CN213524478U - 一种半导体电学特性测试样品放置设备 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种半导体电学特性测试样品放置设备，包括储存柜，所述储存柜的内壁上固定连接有两个放置板，两个所述放置板的侧壁上均贯穿设置有两个抽屉槽，四个所述抽屉槽内均滑动连接有抽屉盒，四个所述抽屉盒的侧壁上均固定连接有把手，两个所述放置板的上端均固定连接有防掉落装置，所述储存柜的内壁上固定连接有两个限位装置，所述储存柜的内壁上固定连接有通风装置。本实用新型结构设计合理，具有可以保持储存柜的通风与防止测试样品意外掉落的好处。
Description
技术领域
本实用新型涉及半导体技术领域，尤其涉及一种半导体电学特性测试样品放置设备。
背景技术
半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明应用、大功率电源转换等领域应用。如二极管就是采用半导体制作的器件。
现有技术中，需要测试半导体电学特性的时候，通常需要一定数量的样品进行测试，这些样品在未测试之前如何存放是个问题，因此，我们提出了一种半导体电学特性测试样品放置设备来解决上述问题。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种半导体电学特性测试样品放置设备。
为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：
一种半导体电学特性测试样品放置设备，包括储存柜，所述储存柜的内壁上固定连接有两个放置板，两个所述放置板的侧壁上均贯穿设置有两个抽屉槽，四个所述抽屉槽内均滑动连接有抽屉盒，四个所述抽屉盒的侧壁上均固定连接有把手，两个所述放置板的上端均固定连接有防掉落装置，所述储存柜的内壁上固定连接有两个限位装置，所述储存柜的内壁上固定连接有通风装置。
优选地，所述防掉落装置包括固定连接在放置板上端的第二转轴，所述第二转轴上转动连接有挡板，所述挡板位于放置板上靠近储存柜外的边缘处。
优选地，所述限位装置包括分别固定连接在储存柜相对的内壁上的两个第一转轴，两个所述第一转轴上均转动连接有限位板，两个所述限位板分别位于其中一个放置板的两侧，两个所述限位板均位于对应位置处的挡板的外侧。
优选地，所述通风装置包括贯穿设置在储存柜内壁上的两个通风风扇，所述储存柜的内壁上贯穿设置有凹槽，所述凹槽内设置有供电盒，两个所述通风风扇均与供电盒电连接，所述供电盒的外侧壁上固定连接有拉环。
优选地，两个所述放置板的上端均贯穿设置有通槽，两个所述通槽分别与对应位置处的抽屉槽相连通，两个所述通槽的内壁上均设置有隔网，两个所述抽屉盒内均放置有炭盒。
优选地，两个所述第一转轴与两个所述第二转轴均为阻尼转轴。
本实用新型具有以下有益效果；
本实用新型中，通过设置防掉落装置、限位装置与通风装置相互配合，将需要存放的测试样品放在对应位置的放置板上，利用通风装置可以让储存柜内保持持续通风，利用防掉落装置与限位装置可以防止放置在放置板上的测试样品在打开储存柜的时候意外掉落。
附图说明
图1为本实用新型提出的一种半导体电学特性测试样品放置设备的结构示意图；
图2为本实用新型提出的一种半导体电学特性测试样品放置设备的放置板俯视示意图。
图中：1第一转轴、2限位板、3抽屉槽、4抽屉盒、5第二转轴、 6挡板、7把手、8凹槽、9供电盒、10拉环、11通风风扇、12储存柜、13放置板、14隔网。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。
参照图1-2，一种半导体电学特性测试样品放置设备，包括储存柜12，储存柜12的内壁上固定连接有两个放置板13，两个放置板 13的侧壁上均贯穿设置有两个抽屉槽3，四个抽屉槽3内均滑动连接有抽屉盒4，四个抽屉盒4的侧壁上均固定连接有把手7，两个放置板13的上端均固定连接有防掉落装置，防掉落装置包括固定连接在放置板13上端的第二转轴5，第二转轴5上转动连接有挡板6，挡板 6位于放置板13上靠近储存柜12外的边缘处。
其中，储存柜12的内壁上固定连接有两个限位装置，限位装置包括分别固定连接在储存柜12相对的内壁上的两个第一转轴1，两个第一转轴1上均转动连接有限位板2，两个限位板2分别位于其中一个放置板13的两侧，两个限位板2均位于对应位置处的挡板6的外侧，两个第一转轴1与两个第二转轴5均为阻尼转轴。
其中，储存柜12的内壁上固定连接有通风装置，通风装置包括贯穿设置在储存柜12内壁上的两个通风风扇11，储存柜12的内壁上贯穿设置有凹槽8，凹槽8内设置有供电盒9，两个通风风扇11均与供电盒9电连接，供电盒9的外侧壁上固定连接有拉环10。
具体地，两个放置板13的上端均贯穿设置有通槽，两个通槽分别与对应位置处的抽屉槽3相连通，两个通槽的内壁上均设置有隔网 14，两个抽屉盒4内均放置有炭盒，炭盒即为内部放置了炭的盒子，可以吸附掉空气中的湿气。
本实用新型中，操作人员将未测试的测试样品放在两个放置板 13上，储存柜12在关闭状态时，两个通风风扇11持续旋转可以保持储存柜12内的通风性，而四个抽屉盒4内放置的炭盒可以吸附掉储存柜12内空气中的湿气，保证各个测试样品不会受到湿气的影响，而且炭盒也方便更换。
以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种半导体电学特性测试样品放置设备，包括储存柜(12)，其特征在于，所述储存柜(12)的内壁上固定连接有两个放置板(13)，两个所述放置板(13)的侧壁上均贯穿设置有两个抽屉槽(3)，四个所述抽屉槽(3)内均滑动连接有抽屉盒(4)，四个所述抽屉盒(4)的侧壁上均固定连接有把手(7)，两个所述放置板(13)的上端均固定连接有防掉落装置，所述储存柜(12)的内壁上固定连接有两个限位装置，所述储存柜(12)的内壁上固定连接有通风装置。
2.根据权利要求1所述的一种半导体电学特性测试样品放置设备，其特征在于，所述防掉落装置包括固定连接在放置板(13)上端的第二转轴(5)，所述第二转轴(5)上转动连接有挡板(6)，所述挡板(6)位于放置板(13)上靠近储存柜(12)外的边缘处。
3.根据权利要求2所述的一种半导体电学特性测试样品放置设备，其特征在于，所述限位装置包括分别固定连接在储存柜(12)相对的内壁上的两个第一转轴(1)，两个所述第一转轴(1)上均转动连接有限位板(2)，两个所述限位板(2)分别位于其中一个放置板(13)的两侧，两个所述限位板(2)均位于对应位置处的挡板(6)的外侧。
4.根据权利要求1所述的一种半导体电学特性测试样品放置设备，其特征在于，所述通风装置包括贯穿设置在储存柜(12)内壁上的两个通风风扇(11)，所述储存柜(12)的内壁上贯穿设置有凹槽(8)，所述凹槽(8)内设置有供电盒(9)，两个所述通风风扇(11)均与供电盒(9)电连接，所述供电盒(9)的外侧壁上固定连接有拉环(10)。
5.根据权利要求1所述的一种半导体电学特性测试样品放置设备，其特征在于，两个所述放置板(13)的上端均贯穿设置有通槽，两个所述通槽分别与对应位置处的抽屉槽(3)相连通，两个所述通槽的内壁上均设置有隔网(14)，两个所述抽屉盒(4)内均放置有炭盒。
6.根据权利要求3所述的一种半导体电学特性测试样品放置设备，其特征在于，两个所述第一转轴(1)与两个所述第二转轴(5)均为阻尼转轴。
Priority Applications (1)
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| CN202020670960.XU CN213524478U (zh) | 2020-04-28 | 2020-04-28 | 一种半导体电学特性测试样品放置设备 |
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Publications (1)
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Family Applications (1)
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Country Status (1)
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2020
- 2020-04-28 CN CN202020670960.XU patent/CN213524478U/zh active Active
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