CN211930937U - 可控硅检测控制电路和led调光模组 - Google Patents

Abstract

本实用新型提出一种可控硅检测控制电路和LED调光模组，其中，可控硅检测控制电路包括线网检测电路、可控硅检测电路、泄放电路和控制电路，控制电路在连续N个线网表征信号的周期内连续检测到M个表征LED调光电路接入可控硅的可控硅表征信号时，确定当前LED调光电路接入可控硅，并控制泄放电路导通，为可控硅提供泄放电流，在连续N个线网表征信号的周期内未检测到可控硅表征信号时，确定当前LED调光电路未接入可控硅，控制泄放电路关断，从而实现在LED调光电路未接可控硅时，可控硅检测控制电路检测完成后，全程无泄放，降低了泄放通路的功耗，提高了电源效率。

Description

可控硅检测控制电路和LED调光模组

技术领域

本实用新型属于LED调光技术领域，尤其涉及一种可控硅检测控制电路和LED调光模组。

背景技术

在LED调光领域，特别是接入可控硅调光的LED调光领域，当线网电压小于LED导通电压时，需要维持可控硅正常开启则需要额外引入一路泄放电流，用于维持可控硅正常开启。

现有可控硅检测控制电路主要是对于当前周期的线网进行检测，因此每个周期初始时泄放电路处于默认导通状态，直至检测模块确认是否接入可控硅后，才能进一步控制泄放电路的通断。

因此，现有技术存在着在不接可控硅时，泄放电路每个周期均会导通一段时间的问题，影响了电源效率。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种可控硅检测控制电路，旨在解决传统的可控硅检测控制电路存在的电源效率低的问题。

本实用新型实施例的第一方面提了一种可控硅检测控制电路，可控硅检测控制电路包括线网检测电路、可控硅检测电路、泄放电路和控制电路；

所述线网检测电路、所述可控硅检测电路、所述泄放电路分别与LED调光电路的整流电路的输出端正极和所述控制电路电性连接；

所述线网检测电路，用于检测所述整流电路的输出端正极的电压的占空比，并反馈表征所述占空比大小的线网表征信号至所述控制电路；

所述可控硅检测电路，用于：

在检测到所述LED调光电路接入可控硅时，反馈表征所述LED调光电路接入可控硅的可控硅表征信号至所述控制电路；

所述控制电路，用于：

在连续N个所述线网表征信号的周期内连续检测到M个所述可控硅表征信号时，控制所述泄放电路导通；

在连续N个所述线网表征信号的周期内未检测到所述可控硅表征信号时，控制所述泄放电路关断。

在一个实施例中，所述控制电路还用于：

在首次检测到所述可控硅表征信号时，开始分别对检测到所述可控硅接入表征信号和所述线网表征信号的次数进行计数；

在连续N个所述线网表征信号的周期内未连续检测到所述可控硅表征信号时对所述线网表征信号和所述可控硅表征信号的计数值清零并分别重新计数，将在一个线网表征信号的周期内检测到所述可控硅表征信号的次数计为一次。

在一个实施例中，所述线网检测电路包括第一电阻、第二电阻和第一比较器；

所述第一电阻的第一端与所述整流电路的输出端正极连接，所述第一电阻的第二端、所述第二电阻的第一端和所述第一比较器的正相输入端连接，所述第一比较器的反相输入端连接第一正电源，所述第一比较器的输出端与所述控制电路电性连接，所述第二电阻的第二端接地。

在一个实施例中，所述可控硅检测电路包括第一延时单元、第二延时单元、第二比较器、第三比较器、第一电子开关管、第二电子开关管、与门和第一电容；

所述第二比较器的正向输入端连接所述第一正电源，所述第二比较器的反相输入端与所述第一电阻的第二端连接，所述第一延时单元的第一端与所述第一比较器的输出端连接，所述第一延时单元的输出端、所述第一电子开关管的受控端和所述第二延时单元的第一端互连，所述第一电子开关管的输入端连接第二正电源，所述第一电子开关管的输出端、所述第一电容的第一端、所述第二电子开关管的输入端和所述第三比较器的反相输入端互连，所述第二比较器的输出端与所述第二电子开关管的受控端连接，所述第二电子开关管的输出端和所述第一电容的第二端均接地，所述第三比较器的正相输入端与所述第一电子的第二端连接，所述第三比较器的输出端与所述与门的第一输入端连接，所述第二延时单元的第二端与所述与门的第二输入端连接，所述与门的输出端与所述控制电路电性连接。

在一个实施例中，所述泄放电路包括第一运算放大器、第三电子开关管、第三电阻和第四电阻；

所述第三电阻的第一端与所述整流电路的输出端正极连接，所述第三电阻的第二端与所述第三电子开关管的输入端连接，所述第一运算放大器的正相输入端连接第一参考电压输入端，所述第一运算放大器的反相输入端、所述第三电子开关管的输出端和所述第四电阻的第一端互连，所述第四电阻的第二端接地，所述第一运算放大器的电源端与所述控制电路电性连接。

在一个实施例中，所述控制电路包括控制器和开关电路；

所述控制器分别与所述可控硅检测电路、所述线网检测电路和所述开关电路的受控端电性连接，所述开关电路还与所述泄放电路电性连接；

所述控制器，用于：

在确定所述LED调光电路接入所述可控硅时输出第一控制信号控制所述开关电路导通，以使所述泄放电路接入电源导通；

在确定所述LED调光电路未接入所述可控硅时输出第二控制信号控制所述开关电路关断电源，以使所述泄放电路截止。

在一个实施例中，所述控制器包括可控硅计数单元、线网计数单元和处理器；

所述可控硅计数单元分别与所述处理器和所述可控硅检测电路电性连接，所述线网计数单元分别与所述处理器和所述线网检测电路电性连接。

在一个实施例中，所述开关电路包括第五电阻和第四电子开关管；

所述第五电阻的第一端和所述第四电子开关管的输入端连接并输入第三正电源，所述第五电阻的第二端和所述第四电子开关管的受控端连接并与所述控制器连接，所述第四电子开关管的输出端与所述泄放电路的受控端连接。

本实用新型实施例的第二方面提了一种LED调光模组，LED调光模组包括LED调光电路和如上所述的可控硅检测电路，所述LED调光电路至少包括整流电路和恒流驱动电路，所述整流电路、LED灯组和所述恒流驱动电路依次电性连接。

在一个实施例中，所述恒流驱动电路包括第五电子开关管、第四比较器和第六电阻；

所述第五电子开关管的输入端与所述LED模组电性连接，所述第五电子开关管的输出端、所述第四比较器的反相输入端和所述第六电阻的第一端连接，所述第四比较器的正相输入端连接第二参考电压输入端，所述第四比较器的输出端与所述第五电子开关管的受控端连接，所述第六电阻的第二端接地。

本实用新型通过采用线网检测电路、可控硅检测电路、泄放电路和控制电路组成可控硅检测控制电路，控制电路在连续N个线网表征信号的周期内连续检测到M个表征LED调光电路接入可控硅的可控硅表征信号时，确定当前LED调光电路接入可控硅，并控制泄放电路导通，为可控硅提供泄放电流，在连续N个线网表征信号的周期内未检测到可控硅表征信号时，确定当前LED调光电路未接入可控硅，控制泄放电路关断，从而实现在LED调光电路未接可控硅时，可控硅检测控制电路检测完成后，全程无泄放，降低了泄放通路的功耗，提高了电源效率。

附图说明

图1为本实用新型实施例提供的可控硅检测控制电路的第一种结构示意图；

图2为本实用新型实施例提供的可控硅检测控制电路的第一波形示意图；

图3为本实用新型实施例提供的可控硅检测电路和线网检测电路的电路结构示意图；

图4为本实用新型实施例提供的可控硅检测控制电路的第二波形示意图；

图5为本实用新型实施例提供的可控硅检测控制电路的第二种结构示意图；

图6为本实用新型实施例提供的控制器的结构示意图；

图7为本实用新型实施例提供的LED调光模组的结构示意图。

具体实施方式

为了使本实用新型所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

本实用新型实施例的第一方面提了一种可控硅检测控制电路100。

如图1所示，图1为本实用新型实施例提供的可控硅检测控制电路100的第一种结构示意图，本实施例中，可控硅检测控制电路100包括线网检测电路10、可控硅检测电路20、泄放电路30和控制电路40；

线网检测电路10、可控硅检测电路20、泄放电路30分别与LED调光电路的整流电路210的输出端正极和控制电路40电性连接；

线网检测电路10，用于检测整流电路210的输出端正极的电压的占空比，并反馈表征占空比大小的线网表征信号至控制电路40；

可控硅检测电路20，用于：

在检测到LED调光电路接入可控硅时，反馈表征LED调光电路接入可控硅的可控硅表征信号至控制电路40；

控制电路40，用于：

在连续N个线网表征信号的周期内连续检测到M个可控硅表征信号时，控制泄放电路30导通；

在连续N个线网表征信号的周期内未检测到可控硅表征信号时，控制泄放电路30关断。

本实施例中，LED调光电路至少包括整流电路210和恒流驱动电路220，整流电路210、LED模组300和恒流驱动电路220组成电源回路，LED调光电路设计完成后者后续设计时还可在整流电路210前级接入可控硅调光或者不接入可控硅调光，当接入可控硅时，需要控制泄放电路30导通，以为可控硅提供泄放电流以保证可控硅可靠导通，同时，当接入可控硅或者不接入可控硅时，整流后的线网波形的切角发生变化，如图2所示，对应地，整流电路210的输出端正极的电压的占空比发生变化，可控硅检测电路20根据线网波形的切换变化确定LED调光电路是否接入可控硅，如图2所示，在不接可控硅时，可控硅检测电路20根据可控硅检测电路20获取到的电平信号为持续的低电平，即表征可控硅未接入的第二可控硅表征信号，在接入可控硅时，根据线网切角变化，可控硅检测电路20可获取到高低电平信号，即表征可控硅接入的可控硅表征信号。

线网检测电路10和可控硅检测电路20连接在整流电路210与LED模组300之间的线网上，线网检测电路10检测整流电路210的输出端正极的电压的占空比，并反馈表征占空比大小的线网表征信号至控制电路40，可控硅检测电路20根据整流电路210前级接入可控硅以及不接可控硅时输出整流电路210输出信号的不同输出对应的表征信号至控制电路40，即在检测到LED调光电路接入可控硅时，反馈表征LED调光电路接入可控硅的可控硅表征信号至控制电路40，在检测到LED调光电路未接入可控硅时，反馈表征LED调光电路未接入可控硅的第二可控硅表征信号至控制电路40。

控制电路40在每个连续的线网表征信号的周期内检测可控硅表征信号的出现，当在连续N个线网表征信号的周期内连续检测M个到可控硅表征信号时，包括以预设时间间隔在每一线网表征信号内连续检测到一个或者多个可控硅表征信号，或者在多个线网表征信号周期内检测到一个可控硅表征信号，确定当前LED调光电路接入可控硅，并控制泄放电路30导通，为可控硅提供泄放电流，当在连续N个线网表征信号的周期内未检测到可控硅表征信号时，确定当前LED调光电路未接入可控硅，控制泄放电路30关断，从而实现在LED调光电路未接可控硅时，可控硅检测控制电路100检测完成后，全程无泄放，降低了泄放通路的功耗，提高了电源效率。

其中，线网检测电路10和可控硅检测电路20可为电压比较电路或者检测芯片等结构，具体根据需求进行设计。

控制电路40可为控制器41或者对应的驱动模块，具体根据需求进行设计。

同时，为了避免信号干扰造成检测误差，在一个实施例中，控制电路40还用于：

在首次检测到可控硅表征信号时，开始分别对检测到可控硅接入表征信号和线网表征信号的次数进行计数；

在连续N个所述线网表征信号的周期内未连续检测到所述可控硅表征信号时对线网表征信号和可控硅表征信号的计数值清零并分别重新计数，将在一个线网表征信号的周期内检测到可控硅表征信号的次数计为一次。

在检测过程中，可能存在尖峰干扰信号出现造成可控硅表征信号中断，造成在N个周期内未连续检测到可控硅表征信号，当出现可控硅表征信号中断时，则对线网表征信号和可控硅表征信号的计数值清零并分别重新计数，同时，一个线网表征信号的周期内无论出现一个或者多个可控硅表征信号，均计数为一次。

本实用新型通过采用线网检测电路10、可控硅检测电路20、泄放电路30和控制电路40组成可控硅检测控制电路100，控制电路40在连续N个线网表征信号的周期内连续检测到表征LED调光电路接入可控硅的可控硅表征信号时，确定当前LED调光电路接入可控硅，并控制泄放电路30导通，以为可控硅提供泄放电流，在连续N个线网表征信号的周期内未连续检测到可控硅表征信号时，确定当前LED调光电路未接入可控硅，控制泄放电路30关断，从而实现在LED调光电路未接可控硅时，可控硅检测控制电路100检测完成后，全程无泄放，降低了泄放通路的功耗，提高了电源效率。

如图3所示，在一个实施例中，线网检测电路10包括第一电阻R1、第二电阻R2和第一比较器U1；

第一电阻R1的第一端与整流电路210的输出端正极连接，第一电阻R1的第二端、第二电阻R2的第一端和第一比较器U1的正相输入端连接，第一比较器U1的反相输入端连接第一正电源V2，第一比较器U1的输出端与控制电路40电性连接，第二电阻R2的第二端接地。

可控硅检测电路20包括第一延时单元DE1、第二延时单元DE2、第二比较器U2、第三比较器U3、第一电子开关管Q1、第二电子开关管Q2、与门和第一电容C1；

第二比较器U2的正向输入端连接第一正电源，第二比较器U2的反相输入端与第一电阻R1的第二端连接，第一延时单元DE1的第一端与第一比较器U1的输出端连接，第一延时单元DE1的输出端、第一电子开关管Q1的受控端和第二延时单元DE2的第一端互连，第一电子开关管Q1的输入端连接第二正电源，第一电子开关管Q1的输出端、第一电容C1的第一端、第二电子开关管Q2的输入端和第三比较器U3的反相输入端互连，第二比较器U2的输出端与第二电子开关管Q2的受控端连接，第二电子开关管Q2的输出端和第一电容C1的第二端均接地，第三比较器U3的正相输入端与第一电子的第二端连接，第三比较器U3的输出端与与门的第一输入端连接，第二延时单元DE2的第二端与与门的第二输入端连接，与门的输出端与控制电路40电性连接。

本实施例中，第一电阻R1和第二电阻R2将线网电压进行分压，并输出第一电压V1至第一比较器U1和第三比较器U3，第一电压V1与第一正电源V2进行比较，输出线网表征信号V3至控制电路40以及可控硅检测电路20中的第一延时单元DE1，第一延时单元DE1将线网表征信号进行第一次延时后输出第一延时信号V5至第一电子开关管Q1，同时，第一正电源2与第一电压V1进行正向比较后，输出第一电压信号V4至第二电子开关管Q2，第一电子开关管Q1在第一延时信号的控制下输出第二电压信号V6至第三比较器U3以及第二电阻R2开关管，第三比较器U3将第一电压V1与第二电压信号V6进行比较，输出第三电压信号V7至与门，同时，第二延时单元DE2将第一延时信号进行第二次延时输出第四电压信号V8，第三电压信号V7与第四电压信号V8进行与门计算，输出第五电压信号V9，第五电压信号V9根据可控硅接入状态输出表征可控硅接入的可控硅表征信号以及未接入可控硅的第二可控硅表征信号，如图4所示，在未接入可控硅时，控制电路40获取到的第五电压信号V9为持续的低电平，在接入可控硅后，控制电路40获取到的第五电压信号V9为高低电平信号，第一延时单元DE1和第二延时单元DE2用于将线网电压以及线网占比电压进行延时，以在接入可控硅时，第三电压信号V7和第四电压信号V8出现高电平重叠，进而获取到高低电平信号即表征可控硅接入的可控硅表征信号。

如图7所示，在一个实施例中，泄放电路30包括第一运算放大器U11、第三电子开关管Q3、第三电阻R3和第四电阻R4；

第三电阻R3的第一端与整流电路210的输出端正极连接，第三电阻R3的第二端与第三电子开关管Q3的输入端连接，第一运算放大器U11的正相输入端连接第一参考电压Vref1输入端，第一运算放大器U11的反相输入端、第三电子开关管Q3的输出端和第四电阻R4的第一端互连，第四电阻R4的第二端接地，第一运算放大器U11的电源端与控制电路40电性连接。

本实施例中，第一运算放大器U11在接收到电源时导通工作，并输出高电平至第三电子开关管Q3，以使泄放电路30保持常通，在未接收到电源时停止工作，停止输出电平信号，第三电子开关管Q3保持关断状态，即泄放电路30保持关断状态，当控制电路40确定LED调光电路接入可控硅时，控制电路40输出电源至第一运算放大器U11，第一运算放大器U11在接收到电源时导通工作，从而控制泄放电路30导通，当控制电路40确定LED调光电路未接入可控硅时，控制电路40则停止输出电源至第一运算放大器U11，第一运算放大器U11关断，从而控制泄放电路30关断。

如图5所示，在一个实施例中，控制电路40包括控制器41和开关电路42；

控制器41分别与可控硅检测电路20、线网检测电路10和开关电路42的受控端电性连接，开关电路42还与泄放电路30电性连接；

控制器41，用于：

在确定LED调光电路接入可控硅时输出第一控制信号控制开关电路42导通，以使泄放电路30接入电源导通；

在确定LED调光电路未接入可控硅时输出第二控制信号控制开关电路42关断电源，以使泄放电路30截止。

本实施例中，开关电路42的电源输入端连接一电源端，开关电路42的电源输出端则连接泄放电路30中的第一运算放大器U11的电源端，控制器41在确定LED调光电路接入可控硅时输出第一控制信号控制开关电路42导通，第一运算放大器U11接入电源，并开始工作，泄放电路30导通，当确定LED调光电路未接入可控硅时控制器41输出第二控制信号控制开关电路42关断电源，开关电路42停止输出电源，第一运算放大器U11停止工作，泄放电路30关断截止。

本实施例中，控制器41可包括计数器和处理器41C等结构，如图6所示，在一个实施例中，控制器41包括可控硅计数单元41A、线网计数单元41B和处理器41C；

可控硅计数单元41A分别与处理器41C和可控硅检测电路20电性连接，线网计数单元41B分别与处理器41C和线网检测电路10电性连接。

本实施例中，可控硅计数单元41A用于对可控硅表征信号进行计数，线网计数单元41B用于对线网表征信号进行计数，处理器41C进行逻辑运算判断，并在可控硅表征信号中断时对线网表征信号和可控硅表征信号的计数值进行归零复位。

可控硅计数单元41A、线网计数单元41B可为计数器，处理器41C可为处理芯片，例如CPU、MCU、单片机等，可控硅计数单元41A、线网计数单元41B和处理器41C还可集成设置在同一芯片内，具体结构根据需求进行选择。

开关电路42可为受控型开关器件，如三极管、MOS管或者继电器等，如图7所示，在一个实施例中，开关电路42包括第五电阻R5和第四电子开关管Q4；

第五电阻R5的第一端和第四电子开关管Q4的输入端连接并输入第三正电源VDD，第五电阻R5的第二端和第四电子开关管Q4的受控端连接并与控制器41连接，第四电子开关管Q4的输出端与泄放电路30的受控端连接。

如图1所示，本实用新型还提出一种LED调光模组，该LED调光模组包括LED调光电路和可控硅检测控制电路100，该可控硅检测控制电路100的具体结构参照上述实施例，由于本LED调光模组采用了上述所有实施例的全部技术方案，因此至少具有上述实施例的技术方案所带来的所有有益效果，在此不再一一赘述。其中，LED调光电路至少包括整流电路210和恒流驱动电路220，整流电路210、LED灯组和恒流驱动电路220依次电性连接。

本实施例中，LED调光电路和可控硅检测控制电路100可设计在同一电路板组成LED调光模组，同时，LED调光模组的前级可根据调光需求接入可控硅或者不接入可控硅，可控硅检测控制电路100对可控硅接入状态进行检测并对应控制泄放电路30工作，从而达到降低电源损耗的目的，提高电源效率。

其中，整流电路210可为全桥整流电路210或者半桥整流电路210，恒流驱动电路220可采用采样电阻及控制器41等结构，如图7所示，在一个实施例中，恒流驱动电路220包括第五电子开关管Q5、第四比较器U4和第六电阻R6；

第五电子开关管Q5的输入端与LED模组300电性连接，第五电子开关管Q5的输出端、第四比较器U4的反相输入端和第六电阻R6的第一端连接，第四比较器U4的正相输入端连接第二参考电压Vref2输入端，第四比较器U4的输出端与第五电子开关管Q5的受控端连接，第六电阻R6的第二端接地。

本实施例中，第六电阻R6为采样电阻，并将LED模组300的电流转换为电压信号反馈至第四比较器U4，第四比较器U4根据电压信号对应输出开关信号至第五电子开关管Q5，本实施例中，第五电子开关管Q5为压控型的MOS管，MOS管根据比较器输出的开关信号输出恒定的电流，实现恒流驱动的目的。

以上所述实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种可控硅检测控制电路，其特征在于，包括线网检测电路、可控硅检测电路、泄放电路和控制电路；

所述线网检测电路、所述可控硅检测电路、所述泄放电路分别与LED调光电路的整流电路的输出端正极和所述控制电路电性连接；

所述线网检测电路，用于检测所述整流电路的输出端正极的电压的占空比，并反馈表征所述占空比大小的线网表征信号至所述控制电路；

所述可控硅检测电路，用于在检测到所述LED调光电路接入可控硅时，反馈表征所述LED调光电路接入可控硅的可控硅表征信号至所述控制电路；

所述控制电路，用于：

在连续N个所述线网表征信号的周期内连续检测到M个所述可控硅表征信号时，控制所述泄放电路导通；

在连续N个所述线网表征信号的周期内未检测到所述可控硅表征信号时，控制所述泄放电路关断。

2.如权利要求1所述的可控硅检测控制电路，其特征在于，所述控制电路还用于：

在首次检测到所述可控硅表征信号时，开始分别对检测到所述可控硅接入表征信号和所述线网表征信号的次数进行计数；

在连续N个所述线网表征信号的周期内未连续检测到所述可控硅表征信号时对所述线网表征信号和所述可控硅表征信号的计数值清零并分别重新计数，将在一个线网表征信号的周期内检测到所述可控硅表征信号的次数计为一次。

3.如权利要求1所述的可控硅检测控制电路，其特征在于，所述线网检测电路包括第一电阻、第二电阻和第一比较器；

所述第一电阻的第一端与所述整流电路的输出端正极连接，所述第一电阻的第二端、所述第二电阻的第一端和所述第一比较器的正相输入端连接，所述第一比较器的反相输入端连接第一正电源，所述第一比较器的输出端与所述控制电路电性连接，所述第二电阻的第二端接地。

4.如权利要求3所述的可控硅检测控制电路，其特征在于，所述可控硅检测电路包括第一延时单元、第二延时单元、第二比较器、第三比较器、第一电子开关管、第二电子开关管、与门和第一电容；

所述第二比较器的正向输入端连接所述第一正电源，所述第二比较器的反相输入端与所述第一电阻的第二端连接，所述第一延时单元的第一端与所述第一比较器的输出端连接，所述第一延时单元的输出端、所述第一电子开关管的受控端和所述第二延时单元的第一端互连，所述第一电子开关管的输入端连接第二正电源，所述第一电子开关管的输出端、所述第一电容的第一端、所述第二电子开关管的输入端和所述第三比较器的反相输入端互连，所述第二比较器的输出端与所述第二电子开关管的受控端连接，所述第二电子开关管的输出端和所述第一电容的第二端均接地，所述第三比较器的正相输入端与所述第一电子的第二端连接，所述第三比较器的输出端与所述与门的第一输入端连接，所述第二延时单元的第二端与所述与门的第二输入端连接，所述与门的输出端与所述控制电路电性连接。

5.如权利要求1所述的可控硅检测控制电路，其特征在于，所述泄放电路包括第一运算放大器、第三电子开关管、第三电阻和第四电阻；

所述第三电阻的第一端与所述整流电路的输出端正极连接，所述第三电阻的第二端与所述第三电子开关管的输入端连接，所述第一运算放大器的正相输入端连接第一参考电压输入端，所述第一运算放大器的反相输入端、所述第三电子开关管的输出端和所述第四电阻的第一端互连，所述第四电阻的第二端接地，所述第一运算放大器的电源端与所述控制电路电性连接。

6.如权利要求1所述的可控硅检测控制电路，其特征在于，所述控制电路包括控制器和开关电路；

所述控制器分别与所述可控硅检测电路、所述线网检测电路和所述开关电路的受控端电性连接，所述开关电路还与所述泄放电路电性连接；

所述控制器，用于：

在确定所述LED调光电路接入所述可控硅时输出第一控制信号控制所述开关电路导通，以使所述泄放电路接入电源导通；

在确定所述LED调光电路未接入所述可控硅时输出第二控制信号控制所述开关电路关断电源，以使所述泄放电路截止。

7.如权利要求6所述的可控硅检测控制电路，其特征在于，所述控制器包括可控硅计数单元、线网计数单元和处理器；

所述可控硅计数单元分别与所述处理器和所述可控硅检测电路电性连接，所述线网计数单元分别与所述处理器和所述线网检测电路电性连接。

8.如权利要求6所述的可控硅检测控制电路，其特征在于，所述开关电路包括第五电阻和第四电子开关管；

所述第五电阻的第一端和所述第四电子开关管的输入端连接并输入第三正电源，所述第五电阻的第二端和所述第四电子开关管的受控端连接并与所述控制器连接，所述第四电子开关管的输出端与所述泄放电路的受控端连接。

9.一种LED调光模组，其特征在于，包括LED调光电路和如权利要求1～8任一项所述的可控硅检测控制电路，所述LED调光电路至少包括整流电路和恒流驱动电路，所述整流电路、LED灯组和所述恒流驱动电路依次电性连接。

10.如权利要求9所述的LED调光模组，其特征在于，所述恒流驱动电路包括第五电子开关管、第四比较器和第六电阻；

所述第五电子开关管的输入端与所述LED模组电性连接，所述第五电子开关管的输出端、所述第四比较器的反相输入端和所述第六电阻的第一端连接，所述第四比较器的正相输入端连接第二参考电压输入端，所述第四比较器的输出端与所述第五电子开关管的受控端连接，所述第六电阻的第二端接地。

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