CN212060607U - 一种新型直射式光电探测电路 - Google Patents

Abstract

为了解决现有的模块，成型的价格高，体积较大，电路结构和元器件选择比较复杂，输出的信号波动较大，不利于和其他的电路整合，不能直接使用芯片控制的问题，本实用新型提出一种新型直射式光电探测电路，其特征在于：直射式光电探测电路包括控制芯片、三极管、光电传感器、电容、电压比较器和电源，直射式光电探测电路的工作受控制核心芯片控制，光电传感器的输出稳定，能够在微小的电信号下输出稳定的信号，感应灵敏度较高，出现误差的比例比较低。设计成型的成本较低，应用简单。

Description

一种新型直射式光电探测电路

技术领域

本实用新型涉及到电子产品领域，较为具体的，涉及到一种新型直射式光电探测电路。

背景技术

光电式传感器是以光电器件作为转换元件的传感器。它可用于检测直接引起光量变化的非电物理量，如光强、光照度、辐射测温、气体成分分析等；也可用来检测能转换成光量变化的其他非电量，如零件直径、表面粗糙度、应变、位移、振动、速度、加速度，以及物体的形状、工作状态的识别等。光电式传感器具有非接触、响应快、性能可靠等特点，因此在工业自动化装置和机器人中获得广泛应用。新的光电器件不断涌现，特别是CCD图像传感器的诞生，为光电传感器的进一步应用开创了新的一页。

用光电元件作敏感元件的光电传感器，其种类繁多，用途广泛。按光电传感器的输出量性质可分为两类：(1)把被测量转换成连续变化的光电流而制成的光电测量仪器，可用来测量光的强度以及物体的温度、透光能力、位移及表面状态等物理量。例如：测量光强的照度计，光电高温计，光电比色计和浊度计，预防火灾的光电报警器，构成检查被加工零件的直径、长度、椭圆度及表面粗糙度等自动检测装置和仪器，其敏感元件均用光电元件。半导体光电元件不仅在民用工业领域中得到广泛的应用，在军事上更有它重要的地位。例如用硫化铅光敏电阻可做成红外夜视仪、红外线照相仪及红外线导航系统等；(2)把被测量转换成继续变化的光电流。利用光电元件在受光照或无光照射时"有"或"无"电信号输出的特性制成的各种光电自动装置。光电元件用作开关式光电转换元件。例如电子计算机的光电输入器，开关式温度调节装置及转速测量数字式光电测速仪等。

目前现有的模块，成型的价格高，体积较大，电路结构和元器件选择比较复杂，输出的信号波动较大，不利于和其他的电路整合，不能直接使用芯片控制。

实用新型内容

为了解决现有的模块，成型的价格高，体积较大，电路结构和元器件选择比较复杂，输出的信号波动较大，不利于和其他的电路整合，不能直接使用芯片控制的问题，本实用新型提出一种新型直射式光电探测电路，直射式光电探测电路的工作受控制核心芯片控制，光电传感器的输出稳定，能够在微小的电信号下输出稳定的信号，感应灵敏度较高，出现误差的比例比较低。设计成型的成本较低，应用简单。

一种新型直射式光电探测电路，其特征在于：直射式光电探测电路包括控制芯片、三极管、光电传感器、电容、电压比较器和电源，控制芯片的输出端与三极管的输入端连接，三极管的输出端与光电传感器的输入端连接，光电传感器的输出端与电容的输入端连接，电容的输出端与电压比较器的输入端连接，电压比较器的输出端连接核心芯片的输入端，电源的输出端分别连接控制芯片、三极管、光电传感器和电压比较器的输入端，电压比较器通过和分压的部分的电压进行比较，然后输出一个高低电平，来检测是否有物体通过，检测脉冲的个数，整个直射式光电探测电路将输出不同的高低电平，核心芯片检测到电压比较器输出的电信号后，作出相应的动作。

进一步的，控制芯片的输出端与三极管的基极，控制核心芯片通过控制三极管的基极，来控制三极管的工作状态。

进一步的，光电传感器包括：发光二极管和发光三极管。

进一步的，发光二极管采用光耦式发光二极管。

进一步的，三极管的集电极与光耦的发光二极管端相连接，三极管基极受控制芯片控制，控制三极管的工作状态，通过三极管的导通与否来控制光耦发光二极管的亮灭。

进一步的，发光二极管与光敏三极管位置相对应匹配，光敏三极管感应到发光二极管亮后，光敏三极管的电路导通，电压输出。

进一步的，光电传感器中的发光三极管与光敏三极管是分离的。

由此可见，上述本实用新型提出一种新型直射式光电探测电路，直射式光电探测电路的工作受控制核心芯片控制，光电传感器的输出稳定，能够在微小的电信号下输出稳定的信号，感应灵敏度较高，出现误差的比例比较低。设计成型的成本较低，应用简单。

附图说明

图1为本实用新型的直射式光电探测电路硬件方框示意图。

图2为本实用新型的直射式光电探测电路电路图。

具体实施方式

如图1所示，为本实用新型的直射式光电探测电路硬件方框示意图；如图2所示，为本实用新型的直射式光电探测电路电路图。

一种新型直射式光电探测电路，其特征在于：直射式光电探测电路包括控制芯片、三极管、光电传感器、电容、电压比较器和电源，控制芯片的输出端与三极管的输入端连接，三极管的输出端与光电传感器的输入端连接，光电传感器的输出端与电容的输入端连接，电容的输出端与电压比较器的输入端连接，电压比较器的输出端连接核心芯片的输入端，电源的输出端分别连接控制芯片、三极管、光电传感器和电压比较器的输入端，电压比较器通过和分压的部分的电压进行比较，然后输出一个高低电平，来检测是否有物体通过，检测脉冲的个数，整个直射式光电探测电路将输出不同的高低电平，核心芯片检测到电压比较器输出的电信号后，作出相应的动作。

所述控制芯片的输出端与三极管的基极，控制核心芯片通过控制三极管的基极，来控制三极管的工作状态。

所述光电传感器包括：发光二极管和发光三极管。

所述发光二极管采用光耦式发光二极管。

所述三极管的集电极与光耦的发光二极管端相连接，三极管基极受控制芯片控制，控制三极管的工作状态，，通过三极管的导通与否来控制光耦发光二极管的亮灭。

所述发光二极管与光敏三极管位置相对应匹配，光敏三极管感应到发光二极管亮后，光敏三极管的电路导通，电压输出。

所述光电传感器中的发光三极管与光敏三极管是分离的。

由此可见，上述本实用新型提出一种新型直射式光电探测电路，直射式光电探测电路的工作受控制核心芯片控制，光电传感器的输出稳定，能够在微小的电信号下输出稳定的信号，感应灵敏度较高，出现误差的比例比较低。设计成型的成本较低，应用简单。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (7)

1.一种新型直射式光电探测电路，其特征在于：直射式光电探测电路包括控制芯片、三极管、光电传感器、电容、电压比较器和电源，控制芯片的输出端与三极管的输入端连接，三极管的输出端与光电传感器的输入端连接，光电传感器的输出端与电容的输入端连接，电容的输出端与电压比较器的输入端连接，电压比较器的输出端连接核心芯片的输入端，电源的输出端分别连接控制芯片、三极管、光电传感器和电压比较器的输入端，电压比较器通过和分压的部分的电压进行比较，然后输出一个高低电平，来检测是否有物体通过，检测脉冲的个数，整个直射式光电探测电路将输出不同的高低电平，核心芯片检测到电压比较器输出的电信号后，作出相应的动作。

2.如权利要求1所述的新型直射式光电探测电路，其特征在于：控制芯片的输出端与三极管的基极，控制核心芯片通过控制三极管的基极，来控制三极管的工作状态。

3.如权利要求1所述的新型直射式光电探测电路，其特征在于：光电传感器包括：发光二极管和光敏三极管。

4.如权利要求1所述的新型直射式光电探测电路，其特征在于：发光二极管采用光耦式发光二极管。

5.如权利要求1所述的新型直射式光电探测电路，其特征在于：三极管的集电极与发光二极管端相连接，三极管基极受控制芯片控制，控制三极管的工作状态，通过三极管的导通与否来控制光耦发光二极管的亮灭。

6.如权利要求1所述的新型直射式光电探测电路，其特征在于：发光二极管与光敏三极管位置相对应匹配，光敏三极管感应到发光二极管亮后，光敏三极管的电路导通，电压输出。

7.如权利要求1所述的新型直射式光电探测电路，其特征在于：光电传感器中的发光二极管与光敏三极管是分离的。

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