CN212646495U - 检测支撑座、检测组件及检测分析仪 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种检测支撑座、检测组件及检测分析仪，该检测支撑座包括检测座基体，检测座基体具有检测区，在检测座基体上设有第一定位部，第一定位部与检测区相对应；所述检测区具有至少两个检测孔，并在检测座基体上设有至少两个第二定位部，各第二定位部分别与各自的检测孔相对应。本实用新型可以适用于单卡测试条，也可以适用于联卡测试条，使用时更方便，通用性强。

Description

检测支撑座、检测组件及检测分析仪

技术领域

本实用新型属于医学检测领域，具体涉及检测支撑座、检测组件及检测分析仪。

背景技术

检测分析仪在医学检测领域得到广泛的利用，如现在市面上的干式生化分析仪即是一种常用的检测分析仪，其作用主要原理是：

利用固定了试剂的干片作为载体，把全血、血浆或者血清等检测样本加到干片上，以检测样本中的水分为溶剂，检测样本与试剂发生显色反应，再使检测光源照射到干片上，通过感测元件感测产生显色反应的干片，通过比色原理得到检测样本的各种生化指标。

在检测过程时，需要将检测样本放置于测试条上并置于检测支撑座上，现有的检测分析仪只能适用于单个规格的测试条，使用时不方便，通用性不强。

发明内容

本实用新型的目的在于提供一种检测支撑座、检测组件及检测分析仪，本实用新型可以适用于单卡测试条，也可以适用于联卡测试条，使用时更方便，通用性强。

本实用新型提供了一种检测支撑座，包括检测座基体，检测座基体具有检测区，在检测座基体上设有第一定位部，第一定位部与检测区相对应；所述检测区具有至少两个检测孔，并在检测座基体上设有至少两个第二定位部，各第二定位部分别与各自的检测孔相对应。

在其中一个实施例中，第二定位部为定位槽及定位凸点，多个定位槽并行设置，各所述检测孔分别位于定位槽内，定位凸点位于定位槽纵向方向的至少其中一端。

在其中一个实施例中，还包括有转托件，该转托件上设有与所述第一定位部相对应的第三定位部，在所述转托件上设有至少两个单卡放置位，各单卡放置位处设有透光孔，各透光孔与检测孔相对应，在转托件上设有与各单卡放置位相对应的第四定位部。

在其中一个实施例中，在所述检测座基体上设置有与所述单卡放置位相对应的第五定位部。

在其中一个实施例中，所述第三定位部为设于所述转托件底部的凹槽，所述第一定位部为位于所述检测区周边的定位凸柱，定位凸柱卡于凹槽内并与其配合；所述第四定位部为限位槽，各限位槽并行设置，各所述透光孔位于该限位槽的中部。

在其中一个实施例中，所述第四定位部还包括设于所述转托件上且位于所述限位槽一端的第一侧边，所述第五定位部为设于所述测座基体上的第二侧边，第一侧边与第二侧边相对。

在其中一个实施例中，所述第一定位部为位于所述检测区周边的四个定位角和/或定位边。

在其中一个实施例中，在相邻的两个所述定位凸点之间设有导引凸起。

在其中一个实施例中，在所述检测座基体上间隔、平行的设有多个挡栏，相邻的两个挡栏之间形成所述定位槽，在所述挡栏的侧部设有第一导引斜面，在所述定位凸点的端部设有第二导引斜面。

在其中一个实施例中，在所述检测支撑座上设有第一让位缺，该第一让位缺位于所述检测区的周边靠近边缘部分，且位于多个检测孔连线方向的至少其中一端。

本实用新型还提供了一种检测组件，包括校准件固定座、支撑底座及前述的检测支撑座，在支撑底座上设有检测光源及感测元件，在检测支撑座上设有检测区，在校准件固定座上设有校准区；检测支撑座与支撑底座固定连接并在两者之间形成滑动空间，校准件固定座活动的设置于该滑动空间内，在支撑底座与校准件固定座之间设有第一驱动装置；在准件固定座的校准区设有至少两个校准孔，在支撑底座设有至少两个检测光源及感测元件，检测光源、感测元件、校准孔及检测孔的数量相对应。

在其中一个实施例中，还包括有盒体，所述校准件固定座和/或支撑底座与盒体固接，所述校准件固定座的校准区、检测支撑座、支撑底座的检测光源至少部分区域位于盒体内，在盒体上设有操作窗，所述检测支撑座上的检测区相对于操作窗外露。

在其中一个实施例中，在所述盒体上设有第二让位缺，该第二让位缺靠近所述检测区的边缘部分，且位于多个检测孔连线方向的至少其中一端。

本实用新型还提供了一种检测分析仪，其特征在于，包括：外壳体及前述的检测组件，外壳体的内部形成壳体内空间，在外壳体上设有移出窗，在外壳体内设有基架，在基架上设有第一导轨，所述检测组件通过第一导轨安装于基架上，并在检测组件与基架之间设有第二驱动装置，在第二驱动装置的作用下，检测组件的检测区通过移出窗移入壳体内空间或移出壳体内空间。

本实用新型所提供的技术方案具有以下的优点及效果：

本实用新型的检测支撑座具有第一定位部及第二定位部，当适用于单卡测试条时，各个单卡测试条分别通过设置于检测座基体上的各第二定位部进行定位，当用于联卡测试条时，该联卡测试条通过设置于检测座基体上的第一定位部进行定位，使得该检测支撑座可以适用于单卡测试条，也可以适用于联卡测试条，通用性更强。

附图说明

此处的附图，示出了本发明所述技术方案的具体实例，并与具体实施方式构成说明书的一部分，用于解释本发明的技术方案、原理及效果。

除非特别说明或另有定义，不同附图中，相同的附图标记代表相同或相似的技术特征，对于相同或相似的技术特征，也可能会采用不同的附图标记进行表示。

图1是本发明实施例的检测分析仪的外形图；

图2是本发明实施例的检测分析仪在活动盖打开时的结构图；

图3是本发明实施例的检测分析仪的拆解图；

图4是本发明实施例的检测分析仪去除外壳体后的结构图；

图5是本发明实施例的检测组件与基架及第一驱动装置的连接结构图；

图6是本发明实施例的扫码组件与基架及第四驱动装置的连接结构图；

图7是本发明实施例的加热组件、第三驱动装置的拆解结构图；

图8是驱动块的结构图；

图9是本发明实施例所述检测分析仪中的检测组件的拆解图；

图10是校准件固定座、支撑底座及第一驱动装置的正面拆解图；

图11是校准件固定座、支撑底座及第一驱动装置的背面拆解图；

图12是支撑底座的底部视图；

图13是检测组件在校准状态时的剖视图；

图14是检测组件在检测状态时的剖视图；

图15是多个测试条单卡放置于检测组件时的状态图；

图16是测试条联卡放置于检测组件时的状态图；

图17是校准件固定座局部的侧向视图；

图18是测试条联卡的正面结构图；

图19是测试条联卡的背面结构图；

图20是测试条联卡的拆解图；

图21是多个测试条单卡通过转托件放置于检测组件时的状态图；

图22是图21的分解图；

图23是转托件的正面图；

图24是转托件的背面图；

图25是转托件的剖视图；

附图标记说明：

1000、检测组件，1010、侧部通口，

1100、校准件固定座，1110、校准基体，1111、导向侧缘，1112、导向凸起，1113、作用槽，1114、顶压部，1115、第二限位部，1120、第一连接边框， 1121、第二连接边框，1122、第一连接条，1123、第二连接条，1124、第三导引斜面，1125、第四导引斜面，1126、挡条，1130、校准孔，1140、侧部槽口，

1200、检测支撑座，1210，检测座基体，1211、检测孔，1212、定位角， 1213、定位边，1214、挡栏，1215、定位槽，1216、定位凸点，1217、第一导引斜面，1218、第二导引斜面，1220、第一让位缺，1230、凹陷区，1240、定位凸柱，1250、导引凸起，

1300、加热组件，1310、第二加热元件，1320、导热块，1321、第一穿孔， 1322、开槽，1323、压条，1330、压头，1340、第二弹性件，1350、加热体上壳，1360、加热体下壳，1361、第二穿孔，

1400、扫码组件，

1500、支撑底座，1510、底座基体，1511、导向边，1512、导向槽，1513、第一定位台，1514、第二定位台，1520、第二侧边，

1620、第一光源安装板，1621、第一发光元件，1630、第二光源安装板， 1631、第二发光元件，1640、第三光源安装板，1641、第三发光元件，1650、检测安装板，1651、感测元件，1660、检测光源，

1701、第一位置传感元件，1702、安装柱，1703、第二位置传感元件，

1800、盒体，1810、上盒，1811、操作窗，1812、更换窗，1813、盖板， 1820、下盒，1830、第二让位缺，

2100、第一驱动装置，2110、输出轴，2120、第一导轨，2130、滑动座， 2141、卡条，2142、轴颈，2150、隔热垫，

2200、第一弹性件，2210、套筒，2211、第一限位部，2212、卡口，2213、固定螺钉，2220、第一弹簧，2230、顶杆，2231、膨胀限位头，

2310、第二电机，2320、第二过轮，2340、第二传输环带，

2410、第三驱动电机，2420、第三导轨，2430、驱动块，2440、凸轮，2450、导槽，2460、滑块，

2510、第四驱动装置，2520、第四过轮，2530、第四传输环带，2540、第四导轨，

3000、外壳体，3100、壳体底座，3110、左侧板，3120、右侧板，3130、后侧板，3140、底板，

3200、壳体顶板，3210、前侧面板，3211、移出窗，3212、活动盖，3220、顶部面板，

3300、基架，3310、基座，3320、立柱，3330、中隔板，3340、PCBA板卡，

4000、校准部件，

5000、联卡测试条，5100、测试基板，5101、上板体，5102、下板体，5110、安装孔，5200、单片测试卡，5210、放置部，5220、条码区，5300、卡槽，

6000、单卡测试条，6210、放置部，6220、条码区，6230、定位孔，

7000、转托件，7100、单卡放置位，7110、透光孔，7200、挡边，7300、凹槽，7400、第一侧边，7410、卡缺。

具体实施方式

为了便于理解本发明，下面将参照说明书附图对本发明的具体实施例进行更详细的描述。

除非特别说明或另有定义，本文所使用的所有技术和科学术语与所属技术领域的技术人员通常理解的含义相同。在结合本发明技术方案的现实场景的情况下，本文所使用的所有技术和科学术语也可以具有与实现本发明的技术方案的目的相对应的含义。

除非特别说明或另有定义，本文所使用的“第一、第二…”仅仅是用于对名称的区分，不代表具体的数量或顺序。

除非特别说明或另有定义，本文所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

需要说明的是，当元件被认为“固定于”另一个元件，它可以是直接固定在另一个元件上，也可以是存在居中的元件；当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件，也可以是同时存在居中元件；当一个元件被认为是“安装在”另一个元件，它可以是直接安装在另一个元件，也可以是同时存在居中元件。当一个元件被认为是“设在”另一个元件，它可以是直接设在另一个元件，也可以是同时存在居中元件。

除非特别说明或另有定义，本文所使用的“所述”、“该”为相应位置之前所提及或描述的技术特征或技术内容，该技术特征或技术内容与其所提及的技术特征或技术内容可以是相同的，也可以是相似的。

毫无疑义，与本发明的目的相违背，或者明显矛盾的技术内容或技术特征，应被排除在外。

如图1至图25所示，检测分析仪，包括外壳体3000、检测组件1000、加热组件1300及扫码组件1400几个主要部件，且各主要部件之间是相互作用的，相互之间有结构上的连接或对应关系，但为方便起见，下面将按以下主要部件的顺序依次展开描述，在描述时，仍然可能会涉及到相关的其他部件。

外壳体3000及相关部件

请重点查看图1至图3并结合其他视图，所述外壳体3000包括壳体底座 3100及壳体盖件，壳体底座3100具有相连接的左侧板3110、右侧板3120、后侧板3130及底板3140，壳体顶板3200具有相连接的前侧面板3210及顶部面板3220，壳体底座3100与壳体顶板3200盖合在一起形成壳体内部空间；前侧面板3210上设有移出窗3211，并在前侧面板3210上设有与移出窗3211对应的活动盖3212。

在外壳体3000内设有基架3300，所述基架3300包括基座3310及位于基座3310上方的四个立柱3320，在四个立柱3320的上方设有中隔板3330，在中隔板3330的上方设有PCBA板卡3340，基座3310与中隔板3330之间形成方便检测组件1000移动的移动空间。在基架3300上并行的设置有两根第一导轨 2120，滑动座2130通过两根第一导轨2120活动地设置于所述基架3300上，所述检测组件1000安装于滑动座2130上，在所述检测组件1000与滑动座2130 之间设有隔热垫2150。

第二驱动装置包括有第二电机2310、第二过轮2320、第二传输环带2340，第二传输环带2340套在第二电机2310的输出轴与第二过轮2320之间，所述滑动座2130与第二传输环带2340连接，在第二驱动装置的作用下，检测组件 1000的检测区通过移出窗3211移入壳体内空间或移出壳体内空间。当检测组件1000外移时，活动盖3212打开，当检测组件1000内移时，活动盖3212关闭。

扫码组件1400及相关部件

请重点查看图4至图6并结合其他视图，在所述基架3300上还设有第四导轨2540，扫码组件1400通过第四导轨2540活动地安装于所述基架3300上，第四传输环带2530套在第四驱动装置2510的输出轴与第四过轮2520之间，所述扫码组件1400与第四传输环带2530连接，通过第四驱动装置2510、第四传输环带2530带动扫码组件1400移动至设定位置对检测组件1000上与检测样本对应的条码进行扫描。

扫码组件1400的作用在于：对检测组件1000中检测支撑座1200上的检测样本对应的条码进行扫描，以确定该检测样本所对应的信息，如该检测样本对应的个人身份信息、该检测样本的种类信息等等，扫码组件1400所扫的信息码可以是一维码，也可以是二维码，可以是联卡测试条5000的整体信息，也可以单卡测试条6000的独立信息。

加热组件1300及相关部件

请重点查看图3、图4、图7、图8，并结合其他视图，在中隔板3330上设有第三导轨2420，加热组件1300通过第三导轨2420活动地安装于中隔板 3330上，在所述第三导轨2420上设有滑块2460，滑块2460与驱动块2430固定连接，所述加热组件1300固定于驱动块2430上；在驱动块2430上设有导槽2450，在所述基架3300上设有第三驱动电机2410，第三驱动电机2410的输出轴与凸轮2440连接，凸轮2440与导槽2450配合，第三驱动电机2410旋转时，带动凸轮2440旋转，凸轮2440与导槽2450配合并带动驱动块2430上下移动，进而带动加热组件1300上下移动，使所述加热组件1300抵压于所述检测支撑座1200的检测区或脱离于所述检测支撑座1200的检测区。

所述加热组件1300还包括有加热体上壳1350、加热体下壳1360、第二加热元件1310、导热块1320、压头1330及第二弹性件1340，第二加热元件1310 为膜片式结构，加热体上壳1350与加热体下壳1360相盖合而形成加热空间，第二加热元件1310及导热块1320均位于加热空间内并与导热块1320接触连接，在导热块1320上设有第一穿孔1321，在加热体下壳1360上设有与第一穿孔1321相对应的第二穿孔1361，在所述导热块1320上设有开槽1322，所述第一穿孔1321位于所述开槽1322的下部，所述第二弹性件1340的后端位于开槽1322内，在开槽1322内设置有压条1323将第二弹性件1340的后端抵压，所述第二加热元件1310安装于导热块1320的背侧并将所述压条1323盖住。所述压头1330同时穿过该第一穿孔1321、第二穿孔1361，其后端被第二弹性件1340压紧，压头1330的前端朝向所述检测支撑座1200，各所述压头1330 分别与检测支撑座1200的检测孔1211相对应。本实施例中，与每一个检测孔 1211相对就的压头1330及第二弹性件1340的数量为两个，在检测时，两个压头分别抵压在检测孔1211的两侧。

通过第二加热元件1310对导热块1320进行加热，以控制加热组件1300 的温度，在检测或校准时，通过该加热组件1300的第二加热元件1310以及检测组件1000的第一加热元件(第一加热元件见稍后的描述)对检测组件1000 上的检测样本的温度进行精确控制，进而在检测或校准时获得精确的检测结果。

加热组件1300包括有加热体上壳1350、加热体下壳1360，可以使加热组件1300具有相对密封的空间，减少第二加热元件1310的热量损失，使加热组件1300的温度控制更精确，也减少了能耗。

加热组件1300的前侧设有压头1330，通过第二弹性件1340作用于压头 1330上，在检测或校准时，压头1330抵压在检测样本上，并可以根据测试条 (及检测样本)的厚度自主的调节压头1330的位置，可以实现压头1330位置的自适应调节，可以适用于不同厚度的测试条。

在所述导热块1320上设有开槽1322，开槽1322内设有压条1323，通过该压条1323将第二弹性件1340压紧，避免第二弹性件1340的反复受力而损坏膜片式结构的第二加热元件1310，通过压条1323将第二弹性元件限制在开槽1322内，可以使多个第二弹性元件更稳定的限位。

检测组件1000

请重点查看图9至图25，并结合其他视图，检测组件1000为本检测分析仪的主体部件，其包括校准件固定座1100、检测支撑座1200、支撑底座1500，支撑底座1500包括有底座基体1510，在底座基体1510上设有检测光源1660 及感测元件1651，在检测支撑座1200上设有检测区，在校准件固定座1100 上设有校准区；校准件固定座1100用于安装校准部件4000(本实施例中，校准部件4000采用白物质，白物质作为在校准时的标准反射物质)；检测支撑座 1200用于放置用于检测的检测样本；支撑底座1500上设有检测光源1660，在校准时，该检测光源1660发出的光照射到校准部件4000，在检测时，该检测光源1660发出的光照射到检测区的检测样本上，校准部件4000或检测区的反射光被感测元件1651所感测，进而得到校准时或检测时的数据，以便对数据进行分析处理。

请重点查看图9至图14，并结合其他视图，检测支撑座1200与支撑底座 1500固定连接而形成检测固定座，并在其内部形成滑动空间，校准件固定座 1100活动地设置于该滑动空间处，在支撑底座1500与校准件固定座1100之间设有第一驱动装置2100；校准件固定座1100在第一驱动装置2100的作用下具有校准位及检测位，在校准位时，校准件固定座1100前移，检测光源1660及感测元件1651均与校准件固定座1100上的校准区相对，在检测位时，校准件固定座1100后移，检测光源1660及感测元件1651均与检测支撑座1200上的检测区相对。

在使用时，校准件固定座1100上安装有校准部件4000，检测支撑座1200 与支撑底座1500固定连接并在两者之间形成滑动空间，校准件固定座1100活动地设置于该滑动空间处，并通过第一驱动装置2100带动校准件固定座1100 移动；在需要进行校准时，校准件固定座1100前移，检测光源1660及感测元件1651均与校准件固定座1100上的校准区相对，检测光源1660发出的光线照射到校准部件4000上，感测元件1651感测从校准部件4000所反射的光，得到该检测分析仪在校准状态下的校准信号，在需要进行检测时，校准件固定座1100后移，检测光源1660及感测元件1651均与检测支撑座1200上的测试条相对，检测光源1660发出的光线照射到测试条上，感测元件1651感测从测试条所反射的光，得到该检测分析仪在检测状态下的检测信号，通过对校准信号、检测信号进行处理，可以得到比较理想的实测结果。由于将校准件固定座1100滑动的设置于滑动空间内，在第一驱动的作用下，可以方便对检测分析仪进行校准，校准非常方便，使用者可以每次开机时进行校准，也可以在每次检测前或检测后进行校准，提高了检测的准确性。

在所述第一驱动装置2100与所述校准件固定座1100之间设有第一弹性件 2200，其具体结构如下：

所述第一弹性件2200包括：套筒2210、第一弹簧2220、顶杆2230，套筒 2210中空且其前端具有滑孔，顶杆2230的后端具有膨胀限位头2231，膨胀限位头2231位于套筒2210内且其后端被第一弹簧2220顶压，顶杆2230的前端通过滑孔伸出，套筒2210的前端设有第一限位部2211(即限位法兰)，在所述校准件固定座1100上设有作用槽1113，在作用槽1113的前侧设有顶压部1114，作用槽1113的后侧设有第二限位部1115(即作用槽1113后侧的两个限位竖立面)，套筒2210的前端伸入作用槽1113内，且其第一限位部2211被第二限位部1115限位，顶杆2230前端的端部朝向顶压部1114。所述第一驱动装置2100 的输出轴2110的周向表面具有轴向方向的卡条2141，输出轴2110的端部具有轴颈2142，所述套筒2210的后端圆周设有卡口2212，套筒2210的卡口2212 卡于卡条2141上，在套筒2210上设有固定螺钉2213，该固定螺钉2213卡于输出轴2110的轴颈2142上而实现套筒2210与第一驱动装置2100的输出轴 2110的连接。

套筒2210的卡口2212卡于第一驱动装置2100的输出轴2110上，固定螺钉2213穿过套筒2210并卡于输出轴2110的轴颈2142上。第一驱动装置2100 通过其输出轴2110带动套筒2210前移或后移，当套筒2210前移时，顶杆2230 前端抵在顶压部1114上，推动校准件固定座1100前移，使校准孔1130与检测光源1660及感测元件1651对准，当套筒2210后移时，通过套筒2210上的第一限位部2211拖动校准件固定座1100上的第二限位部1115，进而带动校准件固定座1100后移，使检测孔1211与检测光源1660及感测元件1651对准。由于第一弹簧2220的设置，当套筒2210前移到位后，该第一弹簧2220可以对第一驱动装置2100进行缓冲。

在所述支撑底座1500上设有定位台(位于中部位置的第一定位台1513以及位于侧部位置的两个第二定位台1514)，在校准位时，校准件固定座1100 前移并与所述定位台抵压；当套筒2210前移到位后，校准件固定座1100被第一定位台1513、第二定位台1514精确的限位(高精度的硬定位)，使校准部件 4000与检测光源1660及感测元件1651精确的对准，校准的精度大大的提高；另一方面，第一定位台1513、第二定位台1514的加工精度也相对较高，为了避免多次移动而造成冲击而影响校准件固定座1100的定位精度，设置第一弹簧2220后，可以起到良好的缓冲效果，校准件固定座1100的一侧采用较高精度的定位，另一侧采用弹性的自适应结构(软定位)，两者巧妙的结合，在提高定位精度的同时，减轻了对于机构本身的制造要求。

请重点查看图9、图10、图15及图16，并结合其他视图，所述检测支撑座1200包括检测座基体1210，在检测座基体1210上设有两组定位结构对测试条进行定位，即：第一定位部、第二定位部；第一定位部与整个检测区相对应，当放置联卡测试条5000时，通过该第一定位部进行定位，避免联卡测试条5000 发生位移；在该检测区还设有六个检测孔1211，各检测孔1211处可以用于放置单卡测试条6000，在检测座基体1210上设有六个第二定位部，各第二定位部分别与各自的检测孔1211相对应；当放置单卡测试条6000时，通过该第二定位部对各单卡测试条6000分别进行定位，避免单卡测试条6000发生位移；

检测支撑座1200具有第一定位部、第二定位部，可以分别对联卡测试条 5000、单卡测试条6000进行定位，以使该检测支撑座1200同时适用于联卡测试条5000或单卡测试条6000，通用性大大提高。

对于第一定位部、第二定位部，本实施例具体采用如下结构：所述第一定位部为设于检测支撑座1200上且位于所述检测区两侧的两个定位凸柱1240，在联卡测试条5000的下表面设有卡槽5300，当联卡测试条5000放置到检测支撑座1200后，定位凸柱1240卡于联卡测试条5000两端的卡槽5300内，为方便联卡测试条5000的放置，在所述检测区周边设有四个定位角1212及定位边 1213用于初步的限位。

第二定位部为定位槽1215(在所述检测座基体1210上间隔、平行的设有多个挡栏1214，相邻的两个挡栏1214之间形成所述定位槽1215)及定位凸点1216，六个定位槽1215并行设置，各所述检测孔1211分别位于定位槽1215 内，定位凸点1216位于定位槽1215纵向方向的其中一端，在相邻的两个所述定位凸点1216之间设有导引凸起1250；各个单卡测试条6000的主体部分置于定位槽1215内对单卡测试条6000进行横向方向的限位，定位凸点1216可以对单卡测试条6000进行纵向方向的定位。

在放置单卡测试条6000时，导引凸起1250可以起到导引作用，以方便单卡测试条6000的放入。同理，在所述挡栏1214的侧部设有第一导引斜面1217，在所述定位凸点1216的端部设有第二导引斜面1218。

在所述检测支撑座1200上设有第一让位缺1220，该第一让位缺1220位于所述检测区的周边靠近边缘部分，且位于六个检测孔1211连线方向的两端。在所述定位凸点1216与所述定位槽1215之间设有凹陷区1230，该凹陷区1230 至少部分区域低于所述定位凸点1216及所述定位槽1215。第一让位缺1220 可以方便操作者的手部从此伸入，以便对联卡测试条5000进行抓取；当采用单卡测试条6000时，凹陷区1230可以为操作者的手部让出空间，以达到同样的目的。

所述校准件固定座1100包括校准基体1110，即：相对设置的第一连接边框1120、第二连接边框1121及挡条1126，该挡条1126与第一连接边框1120、第二连接边框1121连接；在第一连接边框1120、第二连接边框1121上并行设置有六个第一连接条1122(即表面限位部)、六个第二连接条1123(第二表面限位部)，所述第一连接条1122位于所述校准基体1110的下表面，所述第二连接条1123位于所述校准基体1110的上表面，第一连接条1122与第二连接条1123之间形成方便容置校准部件4000的插槽，该插槽沿所述校准基体1110 的主体方向，六个第一连接条1122相互间隔，并在相间隔的六个第一连接条 1122之间形成六个校准孔1130，在所述校准件固定座1100的侧部设有与插槽相通的侧部槽口1140。在该检测组件1000上设有侧部通口1010，该侧部通口 1010与侧部槽口1140相对。

该校准件固定座1100上设有多个第一连接条1122、第二连接条1123，多个第一连接条1122位于插槽的下方，多个第二连接条1123位于插槽的上方，校准部件4000从插槽插入，其下部由多个第一连接条1122支撑，其上部被多个第二连接条1123限位，侧部槽口1140可以方便操作者取出或插入校准部件 4000，采用多个第一连接条1122、第二连接条1123，可以起到支撑限位作用，并且可以减少材料的损耗，多个第一连接条1122之间间隔刚好形成六个校准孔1130。

在靠近所述侧部槽口1140一侧，所述第一连接条1122相对于第二连接条 1123更靠近端部。当插入校准部件4000时，该端部位置的第一连接条1122 可以对校准部件4000起到导引支撑作用，以方便插入；同时，所述第一连接条1122靠近侧部槽口1140的一侧、背向侧部槽口1140的一侧均设有第三导引斜面1124，在所述第二连接条1123靠近侧部槽口1140的一侧、背向侧部槽口1140的一侧均设有第四导引斜面1125，加强了对校准部件4000插入时的导引效果，以方便插入，挡条1126位于所述侧部槽口1140的相反侧，当校准部件4000插入到位后，校准部件4000的内端被挡条1126挡住，挡条1126不能继续移动。

所述支撑底座1500包括底座基体1510、第一光源安装板1620、第二光源安装板1630，所述第一光源安装板1620、第二光源安装板1630均呈长条状，在所述第一光源安装板1620、第二光源安装板1630的同一端部方向还设有第三光源安装板1640，该第三光源安装板1640相对于所述底座基体1510的夹角与第一光源安装板1620、第二光源安装板1630相对于底座基体1510的夹角相等，且第一光源安装板1620、第二光源安装板1630、第三光源安装板1640安装于底座基体1510的同一表面，第一光源安装板1620、第二光源安装板1630、第三光源安装板1640相对于底座基体1510的夹角相等，但第一光源安装板 1620、第二光源安装板1630相对于底座基体1510的倾斜方向相反。所述检测支撑座1200位于所述支撑底座1500的上方，所述检测光源1660及感测元件 1651安装于所述支撑底座1500上且偏向于支撑底座1500的下部。通过该安装方式，可以增加检测孔位与检测光源1660、感测元件1651的距离，进而缩短所述检测支撑座1200与所述支撑底座1500的尺寸，以满足两者固定安装的需要。为满足两者固定安装尺寸的要求，可以选择小焦距的检测光源1660。

在所述第一光源安装板1620上沿纵向方向安装有六个第一发光元件 1621，在所述第二光源安装板1630上沿纵向方向安装有六个所述第二发光元件1631，在第三光源安装板1640上安装有一个第三发光元件1641，检测孔1211 的数量为六个。且第一发光元件1621、第二发光元件1631、第三发光元件1641 的波长不同。检测光源1660包括六个第一发光元件1621、六个第二发光元件 1631及一个第三发光元件1641。

在所述第一光源安装板1620、第二光源安装板1630之间还设有长条状的检测安装板1650，检测安装板1650与所述底座基体1510平行，所述感测元件 1651为六个，感测元件1651沿纵向方向安装于检测安装板1650上，且各所述感测元件1651分别与各所述检测光源1660及检测孔1211相对应。

第一光源安装板1620、第二光源安装板1630相对于底座基体1510的夹角相等，第三光源安装板1640安装于第一光源安装板1620、第二光源安装板1630 相同的端部，并且也按第一光源安装板1620、第二光源安装板1630相等的夹角倾斜，以达到第一光源安装板1620、第二光源安装板1630、第三光源安装板1640相对于底座基体1510倾斜夹角相等的效果，可以在一个检测孔1211 处设置多个检测光源，结构更紧凑；并且由于各光源安装板的倾角相等，不会对检测结果造成影响。

由于检测样本对不同波长的光具有不同的敏感度，设置不同波长的多个光源后，可以根据检测样本的需要选择相应波长的检测光源。

在所述支撑底座1500上设有第一导向部，在所述校准件固定座1100上设有第二导向部，第一导向部与第二导向部均沿第一驱动装置2100的驱动方向，第一导向部与第二导向部配合。具体而言，在所述支撑底座1500的两侧各设有导向边1511，所述校准件固定座1100两侧均具有导向侧缘1111，校准件固定座1100的两个导向侧缘1111与导向边1511滑动配合；在所述支撑底座1500 上设有导向槽1512，在所述校准件固定座1100上设有导向凸起1112，导向凸起1112卡入导向槽1512内并与导向槽1512配合；所述第一导向部为导向边1511及导向槽1512，所述第二导向部为导向侧缘1111及导向凸起1112。校准件固定座1100在平移时，通过其两侧的导向侧缘1111与支撑底座1500的导向边1511，以及其底部的导向凸起1112与支撑底座1500的导向槽1512配合，在第一驱动装置2100的作用下，可以保持校准件固定座1100在纵向方向的平稳移动，避免校准件固定座1100产生歪斜而影响校准精度。

本实施例所述检测分析仪可以使用单卡测试条6000或联卡测试条5000，方法如下：

单卡测试条6000呈长条状，在其主体区域设置有放置部6210，放置部6210 用于放置检测样本，在检测时，该放置部6210与检测孔1211相对，单卡测试条6000两侧被挡栏1214限位，单卡测试条6000端部的定位孔6230卡于定位凸点1216上，凹陷区1230以便在对单卡测试条6000进行取放时进行让位，以方便进行握持操作，单卡测试条6000靠近定位孔6230一端设有条码区6220，用于印制或粘贴相应的信息码，扫码组件1400工作时，用于扫描该条码区6220 的信息，在使用单卡测试条6000时，可以使六个单卡测试条6000并排放置；

联卡测试条5000呈板型，其包括由上板体5101及下板体5102扣合而成的测试基板5100，测试基板5100上设有六个安装孔5110，各安装孔5110处均安装有单片测试卡5200，各单片测试卡5200上设置有放置部5210，该联卡测试条5000上的六个放置部5210分别与各检测孔1211相对；当联卡测试条 5000放置到检测支撑座1200后，由于在联卡测试条5000的下表面设有卡槽 5300，定位凸柱1240卡于联卡测试条5000两端的卡槽5300内。在测试基板5100的一端设有条码区5220，用于印制或粘贴相应的信息码，扫码组件1400 工作时，用于扫描该条码区5220的信息。

请重点查看图21至图25，在使用单卡测试条时，可以采用转托件7000，在转托件7000的底部设有凹槽7300，前述定位凸柱1240可以卡于凹槽7300 内并与其配合，以实现对转托件7000的定位，在所述转托件7000上设有六个单卡放置位7100，各单卡放置位7100处设有透光孔7110，各透光孔7110与检测孔1211相对应，在转托件7000上设有与各单卡放置位7100相对应的第四定位部(即转托件7000的第一侧边7400及位于第一侧边7400底部的卡缺 7410)，在所述检测座基体1210上设置有与所述单卡放置位7100相对应的第五定位部，即第二侧边1520，该第二侧边1520与第一侧边7400相对，用于对各单卡测试条6000进行限位。采用转托件之后，可以先一次性的将多个单卡测试条6000预先放置于转托件7000的单卡放置位7100上，再将带有多个单卡测试条6000的转托件7000置于检测座基体1210上，通过定位凸柱1240对转托件7000定位，单卡测试条6000一端卡于第一侧边7400底部的卡缺7410 内，另一端被第二侧边1520，采用转托件之后，放置或取出多个单卡测试条 6000时更方便。

该检测组件1000还包括由上盒1810及下盒1820组成的盒体1800，盒体 1800采用塑料制成，上盒1810与下盒1820相互盖合，在所述支撑底座1500 的下表面设有六个安装柱1702，所述支撑底座1500通过该安装柱1702与所述下盒1820固定连接。在所述盒体1800上设有第二让位缺1830，该第二让位缺 1830靠近所述检测区的边缘部分，且位于多个检测孔1211连线方向的两端。

所述校准件固定座1100的校准区、检测支撑座1200部分区域位于盒体 1800内，在盒体1800上设有操作窗1811，所述检测支撑座1200上的检测区相对于操作窗1811外露以方便进行检测操作。所述检测支撑座1200、支撑底座1500均为导热材料制成(本实施例中采用铝合金)，在所述检测支撑座1200 与支撑底座1500之间设有第一加热元件，该第一加热元件优选为加热膜片(图中未示出)，该加热膜片通过粘贴的方式固定于检测支撑座1200与支撑底座 1500之间。

在所述盒体1800的侧部设有更换窗1812，当校准件固定座1100位于校准位或检测位时，侧部槽口1140与更换窗1812相对，在更换窗1812上设有盖板1813。

在支撑底座1500与校准件固定座1100之间设有第一位置传感元件1701，通过该第一位置传感元件1701对校准件固定座1100的位移进行感测；在基架 3300与加热组件1300之间设有第二位置传感元件1703对加热组件1300的位置进行感测，以实现两者位移的精确控制。

本实施例所述检测分析仪的使用过程为：

1、校准部件4000的更换：

启动第二驱动装置，检测组件1000在第二电机2310的驱动作用下相对于第一导轨2120移动，活动盖3212打开，检测组件1000通过移出窗3211移入壳体内空间；

启动第一驱动装置2100，将校准件固定座1100移动至校准位，此时侧部槽口1140与更换窗1812对准；

打开盒体1800侧部的盖板1813，从更换窗1812处取下校准部件4000，并将新的校准部件4000插入插槽；

通过盖板1813盖将更换窗1812盖上。

2、通过检测分析仪进行检测

开机启动，通过按键发出检测指令；

第一驱动装置2100带动校准件固定座1100移动至校准位；

检测光源发出检测光至校准件固定座1100的校准部件4000，感测元件 1651检测校准部件4000并获得校准信号；

第一驱动装置2100带动校准件固定座1100移动至检测位；

检测光源发出检测光至检测支撑座1200的检测样本，感测元件1651检测检测样本并获得检测信号；

将检测信号与校准信号进行处理得到实测结果。

以上实施例的目的，是对本发明的技术方案进行示例性的再现与推导，并以此完整的描述本发明的技术方案、目的及效果，其目的是使公众对本发明的公开内容的理解更加透彻、全面，并不以此限定本发明的保护范围。

以上实施例也并非是基于本发明的穷尽性列举，在此之外，还可以存在多个未列出的其他实施方式。在不违反本发明构思的基础上所作的任何替换与改进，均属本发明的保护范围。

如：本实施例中，所述第一发光元件1621、第二发光元件1631、感测元件1651、检测孔1211、校准孔1130的数量为六个，可以理解，前述的数量没有特殊限制；前述“数量相对应”不要求两者数量相等，可以设置为一对二，或者一对多。

Claims (15)

1.检测支撑座，其特征在于，包括检测座基体，检测座基体具有检测区，在检测座基体上设有第一定位部，第一定位部与检测区相对应；所述检测区具有至少两个检测孔，并在检测座基体上设有至少两个第二定位部，各第二定位部分别与各自的检测孔相对应。

2.如权利要求1所述检测支撑座，其特征在于，第二定位部为定位槽及定位凸点，多个定位槽并行设置，各所述检测孔分别位于定位槽内，定位凸点位于定位槽纵向方向的至少其中一端。

3.如权利要求2所述检测支撑座，其特征在于，所述第一定位部为位于所述检测区周边的定位凸柱。

4.如权利要求2所述检测支撑座，其特征在于，在相邻的两个所述定位凸点之间设有导引凸起。

5.如权利要求2所述检测支撑座，其特征在于，在所述检测座基体上间隔、平行的设有多个挡栏，相邻的两个挡栏之间形成所述定位槽，在所述挡栏的侧部设有第一导引斜面，在所述定位凸点的端部设有第二导引斜面。

6.如权利要求1至5中任一项所述检测支撑座，其特征在于，在所述检测支撑座上设有第一让位缺，该第一让位缺位于所述检测区的周边靠近边缘部分，且位于多个检测孔连线方向的至少其中一端。

7.如权利要求2至5中任一项所述检测支撑座，其特征在于，在所述定位凸点与所述定位槽之间设有凹陷区，该凹陷区至少部分区域低于所述定位凸点及所述定位槽。

8.如权利要求1至5中任一项所述检测支撑座，其特征在于，还包括有转托件，该转托件上设有与所述第一定位部相对应的第三定位部，在所述转托件上设有至少两个单卡放置位，各单卡放置位处设有透光孔，各透光孔与检测孔相对应，在转托件上设有与各单卡放置位相对应的第四定位部。

9.如权利要求8所述检测支撑座，其特征在于，在所述检测座基体上设置有与所述单卡放置位相对应的第五定位部。

10.如权利要求9所述检测支撑座，其特征在于，所述第三定位部为设于所述转托件底部的凹槽，所述第一定位部为位于所述检测区周边的定位凸柱，定位凸柱卡于凹槽内并与其配合；所述第四定位部为限位槽，各限位槽并行设置，各所述透光孔位于该限位槽的中部。

11.如权利要求10所述检测支撑座，其特征在于，所述第四定位部还包括设于所述转托件上且位于所述限位槽一端的第一侧边，所述第五定位部为设于所述测座基体上的第二侧边，第一侧边与第二侧边相对。

12.检测组件，其特征在于，包括校准件固定座、支撑底座及前述任一权利要求所述的检测支撑座，在支撑底座上设有检测光源及感测元件，在检测支撑座上设有检测区，在校准件固定座上设有校准区；检测支撑座与支撑底座固定连接并在两者之间形成滑动空间，校准件固定座活动的设置于该滑动空间内，在支撑底座与校准件固定座之间设有第一驱动装置；在准件固定座的校准区设有至少两个校准孔，在支撑底座设有至少两个检测光源及感测元件，检测光源、感测元件、校准孔及检测孔的数量相对应。

13.如权利要求12所述检测组件，其特征在于，还包括有盒体，所述校准件固定座和/或支撑底座与盒体固接，所述校准件固定座的校准区、检测支撑座、支撑底座的检测光源至少部分区域位于盒体内，在盒体上设有操作窗，所述检测支撑座上的检测区相对于操作窗外露。

14.如权利要求13所述检测组件，其特征在于，在所述盒体上设有第二让位缺，该第二让位缺靠近所述检测区的边缘部分，且位于多个检测孔连线方向的至少其中一端。

15.检测分析仪，其特征在于，包括：外壳体及权利要求12所述的检测组件，外壳体的内部形成壳体内空间，在外壳体上设有移出窗，在外壳体内设有基架，在基架上设有第一导轨，所述检测组件通过第一导轨安装于基架上，并在检测组件与基架之间设有第二驱动装置，在第二驱动装置的作用下，检测组件的检测区通过移出窗移入壳体内空间或移出壳体内空间。

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