CN212779566U - 一种分布辐射度计 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开一种分布辐射度计，包括待测样品；第一转台，所述第一转台用于夹持所述待测样品在空间发生平移或旋转；宽带光探测单元和光谱辐射测量单元，所述光谱辐射测量单元的受光口离所述待测样品的距离小于所述宽带光探测单元离所述待测样品的距离；所述光谱辐射测量单元可在所述第一转台和所述宽带光探测单元之间切入和切出。本实用新型通过设置可切入切出光谱辐射测量单元，一方面可以缩短光谱辐射测量距离，获取到更全的光束能量，从而提高光谱测量准确度；另一方面，在进行测试时，可先使用光谱辐射测量单元确定待测样品波长范围，从而调整宽带光探测单元的校准系数。通过以上两方面来实现提高光分布测量准确度的技术效果。
Description
技术领域
本实用新型涉及光电测试领域，具体涉及一种分布辐射度计。
背景技术
光源产品被广泛应用于各种领域，光源产品的光辐射分布特性、光谱等等指标影响其应用设计，因此需要对光源产品的光学分布特性进行准确的测量。
现有技术中通常使用宽带响应的光辐射测量装置和光谱辐射测量装置对光源产品的光学分布特性和光谱进行分别测试，其中光辐射测量装置和光谱辐射测量装置设置于同一测试位，通过平移分别对待测样品进行测量。这样的测量方式存在一定缺陷：其一，为了满足平方反比定律，光辐射测量装置通常设置于一定距离处，对于小功率光源来说，光谱辐射测量装置较远距离的测量导致其接收到的能量损失较大，测量不准确；其二，单独使用宽带响应的光辐射测量装置时，当被测光源产品的光谱与光辐射测量装置定标光源光谱有差异，会产生较大测量误差，且此误差随着差异的增大而增大。
实用新型内容
针对现有技术的不足，本实用新型提供一种分布辐射度计，旨在解决现有技术中对光源进行分布辐射测量时测量准确度较低的技术问题。
本实用新型公开一种分布辐射度计，包括待测样品；第一转台，所述第一转台用于夹持所述待测样品在空间发生平移或旋转；宽带光探测单元和光谱辐射测量单元，所述光谱辐射测量单元的受光口离所述待测样品的距离小于所述宽带光探测单元离所述待测样品的距离；所述光谱辐射测量单元可在所述第一转台和所述宽带光探测单元之间切入和切出。
本实用新型的分布辐射度计，通过设置可切入切出光谱辐射测量单元，一方面可以缩短光谱辐射测量距离，获取到更全的光束能量，从而提高光谱测量准确度；另一方面，在进行测试时，可先使用光谱辐射测量单元确定待测样品波长范围，从而调整宽带光探测单元的校准系数。通过以上两方面来实现提高光分布测量准确度的技术效果。
需要说明的是，所述的第一转台可以在空间发生平移和旋转，此处对第一转台的具体设置并不做具体限制，本技术领域人员可根据测试需求及公知常识做相应调整和变化。
可选的，待测样品为小功率光源。
在一些可选的实施例中，所述光谱辐射测量单元的接收窗口前设置有余弦修正器或积分球。通过设置余弦修正器或积分球，可以使得光谱辐射单元接收到的光是均匀的。
在一些可选的实施例中，还包括第二转台，所述宽带光探测单元设置在所述第二转台上。通过设置第二转台，配合第一转台可以提供更多元化的测量方式，使得测试过程更加灵活可变。
需要说明的是，所述的第二转台可以在空间发生平移和旋转，此处对第二转台的具体设置并不做具体限制，本技术领域人员可根据测试需求及公知常识做相应调整和变化。
在一些可选的实施例中，还包括温控单元，所述温控单元设置于所述第一转台上，所述待测样品与所述温控单元热接触。为了克服待测样品在通电打开后随环境因素（电压、环境温湿度记忆待测样品本身的温度上升等）而发生变化，导致光输出特性的改变，本实施例通过温控单元实现恒温，进而保证待测样品的光输出的稳定性。
可选的，温控单元包括热沉、加热器和驱动控制单元。待测样品与热沉接触，热沉与加热器接触，并通过加热器进行加热；驱动控制单元与加热器联接，控制加热器的工作。
在一些可选的实施例中，还包括电测单元，所述电测单元设置于所述第一转台上，并与所述待测样品电联接。电测单元用于监测待测样品的电学参数变化，例如电压、电流等等。这些性能可用于反应待测样品的发光稳定性，进一步保障测量的精度。
可选的，所述电测单元为电流表。
在一些可选的实施例中，所述电测单元和所述温控单元电联接。通过以上实施例，可实现温控单元和电测单元的配合和反馈，即温控单元根据电测样品测得的待测样品的电学参数通过制冷火加热的方式控制待测样品的工作温度，利用待测样品的电学参数与待测样品结温的关联关系，实现对待测样品工作温度的控制。
在一些可选的实施例中，所述宽带光探测单元为多个，多个所述宽带光探测单元设置于离所述第一转台的不同距离处。设置多个宽带光探测单元可满足不同距离的测试要求，丰富测试数据，对待测样品的评价更加客观准确。
在一些可选的实施例中，还包括电机和导轨，所述电机控制所述宽带光探测单元在导轨上移动。通过导轨的传输，可实现宽带光探测单元对所述待测样品的不同距离的光学测量，丰富测试数据，对待测样品的评价更加客观准确。
在一些可选的实施例中，还包括控制单元，所述控制单元按设定时序控制所述待测样品点亮，并控制所述宽带光探测单元和所述光谱辐射测量单元按设定时序对所述样品进行测量。为实现智能及自动化的测试过程，本实施例通过控制单元切换宽带光探测单元和光谱辐射测量单元对待测样品按照时序进行测量，可最大化节约时间和人力成本。通常设定的时序根据待测样品的属性以及测试需求发生变化。
在一些可选的实施例中，还包括一个或以上的监测探头，所述监测探头设置在第一转台上，对所述待测样品的波动进行监测。由于在旋转测量、以及受外部或内部因素的影响，待测样品的发光会产生波动，通过设置一个或以上的监测探头，可实现测试同时的波动监测及实时的修正，进一步保障测量的准确度。
可选的，监测探头和所述宽带光探测单元在不同测量区域对所述待测样品进行监测和测量。
可选的，一个或以上的监测探头可分别切入或切出测量光路。
以上可选的实施例可以实现对待测样品的监测，同时避免对测量进行阻挡导致测量误差。
附图说明
附图1 为本实用新型实施例提供的一种分布辐射度计示意图；
附图2为本实用新型实施例提供的又一种分布辐射度计示意图。
具体实施方式
如图1所述，本实用新型提供了一种分布辐射度计，包括待测样品2；第一转台1，第一转台1用于夹持待测样品2在空间发生平移或旋转；宽带光探测单元3和光谱辐射测量单元4，光谱辐射测量单元4的受光口离待测样品2的距离小于宽带光探测单3元离待测样品2的距离；光谱辐射测量单元4可在第一转台1和宽带光探测单元3之间切入和切出。
如图2所述本实用新型提供了一种分布辐射度计，包括待测样品2；第一转台1，第一转台1用于夹持待测样品2在空间发生平移或旋转；第二转台6，宽带光探测单元3设置在第二转台6上；宽带光探测单元3和光谱辐射测量单元4，光谱辐射测量单元4的受光口离待测样品2的距离小于宽带光探测单3元离待测样品2的距离；光谱辐射测量单元4可在第一转台1和宽带光探测单元3之间切入和切出。还包括监测探头51、52，监测探头51、52设置在第一转台1上，对待测样品2的波动进行监测。
在以上实施例中，在对待测样品2进行测量时，先将光谱辐射测量单元4切入测量光路，获取待测样品2的光谱信息及波段信息，并根据波段信息调整宽带光探测单元3的校准系数。光谱辐射测量单元4切出测量光路，宽带光探测单元3对待测样品进行测量。监测探头51切入测量光路，在测量区域A对待测样品的波段进行监测，同时宽带光探测单元3在测量区域B测量待测样品的光学参数（此时监测探头52为切出状态），以上同步对待测样品进行测量和波动监测，避免的测量过程中的遮挡同时又提高了测量的准确度。
以上结合附图对本实用新型的具体实施方式作了说明，但本领域技术人员应当理解，以上实施例仅是为了进行说明，而不是为了限制本实用新型的范围。本领域技术人员应当理解，可在不脱离本实用新型的范围和精神的情况下，对以上实施例进行修改。本实用新型的保护范围由所附的权利要求来限定。
Claims (10)
1.一种分布辐射度计，其特征在于，包括
待测样品；第一转台，所述第一转台用于夹持所述待测样品在空间发生平移或旋转；
宽带光探测单元和光谱辐射测量单元，所述光谱辐射测量单元的受光口离所述待测样品的距离小于所述宽带光探测单元离所述待测样品的距离；
所述光谱辐射测量单元可在所述第一转台和所述宽带光探测单元之间切入和切出。
2.如权利要求1所述的分布辐射度计，其特征在于，所述光谱辐射测量单元的接收窗口前设置有余弦修正器或积分球。
3.如权利要求1所述的分布辐射度计，其特征在于，还包括第二转台，所述宽带光探测单元设置在所述第二转台上。
4.如权利要求1所述的分布辐射度计，其特征在于，还包括温控单元，所述温控单元设置于所述第一转台上，所述待测样品与所述温控单元热接触。
5.如权利要求1所述的分布辐射度计，其特征在于，还包括电测单元，所述电测单元设置于所述第一转台上，并与所述待测样品电联接。
6.如权利要求1所述的分布辐射度计，其特征在于，所述宽带光探测单元为多个，多个所述宽带光探测单元设置于离所述第一转台的不同距离处。
7.如权利要求1所述的分布辐射度计，其特征在于，还包括电机和导轨，所述电机控制所述宽带光探测单元在导轨上移动，实现对所述待测样品的不同距离的光学测量。
8.如权利要求1所述的分布辐射度计，其特征在于，还包括控制单元，所述控制单元按设定时序控制所述待测样品点亮，并控制所述宽带光探测单元和所述光谱辐射测量单元按设定时序对所述样品进行测量。
9.如权利要求1所述的分布辐射度计，其特征在于，还包括一个或以上的监测探头，所述监测探头设置在第一转台上，对所述待测样品的波动进行监测。
10.如权利要求9所述的分布辐射度计，其特征在于，所述监测探头和所述宽带光探测单元在不同测量区域对所述待测样品进行监测和测量。
Priority Applications (1)
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| CN202021158792.2U CN212779566U (zh) | 2020-06-22 | 2020-06-22 | 一种分布辐射度计 |
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Publications (1)
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Family Applications (1)
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| CN202021158792.2U Active CN212779566U (zh) | 2020-06-22 | 2020-06-22 | 一种分布辐射度计 |
Country Status (1)
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2020
- 2020-06-22 CN CN202021158792.2U patent/CN212779566U/zh active Active
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