CN213688717U - 一种多感温包复用检测电路及电器 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种多感温包复用检测电路及电器，所述多感温包复用检测电路连接控制芯片，包括多个感温包检测电路和选择电路，多个所述感温包检测电路的控制端分别连接所述选择电路的多个输出端，多个所述感温包检测电路的输出端共同连接所述控制芯片的A/D端口，所述选择电路的输入端连接所述控制芯片的I/O口。本实用新型通过控制芯片控制选择电路的信号输出，从而控制每一路感温包检测电路是否导通，在同一时间内，只让一路感温包检测信号导通，从而仅通过一个A/D口可用时，实现对多个感温包的数据获取。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子电路技术领域，具体涉及一种多感温包复用检测电路及电器。
背景技术
家用电器常常需要使用感温包进行温度检测，目前由于感温包检测必须使用A/D检测口，实际应用过程中会由于A/D检测口资源不足或临时增加要求等情况，导致只有一个A/D检测口可用，此时若需增加一个感温包便会捉襟见肘。同时由于感温包A/D检测的特殊性，对精度要求较高，不同感温包返回的数值不能互相干扰，一般的IO口复用方式不适用。
实用新型内容
本实用新型的目的在于避免现有技术中的不足之处而提供一种多感温包复用检测电路及电器，当仅有一个A/D口可用时，实现对多个感温包的数据获取。
本实用新型的目的通过以下技术方案实现：
本实用新型提供了一种多感温包复用检测电路，所述多感温包复用检测电路连接控制芯片，包括多个感温包检测电路和选择电路，多个所述感温包检测电路的控制端分别连接所述选择电路的多个输出端，多个所述感温包检测电路的输出端共同连接所述控制芯片的A/D端口，所述选择电路的输入端连接所述控制芯片的I/O口。
优选地，所述感温包检测电路包括导通开关、感温电阻、电源、第一限流电阻、第二限流电阻、分压电阻和二极管，所述第一限流电阻的一端连接所述选择电路的一个输出端，所述第一限流电阻的另一端连接所述导通开关的控制端，所述导通开关的输入端连接所述感温电阻的一端，所述感温电阻的另一端连接所述电源，所述导通开关的输出端连接所述第二限流电阻的一端和分压电阻的一端，所述第二限流电阻的另一端连接所述二极管的阳极，所述分压电阻的另一端接地，所述二极管的阴极连接所述控制芯片的A/D端口。
优选地，所述感温包检测电路具体为2-8个。
优选地，所述感温包检测电路具体为8个。
优选地，所述选择电路包括译码器，所述译码器的输入端连接所述控制芯片的I/O口，所述译码器的多个输出端分别连接多个所述感温包检测电路的输入端。
优选地，所述译码器具体为3 线-8线译码器。
优选地，所述导通开关具体为三极管。
优选地，所述控制芯片具体为MCU。
本实用新型还提供一种电器，所述电器包括上述的多感温包复用检测电路。
从以上方案可以看出，本实用新型具有以下有益效果：本实用新型提供一种多感温包复用检测电路及电器，控制芯片输出信号通过控制选择电路的信号输出，从而控制每一路感温包检测电路是否导通，在同一时间内，只让一路感温包检测信号导通，从而仅通过一个A/D口可用时，实现对多个感温包的数据获取。
附图说明
利用附图对实用新型作进一步说明，但附图中的实施例不构成对本实用新型的任何限制，对于本领域的普通技术人员，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据以下附图获得其它的附图。
图1是本实用新型的实施例1的一种多感温包复用检测电路的电路结构示意图。
图2是本实用新型的实施例2的一种多感温包复用检测电路的电路结构示意图。
其中，附图标记如下：10.感温包检测电路。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本实用新型方案，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分的实施例，而不是全部的实施例。
实施例1，一种多感温包复用检测电路。
本实施例的一种多感温包复用检测电路，多感温包复用检测电路连接控制芯片，包括多个感温包检测电路10和选择电路，多个感温包检测电路10的控制端分别连接选择电路的多个输出端，多个感温包检测电路10的输出端共同连接控制芯片的A/D端口，选择电路的输入端连接控制芯片的I/O口。
在本实施例中，控制芯片可以为任意具备逻辑运算功能、I/O口和A/D检测端口的芯片，例如：CPU、MCU、DSP、FPGA等，本实施例以MCU作为主控芯片为例进行说明。
如附图1所示，本实施例中的选择电路包括3 线-8线译码器，3线-8线译码器的输入端连接MCU的3个普通I/O口，3线-8线译码器的8个输出端分别连接8个感温包检测电路10的输入端，本实施例也可以根据选择其它线数的译码器，而不限于3线-87线译码器。
MCU可以根据3个普通I/O口输出的信号，控制8路输出中的任意一路为高电平，从而控制该路感温包检测电路10导通。
本实施例可以根据需求设置任意数量的感温包检测电路10，本实施例以8个感温包检测电路10为例进行说明。
具体地，本实施例中的每一路感温包检测电路10均包括三极管、感温电阻、电源、第一限流电阻、第二限流电阻、分压电阻和二极管，第一限流电阻的一端连接3线-8线译码器的任意一个输出端，第一限流电阻的另一端连接三极管的控制端，三极管的输入端连接感温电阻的一端，感温电阻的另一端连接电源，三极管的输出端连接第二限流电阻的一端和分压电阻的一端，第二限流电阻的另一端连接二极管的阳极，分压电阻的另一端接地，二极管的阴极连接MCU的A/D检测端口。
电源为感温包检测电路10供电，第一限流电阻、第二限流电阻均用于限流，二极管用于放置信号串流，当与感温包检测电路10连接的3线-8线译码器输出端口输出高电平时，三极管导通，感温电阻由于温度变化产生的阻值变化，从而使分压电阻上的电压值产生变化，MCU的A/D检测端口获取分压电阻的电压值变化，从而获取改路感温包检测电路10检测到的温度信息。
本实施例的工作原理：每一路感温包检测电路10均可以获取温度信息，经过3线-8线译码器选择任意一路信号输出至MCU的A/D检测端口，并可以通过改变MCU的I/O的输出，选择不同的感温包检测电路10进行检测，实现一个A/D检测端口对8路感温包检测电路10的数据获取。
实施例2，一种多感温包复用检测电路。
如附图2所示，本实施例和实施例1的不同之处在于，本实施例包括2路感温包检测电路，其中第二感温包检测电路中的三极管为PNP三极管，本实施例的2路感温包检测电路的共同连接MCU的一个I/O口。
本实施例通过MCU的一个I/O口提供方波，高电平时开通NPN三极管Q1，低电平时开通PNP三极管Q2。当NPN三极管Q1开通时，PNP三极管Q2处于关闭状态，MCU的A/D检测端口仅会采集到第一感温包检测电路10的温度值。当PNP三极管Q2开通时，NPN三极管Q1处于关闭状态，MCU的A/D检测端口仅会检测到第二感温包检测电路的的温度值。
本实施例通过PWM波信号控制2路感温包检测电路是否导通，在高电平时，MCU获取第一感温包检测电路10的温度值，在低电平时，MCU获取第二感温包检测电路的温度值，从而通过1个A/D检测端口实现对两路感温包检测电路的温度获取。
实施例3，一种电器。
本实施例的一种电器，所述电器包括实施例1或实施例2所述的多感温包复用检测电路。
最后应当说明的是，以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对本实用新型保护范围的限制，尽管参照较佳实施例对本实用新型作了详细地说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本实用新型技术方案的实质和范围。
Claims (9)
1.一种多感温包复用检测电路，所述多感温包复用检测电路连接控制芯片，其特征在于，包括多个感温包检测电路和选择电路，多个所述感温包检测电路的控制端分别连接所述选择电路的多个输出端，多个所述感温包检测电路的输出端共同连接所述控制芯片的A/D端口，所述选择电路的输入端连接所述控制芯片的I/O口。
2.根据权利要求1所述的一种多感温包复用检测电路，其特征在于：所述感温包检测电路包括导通开关、感温电阻、电源、第一限流电阻、第二限流电阻、分压电阻和二极管，所述第一限流电阻的一端连接所述选择电路的一个输出端，所述第一限流电阻的另一端连接所述导通开关的控制端，所述导通开关的输入端连接所述感温电阻的一端，所述感温电阻的另一端连接所述电源，所述导通开关的输出端连接所述第二限流电阻的一端和分压电阻的一端，所述第二限流电阻的另一端连接所述二极管的阳极，所述分压电阻的另一端接地，所述二极管的阴极连接所述控制芯片的A/D端口。
3.根据权利要求1所述的一种多感温包复用检测电路，其特征在于：所述感温包检测电路具体为2-8个。
4.根据权利要求3所述的一种多感温包复用检测电路，其特征在于：所述感温包检测电路具体为8个。
5.根据权利要求1所述的一种多感温包复用检测电路，其特征在于：所述选择电路包括译码器，所述译码器的输入端连接所述控制芯片的I/O口，所述译码器的多个输出端分别连接多个所述感温包检测电路的输入端。
6.根据权利要求5所述的一种多感温包复用检测电路，其特征在于：所述译码器具体为3 线-8线译码器。
7.根据权利要求2所述的一种多感温包复用检测电路，其特征在于：所述导通开关具体为三极管。
8.根据权利要求1所述的一种多感温包复用检测电路，其特征在于：所述控制芯片具体为MCU。
9.一种电器，其特征在于，所述电器包括权利要求1至8任意一项所述的多感温包复用检测电路。
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2020
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