CN212845832U - 一种电源开关机测试电路及其组件 - Google Patents

Abstract

本申请提供了一种电源开关机测试电路及其组件，涉及开关电源测试技术领域。测试芯片的输出端分别与电源供电电路及第一放电电路电连接，电源供电电路中包括初级电容，且初级电容与第一放电电路电连接；测试芯片的输出端用于输出第一驱动信号或第二驱动信号，其中，第一驱动信号与第二驱动信号为相反信号；当测试芯片的输出端输出第一驱动信号时，电源供电电路处于导通状态且第一放电电路处于断开状态，以使初级电容充电；当测试芯片的输出端输出第二驱动信号时，电源供电电路处于断开状态且第一放电电路处于导通状态，以对初级电容放电。本申请提供的电源开关机测试电路及其组件具有测试效果更好且工作效率更高的优点。

Description

一种电源开关机测试电路及其组件

技术领域

本申请涉及开关电源测试技术领域，具体而言，涉及一种电源开关机测试电路及其组件。

背景技术

开关电源的输入电路大都采用电容滤波型整流电路，在进线电源合闸瞬间，由于电容器上的初始电压为零，因此电容器充电瞬间会形成很大的浪涌电流，特别是大功率开关电源，采用容量大的滤波电容器，使浪涌电流达到100A以上。在电源接通瞬间如此大的浪涌电流，有可能导致输入熔断器烧断、合闸开关点烧坏、整流桥损坏或电路中其它元器件烧毁等，轻者也能造成开关电源无法正常工作。

因此，目前开关电源的生产厂商都会针对电源板上述问题进行开关机测试，也制作了相关的测试治具，但这些测试治具只单纯的进行开机关动作，没有对电容进行放电，电容里在测试过程中始终保持一定电量，后续开机过程中，浪涌电流很少，这样进行开关机测试难以达到测试效果。一些公司考虑延长关机时间，但这种方法浪费时间，效率低。

综上，目前在进行开关电源开关机测试时，存在测试效果差及效率低的问题。

发明内容

本申请的目的在于提供一种电源开关机测试电路及其组件，以解决现有技术中在进行开关电源开关机测试时，存在的测试效果差及效率低的问题。

为了实现上述目的，本申请实施例采用的技术方案如下：

一方面，本申请实施例提供了一种电源开关机测试电路，所述电源开关机测试电路包括测试芯片、电源供电电路以及第一放电电路，所述测试芯片的输出端分别与所述电源供电电路及所述第一放电电路电连接，所述电源供电电路中包括初级电容，且所述初级电容与所述第一放电电路电连接；所述测试芯片的输出端用于输出第一驱动信号或第二驱动信号，其中，所述第一驱动信号与所述第二驱动信号为相反信号；当所述测试芯片的输出端输出第一驱动信号时，所述电源供电电路处于导通状态且所述第一放电电路处于断开状态，以使所述初级电容充电；当所述测试芯片的输出端输出第二驱动信号时，所述电源供电电路处于断开状态且所述第一放电电路处于导通状态，以对所述初级电容放电。

可选地，所述电源开关机测试电路还包括开关器件，所述测试芯片的输出端与所述开关器件电连接，所述开关器件还与所述电源供电电路及所述第一放电电路电连接；当所述测试芯片的输出端输出第一驱动信号时，所述开关器件导通，以使所述电源供电电路处于导通状态且所述第一放电电路处于断开状态；当所述测试芯片的输出端输出第二驱动信号时，所述开关器件截止，以使所述电源供电电路处于断开状态且所述第一放电电路处于导通状态。

可选地，所述电源供电电路包括常开继电器，所述常开继电器与所述开关器件电连接，所述第一放电电路包括常闭继电器，所述常闭继电器也与所述开关器件电连接；当所述开关器件导通时，所述常开继电器闭合，所述常闭继电器断开，以使所述电源供电电路处于导通状态且所述第一放电电路处于断开状态；当所述开关器件截止时，所述常开继电器断开，所述常闭继电器闭合，以使所述电源供电电路处于断开状态且所述第一放电电路处于导通状态。

可选地，所述常开继电器包括第一线圈与常开开关，所述常闭继电器包括第二线圈与常闭开关，所述电源供电电路还包括供电主路，所述第一放电电路还包括放电主路，所述常开开关与所述供电主路电连接，所述常闭开关与所述放电主路电连接；所述开关器件的第一端与所述测试芯片电连接，所述开关器件的第二端接地，所述开关器件的第三端分别通过所述第一线圈及所述第二线圈与一电源电连接。

可选地，所述第一放电电路还包括放电主路，所述放电主路、所述初级电容以及所述常闭继电器首尾连接。

可选地，所述放电主路包括至少一个发光器件。

可选地，所述电源开关机测试电路还包括第二放电电路，所述电源供电电路还包括次级电容，所述测试芯片的输出端还与所述第二放电电路电连接，且所述次级电容与所述第二放电电路电连接；当所述测试芯片的输出端输出第一驱动信号时，所述第二放电电路处于断开状态；当所述测试芯片的输出端输出第二驱动信号时，所述第二放电电路处于导通状态。

可选地，所述电源开关机测试电路还包括驱动时长控制电路，所述驱动时长控制电路包括第一电阻、第二电阻以及第一电容，所述第一电阻的一端与一电源电连接，所述第一电阻的另一端与分别与所述第二电阻的一端及所述测试芯片的第一输入端电连接，所述第二电阻的另一端分别与所述第一电容的一端、所述测试芯片的第二输入端电连接，所述第一电容的另一端接地；所述测试芯片依据所述第一电阻与所述第二电阻的阻值及所述第一电容的容值确定输出第一驱动信号与所述第二驱动信号的时长。

可选地，所述第一电阻与所述第二电阻均为可变电阻。

另一方面，本申请实施例还提供了一种电源开关机测试组件，所述电源开关机测试组件包括壳体与上述的电源开关机测试电路，所述电源开关机测试电路置于所述壳体内。

相对于现有技术，本申请实施例具有以下有益效果：

本申请提供了一种电源开关机测试电路，该电源开关机测试电路包括测试芯片、电源供电电路以及第一放电电路，测试芯片的输出端分别与电源供电电路及第一放电电路电连接，电源供电电路中包括初级电容，且初级电容与第一放电电路电连接；测试芯片的输出端用于输出第一驱动信号或第二驱动信号，其中，第一驱动信号与第二驱动信号为相反信号；当测试芯片的输出端输出第一驱动信号时，电源供电电路处于导通状态且第一放电电路处于断开状态，以使初级电容充电；当测试芯片的输出端输出第二驱动信号时，电源供电电路处于断开状态且第一放电电路处于导通状态，以对初级电容放电。由于本申请提供的电源开关机测试电路中包括第一放电电路，且在电源供电电路导通时该第一放电电路断开，在电源供电电路断开时该第一放电电路导通，因此实现了在正常测试时不影响初级电容的工作，而当电源供电电路断开时，将初级电容中的电量进行泄放，使得其测试效果更好。同时，通过该方式使得初级电容的放电时间大幅度缩短，提升了工作效率。

为使本申请的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它相关的附图。

图1为本申请实施例提供的电源开关机测试电路的电路示意图。

图2为本申请实施例提供的电源开关机测试组件的结构示意图。

图中：100-电源开关机测试电路；110-测试芯片；120-电源供电电路；130-第一放电电路；140-第二放电电路；150-开关器件；160-驱动时长控制电路；200-电源开关机测试组件；210-壳体；211-玻璃窗口；220-变压器；230-控制器。

具体实施方式

为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

因此，以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围，而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。同时，在本申请的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

在本申请的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该申请产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

在本申请的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

下面结合附图，对本申请的一些实施方式作详细说明。在不冲突的情况下，下述的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

正如背景技术中所述，现有技术中，需要针对开关电源进行开关机测试，以判断是否存在输入熔断器烧断、合闸开关点烧坏、整流桥损坏或电路中其它元器件烧毁以及开关电源无法正常工作等故障。然而，目前的测试治具只单纯的进行开机关动作，没有对电容进行放电，电容里在测试过程中始终保持一定电量，后续开机过程中，浪涌电流很少，这样进行开关机测试难以达到测试效果。一些公司考虑延长关机时间，但这种方法浪费时间，效率低。

例如，当需要进行开关电源的开关机测试时，一般需要将开关电源反复开机与关机多次，例如，将其开机与关机反复100次，当其中任意一次开机时，若开关电源无法正常工作，则表示该开关电源并不合格，需要淘汰。当在不断开关机过程中，影响其是否能够正常工作的因素主要为浪涌电流，若在关机后直接进行下一次的开机，则滤波电容中的电量并未释放完全，例如滤波电容中可能还剩余50％的电量，在进行下一次开机检测时，则出现的浪涌电流较小，无法达到理想的测试效果。

有鉴于此，本申请提供了一种电源开关机测试电路，通过设置放电电路的方式，实现在每一次对开关电源进行开关机测试后，均能通过放电电路的方式实现对开关电源中电容的放电，进而使得开关电源能在进行开关机动作时，不会影响其测试效果，且效率更高。

下面对本申请提供的电源开关机测试电路进行示例性说明：

请参阅图1，作为一种可选的实现方式，该电源开关机测试电路100包括测试芯片110、电源供电电路120以及第一放电电路130，测试芯片110的输出端分别与电源供电电路120及第一放电电路130电连接，电源供电电路120中包括初级电容，且初级电容与第一放电电路130电连接。

其中，电源供电电路120即连接待测开关电源的电路，可以理解地，当电源供电电路120导通时，即开关电源处于开机状态；电源供电电路120断开时，即开关电源处于关机状态。并且，该初级电容即可为开关电源中的滤波电容。

在电源开关机测试电路100工作时，测试芯片110的输出端可以输出第一驱动信号或第二驱动信号，其中，第一驱动信号与第二驱动信号为相反信号。换言之，当第一驱动信号为高电平信号时，第二驱动信号为低电平信号；当第一驱动信号为低电平信号时，则第二驱动信号为高电平信号。

当测试芯片110的输出端输出第一驱动信号时，电源供电电路120处于导通状态且第一放电电路130处于断开状态，以使初级电容充电；当测试芯片110的输出端输出第二驱动信号时，电源供电电路120处于断开状态且第一放电电路130处于导通状态，以对初级电容放电。

即在每次对开关电源进行开关机测试完成后，可通过第一放电电路130对初级电容内存储的电量进行放电，进而不会对后续的开关机测试造成影响。

作为一种可选的实现方式，为了更好的实现开关机效果，测试芯片110可以循环尖端的输出第一驱动信号与第二驱动信号，例如，当需要控制开关电源进行100次开关机测试时，可将测试芯片110输出第一驱动信号与第二驱动信号的周期设置为1min，即测试芯片110在输出第一驱动信号后，经过1min后，测试芯片110再输出第二驱动信号，在经过一段时间后，测试芯片110再输出第一驱动信号，并一直循环，直至开关电源完成100次开关测试。

可选地，本申请在电源供电电路120与第一放电电路130中分别设置继电器模块，进而通过测试芯片110输出的高电平信号或低电平信号，分别控制电源供电电路120与第一放电电路130的导通与关断，实现测试效果。

作为一种可选的实现方式，为了使本申请提供的电路更加简单，电源开关机测试电路100还包括开关器件150，测试芯片110的输出端与开关器件150电连接，开关器件150还与电源供电电路120及第一放电电路130电连接；当测试芯片110的输出端输出第一驱动信号时，开关器件150导通，以使电源供电电路120处于导通状态且第一放电电路130处于断开状态；当测试芯片110的输出端输出第二驱动信号时，开关器件150截止，以使电源供电电路120处于断开状态且第一放电电路130处于导通状态。

即本申请中，测试芯片110可通过开关器件150同时控制电源供电电路120与第一放电电路130，其电路结构简单。

其中，本申请提供的开关器件150，可以为三极管或者MOS管等器件，同时，本申请并不对三极管与MOS管的类型进行限定，其可以为N型器件，也可以为P型器件。

可选地，电源供电电路120包括常开继电器，常开继电器与开关器件150电连接，第一放电电路130包括常闭继电器，常闭继电器也与开关器件150电连接；当开关器件150导通时，常开继电器闭合，常闭继电器断开，以使电源供电电路120处于导通状态且第一放电电路130处于断开状态；当开关器件150截止时，常开继电器断开，常闭继电器闭合，以使电源供电电路120处于断开状态且第一放电电路130处于导通状态。

进一步地，常开继电器包括第一线圈与常开开关，常闭继电器包括第二线圈与常闭开关，电源供电电路120还包括供电主路，第一放电电路130还包括放电主路，常开开关与供电主路电连接，常闭开关与放电主路电连接；开关器件150的第一端与测试芯片110电连接，开关器件150的第二端接地，开关器件150的第三端分别通过第一线圈及第二线圈与一电源电连接。

例如，以开关器件150为N型三极管为例进行说明，三极管的基极与测试芯片110电连接，三极管的发射级接地，三极管的集电极分别通过第一线圈及第二线圈与一电源电连接。当测试芯片110输出高电平时，第一线圈与第二线圈均通电；当测试芯片110输出低电平时，第一线圈与第二线圈中不通电。并且，针对常闭继电器，常闭开关通过磁力闭合，当第二线圈中通电后也会产生磁力，但所产生的磁力常闭开关的固有磁力极性相同，同性相斥，使得常闭开关分开，而当第二线圈停止通电时，第二线圈产生的磁力消失，常闭开关因为磁力原因又闭合，通过该种方式，实现了控制第一放电电路130的导通与断开。

而针对常开继电器，当第一线圈通电后也会产生磁力，继而对常开开关具有吸合作用，使得开关闭合，当第一线圈停止通电时，第一线圈产生的磁力消失，开关重新断开，进而实现了电源供电电路120的导通与断开。

同时，可选地，第一放电电路130还包括放电主路，放电主路、初级电容以及常闭继电器首尾连接。当常闭继电器保持闭合状态时，放电主路、初级电容以及常闭继电器首尾连接形成回路，初级电容中的电量通过放电主路进行释放，进而不会影响测试效果。

作为一种可选的实现方式，放电主路包括至少一个发光器件，例如，该发光器件可以为发光二极管或者为白炽灯等装置，其能够实现将初级电容中的电量快速释放的效果。以发光器件为白炽灯为例，其数量可以为两个，且每个白炽灯的阻值均为100欧姆。由于白炽灯的阻值比开关电源中的泄放电阻的阻值更小，因此其放电时间更快，进而提升了工作效率。

并且，在一些实施例中，开关电源中还会包括次级电容，初级电容与次级电容可以分别位于开关电源中变压器的初级与次级，且次级电容为储能大电容。因此，为了同时对次级电容进行放电，电源开关机测试电路100还包括第二放电电路140，电源供电电路120还包括次级电容，测试芯片110的输出端还与第二放电电路140电连接，且次级电容与第二放电电路140电连接。当测试芯片110的输出端输出第一驱动信号时，第二放电电路140处于断开状态，当测试芯片110的输出端输出第二驱动信号时，第二放电电路140处于导通状态。

与第一放电电路130类似，该第二放电电路140中也可包括常闭开关与第三线圈，开关器件150的第三端同时通过第三线圈与电源连接，当开关器件150导通时，常闭开关断开；当开关器件150断开时，常闭开关导通。

因此，本申请中，通过测试芯片110同时控制3个电路回路，其中，通过常开继电器控制开关电源的开机和关机，通过第一个常闭继电器控制第一放电回路的开和关，通过第二个常闭继电器控制第二放电回路的开和关。且当常开继电器闭合时，第一个继电器控制的电路回路闭合，此时，第一放电回路与第二放电回路断开，第一放电回路与第二放电回路不会影响初级电容与次级电容在开关电源检测中的正常使用；而当常开继电器断开时，此时，第二放电回路与第二的放电回路闭合，进而对初级电容与次级电容进行放电。

同时，作为一种实现方式，本申请提供的测试芯片110可以采用NE555芯片，该芯片可以实现定时功能。在此基础上，电源开关机测试电路100还包括驱动时长控制电路160，驱动时长控制电路160包括第一电阻、第二电阻以及第一电容，第一电阻的一端与一电源电连接，第一电阻的另一端与分别与第二电阻的一端及测试芯片110的第一输入端电连接，第二电阻的另一端分别与第一电容的一端、测试芯片110的第二输入端电连接，第一电容的另一端接地；测试芯片110依据第一电阻与第二电阻的阻值及第一电容的容值确定输出第一驱动信号与第二驱动信号的时长。

其中，根据NE555芯片的相关参数可知，开机时间为:Ton＝0.693(R2+R3)*C1，关机时间为：T off＝0.693R3*C1。

可选的，第一电阻与第二电阻均为可变电阻，例如，其可以为拨动式可变电阻，也可以为按键式可变电阻。使用者可通过调节第一电阻与第二电阻的阻值来调节测试芯片110输出高电平与低电平的时间，进而控制开关器件150的导通时间，继而控制电源供电电路120、第一放电电路130以及第二放电电路140的导通与断开的时间。

同时，用于为常开继电器与常闭继电器供电的电源，同时为测试额芯片进行供电，在此基础上，电源开关机测试电路100还包括电源滤波电容等器件，本申请对此并不做任何限定。

在上述实现方式的基础上，请参阅图2，本申请实施例还提供了一种电源开关机测试组件200，电源开关机测试组件200包括壳体210与上述的电源开关机测试电路100，电源开关机测试电路100置于所述壳体210内。一方面，壳体210能够起到保护内部器件的作用，另一方面，可以也能够保护使用者，避免使用者接触到内部高压部分。

一般而言，在进行开关电源的开关机测试时，仅需对开关电源中的测试电源板进行测试，进而达到测试的目的。上述外壳可制作为治具的形式，即可将待测试的电源板放置于该治具上，进而实现测试。

其中，电源开关机测试组件200还包括变压器220与控制器230等装置，该变压器220用于给电源板提供测试需要的AC电压，该AC电压一般为96V-264V。控制器230主要包括外壳、定时器以及计数器等模块，其中，外壳可以用来保护内部器件，同时避免使用者发生触电风险。定时器用于设定电源板的开关机时间，例如，将时间设置为开机1分钟，关机1分钟等。计数器主要用来记录和设定开关机的测试次数。

并且，由于本申请提供的第一放电电路130与第二放电电路140中，放电主路均采用白炽灯的形式，因此在电源开关机测试组件200的外壳中设置有剥离窗口，通过玻璃窗口211能够观察内部白炽灯是否正常工作。

由上述可知，本申请提供电源开关机测试电路100的工作原理为：

当需要进行测试时，先连接电源，并且在变压器220设定好测试电压，技术器设定好测试次数，并为电源板连接好电路，然后测试芯片110输出高电平信号，控制开关器件150导通，此时电源供电电路120导通，第一放电电路130与第二放电电路140断开，此时两个放电电路不工作，再经过一段时间后，测试芯片110输出的低电平信号，控制开关器件150截止，此时电源供电电路120断开，第一放电电路130与第二放电电路140导通，并分别对初级电容与次级电容进行放电。当完成上述流程后，表示已经完成了一次开关机，此时计数器技术一次，并继续执行控制开关电源进行开关机测试，直至计数器记录的次数达到设定的此时。

综上所述，本申请提供了一种电源开关机测试电路，该电源开关机测试电路包括测试芯片、电源供电电路以及第一放电电路，测试芯片的输出端分别与电源供电电路及第一放电电路电连接，电源供电电路中包括初级电容，且初级电容与第一放电电路电连接；测试芯片的输出端用于输出第一驱动信号或第二驱动信号，其中，第一驱动信号与第二驱动信号为相反信号；当测试芯片的输出端输出第一驱动信号时，电源供电电路处于导通状态且第一放电电路处于断开状态，以使初级电容充电；当测试芯片的输出端输出第二驱动信号时，电源供电电路处于断开状态且第一放电电路处于导通状态，以对初级电容放电。由于本申请提供的电源开关机测试电路中包括第一放电电路，且在电源供电电路导通时该第一放电电路断开，在电源供电电路断开时该第一放电电路导通，因此实现了在正常测试时不影响初级电容的工作，而当电源供电电路断开时，将初级电容中的电量进行泄放，使得其测试效果更好。同时，通过该方式使得初级电容的放电时间大幅度缩短，提升了工作效率。

以上所述仅为本申请的优选实施例而已，并不用于限制本申请，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

对于本领域技术人员而言，显然本申请不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本申请的精神或基本特征的情况下，能够以其它的具体形式实现本申请。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本申请的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本申请内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

Claims (10)

1.一种电源开关机测试电路，其特征在于，所述电源开关机测试电路包括测试芯片、电源供电电路以及第一放电电路，所述测试芯片的输出端分别与所述电源供电电路及所述第一放电电路电连接，所述电源供电电路中包括初级电容，且所述初级电容与所述第一放电电路电连接；

所述测试芯片的输出端用于输出第一驱动信号或第二驱动信号，其中，所述第一驱动信号与所述第二驱动信号为相反信号；

当所述测试芯片的输出端输出第一驱动信号时，所述电源供电电路处于导通状态且所述第一放电电路处于断开状态，以使所述初级电容充电；

当所述测试芯片的输出端输出第二驱动信号时，所述电源供电电路处于断开状态且所述第一放电电路处于导通状态，以对所述初级电容放电。

2.如权利要求1所述的电源开关机测试电路，其特征在于，所述电源开关机测试电路还包括开关器件，所述测试芯片的输出端与所述开关器件电连接，所述开关器件还与所述电源供电电路及所述第一放电电路电连接；

当所述测试芯片的输出端输出第一驱动信号时，所述开关器件导通，以使所述电源供电电路处于导通状态且所述第一放电电路处于断开状态；

当所述测试芯片的输出端输出第二驱动信号时，所述开关器件截止，以使所述电源供电电路处于断开状态且所述第一放电电路处于导通状态。

3.如权利要求2所述的电源开关机测试电路，其特征在于，所述电源供电电路包括常开继电器，所述常开继电器与所述开关器件电连接，所述第一放电电路包括常闭继电器，所述常闭继电器也与所述开关器件电连接；

当所述开关器件导通时，所述常开继电器闭合，所述常闭继电器断开，以使所述电源供电电路处于导通状态且所述第一放电电路处于断开状态；

当所述开关器件截止时，所述常开继电器断开，所述常闭继电器闭合，以使所述电源供电电路处于断开状态且所述第一放电电路处于导通状态。

4.如权利要求3所述的电源开关机测试电路，其特征在于，所述常开继电器包括第一线圈与常开开关，所述常闭继电器包括第二线圈与常闭开关，所述电源供电电路还包括供电主路，所述第一放电电路还包括放电主路，所述常开开关与所述供电主路电连接，所述常闭开关与所述放电主路电连接；所述开关器件的第一端与所述测试芯片电连接，所述开关器件的第二端接地，所述开关器件的第三端分别通过所述第一线圈及所述第二线圈与一电源电连接。

5.如权利要求3所述的电源开关机测试电路，其特征在于，所述第一放电电路还包括放电主路，所述放电主路、所述初级电容以及所述常闭继电器首尾连接。

6.如权利要求5所述的电源开关机测试电路，其特征在于，所述放电主路包括至少一个发光器件。

7.如权利要求1所述的电源开关机测试电路，其特征在于，所述电源开关机测试电路还包括第二放电电路，所述电源供电电路还包括次级电容，所述测试芯片的输出端还与所述第二放电电路电连接，且所述次级电容与所述第二放电电路电连接；

当所述测试芯片的输出端输出第一驱动信号时，所述第二放电电路处于断开状态；

当所述测试芯片的输出端输出第二驱动信号时，所述第二放电电路处于导通状态。

8.如权利要求1所述的电源开关机测试电路，其特征在于，所述电源开关机测试电路还包括驱动时长控制电路，所述驱动时长控制电路包括第一电阻、第二电阻以及第一电容，所述第一电阻的一端与一电源电连接，所述第一电阻的另一端与分别与所述第二电阻的一端及所述测试芯片的第一输入端电连接，所述第二电阻的另一端分别与所述第一电容的一端、所述测试芯片的第二输入端电连接，所述第一电容的另一端接地；

所述测试芯片依据所述第一电阻与所述第二电阻的阻值及所述第一电容的容值确定输出第一驱动信号与所述第二驱动信号的时长。

9.如权利要求8所述的电源开关机测试电路，其特征在于，所述第一电阻与所述第二电阻均为可变电阻。

10.一种电源开关机测试组件，其特征在于，所述电源开关机测试组件包括壳体与如权利要求1至9任意一项所述的电源开关机测试电路，所述电源开关机测试电路置于所述壳体内。

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