CN212989170U - 一种新型的原子荧光光度计检测装置 - Google Patents

一种新型的原子荧光光度计检测装置 Download PDF

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李晓锋
徐海中
戴宗贤
曾红
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本实用新型公开了一种新型的原子荧光光度计检测装置,包括底座总成、上盒盖、紫外光谱探测器A、衰减窗A、透镜测试架A、光源固定支体A、紫外光谱探测器B、衰减窗B、透镜测试架B和光源固定支体B,上盒盖设置在底座总成的顶部,且用合页铰链连接,底座总成背面的顶部位置设置有上盒盖,紫外光谱探测器A设置在底座总成顶部的左侧位置,紫外光谱探测器A的右侧设置有衰减窗A,该装置通过底座总成与上盒盖之间的配合,达到了方便携带的使用效果,解决了以往的检测装置体积大且不方便携带的问题,通过底座总成与USB端口之间的配合,达到了可直接插入U盘进行数据存储或传输信息的效果,解决了以往数据无法存储或易丢失的问题。

Description

一种新型的原子荧光光度计检测装置
技术领域
本实用新型涉及检测装置技术领域,具体为一种新型的原子荧光光度计检测装置。
背景技术
原子荧光光光度计由于是非色散系统,光程短、能量损失少,而且结构简单,使用过程中故障率低,具有极高的灵敏度,检出限低,与激发光源强度成正比,能够接收多条荧光谱线,适合做多元素的检测分析,因此被广泛应用于食品、化工、水环境、能源环保等各类实验室的实验室的实验检测中,但在计量检测过程中,发生各实验室在使用原子荧光光度计的过程中经常会受到一些因素的干扰,目前我国在用的原子荧光光度计大多都是非色散原子荧光光度计,非色散原子荧光光度计本身无任何色散元件,如果激发光源不纯,含有两种或两种以上元素光波,而样品中也含有此种元素,则产生荧光强度为多种荧光强度之和,从而导致测量结果过高的错误结论,只有当激发光源足够纯,可以做到对目标元素的选择性激发时,测量结果才准确可靠。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种新型的原子荧光光度计检测装置,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种新型的原子荧光光度计检测装置,包括底座总成、上盒盖、紫外光谱探测器A、衰减窗A、透镜测试架A、光源固定支体A、紫外光谱探测器B、衰减窗B、透镜测试架B和光源固定支体B,所述上盒盖设置在底座总成的顶部,且用合页铰链连接,所述底座总成背面的顶部位置设置有上盒盖,所述紫外光谱探测器A设置在底座总成顶部的左侧位置,所述紫外光谱探测器A的右侧设置有衰减窗A,且设置在底座总成顶部的中心位置,所述透镜测试架A设置在衰减窗A的右侧,且设置在顶部靠近中心的位置,所述透镜测试架A的右侧设置有光源固定支体A,且设置在顶部远离中心的位置,所述紫外光谱探测器B设置在紫外光谱探测器A的外侧,且成对称型上、下分布设置,所述衰减窗A的外侧设置有衰减窗B,且成对称型上、下分布设置,所述透镜测试架B设置在衰减窗B的右侧,且与透镜测试架A成对称型上、下分布设置,所述透镜测试架B的右侧设置有光源固定支体B,且与光源固定支体A成对称型上、下分布设置。
优选的,所述底座总成包括暗箱体、光源插座、USB端口、启动开关、锁扣和外接端口,所述暗箱体是底座总成的框架总体,其内腔还有设置有控制电路,所述光源插座等距离的设置在暗箱体正面靠近底部的位置,且设置在正面的左侧,所述暗箱体正面的右侧设置有USB端口,且共设置了2只,所述启动开关设置在暗箱体正面靠近顶部的位置,且设置在正面的右侧,所述暗箱体正面的中心位置设置有锁扣,且设置在靠近顶部的位置,所述外接端口设置在暗箱体背面靠近底部的位置,且设置在背面的左侧,共设置有2只
优选的,所述紫外光谱探测器B与紫外光谱探测器A其结构及功能是一样的,所述衰减窗B与衰减窗A其构成及功能是一样的,所述透镜测试架B与透镜测试架A其结构及功能是一模一样的,所述光源固定支体B与光源固定支体A其结构及功能是一模一样的,所述以上部件均为可拆卸式结构组成。
优选的,所述紫外光谱探测器A、衰减窗A、透镜测试架A、光源固定支体A均设置有螺栓可供自由调节。
优选的,所述该装置采用双组结构部件组合设置,可根据检测需要进行单一检测和组合式检测。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:
1、该装置,通过底座总成与上盒盖之间的配合,达到了方便携带的使用效果,解决了以往的检测装置体积大且不方便携带的问题。
2、该装置,通过底座总成与USB端口之间的配合,达到了可直接插入U盘进行数据存储或传输信息的效果,解决了以往数据无法存储或易丢失的问题。
3、该装置,通过底座总成与外接端口之间的配合,达到了可通过移动设备或电脑进行检测数据处理及分析的使用效果,解决了以往装置不具有检测数据实时分析及处理的问题。
4、该装置,通过光源插座与光源固定支体之间的配合,达到了可提供光源所需电能的效果,解决了以往的装置不便于提供光源的问题。
5、该装置,通过衰减窗与透镜测试架之间的配合,达到了采集光源光谱和获得最佳信噪比光谱图的使用效果,解决了以往的装置采集光源谱和光谱图信息不精准的问题。
6、该装置,通过设置2组检测部件之间的配合,达到了提高检测工作效率促进检测数据分析对比的使用效果,解决了以往的检测工作效率低的问题。
7、该装置,结构设计合理,且方便操作及均可更换部件,通过各部件之间的配合,非色散原子荧光光度计的生产厂家及使用者提供激发光源筛选依据,可为非色散原子荧光光度计激发光源生产企业提供改进方向,对非色散原子荧光法测量结果的分析具有重要意义。
8、该装置,检测部件与螺栓和压片之间的配合,达到了可根据不同检测需要进行自由调节的效果,解决了以往装置不具有自由调节的问题。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图;
图2为本实用新型结构上视图;
图3为本实用新型结构正视图;
图4为本实用新型结构侧视图(左);
图5为本实用新型结构侧视图(右)。
图中:1底座总成、2上盒盖、3紫外光谱探测器A、4衰减窗A、5透镜测试架A、6光源固定支体A、7紫外光谱探测器B、8衰减窗B、9透镜测试架B、10光源固定支体B、101暗箱体、102光源插座、103USB端口、104启动开关、105锁扣、106外接端口。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-5,本实用新型提供一种技术方案:一种新型的原子荧光光度计检测装置,包括底座总成1、上盒盖2、紫外光谱探测器A3、衰减窗A4、透镜测试架A5、光源固定支体A6、紫外光谱探测器B7、衰减窗B8、透镜测试架B9和光源固定支体B10,上盒盖2设置在底座总成1的顶部,且用合页铰链连接,底座总成1背面的顶部位置设置有上盒盖2,紫外光谱探测器A3设置在底座总成1顶部的左侧位置,紫外光谱探测器A3的右侧设置有衰减窗A4,且设置在底座总成1顶部的中心位置,透镜测试架A5设置在衰减窗A4的右侧,且设置在顶部靠近中心的位置,透镜测试架A5的右侧设置有光源固定支体A6,且设置在顶部远离中心的位置,紫外光谱探测器B7设置在紫外光谱探测器A3的外侧,且成对称型上、下分布设置,衰减窗A4的外侧设置有衰减窗B8,且成对称型上、下分布设置,透镜测试架B9设置在衰减窗B8的右侧,且与透镜测试架A5成对称型上、下分布设置,透镜测试架B9的右侧设置有光源固定支体B10,且与光源固定支体A6成对称型上、下分布设置,底座总成1包括暗箱体101、光源插座102、USB端口103、启动开关104、锁扣105和外接端口106,暗箱体101是底座总成1的框架总体,其内腔还有设置有控制电路,光源插座102等距离的设置在暗箱体101正面靠近底部的位置,且设置在正面的左侧,暗箱体101正面的右侧设置有USB端口103,且共设置了2只,启动开关104设置在暗箱体101正面靠近顶部的位置,且设置在正面的右侧,暗箱体101正面的中心位置设置有锁扣105,且设置在靠近顶部的位置,外接端口106设置在暗箱体101背面靠近底部的位置,且设置在背面的左侧,共设置有2只,紫外光谱探测器B7与紫外光谱探测器A3其结构及功能是一样的,衰减窗B8与衰减窗A4其构成及功能是一样的,透镜测试架B9与透镜测试架A5其结构及功能是一模一样的,光源固定支体B10与光源固定支体A6其结构及功能是一模一样的,以上部件均为可拆卸式结构组成,紫外光谱探测器A3、衰减窗A4、透镜测试架A5、光源固定支体A6均设置有螺栓可供自由调节,该装置采用双组结构部件组合设置,可根据检测需要进行单一检测和组合式检测。
工作原理:该装置,结构设计合理,便于操作且可更换,首先是安装过程,一种新型的原子荧光光度计检测装置,包括底座总成1、上盒盖2、紫外光谱探测器A3、衰减窗A4、透镜测试架A5、光源固定支体A6、紫外光谱探测器B7、衰减窗B8、透镜测试架B9和光源固定支体B10,上盒盖2设置在底座总成1的顶部,且用合页铰链连接,底座总成1背面的顶部位置设置有上盒盖2,紫外光谱探测器A3设置在底座总成1顶部的左侧位置,紫外光谱探测器A3的右侧设置有衰减窗A4,且设置在底座总成1顶部的中心位置,透镜测试架A5设置在衰减窗A4的右侧,且设置在顶部靠近中心的位置,透镜测试架A5的右侧设置有光源固定支体A6,且设置在顶部远离中心的位置,紫外光谱探测器B7设置在紫外光谱探测器A3的外侧,且成对称型上、下分布设置,衰减窗A4的外侧设置有衰减窗B8,且成对称型上、下分布设置,透镜测试架B9设置在衰减窗B8的右侧,且与透镜测试架A5成对称型上、下分布设置,透镜测试架B9的右侧设置有光源固定支体B10,且与光源固定支体A6成对称型上、下分布设置,安装完毕后最后便是使用过程,以下简述一组检测装置为例,上盒盖2关闭后无杂散光进入,光源固定支体A6固定被测光源,有螺栓和压片可根据被测灯作适当调节,根据光源的不同强度配合使用透镜测试架A5和衰减窗A4,使紫外光谱探测器A3部件获得信噪比合适的光谱图,通过外接端口106连接的移动设备或者电脑处理器处理检测数据,输出光源是否含杂和杂质元素的确认测试结果,该装置开机后,将被测光源固定在光源固定支体A6上,并用光源固体支体A6上面的压片和螺栓固定,把光源的电接口与电源插座102接通,关闭上盒盖2,由紫外光谱探测器A3采集光源光谱,如果需要可适当调节衰减窗A4,获得最佳信噪比光谱图,并通过外接端口106连接的移动设备或电脑处理器自动判断分别标出光源光谱和杂质光谱,指出杂质元素,从而完成检测,暗箱体101正面右侧等距离设置的USB端口可直接插入U盘进行数据存储和信息读取,为检测做进一步的对比分析使用,该装置,通过设置两组检测部件组合进行检测,不仅提高了工作效率,可根据不同检测需要,进行自由调节使用,并做检测对比分析,而且还实现了为非色散原子荧光光度计的生产厂家及使用者提供激发光源筛选依据,可为非色散原子荧光光度计激发光源生产企业提供改进方向,对非色散原子荧光法测量结果的分析具有重要意义。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (5)

1.一种新型的原子荧光光度计检测装置,包括底座总成(1)、上盒盖(2)、紫外光谱探测器A(3)、衰减窗A(4)、透镜测试架A(5)、光源固定支体A(6)、紫外光谱探测器B(7)、衰减窗B(8)、透镜测试架B(9)和光源固定支体B(10),其特征在于:所述上盒盖(2)设置在底座总成(1)的顶部,且用合页铰链连接,所述底座总成(1)背面的顶部位置设置有上盒盖(2),所述紫外光谱探测器A(3)设置在底座总成(1)顶部的左侧位置,所述紫外光谱探测器A(3)的右侧设置有衰减窗A(4),且设置在底座总成(1)顶部的中心位置,所述透镜测试架A(5)设置在衰减窗A(4)的右侧,且设置在顶部靠近中心的位置,所述透镜测试架A(5)的右侧设置有光源固定支体A(6),且设置在顶部远离中心的位置,所述紫外光谱探测器B(7)设置在紫外光谱探测器A(3)的外侧,且成对称型上、下分布设置,所述衰减窗A(4)的外侧设置有衰减窗B(8),且成对称型上、下分布设置,所述透镜测试架B(9)设置在衰减窗B(8)的右侧,且与透镜测试架A(5)成对称型上、下分布设置,所述透镜测试架B(9)的右侧设置有光源固定支体B(10),且与光源固定支体A(6)成对称型上、下分布设置。
2.根据权利要求1所述的一种新型的原子荧光光度计检测装置,其特征在于:所述底座总成(1)包括暗箱体(101)、光源插座(102)、USB端口(103)、启动开关(104)、锁扣(105)和外接端口(106),所述暗箱体(101)是底座总成(1)的框架总体,其内腔还有设置有控制电路,所述光源插座(102)等距离的设置在暗箱体(101)正面靠近底部的位置,且设置在正面的左侧,所述暗箱体(101)正面的右侧设置有USB端口(103),且共设置了2只,所述启动开关(104)设置在暗箱体(101)正面靠近顶部的位置,且设置在正面的右侧,所述暗箱体(101)正面的中心位置设置有锁扣(105),且设置在靠近顶部的位置,所述外接端口(106)设置在暗箱体(101)背面靠近底部的位置,且设置在背面的左侧,共设置有2只。
3.根据权利要求1所述的一种新型的原子荧光光度计检测装置,其特征在于:所述紫外光谱探测器B(7)与紫外光谱探测器A(3)其结构及功能是一样的,所述衰减窗B(8)与衰减窗A(4)其构成及功能是一样的,所述透镜测试架B(9)与透镜测试架A(5)其结构及功能是一模一样的,所述光源固定支体B(10)与光源固定支体A(6)其结构及功能是一模一样的,所述以上部件均为可拆卸式结构组成。
4.根据权利要求1所述的一种新型的原子荧光光度计检测装置,其特征在于:所述紫外光谱探测器A(3)、衰减窗A(4)、透镜测试架A(5)、光源固定支体A(6)均设置有螺栓可供自由调节。
5.根据权利要求1所述的一种新型的原子荧光光度计检测装置,其特征在于:所述该装置采用双组结构部件组合设置,可根据检测需要进行单一检测和组合式检测。
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