CN212623023U - 一种用于插头寿命试验的快接装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种用于插头寿命试验的快接装置，包括快接装置主体。其中，快接装置主体内设有两个插销，两个插销分别与插头的插片对应设置，两个插销上靠近快接装置主体内的一端互相短接。快接装置主体上对应两个插销的位置设有插片孔，插头的插片通过插片孔分别与两个插销接触。本实用新型涉及的用于插头寿命试验的快接装置，能够最大限度地模拟插头实际插入状态进行测试，能够有效提高测试效率和试验可靠性，并有效降低测试样品报废成本。

Description

一种用于插头寿命试验的快接装置

技术领域

本实用新型涉及插头寿命试验技术领域，具体涉及一种用于插头寿命试验的快接装置。

背景技术

插头电源线寿命试验中，需要将插头的零火线切割，再将零火线进行短接，再安装到设备的夹具上进行测试。操作繁琐，且短接容易出现短接不良现象，导致试验样品测试失效。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供一种不需要将插头上的插片割断后再用电源线短接而有效避免插头短接不良的情况，从而能够有效提高测试效率和试验可靠性，并有效降低测试样品报废成本的用于插头寿命试验的快接装置。

为了解决上述技术问题，本实用新型提出的技术方案为：

一种用于插头寿命试验的快接装置，包括快接装置主体。其中，快接装置主体内设有两个插销，两个插销分别与插头的插片对应设置，两个插销上靠近快接装置主体内的一端互相短接。快接装置主体上对应两个插销的位置设有插片孔，插头的插片通过插片孔分别与两个插销接触。

本实用新型的用于插头寿命试验的快接装置，通过快接装置主体内固定两个插销，将插销底部进行短接，使插头插片插入插片孔内时，插头处于短接的状态，从而能够最大限度地模拟插头实际插入状态进行测试，可以直接将测试插头样品插入装置，不需要将插头上的插片割断后再用电源线短接，安装测试样品过程简单便捷，并有效避免插头短接不良的情况。因此，能够有效提高测试效率和试验可靠性，并有效降低测试样品报废成本。

对于上述技术方案，还可进行如下所述的进一步的改进。

根据本实用新型的用于插头寿命试验的快接装置，在一个优选的实施方式中，快接装置主体的底部设有能够与测试夹具形成配合的定位台阶。

通过设置定位台阶，可以将整个快接装置直接卡入到测试夹具内固定就可以达到稳固状态，因此能够有效避免出现插头松脱、歪斜等现象。

进一步地，在一个优选的实施方式中，定位台阶上垂直于快接装置主体底面的侧面上设有连接线固定孔。

通过设置连接线固定孔，能够确保整个快接装置内的测试电路连接和插销之间的短节稳定牢靠，从而有效保证插头寿命试验的可靠性。

具体地，在一个优选的实施方式中，插销通过固定销固定在快接装置主体内。

通过固定销的方式固定插销，结构简单且易于安装。

具体地，在一个优选的实施方式中，快接装置主体为与测试夹具形成配合的方形结构。

整个快接装置的外形设计为有规则的方形结构，能够使其固定在试验夹具上更加稳固，可有效杜绝试验测试中出现脱落、歪斜现象，从而使得实验测试更加准确。

进一步地，在一个优选的实施方式中，方形结构上与插头相对的外侧面上两侧边设有倒圆角结构。

通过在外侧面两侧边设置倒圆角结构，能够使得快接装置在安装过程中操作更加舒适方便。

进一步地，在一个优选的实施方式中，插销位于靠近快接装置主体的底部的位置，快接装置主体的上部为框架结构，且框架结构上远离插销的一端为开口结构。

上述结构形式的快接装置主体，不仅方便试验测试中的插接和接线操作，且能够有效简化装置结构，尽可能地节省材料。

进一步地，在一个优选的实施方式中，框架结构的底部设有过线孔。

通过设置过线孔，能够使得试验操作过程中的布线更加简单便捷，且布线整齐美观。

具体地，在一个优选的实施方式中，两个插销上靠近快接装置主体内的一端通过连接线或连接部件互相短接。

这两种形式的短接方式，都能够有效保证插销短接稳定牢靠。

具体地，在一个优选的实施方式中，插片孔能够与插头的插片形成配合。

这种结构形式的插片孔，能够保证插头的插片稳定牢靠地固定在插片孔中与插销形成有效接触，从而有效保证试验测试的准确可靠性。

相比现有技术，本实用新型的优点在于：能够最大限度地模拟插头实际插入状态进行测试，可以直接将测试插头样品插入装置，不需要将插头上的插片割断后再用电源线短接，安装测试样品过程简单便捷，并有效避免插头短接不良的情况。因此，能够有效提高测试效率和试验可靠性，并有效降低测试样品报废成本。

附图说明

在下文中将基于实施例并参考附图来对本实用新型进行更详细的描述。其中：

图1示意性显示了设有本实用新型实施例的主视结构；

图2示意性显示了设有本实用新型实施例的俯视结构；

图3示意性显示了设有本实用新型实施例的左视结构；

图4示意性显示了设有本实用新型实施例的整体结构；

图5示意性显示了设有本实用新型实施例的另一个方向的整体结构。

在附图中，相同的部件使用相同的附图标记。附图并未按照实际的比例绘制。

具体实施方式

下面将结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步详细说明，但并不因此而限制本实用新型的保护范围。

图1示意性显示了设有本实用新型实施例的快接装置10的主视结构。图2示意性显示了设有本实用新型实施例的快接装置10的俯视结构。图3示意性显示了设有本实用新型实施例的快接装置10的左视结构。图4示意性显示了本实用新型实施例的快接装置10的整体结构。图5示意性显示了本实用新型实施例的快接装置10的另一个方向的整体结构。

如图1至图5所示，本实用新型实施例的用于插头寿命试验的快接装置10，包括快接装置主体1。其中，快接装置主体1内设有两个由铜材质制成的插销2，两个插销2分别与插头的插片对应设置，两个插销2上靠近快接装置主体1内的一端互相短接。快接装置主体1上对应两个插销2的位置设有插片孔11，插头的插片通过插片孔11分别与两个插销2接触。

本实用新型实施例的用于插头寿命试验的快接装置，通过快接装置主体内固定两个插销，将插销底部进行短接，使插头插片插入插片孔内时，插头处于短接的状态，从而能够最大限度地模拟插头实际插入状态进行测试，可以直接将测试插头样品插入装置，不需要将插头上的插片割断后再用电源线短接，安装测试样品过程简单便捷，并有效避免插头短接不良的情况。因此，能够有效提高测试效率和试验可靠性，并有效降低测试样品报废成本。

具体地，在本实施例中，如图5所示，插片孔11能够与插头的插片形成配合。这种结构形式的插片孔，能够保证插头的插片稳定牢靠地固定在插片孔中与插销形成有效接触，从而有效保证试验测试的准确可靠性。具体地，在本实施例中，两个插销2上靠近快接装置主体1内的一端通过连接线或连接部件互相短接。这两种形式的短接方式，都能够有效保证插销短接稳定牢靠。

如图1和图4、图5所示，在本实施例中，优选地，快接装置主体1的底部设有能够与测试夹具形成配合的定位台阶12。通过设置定位台阶，可以将整个快接装置直接卡入到测试夹具内固定就可以达到稳固状态，因此能够有效避免出现插头松脱、歪斜等现象。进一步地，在本实施例中，如图2和图4、图5所示，定位台阶12上垂直于快接装置主体1底面的侧面上设有连接线固定孔13。通过设置连接线固定孔，能够确保整个快接装置内的测试电路连接和插销之间的短节稳定牢靠，从而有效保证插头寿命试验的可靠性。

具体地，在本实施例中，如图2所示，插销2通过固定销3固定在快接装置主体1内。通过固定销的方式固定插销，结构简单且易于安装。优选地，在本实施例中，固定销3以倾斜预设角度的方向固定插销2，对应地，快接装置主体上设有与固定销形成配合的斜向安装孔。这样的安装方式，不仅能够有效避免对插头插接测试的影响，且能够增加固定销与快接装置主体的接触长度，从而确保插片固定稳定牢靠。

如图1至图5所示，具体地，在本实施例中，快接装置主体1为与测试夹具形成配合的方形结构。整个快接装置的外形设计为有规则的方形结构，能够使其固定在试验夹具上更加稳固，可有效杜绝试验测试中出现脱落、歪斜现象，从而使得实验测试更加准确。进一步地，在本实施例中，方形结构上与插头相对的外侧面上两侧边设有倒圆角结构14。通过在外侧面两侧边设置倒圆角结构，能够使得快接装置在安装过程中操作更加舒适方便。

优选地，在本实施例中，如图1、图2和图4和图5所示，插销2位于靠近快接装置主体1的底部的位置，快接装置主体1的上部为框架结构，且框架结构上远离插销的一端为开口结构。上述结构形式的快接装置主体，不仅方便试验测试中的插接和接线操作，且能够有效简化装置结构，尽可能地节省材料。进一步地，在本实施例中，框架结构的底部设有过线孔15。通过设置过线孔，能够使得试验操作过程中的布线更加简单便捷，且布线整齐美观。

根据上述实施例，可见，本实用新型涉及的用于插头寿命试验的快接装置，能够最大限度地模拟插头实际插入状态进行测试，可以直接将测试插头样品插入装置，不需要将插头上的插片割断后再用电源线短接，安装测试样品过程简单便捷，并有效避免插头短接不良的情况。因此，能够有效提高测试效率和试验可靠性，并有效降低测试样品报废成本。

虽然已经参考优选实施例对本实用新型进行了描述，但在不脱离本实用新型的范围的情况下，可以对其进行各种改进并且可以用等效物替换其中的部件。尤其是，只要不存在结构冲突，各个实施例中所提到的各项技术特征均可以任意方式组合起来。本实用新型并不局限于文中公开的特定实施例，而是包括落入权利要求的范围内的所有技术方案。

Claims (10)

1.一种用于插头寿命试验的快接装置，其特征在于，包括快接装置主体；其中，

所述快接装置主体内设有两个插销，两个所述插销分别与插头的插片对应设置，两个所述插销上靠近所述快接装置主体内的一端互相短接；

所述快接装置主体上对应两个所述插销的位置设有插片孔，插头的插片通过所述插片孔分别与两个所述插销接触。

2.根据权利要求1所述的用于插头寿命试验的快接装置，其特征在于，所述快接装置主体的底部设有能够与测试夹具形成配合的定位台阶。

3.根据权利要求2所述的用于插头寿命试验的快接装置，其特征在于，所述定位台阶上垂直于所述快接装置主体底面的侧面上设有连接线固定孔。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的用于插头寿命试验的快接装置，其特征在于，所述插销通过固定销固定在所述快接装置主体内。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的用于插头寿命试验的快接装置，其特征在于，所述快接装置主体为与测试夹具形成配合的方形结构。

6.根据权利要求5所述的用于插头寿命试验的快接装置，其特征在于，所述方形结构上与插头相对的外侧面上两侧边设有倒圆角结构。

7.根据权利要求5所述的用于插头寿命试验的快接装置，其特征在于，所述插销位于靠近所述快接装置主体的底部的位置，所述快接装置主体的上部为框架结构，且框架结构上远离插销的一端为开口结构。

8.根据权利要求7所述的用于插头寿命试验的快接装置，其特征在于，所述框架结构的底部设有过线孔。

9.根据权利要求1至3中任一项所述的用于插头寿命试验的快接装置，其特征在于，两个所述插销上靠近所述快接装置主体内的一端通过连接线或连接部件互相短接。

10.根据权利要求1至3中任一项所述的用于插头寿命试验的快接装置，其特征在于，所述插片孔能够与插头的插片形成配合。

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