CN213457324U - 一种基于分相同步检验的二次回路验证装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种基于分相同步检验的二次回路验证装置，包括开入信号检测装置、总电源、MCU以及接线端子排；所述总电源分别与所述开入信号检测装置、所述MCU电连接；所述MCU包括主CPU、LED驱动电路以及LED灯组；所述LED驱动电路与所述主CPU、所述LED灯组电连接；所述开入信号检测装置包括分别独立设置的A相开入检测光耦、B相开入检测光耦、C相开入检测光耦以及三跳开入检测光耦；所述A相开入检测光耦、所述B相开入检测光耦、所述C相开入检测光耦以及所述三跳开入检测光耦分别与所述接线端子排、所述主CPU电连接；所述LED灯组上分别对应所述A相开入检测光耦、所述B相开入检测光耦、所述C相开入检测光耦以及所述三跳开入检测光耦各设置有LED灯。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种基于分相同步检验的二次回路验证装置，属于电力系统继电保护技术领域。
背景技术
随着继电保护技术的不断革新，一些运行时间较长的常规变电站就需要大量保护改造工作。在常规变电站涉及到线路保护分相出口回路的改造过程中，保护的分相跳闸回路可以通过整组试验进行验证，保护至录波装置的分相回路可以通过保护动作时查看录波信息进行验证。然而，由于母线保护处于运行状态，因此线路保护的分相启动失灵回路就只能使用万用表，然后采用逐相测量的方式来进行验证。这样，不仅验证方法不够直观，且还需要重复测量多次，才能保证回路唯一性，十分不便。
例如，在220kV线路保护中，采用的是分相启动失灵回路，即A相启动失灵、B相启动失灵、C相启动失灵以及三跳启动失灵，共计4个回路，通过同一根电缆至母线保护屏。为了检验每个回路的唯一性(此以A相为例)，则需使用万用表检验A相回路动作情况，B相回路、C相回路以及三跳启动失灵回路不动作情况。由于万用表同一时间只能测量一个回路的导通情况，所以需同一试验测量4次。
其次，使用万用表在二次回路上，采用点触的方式进行测量时，容易受到表笔与二次电缆接触的面积不足、接触点电阻过大或者操作方式错误的影响，导致万用表不能正确识别回路上动作情况。
实用新型内容
为了克服上述问题，本实用新型提供一种基于分相同步检验的二次回路验证装置，该二次回路验证装置结构简单，携带方便，可以同步检验多相回路，提高对于相间寄生回路的检验速度，而且通过采用直接接入方式增大接触面积以及避免操作错误带来的影响。
本实用新型的技术方案如下：
一种基于分相同步检验的二次回路验证装置，包括开入信号检测装置、总电源、MCU以及接线端子排；所述总电源分别与所述开入信号检测装置、所述MCU电连接；所述MCU包括主CPU、LED驱动电路以及LED灯组；所述LED驱动电路与所述主CPU、所述LED灯组电连接；所述开入信号检测装置包括分别独立设置的A相开入检测光耦、B相开入检测光耦、C相开入检测光耦以及三跳开入检测光耦；所述A相开入检测光耦、所述B相开入检测光耦、所述C相开入检测光耦以及所述三跳开入检测光耦分别与所述接线端子排、所述主CPU电连接；所述LED灯组上分别对应所述A相开入检测光耦、所述B相开入检测光耦、所述C相开入检测光耦以及所述三跳开入检测光耦各设置有LED灯。
进一步的，还包括一隔离电源；所述总电源与所述隔离电源电连接；所述隔离电源与所述开入信号检测装置电连接。
进一步的，所述A相开入检测光耦、所述B相开入检测光耦、所述C相开入检测光耦以及所述三跳开入检测光耦均采用PC817光耦。
进一步的，所述主CPU采用89C52芯片。
进一步的，所述总电源采用USB接口标准。
进一步的，所述隔离电源采用24V直流隔离电源。
进一步的，所述LED驱动电路采用74HC573芯片。
本实用新型具有如下有益效果：
1、该二次回路验证装置结构简单，携带方便，可以同步检验多相回路，提高对于相间寄生回路的检验速度，而且通过采用直接接入方式增大接触面积以及避免操作错误带来的影响。
2、采用LED灯组，LED灯组上的LED灯各自对应一组检测光耦设置，可以通过直观的方式，反馈出回路试验的结果。
附图说明
图1为本实用新型的整体结构示意图。
图中附图标记表示为：
1、开入信号检测装置；11、A相开入检测光耦；12、B相开入检测光耦；13、C相开入检测光耦；14、三跳开入检测光耦；2、总电源；21、隔离电源；3、MCU；31、主CPU；32、LED驱动电路；33、LED灯组；4、接线端子排。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例来对本实用新型进行详细的说明。
参见图1，一种基于分相同步检验的二次回路验证装置，包括开入信号检测装置1、总电源2、MCU3以及接线端子排4；所述总电源2分别与所述开入信号检测装置1、所述MCU3电连接；所述MCU3包括主CPU31、LED驱动电路32以及LED灯组33；所述LED驱动电路32与所述主CPU31、所述LED灯组33电连接；所述开入信号检测装置1包括分别独立设置的A相开入检测光耦11、B相开入检测光耦12、C相开入检测光耦13以及三跳开入检测光耦14；所述A相开入检测光耦11、所述B相开入检测光耦12、所述C相开入检测光耦13以及所述三跳开入检测光耦14分别与所述接线端子排4、所述主CPU31电连接；所述LED灯组33上分别对应所述A相开入检测光耦11、所述B相开入检测光耦12、所述C相开入检测光耦13以及所述三跳开入检测光耦14各设置有LED灯。
根据上述描述，该二次回路验证装置主要包括开入信号检测装置1、总电源2、MCU3以及接线端子排4。开入信号检测装置1以PC817光耦为主体，包括分别独立设置的A相开入检测光耦11、B相开入检测光耦12、C相开入检测光耦13以及三跳开入检测光耦14，负责将启动失灵回路试验时产生的脉冲信号，转换为低电平后，供给主CPU31进行识别。总电源2则用于给开入信号检测装置1、MCU3(以及后续的隔离电源21)供电。MCU3(即Micro ControlUnit，微控制单元)包括主CPU31、LED驱动电路32以及LED灯组33。主CPU31以89C52芯片为主体，主要负责识别来自开入信号检测装置1的开入量，处理之后输出控制信号给LED驱动电路32，控制LED灯组33上对应的LED灯亮起。LED灯组33上，对应A相开入检测光耦11连接有A相LED灯，对应B相开入检测光耦12连接有B相LED灯，对应C相开入检测光耦13连接有C相LED灯，对应三跳开入检测光耦14连接有三跳LED灯。LED灯组33可以通过对应各光耦的LED灯的亮灭，很直观地反应出回路检验的结果。
进一步的，还包括一隔离电源21；所述总电源2与所述隔离电源21电连接；所述隔离电源21与所述开入信号检测装置1电连接。总电源2提供初始电压给MCU3和隔离电源21，隔离电源21用于对电压进行直流隔离处理，最后得到符合光耦要求的输入电压，输入到开入信号检测装置1上。
进一步的，所述A相开入检测光耦11、所述B相开入检测光耦12、所述C相开入检测光耦13以及所述三跳开入检测光耦14均采用PC817光耦。
进一步的，所述主CPU31采用89C52芯片。
进一步的，所述总电源2采用USB接口标准。总电源2采用USB接口标准，便于在实际使用过程中，可以直接采用大容量的移动电源，对整个装置来进行供电。
进一步的，所述隔离电源21采用24V直流隔离电源。
进一步的，所述LED驱动电路32采用74HC573芯片。
本实用新型的工作原理：
参见图1，以检验A相回路唯一性为例，在使用该二次回路验证装置时，首先，将启动失灵回路电缆线全部接于接线端子排4上。然后，开始进行线路保护的A相单跳试验。若A相回路中，无寄生回路或者保护处接线正确，则LED灯组33上对应A相的LED灯亮起，而对应B相、C相以及三跳的LED灯不亮。如此，则表明A相回路试验正确，同一试验只需测量一次。同时，按照该试验方法逐相进行测量，即可完整地检验出回路一致性。
若A相回路中，寄生回路或保护处接线错误，则LED灯组33上对应A相的LED灯不亮，而对应B相、C相以及三跳的LED灯则会根据实际寄生回路情以及保护回路接线况而亮起。如此，则表明A相回路试验错误。
以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。
Claims (6)
1.一种基于分相同步检验的二次回路验证装置，其特征在于：包括开入信号检测装置(1)、总电源(2)、MCU(3)以及接线端子排(4)；所述总电源(2)分别与所述开入信号检测装置(1)、所述MCU(3)电连接；所述MCU(3)包括主CPU(31)、LED驱动电路(32)以及LED灯组(33)；所述LED驱动电路(32)与所述主CPU(31)、所述LED灯组(33)电连接；所述开入信号检测装置(1)包括分别独立设置的A相开入检测光耦(11)、B相开入检测光耦(12)、C相开入检测光耦(13)以及三跳开入检测光耦(14)；所述A相开入检测光耦(11)、所述B相开入检测光耦(12)、所述C相开入检测光耦(13)以及所述三跳开入检测光耦(14)分别与所述接线端子排(4)、所述主CPU(31)电连接；所述LED灯组(33)上分别对应所述A相开入检测光耦(11)、所述B相开入检测光耦(12)、所述C相开入检测光耦(13)以及所述三跳开入检测光耦(14)各设置有LED灯。
2.根据权利要求1所述基于分相同步检验的二次回路验证装置，其特征在于：还包括一隔离电源(21)；所述总电源(2)与所述隔离电源(21)电连接；所述隔离电源(21)与所述开入信号检测装置(1)电连接。
3.根据权利要求1所述基于分相同步检验的二次回路验证装置，其特征在于：所述A相开入检测光耦(11)、所述B相开入检测光耦(12)、所述C相开入检测光耦(13)以及所述三跳开入检测光耦(14)均采用PC817光耦。
4.根据权利要求1所述基于分相同步检验的二次回路验证装置，其特征在于：所述主CPU(31)采用89C52芯片。
5.根据权利要求2所述基于分相同步检验的二次回路验证装置，其特征在于：所述隔离电源(21)采用24V直流隔离电源。
6.根据权利要求1所述基于分相同步检验的二次回路验证装置，其特征在于：所述LED驱动电路(32)采用74HC573芯片。
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| CN113447884A (zh) * | 2021-07-06 | 2021-09-28 | 国网江苏省电力有限公司营销服务中心 | 一种智能物联电能表管理芯自动检测系统和方法 |
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