CN212179947U - 传感器测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供了一种传感器测试装置,其包括测试治具、发热组件、输出检测装置以及上位机;测试治具设有测试腔体,其用于安装至少部分延伸至测试腔体内的待测元件;发热组件固定于测试治具且至少部分收容于测试腔体内,其用于产生热量以模拟热源;输出检测装置用于与待测元件电连接以检测该待测元件是否产生触发电信号,且用于将该触发电信号进行二值化处理后并发送;上位机分别电连接于发热组件和输出检测装置,用于控制发热组件产生热量,且用于接收经二值化处理后的触发电信号,并根据该经二值化处理后的触发电信号输出测试结果。与相关技术相比,本实用新型的传感器测试装置操作简单、测试效率高且测试可靠性高。
Description
【技术领域】
本实用新型涉及传感器领域,尤其涉及一种运用于PIR传感器测试的传感器测试装置。
【背景技术】
随着投影仪亮度的提高,在出光路径进行人体检测以保护人眼的需要越来越重要。目前,由于PIR(Passive InfraRed,中文称为被动红外)传感器的成本低,在投影仪中通常采用PIR传感器以实现人体检测。由于具有超短焦结构的投影仪的流行,其中PIR传感器的应用场景多为近距离检测。
相关技术中,利用PIR传感器的热释电效应以实现对其人体检测的性能,在对PIR传感器的性能进行测试时,通常需要设置与PIR传感器对应的模拟人体热源的靶装置,并通过机械结构移动将PIR传感器在靶装置附近进行移动,直至PIR传感器检测靶装置的热量以产生电信号,最终根据电信号进行数据分析以获得该PIR传感器性能测试结果。
然而,相关技术中,由于PIR传感器在一个开放的环境中进行测试,由于外部环境中存在流动热风,使得PIR传感器容易受到流动热风的影响,从而导致测试结果不准确,降低了测试的可靠性;而且需要通过人工或者机械结构对PIR传感器进行多次的移动,不方便进行测试操作,测试效率低。
因此,实有必要提供一种新的传感器测试装置解决上述技术问题。
【实用新型内容】
本实用新型的目的在于提供一种传感器测试装置,以解决测试的可靠性低、操作不便以及测试效率低的问题。
为达到上述目的,本实用新型提供一种传感器测试装置,其包括:
测试治具,所述测试治具设有测试腔体,其用于安装至少部分延伸至所述测试腔体内的待测元件;
发热组件,所述发热组件固定于所述测试治具且至少部分收容于所述测试腔体内,其用于产生热量以模拟热源;输出检测装置,所述输出检测装置用于与待测元件电连接以检测该待测元件是否产生触发电信号,且用于将该触发电信号进行二值化处理后并发送;以及,
上位机,所述上位机分别电连接于所述发热组件和所述输出检测装置,用于控制所述发热组件产生热量,且用于接收经二值化处理后的触发电信号,并根据该经二值化处理后的触发电信号输出测试结果。
优选的,所述发热组件包括信号发生器、功率放大器以及发热元件;所述信号发生器分别电连接于所述输出检测装置和所述上位机,所述功率放大器电连接于所述信号发生器,所述发热元件固定于所述测试治具并电连接于所述功率放大器,且所述发热元件收容于所述测试腔体内。
优选的,所述发热元件为低热熔发热丝。
优选的,所述测试治具包括具有开口的保温罩以及橡胶塞,所述橡胶塞安装于所述保温罩的开口并形成可拆卸连接;所述橡胶塞设有贯穿其上的通孔,所述通孔用于安装待测元件。
优选的,所述保温罩为双层玻璃保温罩。
优选的,所述传感器测试装置还包括红外遮光罩,所述红外遮光罩完全罩设所述测试治具。
优选的,所述测试治具开设有将所述测试腔体与外界空气连通且相互间隔设置的第一通口和第二通口;所述传感器测试装置还包括与所述上位机电连接的冷却装置,所述冷却装置包括通过所述第一通口与所述测试腔体连通的第一风口以及通过所述第二通口与所述测试腔体连通的第二风口。
优选的,所述冷却装置还包括冷却机以及温度传感器,所述冷却机电连接于所述上位机,所述第一风口和所述第二风口分别设置于所述冷却机;所述温度传感器固定收容于所述测试腔体内且电连接于所述上位机。
优选的,所述上位机包括控制器以及数据处理装置,所述控制器分别与所述发热组件、所述冷却装置以及所述输出检测装置电连接,所述数据处理装置电连接于所述控制器。
与相关技术相比,本实用新型的传感器测试装置中,可将所述发热组件和待测元件设置在密封的所述测试腔体中,避免了外界环境的流动热风对待测元件的测试造成影响,有效地保证测试结果的准确性,提高了测试的可靠性;另外,通过所述测试治具为待测元件的测试提供一个稳定的温度环境,避免了温度的任意改变而需重新设置测试环境,为待测元件的重复测试提供了条件,且通过所述上位机控制所述发热组件模拟热源,便可实现对待测元件实现重复的测试,无需进行多次的测试操作,简化了测试过程,便于测试操作,有效提高测试效率。
【附图说明】
为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其它的附图,其中:
图1为本实用新型传感器测试装置的结构示意图;
图2为本实用新型传感器测试装置的电路结构示意图。
【具体实施方式】
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅是本实用新型的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-2所示,本实用新型提供一种传感器测试装置100,其包括上位机1、测试治具2、发热组件3以及输出检测装置4。该传感器测试装置100可用于对PIR传感器6进行性能测试。
具体的,所述上位机1分别与所述发热组件3以及所述输出检测装置4通过导线实现电连接,用于控制各元器件的工作以实现所述PIR传感器6的测试流程,并收集测试数据和分析测试数据以获得测试结果。
在本实施方式中,所述上位机1包括控制器11以及数据处理装置12;所述控制器11分别与所述发热组件3和所述输出检测装置4电连接,用以控制所述发热组件3和输出检测装置4工作并收集测试数据;所述数据处理装置12电连接于所述控制器11,用以分析测试数据以获得测试结果。
所述测试治具2设有测试腔体20,其用于安装所述发热组件3和所述PIR传感器6;所述测试治具2开设有将所述测试腔体20与外界空气连通且相互间隔设置的第一通口201和第二通口202。
在本实施方式中,所述测试治具2包括保温罩21以及橡胶塞22。
所述保温罩21一端开设有开口,所述第一通口201和所述第二通口202分别位于所述保温罩21的相对两侧且贯穿所述保温罩21设置。
进一步的,所述保温罩21具有保温功能,所述保温罩21包括但不限于双层玻璃保温罩,其用于在测试过程中,保持内部温度的稳定,也隔绝了外界的流动热风对内部的温度的影响,为对所述PIR传感器6的测试提供了稳定的温度环境。
更优的,为了更好地避免外界光环境的影响,所述传感器测试装置100还包括完全罩设所述测试治具2外侧的红外遮光罩7,该红外遮光罩7的设置有效避免外界环境光对测试的影响,同时所述红外遮光罩7也有一定的绝热保温效果,避免所述测试治具2的测试腔体20的温度受到外界影响。
所述橡胶塞22安装于所述保温罩21的开口并形成可拆卸连接,且所述橡胶塞22与所述保温罩21共同围成密封的所述测试腔体20;所述橡胶塞22设有贯穿其上的通孔,该通孔用于固定装设所述PIR传感器6。
值得一提的是,通孔的孔径与PIR传感器6的外直径尺寸匹配,在实际应用中,若需要对不同外直径尺寸的PIR传感器6进行测试,则可通过置换通孔孔径能与该PIR传感器6的外直径尺寸匹配的橡胶塞22即可,使得所述传感器测试装置100能够对不同尺寸的PIR传感器6进行测试,使得其测试适用性更高。
所述发热组件3固定于所述测试治具2且至少部分收容于所述测试腔体20内,其用于产生热量以模拟热源。
在本实施方式中,所述发热组件3包括信号发生器31、功率放大器32以及发热元件33。
所述信号发生器31分别电连接于所述输出检测装置4和所述上位机1的控制器11;所述功率放大器32电连接于所述信号发生器31;所述发热元件33固定于所述测试治具2并电连接于所述功率放大器32,且所述发热元件33收容于所述测试腔体20内。进一步的,当发热元件33在通电的状态下产生热量以模拟热源,其包括但不限于低热熔发热丝。
所述PIR传感器6是独立的待测元件,在测试过程中,需先将所述PIR传感器6安装在所述测试治具2上。
具体的,所述PIR传感器6固定于所述测试治具2,且所述PIR传感器6至少部分收容于所述测试腔体20内并与所述发热组件3相对间隔设置。进一步的,所述PIR传感器6穿插固定于所述橡胶塞22的通孔并延伸至所述测试腔体20内并与所述发热元件33相对间隔设置,在测试过程中,该PIR传感器6检测所述测试腔体20内的模拟的热源的变化并根据检测结果产生对应的触发电信号。
所述输出检测装置4分别与所述发热组件3和所述PIR传感器6电连接,用于判断所述PIR传感器6是否产生触发电信号,并用于将所述PIR传感器6的触发电信号进行二值化处理后传输给所述数据处理装置12。
在一些实施例中,传感器测试装置还可以包括冷却装置5。所述冷却装置5包括通过所述第一通口201与所述测试腔体20连通的第一风口511以及通过所述第二通口202与所述测试腔体20连通的第二风口512。
在一优选的实施方式中,所述冷却装置5包括冷却机51以及温度传感器52,所述冷却机51电连接于所述控制器11,所述第一风口511和所述第二风口512分别设置于所述冷却机51;所述温度传感器52固定收容于所述测试腔体20内且电连接于所述控制器11。
所述温度传感器52用于检测所述测试腔体20内的温度变化,并将温度变化信息发送给所述控制器11,所述控制器11根据温度变化信息控制所述冷却机51对所述测试腔体20进行降温,以确保在测试过程中所述测试腔体20内保持稳定的温度环境;具体的,所述冷却机51的第一风口511通过所述第一通口201向所述测试腔体20内吹送风,所述测试腔体20内的空气通过所述第二通口202流向所述第二风口512,以控制内部的温度平衡,以实现对内部的温度控制,有效地确保每步测试前所述PIR传感器6处于相同的温度环境。
需要说明的是,在该实施方式中,所述冷却装置5和所述测试治具2的第一通口201和第二通口202是配合设置的,通过上述结构的配合设置,能够更好地保证对所述PIR传感器6测试的稳定性、可靠性;当然,在发热组件本身能够较好地控制测试治具内的其他实施方式当中,不设置冷却装置,测试治具不开设第一通口和第二通口也是可行的。
下面结合具体的结构,对各元件在测试过程中的工作过程展开描述:
所述控制器11控制所述信号发生器31输出三角波信号(即产生激励电信号);所述功率放大器32接收激励电信号并通过电流驱动所述发热元件33发热,以使所述发热元件33和所述测试腔体20内部产生快速的温度变化,以模拟热源输入。该激励电信号的幅度和脉冲宽度可以根据实际情况进行具体的设置,即可通过所述控制器11不断调整所述信号发生器31发出的激励电信号的幅度和脉冲宽度,以实现对所述发热元件33产生不同强度(对应不同红外线分布)的激励;所述PIR传感器6检测所述测试腔体20内的模拟的热源的变化,并根据检测结果产生对应的触发电信号。
所述信号发生器31发出激励电信号的同时,给所述输出检测装置4发出触发信号,触发所述输出检测装置4开启步骤窗口,并开始抓取所述PIR传感器6的触发电信号,所述控制器11从所述输出检测装置4读取事件信息,判断所述PIR传感器6是否产生触发电信号,即通过所述输出检测装置4判断是否所述PIR传感器6是否产生触发电信号,并将所述PIR传感器6的触发电信号进行二值化处理后传输给所述数据处理装置12。
所述数据处理装置12接收激励电信号和触发电信号经二值化处理后获得的数据,并进行数据分析和绘图,得到该PIR传感器6的激励幅度和触发幅度之间的数值图表,分析得到该PIR传感器6激励幅度和触发幅度之间一致性数据以作为测试结果。
在测试过程中,所述温度传感器52检测所述测试腔体20内的温度变化,并将温度变化信息发送给所述控制器11,所述控制器11根据温度变化信息控制所述冷却机51对所述测试腔体20进行降温,以确保在测试过程中所述测试腔体20内的保持稳定的温度环境。
与相关技术相比,本实用新型的传感器测试装置中,可将所述发热组件和待测元件设置在密封的所述测试腔体中,避免了外界环境的流动热风对待测元件的测试造成影响,有效地保证测试结果的准确性,提高了测试的可靠性;另外,通过所述测试治具为待测元件的测试提供一个稳定的温度环境,避免了温度的任意改变而需重新设置测试环境,为待测元件的重复测试提供了条件,且通过所述上位机控制所述发热组件模拟热源,便可实现对待测元件实现重复的测试,无需进行多次的测试操作,简化了测试过程,便于测试操作,有效提高测试效率。
以上所述的仅是本实用新型的实施方式,在此应当指出,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型创造构思的前提下,还可以做出改进,但这些均属于本实用新型的保护范围。
Claims (9)
1.一种传感器测试装置,其特征在于,其包括:
测试治具,所述测试治具设有测试腔体,其用于安装至少部分延伸至所述测试腔体内的待测元件;
发热组件,所述发热组件固定于所述测试治具且至少部分收容于所述测试腔体内,其用于产生热量以模拟热源;
输出检测装置,所述输出检测装置用于与待测元件电连接以检测该待测元件是否产生触发电信号,且用于将该触发电信号进行二值化处理后并发送;以及,
上位机,所述上位机分别电连接于所述发热组件和所述输出检测装置,用于控制所述发热组件产生热量,且用于接收经二值化处理后的触发电信号,并根据该经二值化处理后的触发电信号输出测试结果。
2.根据权利要求1所述的传感器测试装置,其特征在于,所述发热组件包括信号发生器、功率放大器以及发热元件;所述信号发生器分别电连接于所述输出检测装置和所述上位机,所述功率放大器电连接于所述信号发生器,所述发热元件固定于所述测试治具并电连接于所述功率放大器,且所述发热元件收容于所述测试腔体内。
3.根据权利要求2所述的传感器测试装置,其特征在于,所述发热元件为低热熔发热丝。
4.根据权利要求1所述的传感器测试装置,其特征在于,所述测试治具包括具有开口的保温罩以及橡胶塞,所述橡胶塞安装于所述保温罩的开口并形成可拆卸连接;所述橡胶塞设有贯穿其上的通孔,所述通孔用于安装待测元件。
5.根据权利要求4所述的传感器测试装置,其特征在于,所述保温罩为双层玻璃保温罩。
6.根据权利要求1所述的传感器测试装置,其特征在于,所述传感器测试装置还包括红外遮光罩,所述红外遮光罩完全罩设所述测试治具。
7.根据权利要求1所述的传感器测试装置,其特征在于,所述测试治具开设有将所述测试腔体与外界空气连通且相互间隔设置的第一通口和第二通口;所述传感器测试装置还包括与所述上位机电连接的冷却装置,所述冷却装置包括通过所述第一通口与所述测试腔体连通的第一风口以及通过所述第二通口与所述测试腔体连通的第二风口。
8.根据权利要求7所述的传感器测试装置,其特征在于,所述冷却装置还包括冷却机以及温度传感器,所述冷却机电连接于所述上位机,所述第一风口和所述第二风口分别设置于所述冷却机;所述温度传感器固定收容于所述测试腔体内且电连接于所述上位机。
9.根据权利要求7所述的传感器测试装置,其特征在于,所述上位机包括控制器以及数据处理装置,所述控制器分别与所述发热组件、所述冷却装置以及所述输出检测装置电连接,所述数据处理装置电连接于所述控制器。
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