CN211955800U - 一种仪表测试装置及系统 - Google Patents

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蒋振铨
郭星煌
刘礼慧
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Abstract

本实用新型提供了一种仪表测试装置及系统,包括:测试工装、与所述测试工装的电源输入端电气连接的适配器、与所述测试工装的信号端口电气连接的上位机;所述测试工装包括:控制器、多个通讯接口及多路开关回路;所述测试工装的信号端口与所述控制器电气连接,每一所述开关回路的控制端与所述控制器的输出端电气连接,每一所述通讯接口与所述控制器电气连接,每一所述通讯接口用于连接被测仪表的信号端,每一所述开关回路的第一端与所述测试工装的电源输出端电气连接,每一所述开关回路的第二端与所述被测仪表的电源端电气连接。基于本实用新型,解决仪表测量不能按批次测量的问题,为测量工序提供节省时间成本。

Description

一种仪表测试装置及系统
技术领域
本实用新型涉及仪表测试领域,特别涉及一种仪表测试装置及系统
背景技术
随着微电子技术的发展壮大,仪表的智能化逐步取得进展,然而发展过程中,遇到的困难也不少,仪表在出厂检测时,需要通过将每个仪表一一接入工装上进行测量,但不能按批次接入进行测量,其检测速率低下,造成时间成本的浪费,有鉴于此,提出本申请。
实用新型内容
本实用新型公开了一种仪表测试装置及系统,旨在解决仪表测量不能按批次测量的问题,为测量工序提供节省时间成本。
本使用新型第一实施例提供了一种仪表测试装置,包括:测试工装、与所述测试工装的电源输入端电气连接的适配器、与所述测试工装的信号端口电气连接的上位机;
其中,所述测试工装包括:控制器、多个通讯接口及多路开关回路;
所述测试工装的信号端口与所述控制器电气连接,每一所述开关回路的控制端与所述控制器的输出端电气连接,每一所述通讯接口与所述控制器电气连接,每一所述通讯接口用于连接被测仪表的信号端,每一所述开关回路的第一端与所述测试工装的电源输出端电气连接,每一所述开关回路的第二端与所述被测仪表的电源端电气连接。
优选地,所述适配器包括第一调压回路;
所述第一调压回路的输入端用于连接市电,所述第一调压回路的输出端与所述测试工装的电源输入端电气连接。
优选地,还包括:第二调压回路;
所述第二调压回路的输入端与所述第一调压回路的输出端电气连接,所述第二调压回路的输出端与所述控制器的电源输入端电气连接。
优选地,所述上位机通过485通讯电路与所述测试工装的信号端口电气连接。
优选地,所述控制器通过232通讯电路与所述通讯接口电气连接。
优选地,所述控制器的芯片型号为STM32F103RCT6。
优选地,所述开关回路包括:放大回路及继电器;
所述控制器的输出端与所述放大回路的输入端电气连接,所述放大回路的输出端与所述继电器的线圈电气连接,所述继电器的常开触点第一端与所述测试工装的电源输出端电气连接,所述继电器的常开触点第二端与所述被测仪表的电源端电气连接。
本发明第二实施例提供了一种仪表测试系统,包括:电源、多个被测仪表及如上任意一项所述的一种仪表测试装置,其中,所述电源的输出端与所述适配器的输入端电气连接,所述被测仪表的电源端与所述开关回路的第二端电气连接,所述被测仪表的信号端与所述通讯接口电气连接。
基于本发明提供的一种仪表测试装置及系统,通过适配器(即第一调压回路)将220V的交流电转化成5V的直流电,再通过所述第二调压回路将5V转成3.3V供与控制器使用,所述上位机发送闭合命令至所述控制器,所述控制器生成对应的电信号至放大回路,放大回路对电信号进行放大之后输出至继电器的线圈,继电器的常开点闭合使得仪表上电,上位机可以通过控制器同时闭合多路开关回路,实现对个被测电表进行校准和测试,有效的提升了电表在出厂时的检测效率,节约人工成本和时间成本。
附图说明
图1是本实用新型实施例提供的一种仪表测试装置结构示意图;
图2是本实用新型实施例提供的第一调压电路示意图;
图3是本实用新型实施例提供的第二调压电路示意图;
图4是本实用新型实施例提供的485通讯电路示意图;
图5是本实用新型实施例提供的232通讯电路示意图;
图6是本实用新型实施例提供的控制器周边电路示意图;
图7是本实用新型实施例提供的开关回路示意图。
具体实施方式
为使本实用新型实施方式的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本实用新型实施方式中的附图,对本实用新型实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施方式是本实用新型一部分实施方式,而不是全部的实施方式。基于本实用新型中的实施方式,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式,都属于本实用新型保护的范围。因此,以下对在附图中提供的本实用新型的实施方式的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围,而是仅仅表示本实用新型的选定实施方式。基于本实用新型中的实施方式,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式,都属于本实用新型保护的范围。
以下结合附图对本实用新型的具体实施例做详细说明。
本实用新型公开了一种仪表测试装置及系统,旨在解决仪表测量不能按批次测量的问题,为测量工序提供节省时间成本。
请参阅图1,本使用新型第一实施例提供了一种仪表测试装置,包括:测试工装、与所述测试工装的电源输入端电气连接的适配器1、与所述测试工装的信号端口电气连接的上位机7;
其中,所述测试工装包括:控制器2、多个通讯接口3及多路开关回路4;
所述测试工装的信号端口与所述控制器2电气连接,每一所述开关回路4的控制端与所述控制器2的输出端电气连接,每一所述通讯接口3与所述控制器2电气连接,每一所述通讯接口3用于连接被测仪表5的信号端,每一所述开关回路4的第一端与所述测试工装的电源输出端电气连接,每一所述开关回路4的第二端与所述被测仪表5的电源端电气连接。
需要说明的是,所述适配器1接入市电并进行调压后供回路使用,上位机7用于发送闭合命令至所述控制器2,所述控制器2生成对应的电信号至所述开关回路4,开关回路4导通,使得被测仪表5上电,在本实施例中,可以设置有6路开关回路4(但不仅限于此),上位机7可以同时闭合6路开关回路4(即使得6个被测仪表5同时上电),实现多个被测仪表5同时进行校正和测试。
在本实施例中,请参阅图2,所述适配器1包括第一调压回路;
所述第一调压回路的输入端用于连接市电,所述第一调压回路的输出端与所述测试工装的电源输入端电气连接。
需要说明的是,所述第一调压回路用于将AC220V的市电转换成DC5V供给回路使用。
在本实施例中,请参阅图3,还包括:第二调压回路;
所述第二调压回路的输入端与所述第一调压回路的输出端电气连接,所述第二调压回路的输出端与所述控制器2的电源输入端电气连接。
需要说明的是,所述第二调压回路用于将DC5V转化成3.3V供与控制器2使用。
在本实施例中,请参阅图4,所述上位机7通过485通讯电路8与所述测试工装的信号端口电气连接。
需要说明的是,所述上位机7可以是电脑,通过USB转485接头,将485通讯电路8与电脑连接,通过测试软件与所述控制器2进行通讯,可以通过485通讯电路8将闭合命令发送到控制器2上,所述控制器2生成对应的电信号至开关回路4,在上电之后可发送测试命令至控制器2,对被测仪表5校准和测试,上位机7通过测试软件可实现对被测仪表5的SP I、I O、COM口通信是否正常,还可以对被测仪表5模拟量输入测试、输出精度测试、直流校准及小电流校准的功能,可在上位机7上查阅每一路被测仪表5的测量数据,在其他实施例中,上位机7还可以是其他可以触控屏或其他工控机,这里不做具体限定,当然,在其他实施例中,所述上位机7与所述测试工装间还可以采用其他的通讯电路进行通讯,例如采用网线进行通讯或无线网进行通讯,这里不做具体限定,但这些方案均在本实用新型的保护范围内。
在本实施例中,请参阅图5,所述控制器2通过232通讯电路10与所述通讯接口3电气连接。
需要说明的是,被测仪表5连接的信号端接在所述通讯接口3上,即所述控制器2通过232通讯电路10与所述被测仪表5进行通讯,控制器2可以读取所述被测仪表5的模拟量输入值、输出的模拟值、开入量的状态、SP I、I O、COM口通信状体等,当然,在其他实施例中,所述控制器2还可以通过其他通讯电路与所述通讯接口3电气连接,例如485通讯线路,这里不做具体限定,但这些方案均在本实用新型的保护范围内。
在本实施例中,所述控制器2芯片的周边电路如图6所示,所述控制器2的芯片型号可以为STM32F103RCT6。
需要说明的是,所述控制器2的芯片型号还可以是其他的型号,这里不做具体限定,但这些方案均在本实用新型的保护范围内。
在本实施例中,请参阅图7,所述开关回路4包括:放大回路11及继电器12;
所述控制器2的输出端与所述放大回路11的输入端电气连接,所述放大回路11的输出端与所述继电器12的线圈电气连接,所述继电器12的常开触点第一端与所述测试工装的电源输出端电气连接,所述继电器12的常开触点第二端与所述被测仪表5的电源端电气连接。
需要说明的是,所述控制器2输出的电信号无法使得所述继电器12的常开触点闭合,通过所述放大回路11将所述控制器2输出电信号放大后,输出至所述继电器12的线圈,使得所述继电器12的常开触点吸合,使得被测仪表5上电。
本发明第二实施例提供了一种仪表测试系统,包括:电源6、多个被测仪表5及如上任意一项所述的一种仪表测试装置,其中,所述电源6的输出端与所述适配器1的输入端电气连接,所述被测仪表5的电源6端与所述开关回路4的第二端电气连接,所述被测仪表5的信号端与所述通讯接口3电气连接。
基于本发明提供的一种仪表测试装置及系统,通过适配器1(即第一调压回路)将220V的交流电转化成5V的直流电,再通过所述第二调压回路将5V转成3.3V供与控制器2使用,所述上位机7发送闭合命令至所述控制器2,所述控制器2生成对应的电信号至放大回路11,放大回路11对电信号进行放大之后输出至继电器12的线圈,继电器12的常开点闭合使得仪表上电,上位机7可以通过控制器2同时闭合多路开关回路4,实现对个被测电表进行校准和测试,有效的提升了电表在出厂时的检测效率,节约人工成本和时间成本。
以上仅是本实用新型的优选实施方式,本实用新型的保护范围并不仅局限于上述实施例,凡属于本实用新型思路下的技术方案均属于本实用新型的保护范围。

Claims (8)

1.一种仪表测试装置,其特征在于,包括:测试工装、与所述测试工装的电源输入端电气连接的适配器、与所述测试工装的信号端口电气连接的上位机;
其中,所述测试工装包括:控制器、多个通讯接口及多路开关回路;
所述测试工装的信号端口与所述控制器电气连接,每一所述开关回路的控制端与所述控制器的输出端电气连接,每一所述通讯接口与所述控制器电气连接,每一所述通讯接口用于连接被测仪表的信号端,每一所述开关回路的第一端与所述测试工装的电源输出端电气连接,每一所述开关回路的第二端与所述被测仪表的电源端电气连接。
2.根据权利要求1所述的一种仪表测试装置,其特征在于,所述适配器包括第一调压回路;
所述第一调压回路的输入端用于连接市电,所述第一调压回路的输出端与所述测试工装的电源输入端电气连接。
3.根据权利要求2所述的一种仪表测试装置,其特征在于,还包括:第二调压回路;
所述第二调压回路的输入端与所述第一调压回路的输出端电气连接,所述第二调压回路的输出端与所述控制器的电源输入端电气连接。
4.根据权利要求1所述的一种仪表测试装置,其特征在于,所述上位机通过485通讯电路与所述测试工装的信号端口电气连接。
5.根据权利要求1所述的一种仪表测试装置,其特征在于,所述控制器通过232通讯电路与所述通讯接口电气连接。
6.根据权利要求1所述的一种仪表测试装置,其特征在于,所述控制器的芯片型号为STM32F103RCT6。
7.根据权利要求1所述的一种仪表测试装置,其特征在于,所述开关回路包括:放大回路及继电器;
所述控制器的输出端与所述放大回路的输入端电气连接,所述放大回路的输出端与所述继电器的线圈电气连接,所述继电器的常开触点第一端与所述测试工装的电源输出端电气连接,所述继电器的常开触点第二端与所述被测仪表的电源端电气连接。
8.一种仪表测试系统,其特征在于,包括:电源、多个被测仪表及如权利要求1至7任意一项所述的一种仪表测试装置,其中,所述电源的输出端与所述适配器的输入端电气连接,所述被测仪表的电源端与所述开关回路的第二端电气连接,所述被测仪表的信号端与所述通讯接口电气连接。
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