CN213457222U - 一种高性能二极管加工用测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种高性能二极管加工用测试装置，包括二极管参数测试仪、显示屏和测试端口，所述二极管参数测试仪上设置有供所述测试端口防尘的防尘机构，所述防尘机构包括防尘壳和定位块，所述防尘壳的一端与所述二极管参数测试仪之间设置有合页，所述防尘壳的另一端设置有安装条，所述安装条的内部开设有插槽，所述定位块的内部开设有活动槽；本实用新型通过设计的防尘机构，便于在不使用时对测试端口进行防尘，避免了不使用时空气中的灰尘会容易进入测试端口的内部，造成在使用时会影响设备测试结果的情况，不使用时将防尘壳盖上，使用时再将防尘壳打开便可使用，操作简单，防尘效果好。
Description
技术领域
本实用新型属于二极管测试设备技术领域，具体涉及一种高性能二极管加工用测试装置。
背景技术
在对二极管加工中需要对其进行测试，会使用到二极管参数测试仪进行测试，实现二极管的极性判断、正向压降和反向压降等参数的测量，具有精度高、性能高、操作方便等优点。
现有的测试装置在使用时，会将连接二极管的测试插头插入测试端口内进行测试，但是在不使用的时候，空气中的灰尘容易进入测试端口内，造成测试端口内布满大量的灰尘，造成插头在插入测试端口后接触不良，导致在使用时会影响测试效果，影响设备测试结果的问题，为此我们提出一种高性能二极管加工用测试装置。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种高性能二极管加工用测试装置，以解决上述背景技术中提出的现有的测试装置在使用时，会将连接二极管的测试插头插入测试端口内进行测试，但是在不使用的时候，空气中的灰尘容易进入测试端口内，造成测试端口内布满大量的灰尘，造成插头在插入测试端口后接触不良，导致在使用时会影响测试效果，影响设备测试结果的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种高性能二极管加工用测试装置，包括二极管参数测试仪、显示屏和测试端口，所述二极管参数测试仪上设置有供所述测试端口防尘的防尘机构，所述防尘机构包括防尘壳和定位块，所述防尘壳的一端与所述二极管参数测试仪之间设置有合页，所述防尘壳的另一端设置有安装条，所述安装条的内部开设有插槽，所述定位块的内部开设有活动槽，所述活动槽的内部设置有插杆，所述插杆的底部可穿入所述插槽的内部，所述插杆的外部设置有两组挡块，所述插杆的顶部与所述活动槽之间设置有弹簧，所述定位块的正面开设有移动槽，所述插杆的正面设置有移动块，所述移动块的端部穿过所述移动槽并延伸至所述定位块的正面。
优选的，所述二极管参数测试仪上还设置有保护机构，所述保护机构包括透明保护盖和两组铁块，所述透明保护盖的两侧面均设置有吸铁石，所述吸铁石与所述铁块之间吸附连接。
优选的，所述二极管参数测试仪的正面设置有多组按键和电源开关。
优选的，所述二极管参数测试仪的两侧面均设置有多组散热孔。
优选的，所述二极管参数测试仪的背面设置有电源线。
优选的，所述二极管参数测试仪的底部四周拐角处均设置有支脚。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
(1)本实用新型通过设计的防尘机构，便于在不使用时对测试端口进行防尘，避免了不使用时空气中的灰尘会容易进入测试端口的内部，造成在使用时会影响设备测试结果的情况，不使用时将防尘壳盖上，使用时再将防尘壳打开便可使用，操作简单，防尘效果好。
(2)本实用新型通过设计的保护机构，可以便于对显示屏进行保护，避免了在使用中操作人员的手容易碰到显示屏造成显示屏被划伤和刮花的情况发生，而且操作人员能通过透明保护盖可以看见显示屏，不影响操作人员的正常操作，设计简单，提高了设备的使用寿命。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图；
图2为本实用新型的图1中A部放大结构示意图；
图3为本实用新型的防尘机构结构示意图；
图4为本实用新型的定位块、插杆和安装条连接图；
图5为本实用新型的定位块和安装条剖视结构示意图；
图中：1、二极管参数测试仪；2、透明保护盖；3、显示屏；4、按键；5、电源开关；6、防尘壳；7、吸铁石；8、铁块；9、合页；10、测试端口；11、定位块；12、安装条；13、插杆；14、移动槽；15、移动块；16、挡块；17、弹簧；18、活动槽；19、插槽。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-图5，本实用新型提供一种技术方案：一种高性能二极管加工用测试装置，包括二极管参数测试仪1、显示屏3和测试端口10，二极管参数测试仪1上设置有供测试端口10防尘的防尘机构，防尘机构包括防尘壳6和定位块11，防尘壳6的一端与二极管参数测试仪1之间设置有合页9，防尘壳6的另一端设置有安装条12，安装条12的内部开设有插槽19，定位块11的内部开设有活动槽18，活动槽18的内部设置有插杆13，插杆13的底部可穿入插槽19的内部，插杆13的外部设置有两组挡块16，插杆13的顶部与活动槽18之间设置有弹簧17，定位块11的正面开设有移动槽14，插杆13的正面设置有移动块15，移动块15的端部穿过移动槽14并延伸至定位块11的正面，通过设计的防尘机构，便于在不使用时对测试端口10进行防尘，避免了不使用时空气中的灰尘会容易进入测试端口10的内部，造成在使用时会影响设备测试结果的情况，不使用时将防尘壳6盖上，使用时再将防尘壳6打开便可使用，操作简单，防尘效果好。
本实施例中，优选的，二极管参数测试仪1上还设置有保护机构，保护机构包括透明保护盖2和两组铁块8，透明保护盖2的两侧面均设置有吸铁石7，吸铁石7与铁块8之间吸附连接，通过设计的保护机构，可以便于对显示屏3进行保护，避免了在使用中操作人员的手容易碰到显示屏3造成显示屏3被划伤和刮花的情况发生，而且操作人员能通过透明保护盖2可以看见显示屏3，不影响操作人员的正常操作，设计简单，提高了设备的使用寿命。
本实施例中，优选的，二极管参数测试仪1的正面设置有多组按键4和电源开关5。
本实施例中，优选的，二极管参数测试仪1的两侧面均设置有多组散热孔。
本实施例中，优选的，二极管参数测试仪1的背面设置有电源线。
本实施例中，优选的，二极管参数测试仪1的底部四周拐角处均设置有支脚。
本实用新型的工作原理及使用流程：
本实用新型在使用的时候，握住移动块15向上移动，带动插杆13跟着向上移动，这时弹簧17开始压缩，当移动块15向上移动至合适位置后停止移动，这时将防尘壳6关上，此时插槽19与插杆13的底部位置相吻合，然后放开移动块15，这时弹簧17回伸，推动插杆13向下移动，随后插杆13的底部便穿入插槽19的内部，此时便可固定防尘壳6，防尘壳6可以起到防尘左右，对测试端口10进行防尘，当需要使用时，再次握住移动块15向上移动，带动插杆13跟着向上移动，随后插杆13的底部便脱离插槽19，此时便可打开防尘壳6进行使用设备；
将透明保护盖2放在显示屏3的正面位置，并让吸铁石7与铁块8吸附在一起，这时便可安装好透明保护盖2，透明保护盖2可以防止操作人员误碰到显示屏3造成被划伤和刮花的情况，当需要拆下透明保护盖2时，将透明保护盖2从显示屏3上拿开，这时吸铁石7与铁块8便分开，这时便可拆下透明保护盖2。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (6)
1.一种高性能二极管加工用测试装置，包括二极管参数测试仪(1)、显示屏(3)和测试端口(10)，其特征在于：所述二极管参数测试仪(1)上设置有供所述测试端口(10)防尘的防尘机构，所述防尘机构包括防尘壳(6)和定位块(11)，所述防尘壳(6)的一端与所述二极管参数测试仪(1)之间设置有合页(9)，所述防尘壳(6)的另一端设置有安装条(12)，所述安装条(12)的内部开设有插槽(19)，所述定位块(11)的内部开设有活动槽(18)，所述活动槽(18)的内部设置有插杆(13)，所述插杆(13)的底部可穿入所述插槽(19)的内部，所述插杆(13)的外部设置有两组挡块(16)，所述插杆(13)的顶部与所述活动槽(18)之间设置有弹簧(17)，所述定位块(11)的正面开设有移动槽(14)，所述插杆(13)的正面设置有移动块(15)，所述移动块(15)的端部穿过所述移动槽(14)并延伸至所述定位块(11)的正面。
2.根据权利要求1所述的一种高性能二极管加工用测试装置，其特征在于：所述二极管参数测试仪(1)上还设置有保护机构，所述保护机构包括透明保护盖(2)和两组铁块(8)，所述透明保护盖(2)的两侧面均设置有吸铁石(7)，所述吸铁石(7)与所述铁块(8)之间吸附连接。
3.根据权利要求2所述的一种高性能二极管加工用测试装置，其特征在于：所述二极管参数测试仪(1)的正面设置有多组按键(4)和电源开关(5)。
4.根据权利要求3所述的一种高性能二极管加工用测试装置，其特征在于：所述二极管参数测试仪(1)的两侧面均设置有多组散热孔。
5.根据权利要求4所述的一种高性能二极管加工用测试装置，其特征在于：所述二极管参数测试仪(1)的背面设置有电源线。
6.根据权利要求5所述的一种高性能二极管加工用测试装置，其特征在于：所述二极管参数测试仪(1)的底部四周拐角处均设置有支脚。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN202022379054.7U CN213457222U (zh) | 2020-10-23 | 2020-10-23 | 一种高性能二极管加工用测试装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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|---|---|
| CN213457222U true CN213457222U (zh) | 2021-06-15 |
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ID=76294168
Family Applications (1)
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| CN202022379054.7U Active CN213457222U (zh) | 2020-10-23 | 2020-10-23 | 一种高性能二极管加工用测试装置 |
Country Status (1)
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|---|---|
| CN (1) | CN213457222U (zh) |
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2020
- 2020-10-23 CN CN202022379054.7U patent/CN213457222U/zh active Active
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