CN213301469U - 一种正交双光束光度测量装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于分析仪器技术领域，一种正交双光束光度测量装置，其特征在于，包括比色管基座、光纤一、光纤二、导线一、导线二、导线三及控制电路板。比色管基座上端面固定设置有放置槽；光纤一的一端连接有光源，另一端穿过通孔二；光纤二的一端连接有光源，另一端穿过通孔三；通孔一内固定设置有光电传感器一，光电传感器一通过导线一与控制电路板电性连接；通孔二内固定设置有光电传感器二，光电传感器二通过导线二与控制电路板电性连接。本实用新型的一种正交双光束光度测量装置，两路入射光强度信号计算为2个吸光度值，通过以算术平均值表达测量结果，误差最小，有效消除了圆形比色管的不圆度误差。

Description

一种正交双光束光度测量装置

技术领域

本实用新型属于分析仪器技术领域，具体涉及一种正交双光束光度测量装置。

背景技术

比色测定是一种常用的分析测试方法，当一束入射光线通过盛装在比色管内的待测液体时，有一部分会被待测物质组份吸收，从而使入射光的强度减弱，通常用吸光度表示减弱的程度，且吸光度与待测物质组份的浓度以及光在待测溶液中行进的距离（称为光程）成正比。按照此原理制造的光度计，目前都有比较成熟的产品，应用很广泛。

由于圆形的比色管存在制造公差，无法真正做到正圆形，实际都是椭圆形的，是有长轴、短轴的。椭圆形的比色管从不同位置照射，光程也是不同的，这就造成同一支比色管，不同位置测量，其数据是不相同的，试管的不圆度造成了这一误差。为消除不圆度误差，1、有采用提高圆形比色管公差标准的解决方案，但比色管制造成本大幅攀升；2、有采用电机旋转圆形比色管多次测量求平均值的解决方案，由于引进运动部件，仪器的制造成本、制造难度、故障率均提高；由于需要多次测量，测量的时间周期较长。为此我们设计出了一种正交双光束光度测量装置来解决上述的问题。

实用新型内容

针对现有技术的不足，本实用新型的目的在于提供了一种正交双光束光度测量装置，它可以解决试管的不圆度造成误差的问题。

本实用新型采用了如下技术方案：一种正交双光束光度测量装置，其特征在于：包括比色管基座、光纤一、光纤二、导线一、导线二、导线三及控制电路板；

比色管基座上端面固定设置有放置槽；

放置槽的侧壁均匀开设有通孔一、通孔二、通孔三、通孔四，通孔一和通孔三对应，通孔二和通孔四对应；

光纤一的一端连接有光源，另一端穿过通孔二；

光纤二的一端连接有光源，另一端穿过通孔三；

通孔一内固定设置有光电传感器一，光电传感器一通过导线一与控制电路板电性连接；

通孔二内固定设置有光电传感器二，光电传感器二通过导线二与控制电路板电性连接；

控制电路板与光源通过导线三电性连接。

优选地，光电传感器一和光纤二正对安装，光电传感器二和光纤一正对安装。

优选地，光纤一和光纤二发出的光线相垂直。

优选地，比色管基座采用一体成型。

优选地，控制电路板可以控制光电传感器一和光电传感器二以及光源的工作。

与现有技术对比，本实用新型具备以下有益效果：

一、本实用新型的一种正交双光束光度测量装置，两路入射光强度信号计算为2个吸光度值，通过以算术平均值表达测量结果，误差最小，有效消除了圆形比色管的不圆度误差。

二、本实用新型的一种正交双光束光度测量装置，比色管基座采用一体成型，确保入射光、光电传感器、比色管的位置固定不变，稳定性更好。

三、本实用新型的一种正交双光束光度测量装置，完全固定比色管、入射光和光电传感器，极大提高了装置的稳定性。

四、本实用新型的一种正交双光束光度测量装置，设置有两个光电传感器，可同时获取2个光路的测量信号，最大程度缩短测量时间。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型的剖面结构示意图。

图中：1、比色皿基座，101、通孔一，102、通孔二，103、通孔三，104、通孔四，2、放置槽，3、控制电路板，4、光源，5、光纤一，6、光纤二，7、导线一，8、导线二，9、导线三，10、光电传感器一，11、光电传感器二。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。本申请实施例中的附图:图中不同种类的剖面线不是按照国标进行标注的，也不对元件的材料进行要求，是对图中元件的剖视图进行区分。

请参阅图1-2所示的一种正交双光束光度测量装置，它可以解决试管的不圆度造成误差的问题。具体地，一种正交双光束光度测量装置，包括比色管基座1、光纤一5、光纤二6、导线一7、导线二8、导线三9及控制电路板3。

比色管基座1上端面固定设置有放置槽2，放置槽2的侧壁的侧壁均匀开设有通孔一101、通孔二102、通孔三103、通孔四104，通孔一101和通孔三103对应，通孔二102和通孔四104对应。

光纤一5的一端连接有光源4，另一端穿过通孔二102。光纤二6的一端连接有光源4，另一端穿过通孔三103。光纤的作用是传播光。光纤一5和光纤二6发出的光线相垂直，形成正交双光束。

通孔一101内固定设置有光电传感器一10，光电传感器一10通过导线一7与控制电路板3电性连接。通孔二102内固定设置有光电传感器二11，光电传感器二11通过导线二8与控制电路板3电性连接。

光电传感器一10和光纤二6正对安装，光电传感器二11和光纤一5正对安装。确保光电传感器一10和光电传感器二11能接收到光纤一5和光纤二6发出的光。

控制电路板3与光源4通过导线三9电性连接。控制电路板3可以控制光电传感器一10和光电传感器二11以及光源4的工作。

使用时，将比色皿放入放置槽2。通过控制电路板3控制光源4、光电传感器一10、光电传感器二11同时开始工作。入射光从光源4发出，经过光纤一5和光纤二6的传播，从光纤一5和光纤二6发出。两光线相垂直，形成正交双光束。两光线穿过比色皿管后，分别被光电传感器一10和光电传感器二11接收到。通过2个光电传感器分别测量2束相互垂直的入射光的强度信号，根据朗伯比尔定律，入射光的强度与待测组分的浓度以及比色管的光程具有确定的数学函数关系，但由于比色管存在制造公差，实际不是正圆形而是椭圆形，不同位置的测量会产生不同的数值，本装置使用两路正交的光强度信号测量值得到算术平均值，可以很好地消除比色管不圆度引起的误差。

以上所述；仅为本申请较佳的具体实施方式；但本申请的保护范围并不局限于此；任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内；根据本申请的技术方案及其改进构思加以等同替换或改变；都应涵盖在本申请的保护范围内。

Claims (5)

1.一种正交双光束光度测量装置，其特征在于：包括比色管基座（1）、光纤一（5）、光纤二（6）、导线一（7）、导线二（8）、导线三（9）及控制电路板（3）；

比色管基座（1）上端面固定设置有放置槽（2）；

放置槽（2）的侧壁均匀开设有通孔一（101）、通孔二（102）、通孔三（103）、通孔四（104），通孔一（101）和通孔三（103）对应，通孔二（102）和通孔四（104）对应；

光纤一（5）的一端连接有光源（4），另一端穿过通孔二（102）；

光纤二（6）的一端连接有光源（4），另一端穿过通孔三（103）；

通孔一（101）内固定设置有光电传感器一（10），光电传感器一（10）通过导线一（7）与控制电路板（3）电性连接；

通孔二（102）内固定设置有光电传感器二（11），光电传感器二（11）通过导线二（8）与控制电路板（3）电性连接；

控制电路板（3）与光源（4）通过导线三（9）电性连接。

2.根据权利要求1所述的一种正交双光束光度测量装置，其特征在于：光电传感器一（10）和光纤二（6）正对安装，光电传感器二（11）和光纤一（5）正对安装。

3.根据权利要求1所述的一种正交双光束光度测量装置，其特征在于：光纤一（5）和光纤二（6）发出的光线相垂直。

4.根据权利要求1所述的一种正交双光束光度测量装置，其特征在于：比色管基座（1）与放置槽（2）采用一体成型。

5.根据权利要求1所述的一种正交双光束光度测量装置，其特征在于：

控制电路板（3）可以控制光电传感器一（10）和光电传感器二（11）以及光源（4）的工作。

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