CN213957431U - 一种芯片老化试验箱 - Google Patents
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Abstract
一种芯片老化试验箱，包括具有高温试验腔的箱体、转动设置于所述箱体上的箱门、控制单元，其特征在于，所述箱门与所述箱体之间设置有电子式门吸锁，所述箱门与/或所述箱体上设置有通过采集高温试验腔内温度从而控制所述电子式门吸锁的温度感应装置，所述温度感应装置与控制单元输入端电连接，通过在高温试验箱上设置电子式门吸锁，采用电子式控制方式开关箱，使用方便；同时设置温度感应装置采集高温试验腔内温度，控制门吸锁的开关，对箱门开闭设置高温保护限制，避免在高温状态下打开箱门引起对人员的烫伤，提高安全性。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种芯片老化试验箱。
背景技术
现有技术中，普通的高温试验箱箱门采用旋转式手动锁，任何条件下都可以开门，在进行完高温试验之后，需要通过等待，人工判断门锁温度是否适合开门，这种情况下，时常造成试验人员判断失误，在试验箱内仍存在高温气体时开门，造成安全问题。
发明内容
本实用新型要解决的技术问题是提供一种芯片老化试验箱。
为了解决上述技术问题，本发明采用的技术方案是：一种芯片老化试验箱，包括具有高温试验腔的箱体、转动设置于所述箱体上的箱门、控制单元，其特征在于，所述箱门与所述箱体之间设置有电子式门吸锁，所述箱门与/或所述箱体上设置有通过采集高温试验腔内温度从而控制所述电子式门吸锁的温度感应装置，所述温度感应装置与控制单元输入端电连接。
优选的，所述控制单元输出端连接有根据温度感应装置采集到的高温而得电的第二中间继电器，所述电子式门吸锁的控制电路包括人为触控常闭式开关、与所述人为触控常闭式开关相串联的第一中间继电器、并联在所述人为触控常闭式开关上的第二中间继电器的常开触点，所述电子式门吸锁的供电回路中串接有所述第一中间继电器的常闭触点。
优选的，所述人为触控常闭式开关为指纹识别装置、人脸识别装置、员工卡识别装置、密码输入装置中的一种。
优选的，所述箱体内部还设置有位于所述高温试验腔顶壁板上方的高温制热腔、位于所述高温试验腔背壁板后方的送风风道、位于高温试验腔与关闭状态下的箱门之间的回风风道，所述送风风道与所述回风风道相对分布，所述高温制热腔、所述送风风道、所述高温试验腔与所述回风风道依次相连通，所述高温制热腔内设置有制热送风系统，所述高温试验腔的背壁板上开设有多个穿透的网孔，所述高温试验腔和所述送风风道通过所述网孔连通，所述高温试验腔顶壁板的前部具有回风口，所述回风口位于所述回风风道的正上方。
由于上述技术方案运用，本实用新型与现有技术相比具有下列优点：通过在高温试验箱上设置电子式门吸锁，采用电子式控制方式开关箱，使用方便；同时设置温度感应装置采集高温试验腔内温度，控制门吸锁的开关，对箱门开闭设置高温保护限制，避免在高温状态下打开箱门引起对人员的烫伤，提高安全性。
附图说明
附图1为电子式门吸锁控制电路示意图；
附图2为温度感应装置电路示意图；
附图3为试验箱正面示意图；
附图4为试验箱G-G剖面示意图；
其中，1、箱体；11、高温试验腔；12、高温制热腔；2、箱门； 3、送风风道；4、回风风道；5、送风系统。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型作进一步的描述。
如各附图所示，一种芯片老化试验箱，包括具有高温试验腔11的箱体1、转动设置于箱体1上的箱门2以及控制单元。箱门2与箱体1之间设置有电子式门吸锁，箱门2上设置有通过采集高温试验腔11内温度从而控制电子式门吸锁的温度感应装置，温度感应装置与控制单元输入端电连接。温度感应装置为常规部件，购买而来。
本实施例中，如附图1、2所示，控制单元输出端连接有根据温度感应装置采集到的高温而得电的第二中间继电器KA2，电子式门吸锁的控制电路包括人为触控常闭式开关SW、与人为触控常闭式开关SW相串联的第一中间继电器KA1、并联在人为触控常闭式开关上的第二中间继电器KA2的常开触点，本实施例中人为触控常闭式开关SW为指纹识别装置，电子式门吸锁的供电回路中串接有第一中间继电器的常闭触点。
具体工作原理，如附图1、2所示，当指纹识别装置识别成功时，人为触控常闭式开关SW打开，导致第一中间继电器KA1不得电，因而电子式门吸锁的供电回路中第一中间继电器的常闭触点处于常闭状态，此时电子式门吸锁的供电回路导通，电子式门吸锁得电使得高温试验箱的箱门2能够打开。
当人为触控常闭式开关SW处于常闭状态下或指纹识别装置识别失败时，人为触控常闭式开关SW闭合，第一中间继电器KA1始终得电，因而电子式门吸锁的供电回路中第一中间继电器的常闭触点处于打开状态，此时电子式门吸锁的供电回路无法导通，电子式门吸锁不得电使得其始终箱门2始终吸附在箱体1上，高温试验箱的箱门2无法打开。
当温度感应装置所测高温试验腔11内的温度高于设置的测温阈值时，如60℃，控制单元控制第二中间继电器KA2的控制线圈得电，导致电子式门吸锁的控制电路中第二中间继电器KA2常开触点转变为闭合状态，此时无论人为触控常闭式开关SW出于何种状态，第一中间继电器KA1始终得电，因而电子式门吸锁的供电回路中第一中间继电器的常闭触点处于打开状态，此时电子式门吸锁的供电回路无法导通，电子式门吸锁不得电使得其始终箱门2始终吸附在箱体1上，高温试验箱的箱门2无法打开。有效避免高温试验箱内的温度过高时，试验人员在不知情的情况下打开试验箱门2，引发安全事故。
本实施例中，如附图3、4所示，箱体1内部还设置有位于高温试验腔11顶壁板上方的高温制热腔12、位于高温试验腔11背壁板后方的送风风道3、位于高温试验腔11与关闭状态下的箱门2之间的回风风道4，送风风道3与回风风道4相对分布，高温制热腔12、送风风道3、高温试验腔11与回风风道4依次相连通，高温制热腔12内设置有制热送风系统5，送风系统5包括设置于所述高温制热腔12内的加热丝和循环风机；高温试验腔11的背壁板上开设有多个穿透的网孔，高温试验腔11和送风风道3通过网孔连通，高温试验腔11顶壁板的前部具有回风口，回风口位于回风风道4的正上方。
具体的，高温制热腔12、送风风道3、高温试验腔11和回风风道4连通成型于箱体1内部，当高温制热腔12的加热丝和循环风机等工作时，循环风机运行将加热腔内的热气送入送风风道3，通过高温试验腔11的背壁板上的网孔向高温试验腔11内均匀吹出，经过高温试验腔11、回风风道4、回风口由循环风机吸入加热腔再加热，反复循环，从而达到温度设定要求，保证试验腔的温度均匀。
上述实施例只为说明本实用新型的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本实用新型的内容并据以实施，并不能以此限制本实用新型的保护范围。凡根据本实用新型精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
Claims (4)
1.一种芯片老化试验箱，包括具有高温试验腔（11）的箱体（1）、转动设置于所述箱体（1）上的箱门（2）、控制单元，其特征在于，所述箱门（2）与所述箱体（1）之间设置有电子式门吸锁，所述箱门（2）与/或所述箱体（1）上设置有通过采集高温试验腔（11）内温度从而控制所述电子式门吸锁的温度感应装置，所述温度感应装置与控制单元输入端电连接。
2.根据权利要求1所述的一种芯片老化试验箱，其特征在于：所述控制单元输出端连接有根据温度感应装置采集到的高温而得电的第二中间继电器（KA2），所述电子式门吸锁的控制电路包括人为触控常闭式开关（SW）、与所述人为触控常闭式开关（SW）相串联的第一中间继电器（KA1）、并联在所述人为触控常闭式开关（SW）上的第二中间继电器（KA2）的常开触点，所述电子式门吸锁的供电回路中串接有所述第一中间继电器（KA1）的常闭触点。
3.根据权利要求2所述的一种芯片老化试验箱，其特征在于：所述人为触控常闭式开关（SW）为指纹识别装置、人脸识别装置、员工卡识别装置、密码输入装置中的一种。
4.根据权利要求1所述的一种芯片老化试验箱，其特征在于：所述箱体（1）内部还设置有位于所述高温试验腔（11）顶壁板上方的高温制热腔（12）、位于所述高温试验腔（11）背壁板后方的送风风道（3）、位于高温试验腔（11）与关闭状态下的箱门（2）之间的回风风道（4），所述送风风道（3）与所述回风风道（4）相对分布，所述高温制热腔（12）、所述送风风道（3）、所述高温试验腔（11）与所述回风风道（4）依次相连通，所述高温制热腔（12）内设置有制热送风系统，所述高温试验腔（11）的背壁板上开设有多个穿透的网孔，所述高温试验腔（11）和所述送风风道（3）通过所述网孔连通，所述试验腔（11）顶壁板的前部具有回风口，所述回风口位于所述回风风道（4）的正上方。
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114370203A (zh) * | 2022-01-05 | 2022-04-19 | 江苏拓米洛环境试验设备有限公司 | 一种环境试验箱门锁系统及环境试验箱门锁控制方法 |
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