CN211928097U - 电路板检测系统及设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开一种电路板检测系统及设备，其中，所述电路板检测系统包括：微处理单元，测试针盘，与所述微处理单元电连接，所述测试针盘具有检测探针，以供待测电路板连接；采集装置，与所述微处理单元电连接，用于采集待测电路板的参数信息；测试电路，与所述微处理单元电连接，用于根据参数信息对待检测电路板进行检测；存储器，与所述微处理单元电连接，存储测试电路的检测结果。本实用新型技术方案有利于对电路板检测结果的追溯。

Description

电路板检测系统及设备

技术领域

本实用新型涉及电路板检测技术领域，特别涉及一种电路板检测系统及设备。

背景技术

电路板在出厂前，需要检测电路板的功能是否与设计一致。现有的检测系统，只能检测给出电路板是否合格的判断结果，无法给出检测的详细内容，无法得知不合格的具体的原因。

实用新型内容

本实用新型的主要目的是提供一种电路板检测系统，旨在得到具体的检测结果。

为实现上述目的，本实用新型提出的电路板检测系统，包括：

微处理单元，

测试针盘，与所述微处理单元电连接，所述测试针盘具有检测探针，以供待测电路板连接；

采集装置，与所述微处理单元电连接，用于采集待测电路板的参数信息；

测试电路，与所述微处理单元电连接，用于根据参数信息对待检测电路板进行检测；

存储器，与所述微处理单元电连接，存储测试电路的检测结果。

可选地，所述电路板检测系统还包括电源适配器，第一继电器和第二继电器；

所述测试电路包括电源测试子电路，所述微处理单元包括辅助微处理器；

所述辅助微处理器分别与电源适配器、第一继电器和第二继电器电连接，所述第一继电器通过检测探针与待测电路板的电源连接，第二继电器通过检测探针与待测电路板的开机按键电连接。

可选地，所述电路板检测系统还包括隔离运放器；

所述测试电路包括电压测试子电路，所述微处理单元包括测试微处理器；

所述隔离运放器的输出端与所述测试微处理器电连接，所述隔离运放器的输入端通过检测探针与待测电路板的微处理器电连接。

可选地，所述电路板检测系统还包括烧录器，所述测试电路包括烧录测试子电路，所述烧录器通过检测探针与待检测电路板的ARM处理器和现场可编程门阵列连接。

可选地，待测电路板具有电机驱动电路，电路板检测系统包括编码器电路；电机驱动电路和编码器电路通过检测探针连接，且与待测电路板的电机连接；

所述微处理单元包括测试微处理器和辅助微处理器，所述测试微处理器与电机驱动电路连接，所述编码器电路与辅助微处理器连接。

可选地，所述微处理单元包括测试微处理器，所述测试微处理器通过检测探针分别与待测电路板的微处理器的信号输入口和信号输出口连接。

可选地，所述测试电路包括通信测试子电路，所述通信测试子电路通过检测探针与待测电路板的通信模块电连接。

可选地，所述电路板检测系统包括显示屏，所述显示屏与所述微处理单元电连接。

可选地，所述采集装置包括扫码器，所述扫码器用于识别待测电路板上的参数条形码。

本实用新型还提出一种电路板检测设备，包括电路板检测系统，电路板检测系统，包括：

微处理单元，

测试针盘，与所述微处理单元电连接，所述测试针盘具有检测探针，以供待测电路板连接；

采集装置，与所述微处理单元电连接，用于采集待测电路板的参数信息；

测试电路，与所述微处理单元电连接，用于根据参数信息对待检测电路板进行检测；

存储器，与所述微处理单元电连接，存储测试电路的检测结果。

本实用新型技术方案中，通过采集装置采集待测电路板的信息，并发送给微处理单元，微处理单元接收采集装置采集的电路板参数信息，并根据参数信息读取对应的测试配置表，再通过测试电路对测试配置表中的测试项目进行测试，并将测试的结果形成结果配置表，将结果配置表存储在存储器中；如此，不仅仅使得电路板的测试非常全面，并且还存储了结果配置表，也即记录了每一检测项的结果，待测电路板为良品或者次品，都可以从结果配置表中找到根源，以便设计人员统计和掌握电路板的情况，可以有针对性的进行改进，也便于长时间后对电路板检测结果的追溯。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本实用新型电路板检测系统一实施例的示意图；

图2为本实用新型电路板检测系统一实施例的原理图；

图3为本实用新型电路板检测系统的电压检测的原理示意图；

图4为本实用新型电路板检测系统的电压电压检测的原理示意图；

图5为本实用新型电路板检测系统的烧录检测的原理示意图；

图6为本实用新型电路板检测系统的电机驱动检测的原理示意图；

图7为本实用新型电路板检测设备的输入输出检测的原理示意图。

附图标号说明：

本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

需要说明，本实用新型实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，在本实用新型中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，全文中的“和/或”包括三个方案，以A和/或B为例，包括A技术方案、B技术方案，以及A和B同时满足的技术方案；另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本实用新型要求的保护范围之内。

本实用新型主要提出一种电路板检测系统，主要应用于电路板的检测，旨在确认电路板的功能与设计是否一致。

以下将主要描述电路板检测系统的具体结构。

参照图1至图2，在本实用新型实施例中，该电路板检测系统包括：

微处理单元100，

测试针盘200，与所述微处理单元100电连接，所述测试针盘200具有检测探针210，以供待测电路板700连接；

采集装置600，与所述微处理单元100电连接，用于采集待测电路板700 的参数信息；

测试电路300，与所述微处理单元100电连接，用于根据参数信息对待检测电路板进行检测；

存储器500，与所述微处理单元100电连接，存储测试电路300的检测结果。

具体地，本实施例中，微处理单元100通过测试针盘200与待测试电路 300板电连接，并且与采集装置600、测试电路300和存储器500电连接。在测试电路300板的过程中，采集装置600首先获取待测电路板700的信息(型号、类型等)，微处理单元100接收采集装置600采集的电路板参数信息，并根据参数信息获取对应的测试配置表，再通过测试电路300对测试配置表中的测试项目进行测试，并将测试的结果形成结果配置表，将结果配置表存储在存储器500中。其中，微处理单元100，又称单片微型计算机(Single ChipMicrocomputer)或者单片机，是把中央处理器(Central Process Unit；CPU)的频率与规格做适当缩减，并将内存(memory)、计数器(Timer)、USB、A/D转换、 UART、PLC、DMA等周边接口，甚至LCD驱动电路都整合在单一芯片上，形成芯片级的计算机，为不同的应用场合做不同组合控制。不同型号或者不同类型的待测电路板700，所对应的电压或电流大小不同，微处理单元100根据大小不同的电压或者电流，触发不同类型的测试配置表。测试配置表可以预存在存储器500中，微处理单元100从存储器500中读取并触发测试配置表。

其中，采集装置600获取待测电路板700信息的方式有很多，例如通过摄像头获取电路板的型号，通过扫描器扫描待测电路板700上的信息码，信息码可以为二维码，也可以为信息条形码。具体的，举一个例子进行说明，所述采集装置600包括扫码器，所述扫码器用于识别待测电路板700上的参数条形码。

本实施例中，通过采集装置600采集待测电路板700的信息，并发送给微处理单元100，微处理单元100接收采集装置600采集的电路板参数信息，并根据参数信息读取对应的测试配置表，再通过测试电路300对测试配置表中的测试项目进行测试，并将测试的结果形成结果配置表，将结果配置表存储在存储器500中；如此，不仅仅使得电路板的测试非常全面，并且还存储了结果配置表，也即记录了每一检测项的结果，待测电路板700为良品或者次品，都可以从结果配置表中找到根源，以便设计人员统计和掌握电路板的情况，可以有针对性的进行改进，也便于长时间后对电路板检测结果的追溯。

电路板检测系统可以检测的内容有很多，例如电源保护检测、Flash检测、 A/D检测(可以多路，例如12路)、I/O继电器输出检测(可以多路，例如8 路)、I/O输入检测(可以多路，例如10路)、通信接口检测、步进电机电路检测、编码器电路760检测、软件烧录检测等。

下面分别介绍各个单元的检测过程。

关于电源的检测，参照图3：

所述电路板检测系统还包括电源适配器810，第一继电器130和第二继电器140；所述测试电路300包括电源测试子电路，所述微处理单元100包括辅助微处理器120；所述辅助微处理器120分别与电源适配器810、第一继电器 130和第二继电器140电连接，所述第一继电器130通过检测探针210与待测电路板电源710连接，第二继电器140通过检测探针210与待测电路板700 的开机按键710电连接。

电源适配器810为整个测试系统及待测电路板700提供电源，船开关820 对测试系统进行上电和下电控制。在测试时，设计输入12V、7A，第一继电器130和第二继电器140通过检测探针210为待测电路板700提供电源。

关于电压的检测，参照图4：

所述电路板检测系统还包括隔离运放器830；所述测试电路300包括电压测试子电路，所述微处理单元100包括测试微处理器110；所述隔离运放器 830的输出端与所述测试微处理器110电连接，所述隔离运放器830的输入端通过检测探针210与待测电路板700的微处理器电连接。

待测电路板700的电压测试点直流12V、直流5V、直流3.3V，使用测试微处理器110的电压检测接口与待测电路板微处理器730电连接。其中，隔离运放器830可以用于隔离危险(高)电压、隔离危险(大)电流、隔离接地系统。实现隔离运放的耦合方式有很多，如使用变压器耦合的，其利用的是磁场；也可以利用小容值的高压电容耦合，其利用的是电场；还可以通过光隔离耦合，光隔离耦合是利用LED和光电池，利用光来隔离，光属于电磁辐射的一种。

关于烧录检测，参照图5：

所述电路板检测系统还包括烧录器840，所述测试电路300包括烧录测试子电路，所述烧录器840通过检测探针210与待检测电路板的ARM处理器 740和现场可编程门阵列750连接。烧录器840通过仿真方式对待测电路板 700进行仿真模式烧录测试，首先使用探针连接待测电路板700的ARM处理器740进行烧录。完成后，再对现场可编程门阵列750(FPGA)进行烧录，烧录完成后，系统自动启动。

关于电机驱动检测，参照图6：

待测电路板700具有电机驱动电路770，电路板检测系统包括编码器电路 760；电机驱动电路770和编码器电路760通过检测探针210连接，且与待测电路板700的电机连接；所述微处理单元100包括测试微处理器110和辅助微处理器120，所述测试微处理器110与电机驱动电路770连接，所述编码器电路760与辅助微处理器120连接。

本实施例中，电机驱动电路770和编码器电路760通过探针短接，测试微处理器110通过串口给待测电路板700发送测试命令，待测电路板700通过电机驱动电路770使其电机转动，并且使用编码器读值，完成后将测试值传送给辅助微处理器120验证功能是否完整。编码器可以属于待测电路板700，也可以属于辅助微处理。辅助微处理器120通过Usart(Universal Synchronous/Asynchronous Receiver/Transmitter通用同步/异步串行接收/发送器)与待测电路板700通讯连接。

关于输入和输出的检测，参照图7：

所述微处理单元100包括测试微处理器110，所述测试微处理器110通过检测探针210分别与待测电路板700的微处理器的信号输入口和信号输出口连接。测试微处理器110发送测试命令，控制待测电路板700的I/O输入输出，验证I/O功能是否完整。

在一些实施例中，所述测试电路300包括通信测试子电路，所述通信测试子电路通过检测探针210与待测电路板700的通信模块电连接。通信模块可以涉及很多的通讯方式和内容，例如Type-C、FLASH、USART等。通信模块的相关接口，分别由通信测试子电路进行检测，以验证通信功能是否完整。

在一些实施例中，为了使得整个测试过程可视化，并且便于操作人员及时的观察，参照图1，所述电路板检测系统包括显示屏400，所述显示屏400 与所述微处理单元100电连接。显示屏400显示测试配置表和结果配置表，将检测结果直观的呈现给操作者。

本实用新型还提出一种电路板检测设备，该电路板检测设备包括电路板检测系统，该电路板检测系统的具体结构参照上述实施例，由于本电路板检测设备采用了上述所有实施例的全部技术方案，因此至少具有上述实施例的技术方案所带来的所有有益效果，在此不再一一赘述。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是在本实用新型的实用新型构思下，利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种电路板检测系统，其特征在于，包括：

微处理单元，

测试针盘，与所述微处理单元电连接，所述测试针盘具有检测探针，以供待测电路板连接；

采集装置，与所述微处理单元电连接，用于采集待测电路板的参数信息；

测试电路，与所述微处理单元电连接，用于根据参数信息对待检测电路板进行检测；

存储器，与所述微处理单元电连接，存储测试电路的检测结果。

2.根据权利要求1所述的电路板检测系统，其特征在于，所述电路板检测系统还包括电源适配器，第一继电器和第二继电器；

所述测试电路包括电源测试子电路，所述微处理单元包括辅助微处理器；

所述辅助微处理器分别与电源适配器、第一继电器和第二继电器电连接，所述第一继电器通过检测探针与待测电路板的电源连接，第二继电器通过检测探针与待测电路板的开机按键电连接。

3.根据权利要求1所述的电路板检测系统，其特征在于，所述电路板检测系统还包括隔离运放器；

所述测试电路包括电压测试子电路，所述微处理单元包括测试微处理器；

所述隔离运放器的输出端与所述测试微处理器电连接，所述隔离运放器的输入端通过检测探针与待测电路板的微处理器电连接。

4.根据权利要求1所述的电路板检测系统，其特征在于，所述电路板检测系统还包括烧录器，所述测试电路包括烧录测试子电路，所述烧录器通过检测探针与待检测电路板的ARM处理器和现场可编程门阵列连接。

5.根据权利要求1所述的电路板检测系统，其特征在于，待测电路板具有电机驱动电路，电路板检测系统包括编码器电路；电机驱动电路和编码器电路通过检测探针连接，且与待测电路板的电机连接；

所述微处理单元包括测试微处理器和辅助微处理器，所述测试微处理器与电机驱动电路连接，所述编码器电路与辅助微处理器连接。

6.根据权利要求1所述的电路板检测系统，其特征在于，所述微处理单元包括测试微处理器，所述测试微处理器通过检测探针分别与待测电路板的微处理器的信号输入口和信号输出口连接。

7.根据权利要求1所述的电路板检测系统，其特征在于，所述测试电路包括通信测试子电路，所述通信测试子电路通过检测探针与待测电路板的通信模块电连接。

8.根据权利要求1所述的电路板检测系统，其特征在于，所述电路板检测系统包括显示屏，所述显示屏与所述微处理单元电连接。

9.根据权利要求1至8中任意一项所述的电路板检测系统，其特征在于，所述采集装置包括扫码器，所述扫码器用于识别待测电路板上的参数条形码。

10.一种电路板检测设备，其特征在于，包括如权利要求1至9中任意一项所述的电路板检测系统。

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