CN213843399U - 电小天线测量装置 - Google Patents

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陈宇钦
张佳莺
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Suzhou Yipu Electromagnetic Technology Co ltd
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Abstract

本实用新型提供了一种电小天线测量装置,用以对待测天线进行测量,所述电小天线测量装置包括:圆环形探针网络,待测天线位于所述圆环形探针网络的中间位置;射频线缆,所述射频线缆的一端与所述待测天线连接;测试仪表,所述测试仪表与所述射频线缆的另一端连接;巴伦套管,所述巴伦套管套接于所述线缆,金属巴伦套管一端短路套接于射频线的金属外表层,另外一端为开路。本实用新型的电小天线测量装置,通过同轴阻抗变换结构,允许巴伦套管靠近待测天线一段产生高阻抗,因此抑制电小天线由于漏电流产生的伪辐射,改善测试精度。

Description

电小天线测量装置
技术领域
本实用新型涉及天线的测量装置,尤其涉及一种电小天线测量装置。
背景技术
电小天线测量面临挑战,同轴馈线为非平衡时阻抗结构,使用同轴电缆向电小天线馈电可能会导致在同轴线外表皮产生漏电流,进而产生伪辐射,这体现在辐射效率和增益上产生的误差。
铁氧体磁环通常用于电小天线测量中,但是这种方法可能不是合适的解决方案。这是因为铁氧体磁环位于电小天线的感应场区域中;因此,馈电线上的泄漏电流会部分反射回去,部分被铁氧体磁环部吸收。添加铁氧体磁环的工作机制是沿馈电线提供非常高的电抗阻抗,以便使泄漏电流向回反射。因此,需要使用多块铁氧体磁环以确保阻抗足够高。
有鉴于此,有必要对现有的电小天线测量装置予以改进,以解决上述问题。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种电小天线测量装置,以解决上述问题。
为实现上述目的,本实用新型提供一种电小天线测量装置,用以对待测天线进行测量,所述电小天线测量装置包括:
圆环形探针网络,待测天线位于所述圆环形探针网络的中间位置;射频线缆,所述射频线缆的一端与所述待测天线连接;测试仪表,所述测试仪表与所述射频线缆的另一端连接;巴伦套管,所述巴伦套管套在设于所述射频线缆外。
作为本实用新型的进一步改进,所述金属巴伦套管,一端短路套接于射频线的金属外表层,另外一端为开路。通过同轴阻抗变换结构,允许巴伦套管的开路端产生高阻抗,抑制电小天线的漏电流产生的伪辐射。
作为本实用新型的进一步改进,所述金属巴伦套管与同轴线之间材料为空气,或者介电常数为1-20之间的介质材料。
作为本实用新型的进一步改进,所述巴伦套管的材料为金属。
作为本实用新型的进一步改进,所述巴伦套管可以手动调节长度。
作为本实用新型的进一步改进,所述巴伦套管的长度为0.2-0.3波长,直径为0-0.1波长,距离待测天线的距离为0-10波长。
作为本实用新型的进一步改进,所述电小天线测量装置还包括铁氧磁体磁环,所述铁氧磁体磁环套设在所述射频线缆外,间隔地位于所述巴伦套管和测试仪表之间。
作为本实用新型的进一步改进,所述测试仪表包括网络分析仪、示波器、频谱仪、矢量信号发生器、矢量信号分析仪。
作为本实用新型的进一步改进,包括圆环形探针网络,或位于环形滑轨上的探针,或沿圆环运动的机械手臂,被测试天线位于上述圆环中心。
本实用新型的有益效果是:本实用新型的电小天线测量装置,通过将巴伦套管套接于射频线缆线缆,通过同轴阻抗变换结构,允许巴伦套管的靠近待测天线一段产生高阻抗,并因此抑制电小天线由于漏电流产生的伪辐射。
附图说明
图1是现有技术检测装置的结构示意图;
图2是本实用新型的电小天线测量装置的结构示意图;
图3是本实用新型设有铁氧磁体磁环的电小天线测量装置;
图4是本实用新型的电小天线测量装置的巴伦套管的放大结构示意图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚,下面结合附图和具体实施例对本实用新型进行详细描述。
如图1所示,现有技术中因没有设置辅助装置,从而在利用圆环形探针网络20、射频线缆30、测试仪表40对待测天线10进行检测时,会导致在同轴线外表皮产生漏电流,进而产生伪辐射,这体现在辐射效率和增益上产生的误差。
如图2至图4所示,本实用新型的电小天线测量装置100,用以对待测天线1进行测量,所述电小天线测量装置100包括圆环形探针网络2、射频线缆3、测试仪表4、巴伦套管5。整个所述电小天线测量装置100放置在含有吸波材料的微波暗室内以提高检测的准确性。
所述圆环形探针网络2为圆环形探针网络,或位于环形滑轨上的探针,或沿圆环运动的机械手臂,被测试天线位于上述圆环中心。
所述射频线缆3的一端与所述待测天线1连接,另一端与所述测试仪表4相连接。
所述巴伦套管5,一端短路套接于射频线缆3的金属外表层,另外一端为开路。通过同轴阻抗变换结构,允许巴伦套管5的开路端产生高阻抗,抑制电小天线的漏电流产生的伪辐射。
所述巴伦套管5的材料为金属,与所述射频线缆3同轴设置,之间材料为空气,或者介电常数为1-20的介质材料。
如此设置的巴伦套管5,在靠近待测天线1的一端产生高阻抗,并因此抑制待测天线1的漏电流的伪辐射,从而提高测试精度。
所述巴伦套管5长度可以调节。通过调节巴伦套管5的长度,进行不同工作频段的电磁辐射数据,完成待测天线1的3D测试。
所述巴伦套管5的长度为0.2-0.3波长,直径为0-0.1波长,距离待测天线1的距离为0-10波长。
本实施例中,所述巴伦套管5的长度为0.25波长,直径为0.05波长,距离待测天线1的距离为0.1波长。
在其他实施例中,所述电小天线测量装置100还包括铁氧磁体磁环6,所述铁氧磁体磁环6套设在所述射频线缆3外,位于所述巴伦套管5和测试仪表4之间。通过设置铁氧磁体磁环6,进一步改善电小天线在辐射效率和增益上产生的测试误差,改善测试效果。
所述测试仪表4包括网络分析仪、示波器、频谱仪、矢量信号发生器、矢量信号分析仪。所述测试仪表4通过GPIB或者USB等标准接口与计算机相连,计算机可以控制各测试仪表4实现相应的功能,进而通过环形探针网络的3D扫描,得到被测天线3D球面磁辐射数据,完成测试。
本实用新型的电小天线测量装置100,通过将巴伦套管5套接于射频线缆3线缆,通过同轴阻抗变换结构,允许巴伦套管5的靠近待测天线1一段产生高阻抗,并因此抑制电小天线由于漏电流产生的伪辐射,同时可以和铁氧磁体磁环6复合使用,进一步改善电小天线在辐射效率和增益上产生的测试误差,测试结果准确。
以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案而非限制,尽管参照较佳实施例对本实用新型进行了详细说明,本领域的普通技术人员应当理解,可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换,而不脱离本实用新型技术方案的精神和范围。

Claims (8)

1.一种电小天线测量装置,用以对待测天线进行测量,其特征在于:所述电小天线测量装置包括:
圆环形探针网络,待测天线位于所述圆环形探针网络的中间位置;
射频线缆,所述射频线缆的一端与所述待测天线连接;
测试仪表,所述测试仪表与所述射频线缆的另一端连接;
巴伦套管,所述巴伦套管套设在所述射频线缆外。
2.根据权利要求1所述的电小天线测量装置,其特征在于:所述巴伦套管,一端短路套接于射频线的金属外表层,另外一端为开路,通过同轴阻抗变换结构,允许巴伦套管的开路端产生高阻抗,抑制电小天线的漏电流产生的伪辐射。
3.根据权利要求1所述的电小天线测量装置,其特征在于:所述巴伦套管与所述射频线缆同轴设置,所述巴伦套管与同轴线之间材料为空气,或者介电常数为1-20之间的介质材料。
4.根据权利要求1所述的电小天线测量装置,其特征在于:所述巴伦套管的材料为金属。
5.根据权利要求1所述的电小天线测量装置,其特征在于:所述巴伦套管可以手动调节长度。
6.根据权利要求1所述的电小天线测量装置,其特征在于:所述巴伦套管的长度为0.2-0.3波长,直径为0-0.1波长,距离待测天线的距离为0-10波长。
7.根据权利要求1所述的电小天线测量装置,其特征在于:所述电小天线测量装置还可以包括铁氧磁体磁环,所述铁氧磁体磁环套设在所述射频线缆外,间隔地位于所述巴伦套管和测试仪表之间。
8.根据权利要求1所述的电小天线测量装置,其特征在于:所述测试仪表包括网络分析仪、示波器、频谱仪、矢量信号发生器、矢量信号分析仪。
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