CN213240264U - 一种用于剩余电流保护器故障诊断系统的测试架 - Google Patents

一种用于剩余电流保护器故障诊断系统的测试架 Download PDF

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郭志涛
段弢
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Abstract

本实用新型公开了一种用于剩余电流保护器故障诊断系统的测试架,其主控芯片相应的引脚分别连接电源电路、晶振电路、复位电路、人机交互电路、工控机通讯电路、被测板通讯电路、模拟测量电路。该测试架电路结构设计合理,性能稳定,抗干扰性好;通过应用该测试架可以先筛选出故障电路板,然后再生产成品剩余电流保护器,将故障成本降到最低。此外,可以利用多个测试架搭建批量检测剩余电流保护器控制板的检测系统,为剩余电流保护器控制板的检测实现批量化、智能化奠定基础。

Description

一种用于剩余电流保护器故障诊断系统的测试架
技术领域
本实用新型涉及电力设备故障检测领域,特别是涉及一种用于剩余电流保护器故障诊断系统的测试架。
背景技术
用于防止人身触电以及由漏电电弧引起的火灾事故,从而避免经济损失和人身伤亡的剩余电流保护器,是电力系统中重要的组成部件。现有的智能剩余电流保护器在检测剩余电流的基础上,实施智能化控制,完成分断与合闸操作,保证线路与设备的安全,其工作的正确性直接影响供电的安全性和可靠性。
智能剩余电流保护器灵敏度高、功能多样,但是结构复杂,抗干扰性、可靠动作性较差,故障率较高,而造成同一故障现象的原因却多种多样,不易检查。
目前智能剩余电流保护器的故障检测方法是将完整的智能剩余电流保护器通过人工在校准台进行参数设置及数据校准,普通校准台可同时挂载2~5台保护器进行测试,这种方法效率低下,且校准台投入的电压电流无疑会增加生产能耗。此外,该种测试方法,一旦出现故障,完整的智能剩余电流保护器将要作返工处理,故障成本较高。
实用新型内容
为克服现有技术的不足,本实用新型提出一种用于剩余电流保护器故障诊断系统的测试架,通过该测试架可以直接对剩余电流保护器控制板进行故障检测,通过该测试架可以先筛选出故障控制板,然后再生产成品剩余电流保护器,将故障成本降到最低。此外,可以利用多个测试架搭建批量检测剩余电流保护器控制板的检测系统,为剩余电流保护器控制板的检测实现批量化、智能化奠定基础。
本实用新型采用以下技术方案:设计一种用于剩余电流保护器故障诊断系统的测试架,其特征在于,所述测试架的主控芯片型号为STM32F429IGT6,主控芯片相应的引脚分别连接电源电路、晶振电路、复位电路、人机交互电路、工控机通讯电路、被测板通讯电路、模拟测量电路;
所述电源电路包括外接电源开关、第一电阻、六号电容、九号电容、L78M10芯片、七号电容、八号电容、LM1117芯片、十号电容、十一号电容,外接电源开关的输出端与第一电阻串联,第一电阻的另一端引出有导线分别依次连接六号电容、九号电容及L78M10芯片的输入端,L78M10芯片的输出端引出有导线依次分别连接七号电容、八号电容及LM1117芯片的输入端,六号电容、九号电容、七号电容、八号电容该四个电容的另一端及L78M10芯片的接地端均通过导线接地;LM1117芯片的输出端引出有导线依次与十号电容、十一号电容连接,LM1117芯片的接地端及十号电容、十一号电容的另一端均通过导线接地;外接电源开关外接14V直流电源,14V直流电源通过第一电阻、六号电容、九号电容构成的滤波电路进行滤波,通过L78M10芯片进行电压转换以提供5V直流电源,通过LM1117芯片进行电源转换以提供3.3V直流电源;主控芯片的电源输入引脚通过电源线与电源电路的3.3V直流电源输出端连接;
所述复位电路包括第二电阻、十二号电容、按键,第二电阻的一端与主控芯片的NRST引脚连接,其另一端引出有导线与电源电路的3.3V直流电源输出端连接;按键与十二号电容并联,其一端引出有导线与电阻连接,另一端通过导线接地;
所述晶振电路包括一号晶振电路和二号晶振电路,均由一个晶体振荡器和两个电容构成,一号晶振电路包括一号晶体振荡器、十三号电容、十四号电容,晶体振荡器两端分别有导线引出连接主控芯片的PH0引脚、PH1引脚,十三号电容、十四号电容分别与晶体振荡器两端的导线连接,该两个电容的另一端通过导线并联并接地;二号晶振电路的结构同一号晶振电路相同,但其二号晶体振荡器的两端分别有导线引出连接主控芯片的PC14引脚、PC15引脚;
所述模拟测量电路包括RC滤波电路、MCP6004运算放大器电路、TPL0401数字电位器、MCP6004跟随器电路、OMRON继电器电路、十五号电容、十六号电容,RC滤波电路、MCP6004运算放大器电路、TPL0401数字电位器、MCP6004跟随器电路、OMRON继电器电路依次串联,十五号电容、十六号电容的一端分别接到OMRON继电器电路的两个触点上,十五号电容的另一端为模拟电流信号输出端,十六号电容的另一端为模拟漏电信号输出端;主控芯片的DAC1引脚通过信号线连接RC滤波电路,信号经RC滤波电路滤波后再经MCP6004运算放大器电路放大波形,放大后的波形通过TPL0401数字电位器电路实现波形幅度控制,MCP6004跟随器电路用于保证放大后的信号不受后级电路阻抗影响;OMRON继电器电路连接电源电路的5V直流电源输出端;
所述工控机通讯电路包括第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻、第七电阻、第八电阻、第九电阻、第十电阻、第十一电阻、第十六电阻、二极管、第一发光二极管、第二发光二极管、第一光电耦合器、第二光电耦合器、第一三极管、第二三极管、第三三级管、SP485芯片,SP485芯片的R0引脚通过第五电阻与第一三极管的基极连接,第一发光二极管的一端接5V隔离电源,另一端通过导线与第一三极管的发射极连接,第一三极管的集电极通过第四电阻与第一光电耦合器的发光端输入引脚连接,光电耦合器发光端输出引脚外接隔离地,主控芯片的引脚通过二极管与第一光电耦合器的受光端输入引脚连接,第一光电耦合器的受光端输出引脚接地;第三电阻的一端接到主控芯片的PE0引脚与二极管之前的导线上,其另一端连接电源电路的3.3V直流电源输出端;第二发光二极管通过导线分别连接3.3V直流电源和第二三极管的发射极,主控芯片的PE1引脚通过第七电阻与第二三极管的基极连接,第六电阻的一端接在第二发光二极管与3.3V直流电源之间的导线上,其另一端接在主控芯片的PE1引脚与第七电阻之间的导线上;第二三极管的集电极通过第八电阻连接至第二光电耦合器的发光端输入引脚,第二光电耦合器发光端输出引脚接地,第二光电耦合器的受光端输出引脚外接隔离地,第二光电耦合器受光端输入引脚分别与第九电阻、第十一电阻并联,第九电阻的另一端连接5V隔离电源,第十一电阻连接第三三级管的基极,第三三级管的发射极连接隔离地,第三三级管的集电极连接SP485芯片的RE引脚,在第三三级管的集电极与5V隔离电源之间通过导线连接有第十电阻;SP485芯片的DI引脚连接第十六电阻后与隔离地连接,其GND引脚也与隔离地连接,其VC引脚与5V隔离电源连接,其DE引脚通过导线连接在其RE引脚上,其A引脚和B引脚用于连接485通讯总线;
被测板通讯电路的结构与工控机通讯电路完全相同,将主控芯片的PE0引脚、主控芯片的PE1引脚在工控机通讯电路中的接线点位置对应调整为与主控芯片的PD5引脚、PD6引脚连接,构成被测板通讯电路;
工控机通讯电路与被测板通讯电路均分别连接有一个隔离电源电路,两个里电源电路结构相同,隔离电源电路通过BS0505芯片实现,BS0505芯片的输入端的两个引脚分别连接5V直流电源和地输入,其输出端的两个引脚分别为5V隔离电源、隔离地,该两个输出端通过导线与工控机通讯电路中对应的位置连接,为工控机通讯电路提供隔离电源;与被测板通讯电路所连接的隔离电源电路与被测板通讯电路中对应的位置连接,为其提供隔离电源;
所述人机交互电路包括LCD_DISP1液晶屏、十七号电容、十八号电容、第十七电阻、第四三极管,其中LCD_DISP1液晶屏的SCK引脚通过导线连接主控芯片的PI10引脚,LCD_DISP1液晶屏的SDA引脚通过导线连接主控芯片的PI11引脚,LCD_DISP1液晶屏的CS引脚通过导线连接主控芯片的PF2引脚,LCD_DISP1液晶屏的RES引脚通过导线连接主控芯片的PF3引脚并通过十八号电容接地,LCD_DISP1液晶屏的RS引脚通过导线连接主控芯片的PF4引脚并通过十七号电容接地,LCD_DISP1液晶屏的VCC引脚通过导线与5V直流电源连接,LCD_DISP1液晶屏的GND引脚通过导线接地,LCD_DISP1液晶屏的LEDA引脚通过导线连接第四三极管的集电极,第四三极管的发射极通过导线连接3.3V直流电源,第四三极管的基极通过导线连接第十七电阻一端,第十七电阻另一端与主控芯片的PF5引脚连接。
与现有技术相比,本发明有益效果在于:本实用新型根据剩余电流保护器的功能特点,设计出了包含主控芯片、模拟测量电路及其他配套电路的测试架;该测试架电路结构设计合理,性能稳定,抗干扰性好;通过应用该测试架可以先筛选出故障电路板,然后再生产成品剩余电流保护器,将故障成本降到最低。此外,可以利用多个测试架搭建批量检测剩余电流保护器控制板的检测系统,为剩余电流保护器控制板的检测实现批量化、智能化奠定基础。
附图说明
图1为本实用新型测试架一种实施例的结构框图;
图2为本实用新型测试架一种实施例的主控芯片U18A部分引脚设置示意图;
图3为本实用新型测试架一种实施例的主控芯片U18B部分引脚设置示意图;
图4为本实用新型测试架一种实施例的主控芯片U18C部分引脚设置示意图(由于主控芯片的引脚数量较多,无法在一个视图里完整清晰的显示,因此将主控芯片分成U18A、U18B、U18C三部分分别展示引脚设置);
图5为本实用新型测试架一种实施例的电源电路图;
图6为本实用新型测试架一种实施例的模拟测量电路图;
图7为本实用新型测试架一种实施例的工控机通讯电路图;
图8为本实用新型测试架一种实施例的隔离电路图;
图9为本实用新型测试架一种实施例的人机交互电路图。
具体实施方式
为使得本实用新型的发明目的、特征、优点能够更加的明显易懂,下面将结合附图对本实用新型总体结构和技术方案进行清楚完整的描述。
本实用新型提供一种用于剩余电流保护器故障诊断系统的测试架(简称测试架),如图1-4所示,所述测试架的主控芯片型号为STM32F429IGT6,主控芯片相应的引脚分别连接电源电路、晶振电路、复位电路、人机交互电路、工控机通讯电路、被测板通讯电路、模拟测量电路。
如图5所示,所述电源电路包括外接电源开关J1、第一电阻RT1、六号电容C6、九号电容C9、L78M10芯片、七号电容C7、八号电容C8、LM1117芯片、十号电容C10、十一号电容C11,外接电源开关J1的输出端与第一电阻RT1串联,第一电阻RT1的另一端引出有导线分别依次连接六号电容C6、九号电容C9及L78M10芯片的输入端,L78M10芯片的输出端引出有导线依次分别连接七号电容C7、八号电容C8及LM1117芯片的输入端,六号电容C6、九号电容C9、七号电容C7、八号电容C8该四个电容的另一端及L78M10芯片的接地端均通过导线接地;LM1117芯片的输出端引出有导线依次与十号电容C10、十一号电容C11连接,LM1117芯片的接地端及十号电容C10、十一号电容C11的另一端均通过导线接地。外接电源开关J1外接14V直流电源,14V直流电源通过第一电阻RT1、六号电容C6、九号电容C9构成的滤波电路进行滤波,通过L78M10芯片进行电压转换以提供5V直流电源,通过LM1117芯片进行电源转换以提供3.3V直流电源。主控芯片的电源输入引脚通过电源线与电源电路的3.3V直流电源输出端连接。
所述复位电路包括第二电阻R67、十二号电容C40、按键RST1,第二电阻R67的一端与主控芯片的NRST引脚(复位引脚)连接,其另一端引出有导线与电源电路的3.3V直流电源输出端连接;按键RST1与十二号电容C40并联,其一端引出有导线与电阻R67连接,另一端通过导线接地。复位电路用于主控芯片不正常工作时通过手动按键复位重启。
所述晶振电路包括一号晶振电路和二号晶振电路,均由一个晶体振荡器和两个电容构成,一号晶振电路包括一号晶体振荡器Y1、十三号电容C38、十四号电容C39,晶体振荡器Y1两端分别有导线引出连接主控芯片的PH0引脚、PH1引脚,十三号电容C38、十四号电容C39分别与晶体振荡器Y1两端的导线连接,该两个电容的另一端通过导线并联并接地。一号晶振电路用于使主控芯片起振从而使单片机工作且提供系统内部时钟以保证主控芯片稳定工作,二号晶振电路的结构同一号晶振电路相同但其二号晶体振荡器Y2的两端分别有导线引出连接主控芯片的PC14引脚、PC15引脚;一号晶体振荡器Y1为8Mhz,二号晶体振荡器Y2为32.768Khz;二号晶振电路用于提供外部时钟用于计时,如年月日时分秒。
主控芯片的VREF+引脚外接Max6070稳压芯片以提供精确稳定的参考源,从而使模拟波形更为精确。
如图6所示,所述模拟测量电路包括RC滤波电路、MCP6004运算放大器电路、TPL0401数字电位器、MCP6004跟随器电路、OMRON继电器电路、十五号电容C1、十六号电容C2,RC滤波电路、MCP6004运算放大器电路、TPL0401数字电位器、MCP6004跟随器电路、OMRON继电器电路依次串联,十五号电容C1、十六号电容C2的一端分别接到OMRON继电器电路的两个触点上,十五号电容C1的另一端为模拟电流信号输出端IABC,十六号电容C2的另一端为模拟漏电信号输出端LEAK。主控芯片的DAC1引脚通过信号线连接RC滤波电路,信号经RC滤波电路滤波后再经MCP6004运算放大器电路放大波形,放大后的波形通过TPL0401数字电位器电路实现波形幅度控制,MCP6004跟随器电路用于保证放大后的信号不受后级电路阻抗影响;OMRON继电器电路连接电源电路的5V直流电源输出端,实现控制切换模拟电流信号和模拟漏电信号。
如图7所示,所述工控机通讯电路包括第三电阻R14、第四电阻R13、第五电阻R17、第六电阻R19、第七电阻R21、第八电阻R29、第九电阻R25、第十电阻R26、第十一电阻R31、第十六电阻R22、二极管D3、第一发光二极管RX_LED1、第二发光二极管TX_LED1、第一光电耦合器U6、第二光电耦合器U10、第一三极管Q3、第二三极管Q5、第三三级管Q7、SP485芯片,SP485芯片的R0引脚通过第五电阻R17与第一三极管Q3的基极连接,第一发光二极管RX_LED1的一端接5V隔离电源V485,另一端通过导线与第一三极管Q3的发射极连接,第一三极管Q3的集电极通过第四电阻R13与第一光电耦合器U6的发光端输入引脚连接,光电耦合器U16发光端输出引脚外接隔离地(附图中的单根导线连接一个空心三角形的标志均为接隔离地标志),主控芯片的PE0引脚通过二极管D3与第一光电耦合器U6的受光端输入引脚连接,第一光电耦合器U6的受光端输出引脚接地;第三电阻R14的一端接到主控芯片的PE0引脚与二极管D3之前的导线上,其另一端连接电源电路的3.3V直流电源输出端;第二发光二极管TX_LED1通过导线分别连接3.3V直流电源和第二三极管Q5的发射极,主控芯片的PE1引脚通过第七电阻R21与第二三极管Q5的基极连接,第六电阻R19的一端接在第二发光二极管TX_LED1与3.3V直流电源之间的导线上,其另一端接在主控芯片的PE1引脚与第七电阻R21之间的导线上;第二三极管Q5的集电极通过第八电阻R29连接至第二光电耦合器U10的发光端输入引脚,第二光电耦合器U10发光端输出引脚接地,第二光电耦合器U10的受光端输出引脚外接隔离地,第二光电耦合器U10受光端输入引脚分别与第九电阻R25、第十一电阻R31并联,第九电阻R25的另一端连接5V隔离电源V485,第十一电阻R31连接第三三级管Q7的基极,第三三级管Q7的发射极连接隔离地,第三三级管Q7的集电极连接SP485芯片的RE引脚,在第三三级管Q7的集电极与5V隔离电源V485之间通过导线连接有第十电阻R26;SP485芯片的DI引脚连接第十六电阻R22后与隔离地连接,其GND引脚也与隔离地连接,其VC引脚与5V隔离电源连接,其DE引脚通过导线连接在其RE引脚上,其A引脚和B引脚用于连接485通讯总线;
被测板通讯电路的结构与工控机通讯电路完全相同,将主控芯片的PE0引脚、主控芯片的PE1引脚在工控机通讯电路中的接线点位置对应调整为与主控芯片的PD5引脚、PD6引脚连接,构成被测板通讯电路。
工控机通讯电路与被测板通讯电路均分别连接有一个隔离电源电路,两个里电源电路结构相同,隔离电源电路通过BS0505芯片实现,BS0505芯片的输入端的两个引脚分别连接5V直流电源和地输入,其输出端的两个引脚分别为5V隔离电源V485、隔离地,该两个输出端通过导线与工控机通讯电路中对应的位置连接,为工控机通讯电路提供隔离电源,保障了工控机通讯电路的稳定性,避免了普通电源受到干扰时影响通讯的稳定性。同样的,与被测板通讯电路所连接的隔离电源电路与被测板通讯电路中对应的位置连接,为其提供隔离电源。
如图9所示,所述人机交互电路包括LCD_DISP1液晶屏、十七号电容CB1、十八号电容CB2、第十七电阻R59、第四三极管Q12,其中LCD_DISP1液晶屏的SCK引脚通过导线连接主控芯片的PI10引脚,LCD_DISP1液晶屏的SDA引脚通过导线连接主控芯片的PI11引脚,LCD_DISP1液晶屏的CS引脚通过导线连接主控芯片的PF2引脚,LCD_DISP1液晶屏的RES引脚通过导线连接主控芯片的PF3引脚并通过十八号电容CB2接地,LCD_DISP1液晶屏的RS引脚通过导线连接主控芯片的PF4引脚并通过十七号电容CB1接地,LCD_DISP1液晶屏的VCC引脚通过导线与5V直流电源连接,LCD_DISP1液晶屏的GND引脚通过导线接地,LCD_DISP1液晶屏的LEDA引脚通过导线连接第四三极管Q12的集电极,第四三极管Q12的发射极通过导线连接3.3V直流电源,第四三极管Q12的基极通过导线连接第十七电阻R59一端,第十七电阻R59另一端与主控芯片的PF5引脚连接。
本实用新型工作原理:参照上述描述以及说明书附图,将测试架的各部分连接好之后,通过485通讯总线将工控机通讯电路与工控机连接,通过485通讯总线将被测板通讯电路与被测板连接,测试架中的模拟测量电路的模拟电流信号输出端IABC、模拟漏电信号输出端LEAK分别与被测板电流信号输入引脚和漏电信号输入引脚连接,被测板的电流信号输出引脚连接数据采集器的电流信号采集端。工控机输出控制指令给测试架,测试架将工控机输出的控制指令进行数模转换产生与控制指令相对于的模拟波形,并将其输入至被测板。数据采集器采集被测板的输出信号,通过分析工控机输出的控制指令和数据采集器采集到的被测板输出的电流信号,判断被测板是否故障。作为实施例,工控机型号为戴尔灵越5593计算机;被测板为智尔科技有限公司生产的剩余电流保护器控制板;数据采集器为Hantek2000系列手持示波器;上述描述仅用于说明该测试架的应用场景,并不用于限制保护范围;根据需要,本实用新型设计的测试架可以应用在其它需要的场景。
本实用新型未述及之处适用于现有技术。

Claims (3)

1.一种用于剩余电流保护器故障诊断系统的测试架,其特征在于,所述测试架的主控芯片型号为STM32F429IGT6,主控芯片相应的引脚分别连接电源电路、晶振电路、复位电路、人机交互电路、工控机通讯电路、被测板通讯电路、模拟测量电路;
所述电源电路包括外接电源开关、第一电阻、六号电容、九号电容、L78M10芯片、七号电容、八号电容、LM1117芯片、十号电容、十一号电容,外接电源开关的输出端与第一电阻串联,第一电阻的另一端引出有导线分别依次连接六号电容、九号电容及L78M10芯片的输入端,L78M10芯片的输出端引出有导线依次分别连接七号电容、八号电容及LM1117芯片的输入端,六号电容、九号电容、七号电容、八号电容该四个电容的另一端及L78M10芯片的接地端均通过导线接地;LM1117芯片的输出端引出有导线依次与十号电容、十一号电容连接,LM1117芯片的接地端及十号电容、十一号电容的另一端均通过导线接地;外接电源开关外接14V直流电源,14V直流电源通过第一电阻、六号电容、九号电容构成的滤波电路进行滤波,通过L78M10芯片进行电压转换以提供5V直流电源,通过LM1117芯片进行电源转换以提供3.3V直流电源;主控芯片的电源输入引脚通过电源线与电源电路的3.3V直流电源输出端连接;
所述复位电路包括第二电阻、十二号电容、按键,第二电阻的一端与主控芯片的NRST引脚连接,其另一端引出有导线与电源电路的3.3V直流电源输出端连接;按键与十二号电容并联,其一端引出有导线与电阻连接,另一端通过导线接地;
所述晶振电路包括一号晶振电路和二号晶振电路,均由一个晶体振荡器和两个电容构成,一号晶振电路包括一号晶体振荡器、十三号电容、十四号电容,晶体振荡器两端分别有导线引出连接主控芯片的PH0引脚、PH1引脚,十三号电容、十四号电容分别与晶体振荡器两端的导线连接,该两个电容的另一端通过导线并联并接地;二号晶振电路的结构同一号晶振电路相同,但其二号晶体振荡器的两端分别有导线引出连接主控芯片的PC14引脚、PC15引脚;
所述模拟测量电路包括RC滤波电路、MCP6004运算放大器电路、TPL0401数字电位器、MCP6004跟随器电路、OMRON继电器电路、十五号电容、十六号电容,RC滤波电路、MCP6004运算放大器电路、TPL0401数字电位器、MCP6004跟随器电路、OMRON继电器电路依次串联,十五号电容、十六号电容的一端分别接到OMRON继电器电路的两个触点上,十五号电容的另一端为模拟电流信号输出端,十六号电容的另一端为模拟漏电信号输出端;主控芯片的DAC1引脚通过信号线连接RC滤波电路,信号经RC滤波电路滤波后再经MCP6004运算放大器电路放大波形,放大后的波形通过TPL0401数字电位器电路实现波形幅度控制,MCP6004跟随器电路用于保证放大后的信号不受后级电路阻抗影响;OMRON继电器电路连接电源电路的5V直流电源输出端;
所述工控机通讯电路包括第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻、第七电阻、第八电阻、第九电阻、第十电阻、第十一电阻、第十六电阻、二极管、第一发光二极管、第二发光二极管、第一光电耦合器、第二光电耦合器、第一三极管、第二三极管、第三三级管、SP485芯片,SP485芯片的R0引脚通过第五电阻与第一三极管的基极连接,第一发光二极管的一端接5V隔离电源,另一端通过导线与第一三极管的发射极连接,第一三极管的集电极通过第四电阻与第一光电耦合器的发光端输入引脚连接,光电耦合器发光端输出引脚外接隔离地,主控芯片的引脚通过二极管与第一光电耦合器的受光端输入引脚连接,第一光电耦合器的受光端输出引脚接地;第三电阻的一端接到主控芯片的PE0引脚与二极管之前的导线上,其另一端连接电源电路的3.3V直流电源输出端;第二发光二极管通过导线分别连接3.3V直流电源和第二三极管的发射极,主控芯片的PE1引脚通过第七电阻与第二三极管的基极连接,第六电阻的一端接在第二发光二极管与3.3V直流电源之间的导线上,其另一端接在主控芯片的PE1引脚与第七电阻之间的导线上;第二三极管的集电极通过第八电阻连接至第二光电耦合器的发光端输入引脚,第二光电耦合器发光端输出引脚接地,第二光电耦合器的受光端输出引脚外接隔离地,第二光电耦合器受光端输入引脚分别与第九电阻、第十一电阻并联,第九电阻的另一端连接5V隔离电源,第十一电阻连接第三三级管的基极,第三三级管的发射极连接隔离地,第三三级管的集电极连接SP485芯片的RE引脚,在第三三级管的集电极与5V隔离电源之间通过导线连接有第十电阻;SP485芯片的DI引脚连接第十六电阻后与隔离地连接,其GND引脚也与隔离地连接,其VC引脚与5V隔离电源连接,其DE引脚通过导线连接在其RE引脚上,其A引脚和B引脚用于连接485通讯总线;
被测板通讯电路的结构与工控机通讯电路完全相同,将主控芯片的PE0引脚、主控芯片的PE1引脚在工控机通讯电路中的接线点位置对应调整为与主控芯片的PD5引脚、PD6引脚连接,构成被测板通讯电路;
工控机通讯电路与被测板通讯电路均分别连接有一个隔离电源电路,两个里电源电路结构相同,隔离电源电路通过BS0505芯片实现,BS0505芯片的输入端的两个引脚分别连接5V直流电源和地输入,其输出端的两个引脚分别为5V隔离电源、隔离地,该两个输出端通过导线与工控机通讯电路中对应的位置连接,为工控机通讯电路提供隔离电源;与被测板通讯电路所连接的隔离电源电路与被测板通讯电路中对应的位置连接,为其提供隔离电源;
所述人机交互电路包括LCD_DISP1液晶屏、十七号电容、十八号电容、第十七电阻、第四三极管,其中LCD_DISP1液晶屏的SCK引脚通过导线连接主控芯片的PI10引脚,LCD_DISP1液晶屏的SDA引脚通过导线连接主控芯片的PI11引脚,LCD_DISP1液晶屏的CS引脚通过导线连接主控芯片的PF2引脚,LCD_DISP1液晶屏的RES引脚通过导线连接主控芯片的PF3引脚并通过十八号电容接地,LCD_DISP1液晶屏的RS引脚通过导线连接主控芯片的PF4引脚并通过十七号电容接地,LCD_DISP1液晶屏的VCC引脚通过导线与5V直流电源连接,LCD_DISP1液晶屏的GND引脚通过导线接地,LCD_DISP1液晶屏的LEDA引脚通过导线连接第四三极管的集电极,第四三极管的发射极通过导线连接3.3V直流电源,第四三极管的基极通过导线连接第十七电阻一端,第十七电阻另一端与主控芯片的PF5引脚连接。
2.根据权利要求1所述的一种用于剩余电流保护器故障诊断系统的测试架,其特征在于,主控芯片的VREF+引脚外接Max6070稳压芯片。
3.根据权利要求1所述的一种用于剩余电流保护器故障诊断系统的测试架,其特征在于,一号晶体振荡器为8Mhz,二号晶体振荡器为32.768Khz。
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