CN212622331U - 一种x射线设备用成像质量测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种X射线设备用成像质量测试装置，涉及X射线设备检测领域，其包括用于吸收X射线形成测试图像的基体和用于吸收X射线并反射可见光的荧光体，其中基体设有条纹区域并且荧光体可形成X射线的指示区域。在X射线设备摄像质量的检测过程中，本实用新型可便于隔室直观观察基体的X射线辐射状况，便于判断异常出现位置，利用测试人员可观察到X射线的指示区域，简化测试的操作，提高测试的准确性，且装置本体具有较低的成本，适合于机构日常对X射线设备的自行检测，确保X射线设备的运行成像质量，便于及时发现设备问题，也为第三方检测前便于机构自行提前校正，整体提高X射线设备管理的效率。

Description

一种X射线设备用成像质量测试装置

技术领域

本实用新型涉及X射线设备检测领域，具体是一种X射线设备用成像质量测试装置。

背景技术

X射线，也称为X光，其具有0.01-100埃的极短的波长，因而极具穿透性，并且根据所穿透物质在密度和厚度上的差异，呈现出X射线被吸收的程度不同，由此可得到不同的影像。基于该原理，X射线被广泛地应用于医学诊断、行李检测及工业探伤等。特别地，在医疗的诊断和治疗领域，X射线设备的成像稳定性关乎到病患的诊疗安全。如《放射诊疗管理规定》中规定，需要定期进行稳定性洁厕、矫正和维护保养，并由资质认证的机构利用专用测试装置定期进行状态检测。例如瑞典RTI公司的多功能无损X射线机检测仪或者国产RMP检测相。除了第三方机构，X射线设备所有的机构也需要定期进行自检。

无论是第三方还是机构自检，据需要使用X射线检测用拍摄的对象，诸如模体或测试卡。在现有技术中，如测试卡包括有不同种类的材质与不同的厚度尺寸的条纹结构，且若干条纹结构设置成不同的位置结构。X射线设备通过对这些装置的拍摄，可直观简单地反应如图像的分辨率、MTF曲线等的图形质量性能指标。由于X射线摄影设备主要包括X射线发生器和X射线强度感应器两个核心部分，当其发生成像问题时往往难以判断是发生器还是感应器出现问题，而X射线的不可见的特点，检修人员无法借助模体或测试卡得出该问题的症结所在。第三方的专用检测设备可分别检测出发生器的X射线发生质量，和感应器对标准强度X射线的成像质量。但医院等机构没有条件也不适合配置这些价格昂贵的专用检测设备。因而现有技术面临着机构自检的效果不高和采用第三方检测的成本太高的矛盾。

发明内容

为了解决上述现有技术的问题,本实用新型旨在提供了一种X射线设备用成像质量测试装置,可利用较低成本的测试装置，便于机构自行检测X射线设备的成像质量，并使测试装置具备发现成像质量问题产生位置功能，提高成像质量检测的准确性和稳定性。

为了实现上述目的，本实用新型采用如下的技术方案：

一种X射线设备用成像质量测试装置，包括装置本体，所述装置本体包括用于吸收X射线形成测试图像的基体，所述基体设有形成测试图案的条纹区域，所述装置本体还包括用于吸收X射线并反射可见光的荧光体，以显现出投射于装置本体的X射线。

上述成像质量测试装置，作为优选地，所述荧光体设置为指示区域，所述指示区域包括两个以上强度显示块，所述强度显示块设有所述荧光体，各所述强度显示块的荧光体设置密度不同，以形成反射可见光强度差异。

上述成像质量测试装置，进一步地，所述强度显示块包括若干荧光点，不同的所述强度显示块的荧光点排列为相同的阵列，不同的所述强度显示块的荧光点尺寸不同。

上述成像质量测试装置，进一步地，所述指示区域包括两组所述强度显示块，两组所述强度显示块分别设置于所述基体的两侧。

上述成像质量测试装置，作为优选地，所述荧光体设置为指示区域，所述指示区域包括边界显示块，所述边界显示块由所述荧光体构成并突出于所述基体的边缘。

上述成像质量测试装置，进一步地，所述边界显示块设置有至少两个，两所述边界显示块相对地设置于所述基体的两侧，两所述边界显示块印制有指示刻度。

上述成像质量测试装置，作为优选地，所述荧光体设置为指示区域，所述指示区域包括荧光显示块，所述荧光显示块由所述荧光体构成并覆盖于所述基体表面，所述基体还设置有对比色卡，所述对比色卡印制有两种以上与荧光体在不同强度X射线下反射可见光相对应的颜色，所述对比色卡设置于荧光显示块的一旁。

上述成像质量测试装置，作为优选地，所述装置本体还包括保护体，所述保护体包裹地设置于基体之外，所述荧光体设置于基体与保护体之间，或设置于保护体之外。

上述成像质量测试装置，进一步地，所述基体由可吸收X射线材料制成板状结构，所述荧光体由荧光材料制成并重合或边缘突出于所述基体。

上述成像质量测试装置，作为优选地，所述基体设有以厚度或密度差异形成测试图案的条纹区域，所述条纹区域包括由条纹结构构成的平行排列结构、非平行排列结构、垂直排列结构和星形排列结构中的一种或两种以上组合，所述条纹区域还包括标注结构，所述标注结构由材质厚度或异材质密度形成标注信息。

与现有技术相比，本实用新型有益效果如下：

(1)本实用新型在基体设置条纹区域，可通过X射线设备拍摄测试其成像质量，并在基体上设置荧光体，并利用荧光体形成指示区域，使得成像质量的检测过程中，在隔室中的测试人员可远距离直观观察基体上受X射线照射的状况，当设备测试过程或者测试结果出现异常，可直观判断异常出现的位置，是X射线发生器还是X射线成像器，同时利用测试人员可观察到X射线的指示区域，简化测试的操作，提高测试的准确性，且装置本体具有较低的成本，适合于机构日常对X射线设备的自行检测，确保X射线设备的运行成像质量，便于及时发现设备问题，也为第三方检测前便于机构自行提前校正，整体提高X射线设备管理的效率。

(2)本实用新型进一步通过设置不同密度的荧光体，形成可只是X射线强度的强度显示块，使测试人员可直观判断X射线的强度，并利用强度辅助成像质量的测试和判断，进而可完成传统需要专业测试设备才能获得的检测结构。

(3)本实用新型进一步通过设置突出基体边缘的边界显示块，可完全覆盖X射线的照射区域，便于操作人员对X射线发生器的控制，便于精确地使X射线发生器对正以及焦距对准装置本体进行拍摄。

(4)本实用新型进一步通过设置荧光显示块，可远距离显现X射线的有无，并且通过比对色卡辅助判断X射线的强度，提示和辐照测试人员的测试操作。

下面结合附图对本实用新型作进一步的说明。

附图说明

图1为本实用新型测试装置的第一实施例的主视结构示意图；

图2为本实用新型测试装置的第一实施例的局部剖面侧结构示意图；

图3为本实用新型测试装置的第二实施例的主视结构示意图；

图4为本实用新型第二实施例在低强度X射线辐射状态局部直观示意图；

图5为本实用新型第二实施例在中强度X射线辐射状态局部直观示意图；

图6为本实用新型第二实施例在高强度X射线辐射状态局部直观示意图；

图7为本实用新型第二实施例在X射线边界显示状态局部直观示意图。

附图标记为：100、基体；200、荧光体；300、保护体；1、条纹区域；11、条纹结构；12、标注结构；2、指示区域；21、强度显示块；211、荧光点；22、边界显示块；221、指示刻度；23、荧光显示块；231、对比色卡。

具体实施方式

为更好的说明本实用新型的目的、技术方案和优点，下面结合附图和实施例对本实用新型的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本实用新型，但不作为限制本实用新型的范围。

参考图1至2，是根据本实用新型的结构较为简单的第一实施例的X射线设备用成像质量测试装置，可用于X射线设备摄影的对象，以获取可供验证成像质量的图像，并能直观判断测试时装置本体的X射线投射状况，其包括基体100和荧光体200。其中，基体100由板状的厚度一致的金属铅构成，基体100上设置由用于测试图案的条纹区域1，条纹区域1由若干条纹结构11排列组成，条纹结构11可在X射线设备被摄影出测试图像，条纹结构11相较基板厚度有差异的金属铅，或者如金属钨等的另一金属构成，金属铅、钨在示意性的方案可作为吸收X射线的材料并形成测试图像；荧光体200由荧光材料构成用于显现出投射于装置本体的X射线的指示区域2。其中，指示区域2包括强度显示块21、边界显示块22和荧光显示块23。更具体地，强度显示块21具有两个以上，每个强度显示块21的所设置的荧光体200密度具有差异，各强度显示块21相邻地排列；边界显示块22突出基体100边缘地对称设置有两个，其朝外突出增加基体100尺寸，并设置有展示X射线投影直径和位置的荧光体200；荧光显示块23覆盖于基体100表面的荧光体200，能在较远处显现X射线的辐射状态，并带有对比色卡231，初步判断X射线辐射强度。参考图2，基体100为板状结构，条纹结构11为嵌于基体100，保护体300为有机玻璃或甲基丙烯树脂板，包裹于基体100的上下表面，荧光体200粘合于表层的保护体300外并形成指示区域2；荧光体200是由磷、铂氰化钡、硫化锌镉、钨酸钙等荧光材料附着与纸等材料上所形成。在本实施例中，荧光体200设于最外层减少干扰，在其他实施例中，也可以设置于保护体300和基体100之间。

参考图3至7，是根据本实用新型的功能较为全面的第二实施例的X射线设备用成像质量测试装置，与第一实施例相近，其包括用于吸收X射线形成测试图像的基体100，以及用于吸收X射线并反射可见光的荧光体200；所述基体100设有以同材质厚度或异材质密度形成测试图案的条纹区域1，所述荧光体200由荧光材料构成用于显现出投射于装置本体的X射线的指示区域2。其中，指示区域2包括强度显示块21、边界显示块22和荧光显示块23。

参考图3，第二实施例中更具体地，在强度显示块21方面，指示区域2包括两组强度显示块21，两组强度显示块21分别设置于基体100左右两侧，测试人员多角度观察；每组强度显示块21包括三个强度显示块21，各强度显示块21的荧光体200面积不同，以形成反射可见光强度差异。在本实施例具体地，强度显示块21包括若干圆形的荧光点211，在其中一组强度显示块21中，每个强度显示块21的荧光点211排列为横纵4*4的相同阵列，上部的强度显示块21其荧光点211的直径较小，中部的强度显示块21其荧光点211直径中等，下部的强度显示块21其荧光点211直径最大。在边界显示块22方面，其设置有两个，设置于基体100边缘并向外凸出，并连结有荧光体200，而荧光体200上印制有指示刻度221；在荧光显示块23方面，其对称地设置有两个，具体是荧光体200覆盖的圆形结构，其旁边设置有对比色卡231，对比色卡231印制有三种与荧光体200在不同强度X射线下反射可见光相对应的颜色，以供比对参考。

参考图3，条纹区域1包括多组条纹结构11，每组由设定宽度的构成直线条纹结构11以设定距离相互平行排列而构成，多组条纹结构11可被X射线设备拍摄后形成图像，根据所摄制图像能清晰还原到哪组条纹结构11，而得出X射线设备的分辨率。更为具体的有，基体100设置有标注结构12，标注结构12为金属铅凸出形成的标注信息，其中标注信息包括，条纹结构11的线对参数，如0.6至5.0，也包括基板的材质厚度，如0.1mmPb等。标注结构12可被X射线设备拍摄并记录。在其他实施例中，条纹区域1还可以使由条纹结构11组成的非平行排列结构、垂直排列结构和星形排列结构中的一种或两种以上组合；条纹结构11还可以是曲线，还可以是宽度渐变。

根据本实用新型的第二实施例的使用方法如下，第一实施例可近似地进行操作：

(1)将检测卡放置在检测位置，确保X射线束的中心通过检测卡的中心，具体如将检测卡粘贴到影像增强器上；

(2)依次调节X射线发生器的焦距，如FFD＝80-100cm；依次调节X射线发生器的管电压，如管电压＝50-70KVp。

(3)调整X光机，使得管球的中心线在测试卡的正上方；

(4)调整mAs，使总X射线光密度值大约为1.5。一般是调到监视器上的测试卡所成影像最清晰，即线对与空白区域之间能清楚地分辨，观察此时能分辨的线对数，此先对数即X光机系统的分辨率。

(5)附加的测试，把一个同等于人体的材料放到测试卡上，检测当X光机的X射线模拟穿过人体并X射线衰减后的分辨能力。

参考图7，在调节X射线发生器焦距和位置时，测试人员在安坐于隔室进行操作，控制并移动X射线发生器，X射线将在边界显示块22的荧光体200上显现出可见光，操作人员将在观察到左右边界显示块22的荧光区域的面积区别，获知X射线的边界未对中，并可通过控制X射线发生器移动而重新对中，操作人员可观察，左右边界显示块22的荧光区域过大或者过小，辅助判断焦距是否合理。

参考图4至6，在进行拍摄并检测成像质量时，测试人员在安坐于隔室进行操作，可在远处观察荧光显示块23是否产生荧光，已经根据荧光颜色与对比色卡231上的印制色彩进行比对，初步判断X射线的强度。当X射线设备未拍摄到图像，同时荧光显示块23未显现出荧光，操作人员可判断X射线发生器出现问题，当X射线设备未拍摄到图像，但是荧光显示块23显现有荧光，操作人员可判断X射线成像器出现问题，基于此了解操作人员可进行进一步调试和维修。

参考图4至6，测试人员在安坐于隔室进行操作时，会切换X射线发生器的管电压，以50、60和70KVp等状态输出并测试其成像质量。当测试人员观察图4的状态，即下部的强度显示块21显现出荧光，而中部与上部的强度显示块21未显现出清晰荧光，可得知当前管电压为较低的50KVp，并与操作设置的一致；当测试人员观察图5的状态，即下部和中部的强度显示块21显现出荧光，而上部的强度显示块21未显现出清晰荧光，可得知当前管电压为较低的60KVp，并与操作设置的一致；当测试人员观察图6的状态，即上中下部的强度显示块21均显现出荧光，可得知当前管电压为较低的70KVp，并与操作设置的一致。由此可判断X射线发生器的强度与设置的相对应，也可进一步与各自测试获得的图像分辨率情况相结合，继而判断X射线设备的综合质量。

以上实施例主要描述了本实用新型的基本原理、主要特征和优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。

Claims (10)

1.一种X射线设备用成像质量测试装置，包括装置本体，其特征在于，所述装置本体包括用于吸收X射线形成测试图像的基体(100)，所述基体(100)设有形成测试图案的条纹区域(1)，所述装置本体还包括用于吸收X射线并反射可见光的荧光体(200)，以显现出投射于装置本体的X射线。

2.根据权利要求1所述的X射线设备用成像质量测试装置，其特征在于，所述荧光体(200)设置为指示区域(2)，所述指示区域(2)包括两个以上强度显示块(21)，所述强度显示块(21)设有所述荧光体(200)，各所述强度显示块(21)的荧光体(200)设置密度不同，以形成反射可见光强度差异。

3.根据权利要求2所述的X射线设备用成像质量测试装置，其特征在于，所述强度显示块(21)包括若干荧光点(211)，不同的所述强度显示块(21)的荧光点(211)排列为相同的阵列，不同的所述强度显示块(21)的荧光点(211)尺寸不同。

4.根据权利要求2所述的X射线设备用成像质量测试装置，其特征在于，所述指示区域(2)包括两组所述强度显示块(21)，两组所述强度显示块(21)分别设置于所述基体(100)的两侧。

5.根据权利要求1所述的X射线设备用成像质量测试装置，其特征在于，所述荧光体(200)设置为指示区域(2)，所述指示区域(2)包括边界显示块(22)，所述边界显示块(22)由所述荧光体(200)构成并突出于所述基体(100)的边缘。

6.根据权利要求5所述的X射线设备用成像质量测试装置，其特征在于，所述边界显示块(22)设置有至少两个，两所述边界显示块(22)相对地设置于所述基体(100)的两侧，两所述边界显示块(22)印制有指示刻度(221)。

7.根据权利要求1所述的X射线设备用成像质量测试装置，其特征在于，所述荧光体(200)设置为指示区域(2)，所述指示区域(2)包括荧光显示块(23)，所述荧光显示块(23)由所述荧光体(200)构成并覆盖于所述基体(100)表面，所述基体(100)还设置有对比色卡(231)，所述对比色卡(231)印制有两种以上与荧光体(200)在不同强度X射线下反射可见光相对应的颜色，所述对比色卡(231)设置于荧光显示块(23)的一旁。

8.根据权利要求1所述的X射线设备用成像质量测试装置，其特征在于，所述装置本体还包括保护体(300)，所述保护体(300)包裹地设置于基体(100)之外，所述荧光体(200)设置于基体(100)与保护体(300)之间，或设置于保护体(300)之外。

9.根据权利要求8所述的X射线设备用成像质量测试装置，其特征在于，所述基体(100)由可吸收X射线材料制成板状结构，所述荧光体(200)由荧光材料制成并重合或边缘突出于所述基体(100)。

10.根据权利要求1至9任一项所述的X射线设备用成像质量测试装置，其特征在于，所述基体(100)设有以厚度或密度差异形成测试图案的条纹区域(1)，所述条纹区域(1)包括由条纹结构(11)构成的平行排列结构、非平行排列结构、垂直排列结构和星形排列结构中的一种或两种以上组合，所述条纹区域(1)还包括标注结构(12)，所述标注结构(12)由材质厚度或异材质密度形成标注信息。

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