到固定支架7上，磁屏蔽罩4通过一处热铆或一个螺钉安装到固定支架7上。组装后，检测组件的轴线与磁体组件的轴线重合，检测组件与磁体组件不接触，检测组件扣于磁体组件上方，并确保检测芯片5位于磁屏蔽底座2的中心位置上方且高于磁体1的顶部，检测芯片5与底座同轴。工作时，磁屏蔽罩4与其他装置外壳固定连接。
在磁体组件和检测组件组装完成后，磁屏蔽底座1和磁屏蔽罩4能够对磁体1及检测电路板6各个方向的外界电磁干扰进行屏蔽，确保检测过程不受外界电磁干扰。
下面对本实用新型非接触式位置检测装置的工作过程进行简述：
当磁体组件旋转时，两个磁体1产生的磁场如图4所示，检测电路板6上的检测芯片5能够检测到两个磁体1组成的磁场的变化，之后经过计算得出磁体组件所旋转的角度。
在其他实施例中，根据实际使用需求，底盘上表面可以设置两个磁体组(即四个磁体1)，或者三个磁体组(即六个磁体1)等。多个磁体构成的磁场稳定性更好，具有更强的抵抗外部磁场干扰的能力。
以上所述的实施例仅仅是对本实用新型的优选实施方式进行描述，并非对本实用新型的范围进行限定，在不脱离本实用新型设计精神的前提下，本领域普通技术人员对本实用新型的技术方案作出的各种变形和改进，均应落入本实用新型权利要求书确定的保护范围内。
Claims (8)
1.一种非接触式位置检测装置，包括磁体组件和用于检测磁场变化并计算所述磁体组件旋转角度的检测组件，其特征在于：所述磁体组件包括可绕中心旋转的底座及固定设置在所述底座上表面的至少一个磁体组，每个所述磁体组包括两个相对于所述底座的中心位置对称的磁体(1)，同组的两个所述磁体(1)在竖直方向上磁极相反设置。
2.根据权利要求1所述的非接触式位置检测装置，其特征在于：所述磁体组件还包括与所述底座固定连接的固定附件(3)，所述磁体(1)嵌入所述固定附件(3)内。
3.根据权利要求2所述的非接触式位置检测装置，其特征在于：所述底座为磁屏蔽底座(2)。
4.根据权利要求3所述的非接触式位置检测装置，其特征在于：所述检测组件扣设于所述磁体组件的上方，所述检测组件包括磁屏蔽罩(4)以及设置于所述磁屏蔽罩(4)内的检测芯片(5)，所述检测芯片(5)位于所述底座的中心位置上方且高于所述磁体(1)的顶部，所述检测芯片(5)与所述底座同轴。
5.根据权利要求4所述的非接触式位置检测装置，其特征在于：所述检测芯片(5)设置于检测电路板(6)上，所述检测电路板(6)水平安装于固定支架(7)上，所述固定支架(7)与所述磁屏蔽罩(4)固定连接。
6.根据权利要求1-5任一所述的非接触式位置检测装置，其特征在于：所述磁体(1)为矩形磁体。
7.根据权利要求6所述的非接触式位置检测装置，其特征在于：所述底座的上表面固定设置有一个所述磁体组。
8.根据权利要求7所述的非接触式位置检测装置，其特征在于：所述底座为圆形底座。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202120133501.2U CN214040062U (zh) | 2021-01-19 | 2021-01-19 | 一种非接触式位置检测装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202120133501.2U CN214040062U (zh) | 2021-01-19 | 2021-01-19 | 一种非接触式位置检测装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
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| CN214040062U true CN214040062U (zh) | 2021-08-24 |
Family
ID=77346741
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| CN202120133501.2U Active CN214040062U (zh) | 2021-01-19 | 2021-01-19 | 一种非接触式位置检测装置 |
Country Status (1)
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|---|---|
| CN (1) | CN214040062U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112880539A (zh) * | 2021-01-19 | 2021-06-01 | 天津中科华誉科技有限公司 | 一种非接触式位置检测装置 |
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2021
- 2021-01-19 CN CN202120133501.2U patent/CN214040062U/zh active Active
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| CN112880539A (zh) * | 2021-01-19 | 2021-06-01 | 天津中科华誉科技有限公司 | 一种非接触式位置检测装置 |
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