CN212321912U - 一种sfp光模块供电电源开关控制电路及连接装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种SFP光模块供电电源开关控制电路及连接装置,包括第一电源开关电路、第二电源开关电路和检测控制电路,通过检测控制电路检测所述的第一路供电电源、第二路供电电源的状态,并在所述第一供电电源或第二路供电电源供电异常时,控制所述第一电源开关电路和第二电源开关电路断开电源输出。如此,在主板光口电压线路有断路情况下及时断开主板与SFP光模块之间供电及通讯信号,不仅可以减少损耗保护光模块不受损,利于保护光模块,并在故障排除时,快速发现定位问题点。SFP光模块连接装置设置在主板与光模块之间,还能起到保护光模块金手指磨损,延长光模块的使用寿命,方便使用。
Description
技术领域
本实用新型涉及路由器交换机通信技术领域,尤其涉及一种SFP光模块供电电源开关控制电路及连接装置。
背景技术
SFP(Small Form-factor Pluggable小体积可插拔)光模块是SFP封装的热插拔小封装模块,目前最高速率可达10.3G,接口为LC。SFP光模块主要由激光器构成,SFP分类可分为速率分类、波长分类、模式分类。在电子产品行业,特别是在通信领域SFP光模块应用很广泛。在工业交换机等使用千兆,万兆光口的设备通常都是使用SFP光模块对光口进行插拔观察是否link连接来检测设备光口的好坏当设备光口供电电源VCCT或VCCR电压线路有一路断开的情况下,光模块对设备光口插拔时不利于保护光模块,且长时间次数多的使用,光模块拔插对光模块磨损严重,影响光模块的使用寿命。
实用新型内容
本实用新型旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此,本实用新型的一个目的在于提出一种SFP光模块供电电源开关控制电路及连接装置。
一方面,为实现上述目的,根据本实用新型实施例的SFP光模块供电电源开关控制电路,所述SFP光模块供电电源开关控制电路包括:
第一电源开关电路,所述第一电源开关电路分别与主板及SFP光模块连接,以将所述主板输出的第一路供电电源开关控制;
第二电源开关电路,所述第二电源开关电路分别与主板及SFP光模块连接,以将所述主板输出的第二路供电电源开关控制;
检测控制电路,所述检测控制电路分别与所述主板的第一路供电电源、第二路供电电源、第一电源开关电路和第二电源开关电路连接,用于检测所述的第一路供电电源、第二路供电电源的状态,并在所述第一供电电源或第二路供电电源供电异常时,控制所述第一电源开关电路和第二电源开关电路断开电源输出。
进一步的,根据本实用新型的一个实施例,所述第一电源开关电路包括:
MOS管Q1,所述MOS管Q1的源极与所述主板的第一路供电电源输出端连接,所述MOS管Q1的漏极与所述SFP光模块的第一供电端连接,所述MOS管Q1的栅极与所述检测控制电路的控制输出端连接,所述MOS管Q1为P-MOS型晶体管。
进一步的,根据本实用新型的一个实施例,所述第一电源开关电路还包括:
电容C12,所述电容C12的一端与所述MOS管Q1的漏极连接,所述电容C12的另一端与参考地连接;
电阻R1,所述电阻R1的一端与所述MOS管Q1的漏极连接,所述电阻R1的另一端与参考地连接。
进一步的,根据本实用新型的一个实施例,所述第二电源开关电路包括:
MOS管Q3,所述MOS管Q3的源极与所述主板的第二路供电电源输出端连接,所述MOS管Q3的漏极与所述SFP光模块的第二供电端连接,所述MOS管Q3的栅极与所述检测控制电路的控制输出端连接,所述MOS管Q3为P-MOS型晶体管。
进一步的,根据本实用新型的一个实施例,所述第一电源开关电路还包括:
电容C14,所述电容C14的一端与所述MOS管Q3的漏极连接,所述电容C14的另一端与参考地连接;
电阻R5,所述电阻R5的一端与所述MOS管Q3的漏极连接,所述电阻R5的另一端与参考地连接。
进一步的,根据本实用新型的一个实施例,所述检测控制电路包括:
检测控制芯片,所述检测控制芯片的第一电压检测端与所述主板的第一路供电电源输出端连接,所述检测控制芯片的第二电压检测端与所述主板的第二路供电电源输出端连接,所述检测控制芯片的控制输出端分别与所述MOS管Q1和MOS管Q3的栅极连接。
进一步的,根据本实用新型的一个实施例,所述检测控制电路还包括:
逻辑转换电路,所述检测控制芯片通过所述逻辑转换电路与所述MOS管Q1和MOS管Q3的栅极连接;
所述逻辑转换电路包括:
三极管Q7,所述三极管Q7的基极通过电阻R7与所述检测控制芯片的控制输出端连接,所述三极管Q7的发射极与参考地连接,所述三极管Q7的集电极通过电阻R4与所述主板的电源输出端连接。
进一步的,根据本实用新型的一个实施例,所述SFP光模块供电电源开关控制电路还包括检测供电电路,所述检测供电电路与所述检测控制芯片连接,以为所述检测控制芯片供电;
所述检测供电电路包括:
二极管D1,所述二极管D1的阳极与所述主板的第一路供电电源输出端连接,所述二极管D1的阴极与所述检测控制芯片的供电端连接;
二极管D2,所述二极管D2的阳极与所述主板的第二路供电电源输出端连接,所述二极管D2的阴极与所述检测控制芯片的供电端连接。
另一方面,本实用新型实施例还提供一种SFP光模块连接装置,包括:
上述的SFP光模块供电电源开关控制电路;
主板接口,所述主板接口的所述第一路供电电源端和第二路供电电源端分别与SFP光模块供电电源开关控制电路连接;
SFP光模块接口,所述SFP光模块接口分别与所述SFP光模块供电开关控制电路输出的第一路供电电源端、第二路供电电源端及主板接口连接。
本实用新型实施例提供的SFP光模块供电电源开关控制电路通过检测控制电路检测所述的第一路供电电源、第二路供电电源的状态,并在所述第一供电电源或第二路供电电源供电异常时,控制所述第一电源开关电路和第二电源开关电路断开电源输出。如此,在主板光口电压线路有断路情况下及时断开主板与SFP光模块之间供电及通讯信号,不仅可以减少损耗保护光模块不受损,利于保护光模块,并在故障排除时,快速发现定位问题点。电路使用基本元器件,增强信号完整性,并且不需要外接其他电源,采用二极管合流对电路供电,使用设备装置简便,降低成本。
另外,本实用新型实施例还提供一种SFP光模块连接装置,设置在主板与光模块之间,在使用光模块多次数拔插测试时,该装置还能起到保护光模块金手指磨损,延长光模块的使用寿命,方便使用。
附图说明
图1为本实用新型实施例提供的SFP光模块连接装置分别与主板及SFP光模块连接结构示意图;
图2为本实用新型实施例提供的SFP光模块供电电源开关控制电路结构示意图;
图3为本实用新型实施例提供的主板接口电路和SFP光模块接口电路结构示意图;
图4为本实用新型实施例提供的接地接口电路结构示意图。
附图标记:
主板10;
SFP光模块20;
SFP光模块连接装置30;
SFP光模块供电开关控制电路301;
检测供电电路3011;
第一电源开关电路3012;
第二电源开关电路3013;
检测控制电路3014;
逻辑转换电路30141;
SFP光模块接口302;
主板接口303。
本实用新型目的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本实用新型方案,下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的,不是旨在于限制本实用新型。
在本文中提及“实施例”意味着,结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本实用新型的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例,也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是,本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
参阅图1和图2,本实用新型实施例提供一种SFP光模块20供电电源开关控制电路,包括:第一电源开关电路3012、第二电源开关电路3013和检测控制电路3014,第一电源开关电路3012分别与主板10及SFP光模块20连接,以将主板10输出的第一路供电电源开关控制;如图1和图2中所示,通过将第一电源开关设置在主板10及SFP光模块20之间,以对主板接口303输出的一路供电电源SFP_VCCR进行导通或断开的控制。
第二电源开关电路3013分别与主板10及SFP光模块20连接,以将主板10输出的第二路供电电源开关控制;如图1和图2中所示,通过将第二电源开关设置在主板10及SFP光模块20之间,以对主板接口303输出的第二路供电电源SFP_VCCT进行导通或断开的控制。
检测控制电路3014分别与主板10的第一路供电电源、第二路供电电源、第一电源开关电路3012和第二电源开关电路3013连接,用于检测的第一路供电电源、第二路供电电源的状态,并在第一供电电源或第二路供电电源供电异常时,控制第一电源开关电路3012和第二电源开关电路3013断开电源输出。如图1和图2中所示,检测控制电路3014通过分别与主板10的第一路供电电源SFP_VCCR、第二路供电电源SFP_VCCT连接,以实现对主板10输出的两路供电电源的检测。并检测到其中一路供电电源为异常状态时,则输出异常控制信号,异常控制信号通过SFP_VCC_Control信号端分别输出至第一电源开关电路3012和第二电源开关电路3013的受控端,以在主板10电路的输出第一路供电电源SFP_VCCR、第二路供电电源SFP_VCCT出现异常时,将两路供电电源分别断开,利于保护光模块,并在故障排除时,快速发现定位问题点。
本实用新型实施例提供的SFP光模块20供电电源开关控制电路通过检测控制电路3014检测的第一路供电电源、第二路供电电源的状态,并在第一供电电源或第二路供电电源供电异常时,控制第一电源开关电路3012和第二电源开关电路3013断开电源输出。如此,在主板10光口电压线路有断路情况下及时断开主板10与SFP光模块20之间供电及通讯信号,不仅可以减少损耗保护光模块不受损,利于保护光模块,并在故障排除时,快速发现定位问题点。
参阅图2,在本实用新型的一个实施例中,第一电源开关电路3012包括:MOS管Q1,MOS管Q1的源极与主板10的第一路供电电源输出端连接,MOS管Q1的漏极与SFP光模块20的第一供电端连接,MOS管Q1的栅极与检测控制电路3014的控制输出端连接,MOS管Q1为P-MOS型晶体管。如图2中所示,通过MOS管Q1作为电子开关,便于对第一路供电电源进行开关的导通或断开控制。需要说明的是,在本实用新型的一些其他实施例中,也可以采用三极管等其他电子开关,并不限与本实施例提供的MOS管。
参阅图2,在本实用新型的一个实施例中,第一电源开关电路3012还包括:电容C12和电阻R1,电容C12的一端与MOS管Q1的漏极连接,电容C12的另一端与参考地连接;电阻R1的一端与MOS管Q1的漏极连接,电阻R1的另一端与参考地连接。如图2中所示,通过将电阻R1和电容C12设置在第一路供电电源SFP1_VCCR的输出端,以将第一供电电源SFP1_VCCR的脉冲电压吸收,并输出稳定的第一供电电源SFP1_VCCR,在主板10设备与光模组之间拔出时,可能产生瞬间高压,通过电容C12和电阻R1可将产生瞬间高压吸收,保持输出第一供电电源SFP1_VCCR的稳定,避免光模块上的电子器件被烧坏。
参阅图2,在本实用新型的一个实施例中,第二电源开关电路3013包括:MOS管Q3,MOS管Q3的源极与主板10的第二路供电电源输出端连接,MOS管Q3的漏极与SFP光模块20的第二供电端连接,MOS管Q3的栅极与检测控制电路3014的控制输出端连接,MOS管Q3为P-MOS型晶体管。如图2中所示,通过MOS管Q3作为电子开关,便于对第二路供电电源进行开关的导通或断开控制。需要说明的是,在本实用新型的一些其他实施例中,也可以采用三极管等其他电子开关,并不限与本实施例提供的MOS管。
参阅图2,在本实用新型的一个实施例中,第一电源开关电路3012还包括:电容C14和电阻R5,电容C14的一端与MOS管Q3的漏极连接,电容C14的另一端与参考地连接;电阻R5的一端与MOS管Q3的漏极连接,电阻R5的另一端与参考地连接。如图2中所示,通过将电阻R5和电容C14设置在第二路供电电源SFP1_VCCR的输出端,以将第二供电电源SFP1_VCCT的脉冲电压吸收,并输出稳定的第二供电电源SFP1_VCCT,在主板10设备与光模组之间拔出时,可能产生瞬间高压,通过电容C14和电阻R5可将产生瞬间高压吸收,保持输出第二供电电源SFP1_VCCT的稳定,避免光模块上的电子器件被烧坏。
参阅图2,在本实用新型的一个实施例中,检测控制电路3014包括:检测控制芯片,检测控制芯片的第一电压检测端与主板10的第一路供电电源输出端连接,检测控制芯片的第二电压检测端与主板10的第二路供电电源输出端连接,检测控制芯片的控制输出端分别与MOS管Q1和MOS管Q3的栅极连接。如图2中所示,通过检测控制芯片来对主板10输出的两路供电电源进行检测。当检测控制芯片检测到两路供电电源均为正常供电时,则输出控制控制信号SPP_VCC_Control控制MOS管Q1和MOS管Q3导通,此时,正常给SFP光模块20供电。而当检测控制芯片检测到有其中一路或者两路供电电源异常时,则输出控制控制信号SPP_VCC_Control控制MOS管Q1和MOS管Q3断开,停止给SFP光模块20供电,以利于保护光模块,并在故障排除时,快速发现定位问题点。
参阅图2,在本实用新型的一个实施例中,检测控制电路3014还包括:逻辑转换电路30141,检测控制芯片通过逻辑转换电路30141与MOS管Q1和MOS管Q3的栅极连接;逻辑转换电路30141包括:三极管Q7,三极管Q7的基极通过电阻R7与检测控制芯片的控制输出端连接,三极管Q7的发射极与参考地连接,三极管Q7的集电极通过电阻R4与主板10的电源输出端连接。如图2中所示,在本实用新型的一个实施中,检测控制芯片可为与逻辑门电路。通过与逻辑门电路,使得主板10电源电路输出的两路电源中,任意一路给供电电源出现异常时,可输出低电平电压。低电平电压输出至三极管Q7的基极,此时,三极管Q7处于截止状态,三极管Q7的集电极输出高电平,高电平分别作用在MOS管Q1和MOS管Q3的栅极,且由于MOS管Q1和Q3分别为P型管。所以,此时,MOS管Q1和Q3分别处于断开状态,停止给SFP光模块20供电。同理,当主板10的两路供电电源均正常时,MOS管Q1和Q3分别处于导通状态,正常给SFP光模块20供电。本实施例中,通过检测控制芯片采用与逻辑门电路,并与三极管构成的逻辑转换电路30141作为检测控制电路3014。使得实现成本低,且可靠性高。
参阅图2,在本实用新型的一个实施例中,SFP光模块20供电电源开关控制电路还包括检测供电电路3011,检测供电电路3011与检测控制芯片连接,以为检测控制芯片供电;检测供电电路3011包括:二极管D1和二极管D2,二极管D1的阳极与主板10的第一路供电电源输出端连接,二极管D1的阴极与检测控制芯片的供电端连接;二极管D2的阳极与主板10的第二路供电电源输出端连接,二极管D2的阴极与检测控制芯片的供电端连接。如图2中所示,通过分别采用二极管D1和二极管D2将主板10输出的两路电源进行合流后,为所逻辑转换电路30141上的检测控制芯片(与逻辑门电路)及逻辑转换电路30141供电上的三极管Q7供电。通过两个二极管合流后的电源更加的稳定,且当主板10上任意一路出现故障时,不影响检测控制芯片(与逻辑门电路)及逻辑转换电路30141的供电。
本实用新型实施例提供的SFP光模块20供电电源开关控制电路电路使用基本元器件,增强信号完整性,并且不需要外接其他电源,采用二极管合流对电路供电,使用设备装置简便,降低成本。
参阅图1、图3和图4,另一方面,本实用新型实施例还提供一种SFP光模块连接装置30,包括:上述的SFP光模块20供电电源开关控制电路、主板接口303和SFP光模块接口302,主板接口303的第一路供电电源端和第二路供电电源端分别与SFP光模块20供电电源开关控制电路连接;SFP光模块接口302分别与SFP光模块供电开关控制电路301输出的第一路供电电源端、第二路供电电源端及主板接口303连接。
本实用新型实施例还提供一种SFP光模块连接装置30,设置在主板10与主板10与光模块之间,在使用光模块多次数拔插测试时,该装置还能起到保护光模块金手指磨损,延长光模块的使用寿命,方便使用。
更加具体的,SFP光模块连接装置30分别使用P-MOS管把设备主板10上两路电源VCCR和VCCT与SFP光模块20的线路隔开,并使用两二极管将分别将主板10设备输出的两个电源VCCR和VCCT合流供给电压给后面的与逻辑门芯片U1和2N7002三极管供电。使用二极管合流可以保证其中一路电压不供电时也可让后端器件逻辑门芯片U1和2N7002三极管正常工作。与门逻辑芯片只有检测到两路输入电源VCCR和VCCT同时正常供电时,才输出为高电平,其余情况输出都为低电平。而与门芯片输出连接三极管Q7的基极来控制三极管的导通或截止,三极管Q7则用来控制两个P-MOS管Q1和Q3的导通或断开,使设备主板10的两电源VCCR和VCCT与光模块的两电源VCCR和VCCT连通或断开。
例如,当与门逻辑芯片输出高电平时,三极管Q7的基极为高电平,三极管Q7为导通状态,集电极输出电平,两个P-MOS管Q1和Q3分别导通,证明设备主板10光口的两路供电线路电源VCCR和VCCT都为正常的,设备光口没有问题,可以正常link连接。
当电源VCCR或VCCT中的一路供电电源磁珠断开无法供电时,与门逻辑芯片输出都为低电平,三极管Q7的基极为低电平成截止状态,同时三极管Q7输出由集电极的上拉决定为高电平。并通过连接两个P-MOS管的gate引脚控制P-MOS管的截止,隔开了光模块与设备的供电连接,显示设备光口无法正常link连接。
当光口的电源VCCR和VCCT供电线路都为故障断开时,电路无法工作,同时在P-MOS管的隔开光模块与设备的供电连接,显示设备光口有故障,无法正常link连接。
在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
以上所述仅为本实用新型的优选实施例,并非因此限制本实用新型的专利范围,凡是在本实用新型的实用新型构思下,利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换,或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本实用新型的专利保护范围内。
Claims (9)
1.一种SFP光模块供电电源开关控制电路,其特征在于,包括:
第一电源开关电路,所述第一电源开关电路分别与主板及SFP光模块连接,以将所述主板输出的第一路供电电源开关控制;
第二电源开关电路,所述第二电源开关电路分别与主板及SFP光模块连接,以将所述主板输出的第二路供电电源开关控制;
检测控制电路,所述检测控制电路分别与所述主板的第一路供电电源、第二路供电电源、第一电源开关电路和第二电源开关电路连接,用于检测所述的第一路供电电源、第二路供电电源的状态,并在所述第一路供电电源或第二路供电电源供电异常时,控制所述第一电源开关电路和第二电源开关电路断开电源输出。
2.根据权利要求1所述的SFP光模块供电电源开关控制电路,其特征在于,所述第一电源开关电路包括:
MOS管Q1,所述MOS管Q1的源极与所述主板的第一路供电电源输出端连接,所述MOS管Q1的漏极与所述SFP光模块的第一供电端连接,所述MOS管Q1的栅极与所述检测控制电路的控制输出端连接,所述MOS管Q1为P-MOS型晶体管。
3.根据权利要求2所述的SFP光模块供电电源开关控制电路,其特征在于,所述第一电源开关电路还包括:
电容C12,所述电容C12的一端与所述MOS管Q1的漏极连接,所述电容C12的另一端与参考地连接;
电阻R1,所述电阻R1的一端与所述MOS管Q1的漏极连接,所述电阻R1的另一端与参考地连接。
4.根据权利要求2所述的SFP光模块供电电源开关控制电路,其特征在于,所述第二电源开关电路包括:
MOS管Q3,所述MOS管Q3的源极与所述主板的第二路供电电源输出端连接,所述MOS管Q3的漏极与所述SFP光模块的第二供电端连接,所述MOS管Q3的栅极与所述检测控制电路的控制输出端连接,所述MOS管Q3为P-MOS型晶体管。
5.根据权利要求4所述的SFP光模块供电电源开关控制电路,其特征在于,所述第一电源开关电路还包括:
电容C14,所述电容C14的一端与所述MOS管Q3的漏极连接,所述电容C14的另一端与参考地连接;
电阻R5,所述电阻R5的一端与所述MOS管Q3的漏极连接,所述电阻R5的另一端与参考地连接。
6.根据权利要求4所述的SFP光模块供电电源开关控制电路,其特征在于,所述检测控制电路包括:
检测控制芯片,所述检测控制芯片的第一电压检测端与所述主板的第一路供电电源输出端连接,所述检测控制芯片的第二电压检测端与所述主板的第二路供电电源输出端连接,所述检测控制芯片的控制输出端分别与所述MOS管Q1和MOS管Q3的栅极连接。
7.根据权利要求6所述的SFP光模块供电电源开关控制电路,其特征在于,所述检测控制电路还包括:
逻辑转换电路,所述检测控制芯片通过所述逻辑转换电路与所述MOS管Q1和MOS管Q3的栅极连接;
所述逻辑转换电路包括:
三极管Q7,所述三极管Q7的基极通过电阻R7与所述检测控制芯片的控制输出端连接,所述三极管Q7的发射极与参考地连接,所述三极管Q7的集电极通过电阻R4与所述主板的电源输出端连接。
8.根据权利要求6所述的SFP光模块供电电源开关控制电路,其特征在于,还包括检测供电电路,所述检测供电电路与所述检测控制芯片连接,以为所述检测控制芯片供电;
所述检测供电电路包括:
二极管D1,所述二极管D1的阳极与所述主板的第一路供电电源输出端连接,所述二极管D1的阴极与所述检测控制芯片的供电端连接;
二极管D2,所述二极管D2的阳极与所述主板的第二路供电电源输出端连接,所述二极管D2的阴极与所述检测控制芯片的供电端连接。
9.一种SFP光模块连接装置,其特征在于,包括:
权利要求1至8任意一项所述的SFP光模块供电电源开关控制电路;
主板接口,所述主板接口的第一路供电电源端和第二路供电电源端分别与SFP光模块供电电源开关控制电路连接;
SFP光模块接口,所述SFP光模块接口分别与所述SFP光模块供电开关控制电路输出的第一路供电电源端、第二路供电电源端及主板接口连接。
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CN202020656686.0U CN212321912U (zh) | 2020-04-26 | 2020-04-26 | 一种sfp光模块供电电源开关控制电路及连接装置 |
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Date | Code | Title | Description |
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GR01 | Patent grant | ||
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