CN212255595U - 一种键盘按键测试系统和触发装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种键盘按键测试系统和触发装置。所述系统包括：键盘按键测试的触发装置和电子设备；所述触发装置包括：与待测键盘的布局相匹配的亚克力板和粘贴在所述亚克力板上的硅胶层，所述硅胶层与所述待测键盘上的按键贴合；所述触发装置用于在测试所述待测键盘时，利用外界触发力按压所述待测键盘，以使所述待测键盘产生键盘触发信号，并发送至所述电子设备；所述电子设备用于根据所述键盘触发信号，确定所述待测键盘的检测结果。本实用新型提供的键盘按键测试系统，通过设计一种键盘按压测试的触发装置，保证了力度均衡的同时按压键盘上的按键，通过按键产生的触发信号确定按键是否异常，能够快速准确地检测键盘的灵敏性。

Description

一种键盘按键测试系统和触发装置

技术领域

本实用新型涉及智能检测技术领域，具体涉及一种键盘按键测试系统和触发装置。

背景技术

笔记本翻新时，二手机键盘容易受损，造成键盘按键失灵，有部分按键过于灵敏。而造成这个的原因是键盘内软电路短路，接触异常。只要轻轻触碰，就会触发，过于灵敏的按键，会造成输出异常，使用体验较差。

因此，如何检测键盘按键，成为亟待解决的重要课题。

实用新型内容

为了快速准确地检测键盘按键是否异常，本实用新型提供了一种键盘按键测试系统和触发装置。

第一方面，本实用新型提供一种键盘按键测试的系统，包括：

键盘按键测试的触发装置和电子设备；

所述触发装置包括：与待测键盘的布局相匹配的亚克力板和粘贴在所述亚克力板上的硅胶层，所述硅胶层与所述待测键盘上的按键贴合；

所述触发装置用于在测试所述待测键盘时，利用外界触发力按压所述待测键盘，以使所述待测键盘产生键盘触发信号，并发送至所述电子设备；

所述电子设备用于根据所述键盘触发信号，确定所述待测键盘的检测结果。

如上述系统，可选地，所述触发装置具体用于：

在所述外界触发力作用在所述亚克力板上时，产生均匀的按压力同时按压所述待测键盘上的多个按键。

如上述系统，可选地，所述电子设备具体用于：

获取所述待测键盘发送的异常触发信号，根据所述异常触发信号，确定所述待测键盘的异常类别。

如上述系统，可选地，所述电子设备具体用于：

根据所述异常触发信号对应的触发时间与预设正常触发信号的触发时间之间的关系，判断所述待测键盘的灵敏度异常类型。

如上述系统，可选地，所述电子设备还用于：

获取所述异常触发信号对应的按键编码，确定所述待测键盘的异常按键并输出异常按键编码。

如上述系统，可选地，其特征在于，所述电子设备包括：电脑或移动终端。

第二方面，本实用新型提供一种键盘按键测试的触发装置，包括：

与待测键盘的布局相匹配的亚克力板；

粘贴在所述亚克力板上的硅胶层，与所述待测键盘上的按键贴合；

所述亚克力板用于在测试所述待测键盘时，利用外界触发力按压所述待测键盘，以使所述待测键盘产生键盘触发信号，并发送至电子设备，以供所述电子设备根据所述键盘触发信号，确定所述待测键盘的检测结果。

如上述触发装置，可选地，所述亚克力板具体用于：

在所述外界触发力作用在所述亚克力板上时，产生均匀的按压力同时按压所述待测键盘上的多个按键。

如上述触发装置，可选地，还包括：

让位孔，所述让位孔与所述待测键盘的指点杆相匹配。

如上述触发装置，可选地，所述硅胶层为：网格硅胶。

本实用新型提供的键盘按键测试系统，通过设计一种键盘按压测试的触发装置，保证了力度均衡的同时按压键盘上的按键，通过按键产生的触发信号确定按键是否异常，能够快速准确地检测键盘的灵敏性。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例提供的键盘按键测试系统的结构示意图；

图2为本实用新型实施例提供的键盘按键测试的触发装置中的亚克力板结构示意图；

图3为本实用新型实施例提供的键盘按键测试的触发装置中的硅胶层结构示意图；

图4为本实用新型实施例提供的键盘按键测试方法流程示意图；

图5为本实用新型实施例提供的键盘按键测试装置的结构示意图；

图6为本实用新型实施例提供的电子设备的结构示意图。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

图1为本实用新型实施例提供的键盘按键测试系统的结构示意图，如图1所示，键盘按键测试系统包括触发装置和电子设备，电子设备即检测终端，检测终端中存储检测软件，当外界触发力基于触发装置作用在待测键盘的按键上时，待测键盘产生触发信号并传输至检测终端中的检测软件中；检测软件检测触发信号是否正常，输出非正常触发信号对应的按键编号。

其中检测终端可以为笔记本电脑或者台式电脑，该检测终端的键盘直接安装在终端上或者通过有线或无线的方式连接在终端上。检测终端上安装有检测软件，可以接收键盘触发时传输过来的触发信号。

检测终端还可以是智能手机或者其他移动终端，键盘通过有线或无线的方式与检测终端连接，键盘可以将按压产生的触发信号传输至检测终端中的检测软件中进行检测。

键盘按键测试系统中的触发装置包括亚克力板和硅胶层，硅胶层可以为网格硅胶，图2为本实用新型实施例提供的键盘按键测试的触发装置中的亚克力板结构示意图，图3为本实用新型实施例提供的键盘按键测试的触发装置中的硅胶层结构示意图，如图2和图3所示，硅胶层粘贴在亚克力板上，在系统检测时硅胶层与待测键盘直接接触。需要说明的是，亚克力板的形状与待测键盘的布局相匹配。此外，亚克力板和硅胶层中还可以设置有让位孔(图2图3中所示圆孔)以避开键盘中的指点杆。

具体实现中，用户可以将触发装置覆盖在待检测的键盘上，触发装置利用外界触发力按压待测键盘。具体地，触发装置将外界的作用力转化为均衡的按压力，同时按压在键盘的多个按键上。需要说明的是，为保证检测的可靠性，检测时的按压力度可以是正常按压键盘力度的2倍左右，具体的按压方式为正面按压两次，然后向斜上方按压两次。

键盘中的多个按键被同时同力度按压时，将分别产生触发信号，键盘将该信号传输至检测软件中，检测软件根据触发信号，确定检测结果。

下面详细阐述检测软件的执行过程，图4为本实用新型实施例提供的键盘按键测试方法流程示意图，如图4所示，该方法包括：

S41、获取所述触发装置在外界触发力作用下按压所述待测键盘后，所述待测键盘发送的键盘触发信号；

S42、根据所述键盘触发信号，确定所述待测键盘的检测结果。

具体地，待测键盘中的多个按键被同时同力度按压时，通过机械性的导电触点连通，将分别在windows系统中产生触发信号，检测软件可以从系统中获取触发信号。更进一步地，windows系统自动屏蔽正常的触发信号，因此，检测软件可以根据windows系统机制直接获取异常触发信号，根据异常触发信号，确定待测键盘的异常类别。由于Microsoftwindows系统会自动屏蔽同时按压5个及以上按键的信号，检测软件接收到的只有按键异常的触发信号，因此需要按压多个按键，此外键盘设定了大于等于5个按键被同时按压时，键盘不输出数据，因此触发装置作用在键盘上的按压力至少同时按压了5个按键，可以同时检测1-4个按键的异常信息。

进一步地，检测软件还可以获取异常触发信号对应的触发时间，根据获取到的触发时间与预设正常触发信号的触发时间之间的关系，判断测键盘的灵敏度异常类型。优选的，当检测到的触发信号的触发时间提前时，可以认为相应的触发信号为异常灵敏信号，对应的按键的灵敏度较高；若检测到的触发信号的触发时间滞后时，则相应的触发信号为异常迟钝信号，对应的按键的灵敏度较低。

例如，正常键盘按键的触发时间为50-200ms，有灵敏异常的按键触发时间为0-10ms，同时作用按键时，0-10ms的按键先触发，检测软件会显示出来，其他50-200ms的按键同时触发，系统自动屏蔽不会在检测软件上显示。

进一步地，检测软件还可以获取异常触发信号对应的按键编码，确定待测键盘的异常按键并输出异常按键编码。具体地，键盘上每个按键上都有对应的机械性导电触点，每个按键触发都会有对应的BIOS键码和windows键码，按键的机械性导电触点接触后，会传输信号在windows系统中，检测软件根据BIOS键码和windows键码识别出异常的按键编码，从而可以在显示装置上显示异常的按键编码，可选的，还可以在输出编号的同时输出各个异常按键的灵敏度。

本实用新型实施例提供的键盘按键测试系统，通过设计一种键盘按压测试的触发装置，保证了力度均衡的同时按压键盘上的按键，通过按键产生的触发信号确定按键是否异常，能够快速准确地检测键盘的灵敏性。

基于同样的实用新型构思，本实用新型实施例还提供一种键盘按键测试装置，如图5所示，所述装置包括：获取模块51和处理模块52，其中：

获取模块51用于获取所述触发装置在外界触发力作用下按压所述待测键盘后，所述待测键盘发送的键盘触发信号；处理模块52用于根据所述键盘触发信号，确定所述待测键盘的检测结果。

如上述装置，可选地，所述键盘触发信号为异常触发信号；

相应地，所述处理模块具体用于：

根据所述异常触发信号，确定所述待测键盘的异常类别。

如上述装置，可选地，所述处理模块具体用于：

根据所述异常触发信号对应的触发时间与预设正常触发信号的触发时间之间的关系，判断所述待测键盘的灵敏度异常类型。

如上述装置，可选地，所述处理模块还用于：

获取所述异常触发信号对应的按键编码，确定所述待测键盘的异常按键并输出异常按键编码。

本实用新型实施例提供的装置，用于实现上述方法，其功能具体参照上述方法实施例，此处不再赘述。

图6为本实用新型实施例提供的电子设备的结构示意图，如图6所示，所述设备包括：处理器(processor)61、存储器(memory)62和总线63；

其中，处理器61和存储器62通过所述总线63完成相互间的通信；

处理器61用于调用存储器62中的程序指令，以执行上述各方法实施例所提供的方法，例如包括：获取触发装置在外界触发力作用下按压待测键盘后，所述待测键盘发送的键盘触发信号；根据所述键盘触发信号，确定所述待测键盘的检测结果。

本实用新型实施例提供一种非暂态计算机可读存储介质，所述非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令，所述计算机指令使所述计算机执行上述各方法实施例所提供的方法，例如包括：获取触发装置在外界触发力作用下按压待测键盘后，所述待测键盘发送的键盘触发信号；根据所述键盘触发信号，确定所述待测键盘的检测结果。

以上所描述的装置等实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性的劳动的情况下，即可以理解并实施。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本实用新型的实施例的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本实用新型的实施例进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型的各实施例技术方案的范围。

Claims (10)

1.一种键盘按键测试的系统，其特征在于，包括：

键盘按键测试的触发装置和电子设备；

所述触发装置包括：与待测键盘的布局相匹配的亚克力板和粘贴在所述亚克力板上的硅胶层，所述硅胶层与所述待测键盘上的按键贴合；

所述触发装置用于在测试所述待测键盘时，利用外界触发力按压所述待测键盘，以使所述待测键盘产生键盘触发信号，并发送至所述电子设备；

所述电子设备用于根据所述键盘触发信号，确定所述待测键盘的检测结果。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述触发装置具体用于：

在所述外界触发力作用在所述亚克力板上时，产生均匀的按压力同时按压所述待测键盘上的多个按键。

3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述电子设备具体用于：

获取所述待测键盘发送的异常触发信号，根据所述异常触发信号，确定所述待测键盘的异常类别。

4.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述电子设备具体用于：

根据所述异常触发信号对应的触发时间与预设正常触发信号的触发时间之间的关系，判断所述待测键盘的灵敏度异常类型。

5.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述电子设备还用于：

获取所述异常触发信号对应的按键编码，确定所述待测键盘的异常按键并输出异常按键编码。

6.根据权利要求1-5任一所述的系统，其特征在于，所述电子设备包括：电脑或移动终端。

7.一种键盘按键测试的触发装置，其特征在于，包括：

与待测键盘的布局相匹配的亚克力板；

粘贴在所述亚克力板上的硅胶层，与所述待测键盘上的按键贴合；

所述亚克力板用于在测试所述待测键盘时，利用外界触发力按压所述待测键盘，以使所述待测键盘产生键盘触发信号，并发送至电子设备，以供所述电子设备根据所述键盘触发信号，确定所述待测键盘的检测结果。

8.根据权利要求7所述的触发装置，其特征在于，所述亚克力板具体用于：

在所述外界触发力作用在所述亚克力板上时，产生均匀的按压力同时按压所述待测键盘上的多个按键。

9.根据权利要求7所述的触发装置，其特征在于，还包括：

让位孔，所述让位孔与所述待测键盘的指点杆相匹配。

10.根据权利要求7-9任一所述的触发装置，其特征在于，所述硅胶层为：网格硅胶。

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