CN213240409U - 一种电路板高温老化测试箱 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及电路板测试设备技术领域，且公开了一种电路板高温老化测试箱，包括箱体，所述箱体的内部活动卡接有安装框，所述安装框的底面固定连接有下支撑板，所述下支撑板的顶面开设有卡槽，所述下支撑板的底面开设有螺纹孔，所述螺纹孔的内表面螺纹套接有螺栓，所述安装框的顶面固定连接有顶板。该电路板高温老化测试箱，通过在箱体的内部增设安装框，并在安装框的底部固定连接下支撑板以及在安装框顶部的顶板下方弹簧连接上支撑板，将电路板竖直沿着上支撑板和下支撑板卡入，并通过旋转螺栓向上顶出电路板，使得电路板下部从卡槽中脱出，减小电路板的遮挡面积，提高升温速度和升温均匀性，提高测试效果，使用效果好。

Description

一种电路板高温老化测试箱

技术领域

本实用新型涉及电路板测试设备技术领域，具体为一种电路板高温老化测试箱。

背景技术

电路板在生产加工过程中，为了检验电路板的质量，通常需要抽样检测电路板的高温老化速度，进而进行电路板质量评估。

现有的电路板高温老化测试箱，在使用过程中，由于电路板检测时通常水平放入箱体内部，并保持相互间隔，然而水平放置的电路板部分面积受到隔板的阻隔，使得电路板的升温效果差，且各组电路板的升温不均匀，造成个别电路板过升温，影响了电路板高温老化测试的准确性，使用效果不佳。

实用新型内容

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种电路板高温老化测试箱，具备提高检测效果以及快速降温的优点，解决了上述背景技术中提到的问题。

本实用新型提供如下技术方案：一种电路板高温老化测试箱，包括箱体，所述箱体的内部活动卡接有安装框，所述安装框的底面固定连接有下支撑板，所述下支撑板的顶面开设有卡槽，所述下支撑板的底面开设有螺纹孔，所述螺纹孔的内表面螺纹套接有螺栓，所述安装框的顶面固定连接有顶板，所述顶板的底面固定连接有弹簧，所述弹簧的底端固定连接有上支撑板，所述上支撑板的底面开设有限位槽，所述箱体的正面固定连接有固定柱，所述固定柱的外表面活动套接有盖板，所述箱体内表面的顶面和底面均固定安装有加热管。

优选的，所述箱体内表面的侧面固定连接有滑轨，所述滑轨的侧面开设有二号滑槽，所述安装框的侧面固定连接有滑板，所述二号滑槽的内表面与滑板活动卡接。

优选的，所述顶板的底面固定连接有卡板，所述上支撑板的侧面开设有一号滑槽，所述一号滑槽的内表面与卡板活动卡接。

优选的，所述安装框的内侧面固定连接有连接块，所述连接块的侧面固定连接有换热管。

优选的，所述盖板的正面开设有套孔，所述套孔的内表面与换热管的外端活动套接，所述盖板的顶面开设有位于套孔外侧的螺纹槽，所述螺纹槽的内表面螺纹套接有密封套。

优选的，所述箱体的侧边固定连接有连接板，所述连接板的顶面固定连接有螺纹杆，所述螺纹杆的外表面螺纹套接有卡紧板。

与现有技术对比，本实用新型具备以下有益效果：

1、该电路板高温老化测试箱，通过在箱体的内部增设安装框，并在安装框的底部固定连接下支撑板，以及在安装框顶部的顶板下方弹簧连接上支撑板，将电路板竖直沿着上支撑板和下支撑板卡入，并通过旋转螺栓向上顶出电路板，使得电路板下部从卡槽中脱出，减小电路板的遮挡面积，提高升温速度和升温均匀性，提高测试效果，使用效果好。

2、该电路板高温老化测试箱，通过在安装框的内部固定连接位于电路板外侧的换热管，并使得换热管的两端穿出盖板，测试结束后向换热管的一端连通冷水，使得冷水进入箱体内部迅速降低箱体内温度，提高电路板测试后取出速度，避免自然冷却时间长，且将箱体内温度带出提高水温，合理利用温度，提高能源利用率。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图；

图2为本实用新型结构的剖视图；

图3为图2中A处的结构放大示意图；

图4为本实用新型结构螺栓和下支撑板之间的爆炸示意图；

图5为本实用新型结构上支撑板和卡板之间的爆炸示意图；

图6为本实用新型结构盖板和换热管之间的爆炸示意图；

图7为图6中B处的结构放大示意图。

图中：1、箱体；2、安装框；3、下支撑板；4、卡槽；5、螺纹孔；6、螺栓；7、顶板；8、卡板；9、上支撑板；10、限位槽；11、一号滑槽；12、弹簧；13、滑轨；14、二号滑槽；15、滑板；16、连接块；17、换热管；18、固定柱；19、盖板；20、套孔；21、螺纹槽；22、密封套；23、连接板；24、螺纹杆；25、卡紧板；26、加热管。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-7，一种电路板高温老化测试箱，包括箱体1，箱体1的内部活动卡接有安装框2，安装框2的底面固定连接有下支撑板3，下支撑板3的顶面开设有卡槽4，下支撑板3的底面开设有螺纹孔5，螺纹孔5的内表面螺纹套接有螺栓6，安装框2的顶面固定连接有顶板7，顶板7的底面固定连接有弹簧12，弹簧12的底端固定连接有上支撑板9，上支撑板9的底面开设有限位槽10，箱体1的正面固定连接有固定柱18，固定柱18的外表面活动套接有盖板19，箱体1内表面的顶面和底面均固定安装有加热管26。

其中，箱体1内表面的侧面固定连接有滑轨13，滑轨13的侧面开设有二号滑槽14，安装框2的侧面固定连接有滑板15，二号滑槽14的内表面与滑板15活动卡接，利用二号滑槽14与滑板15之间的活动卡接，使得安装框2可以向外滑出箱体1，并与取出电路板。

其中，顶板7的底面固定连接有卡板8，上支撑板9的侧面开设有一号滑槽11，一号滑槽11的内表面与卡板8活动卡接，利用一号滑槽11和卡板8的活动卡接，使得上支撑板9的滑动更加稳定，提高电路板的调节稳定。

其中，安装框2的内侧面固定连接有连接块16，连接块16的侧面固定连接有换热管17，利用换热管17实现箱体1内部温度的快速降低，提高测试完成后的整理速度。

其中，盖板19的正面开设有套孔20，套孔20的内表面与换热管17的外端活动套接，盖板19的顶面开设有位于套孔20外侧的螺纹槽21，螺纹槽21的内表面螺纹套接有密封套22，利用密封套22实现换热管17的密封，避免在加热测试过程中热量散出。

其中，箱体1的侧边固定连接有连接板23，连接板23的顶面固定连接有螺纹杆24，螺纹杆24的外表面螺纹套接有卡紧板25，利用卡紧板25实现盖板19的夹紧固定，保证箱体1的密封。

工作原理：将电路板沿着下支撑板3顶面的卡槽4和上支撑板9底面的限位槽10之间滑入，电路板保持稳定卡接，旋转螺栓6，使得螺栓6向上顶动电路板，上支撑板9向上沿着卡板8滑动，弹簧12压缩，电路板底端从卡槽4中滑出，将盖板19沿着固定柱18套入，旋转卡紧板25,至水平，并保持换热管17的两端与套孔20套接，启动控制箱使得加热管26加热箱体1内部，当测试完毕，向换热管17一端输入冷水，并在换热管17另一端外接出水管，箱体1内部温度迅速降低。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (6)

1.一种电路板高温老化测试箱，包括箱体（1），其特征在于：所述箱体（1）的内部活动卡接有安装框（2），所述安装框（2）的底面固定连接有下支撑板（3），所述下支撑板（3）的顶面开设有卡槽（4），所述下支撑板（3）的底面开设有螺纹孔（5），所述螺纹孔（5）的内表面螺纹套接有螺栓（6），所述安装框（2）的顶面固定连接有顶板（7），所述顶板（7）的底面固定连接有弹簧（12），所述弹簧（12）的底端固定连接有上支撑板（9），所述上支撑板（9）的底面开设有限位槽（10），所述箱体（1）的正面固定连接有固定柱（18），所述固定柱（18）的外表面活动套接有盖板（19），所述箱体（1）内表面的顶面和底面均固定安装有加热管（26）。

2.根据权利要求1所述的一种电路板高温老化测试箱，其特征在于：所述箱体（1）内表面的侧面固定连接有滑轨（13），所述滑轨（13）的侧面开设有二号滑槽（14），所述安装框（2）的侧面固定连接有滑板（15），所述二号滑槽（14）的内表面与滑板（15）活动卡接。

3.根据权利要求1所述的一种电路板高温老化测试箱，其特征在于：所述顶板（7）的底面固定连接有卡板（8），所述上支撑板（9）的侧面开设有一号滑槽（11），所述一号滑槽（11）的内表面与卡板（8）活动卡接。

4.根据权利要求2所述的一种电路板高温老化测试箱，其特征在于：所述安装框（2）的内侧面固定连接有连接块（16），所述连接块（16）的侧面固定连接有换热管（17）。

5.根据权利要求1所述的一种电路板高温老化测试箱，其特征在于：所述盖板（19）的正面开设有套孔（20），所述套孔（20）的内表面与换热管（17）的外端活动套接，所述盖板（19）的顶面开设有位于套孔（20）外侧的螺纹槽（21），所述螺纹槽（21）的内表面螺纹套接有密封套（22）。

6.根据权利要求2所述的一种电路板高温老化测试箱，其特征在于：所述箱体（1）的侧边固定连接有连接板（23），所述连接板（23）的顶面固定连接有螺纹杆（24），所述螺纹杆（24）的外表面螺纹套接有卡紧板（25）。

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