一种快慢轴方向检测装置
技术领域
本实用新型涉及四分之一波片的检测领域,具体涉及一种快慢轴方向检测装置。
背景技术
四分之一波片安装在光芯片上形成一产品,但是容易发送四分之一波片装错方向。现有测量四分之一波片的仪器多用于测量自由空间大尺寸的波片,其功能复杂,成本高昂,操作麻烦,体积大,不适于生产线上进行对四分之一波片的规模化检测。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题在于,针对现有技术的上述缺陷,提供一种快慢轴方向检测装置,解决现有测量四分之一波片的仪器多用于测量自由空间大尺寸的波片,其功能复杂,成本高昂,操作麻烦,体积大,不适于生产线上进行对四分之一波片的规模化检测的问题。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:提供一种快慢轴方向检测装置,用于检测光芯片上待检测四分之一波片的快慢轴方向,包括依次设置的偏振光输入模块、偏振片和光检测模块,所述待检测四分之一波片设置在偏振光输入模块和偏振片之间;其中,所述偏振光输入模块产生圆偏振光并入射至待检测四分之一波片,形成一偏振方向的线偏光并入射至偏振片,所述偏振片只允许通过经过快慢轴方向安装正确或安装错误的待检测四分之一波片所形成的线偏光,并被光检测模块接收。
其中,较佳方案是:所述处理器和存储器,所述存储器存储有表示安装正确的第一情况和表示安装不正确的第二情况,所述第一情况和第二情况匹配光检测模块接收到光信号或接收不到光信号,所述处理器与光检测模块连接,并根据存储器的存储信息判断所述待检测四分之一波片安装正确与否。
其中,较佳方案是:所述偏振光输入模块包括保偏激光器、保偏光纤和输出四分之一波片,所述保偏激光器提供线偏振的光源并经过保偏光纤的传输,通过输出四分之一波片形成圆偏振光。
其中,较佳方案是:所述保偏光纤的插芯表面贴装在输出四分之一波片上。
其中,较佳方案是:所述输出四分之一波片的快慢轴方向与保偏光纤的熊猫眼方向成45度角。
其中,较佳方案是:所述检测四分之一波片在安装正确时的快慢轴方向与输出四分之一波片的快慢轴方向垂直,且所述偏振片只允许通过快慢轴方向与保偏激光器输出光源的快慢轴方向相同的线偏光;或者,所述检测四分之一波片在安装正确时的快慢轴方向与输出四分之一波片的快慢轴方向一致,且所述偏振片只允许通过快慢轴方向与保偏激光器输出光源的快慢轴方向垂直的线偏光。
其中,较佳方案是:所述输出四分之一波片与待检测四分之一波片之间设有准直透镜。
其中,较佳方案是:所述保偏激光器为1550nm保偏激光器。
其中,较佳方案是:所述光检测模块包括光探测器或倍频感光片。
其中,较佳方案是:所述光芯片为平面光导波芯片。
本实用新型的有益效果在于,与现有技术相比,本实用新型通过一种快慢轴方向检测装置,只为了快慢轴方向的检测,识别出待检测四分之一波片安装方向是否正确,抛弃其他功能,使功能更单一,满足用户的特定需求;同时,操作更简单,人力成本低,整个装置结构也简单,成本低,后期维护难度低,适用于大规模推广使用;以及,专用于特定设置的检测物,即检测光芯片上待检测四分之一波片,只有正确安装和错误安装,检测成功率非常高。
附图说明
下面将结合附图及实施例对本实用新型作进一步说明,附图中:
图1是本实用新型快慢轴方向检测装置的结构示意图;
图2是本实用新型基于处理器的快慢轴方向检测装置的结构示意图;
图3是本实用新型偏振光输入模块的结构示意图;
图4是本实用新型快慢轴方向检测装置的光路实施例一的示意图;
图5是本实用新型快慢轴方向检测装置的光路实施例一的示意图。
具体实施方式
现结合附图,对本实用新型的较佳实施例作详细说明。
如图1所示,本实用新型提供快慢轴方向检测装置的优选实施例。
一种快慢轴方向检测装置,用于检测光芯片210上待检测四分之一波片220的快慢轴方向,包括依次设置的偏振光输入模块110、偏振片120和光检测模块130,所述待检测四分之一波片220设置在偏振光输入模块110和偏振片120之间;其中,所述偏振光输入模块110产生圆偏振光并入射至待检测四分之一波片220,形成一偏振方向的线偏光并入射至偏振片120,所述偏振片120只允许通过经过快慢轴方向安装正确或安装错误的待检测四分之一波片220所形成的线偏光,并被光检测模块130接收。
通过待检测四分之一波片220改变输出的偏振光偏振态,使经过正确安装的待检测四分之一波片220和经过错误安装的待检测四分之一波片220的线偏光的快慢轴方向是不同的,通过偏振片120只允许通过一个快慢轴方向的线偏光,从而识别出所经过待检测四分之一波片220安装正确与否。只为了快慢轴方向的检测,即识别出待检测四分之一波片220安装方向是否正确,抛弃其他功能,使功能更单一,满足用户的特定需求;同时,操作更简单,人力成本低,整个装置结构也简单,成本低,后期维护难度低,适用于大规模推广使用;以及,专用于特定设置的检测物,即检测光芯片210上待检测四分之一波片220,只有正确安装和错误安装,检测成功率非常高。
在本实施例中,并参考图2,所述处理器140和存储器,所述存储器存储有表示安装正确的第一情况和表示安装不正确的第二情况,所述第一情况和第二情况匹配光检测模块130接收到光信号或接收不到光信号,所述处理器140与光检测模块130连接,并根据存储器的存储信息判断所述待检测四分之一波片220安装正确与否。
具体地,提供一优选方案。所述偏振片120只允许通过经过快慢轴方向安装正确的待检测四分之一波片220所形成的线偏光,所述光检测模块130与处理器140连接,当光检测模块130检测到光信号,发送检测信号至处理器140,当处理器140在预设时间内接收到检测信号,查询存储器,并获取与检测信号匹配对应的第一情况,即知晓待检测四分之一波片220安装正确。后续,可通过指示灯、显示器或功放等交互功能模块,让使用者知晓待检测四分之一波片220安装正确。整个装置实现智能识别,且整体结构简单,制造和维护均简单,且成本低,检测效率高,是一套性价比非常高的检测装置。
在本实施例中,所述光检测模块130包括光探测器或倍频感光片。光探测器原理是由辐射引起被照射材料电导率发生改变,从而获取是否接收到光信号;基于光电效应,热探测器基于材料吸收了光辐射能量后温度升高,从而改变了它的电学性能,它区别于光子探测器的最大特点是对光辐射的波长无选择性,其适用于自动化作业。倍频感光片是可被外部观察,通过倍频感光片上的光亮度可获知是否接收到光信号,更适用于手动作业,当然可结合图像处理设备使用。
在本实施例中,所述光芯片210为平面光导波芯片。平面光导波芯片可用于相干接收机内,也可以用于AWG等其他波分复用器件内。
如图3所示,本实用新型提供快慢轴方向检测装置的优选实施例。
所述偏振光输入模块110包括保偏激光器111、保偏光纤112和输出四分之一波片114,所述保偏激光器111提供线偏振的光源并经过保偏。
光纤的传输,通过输出四分之一波片114形成圆偏振光。
具体的,保偏激光器111内产生线偏振的光源,保偏光纤112传输线偏振光,保偏光纤112可以解决偏振态变化的问题,但它并不能消除光纤中的双折射现象,反而是在通过光纤几何尺寸上的设计,产生更强烈的双折射效应,来消除应力对入射光偏振态的影响。因此,所述线偏振光经过输出四分之一波片114形成圆偏振光,入射至待检测四分之一波片220上。
在本实施例中,所述保偏光纤112的插芯113表面贴装在输出四分之一波片114上。插芯113是连接器,是可拆卸、分类的光纤活动连接器,使光通道的连接、转换调度更加灵活,可供光通系统的调试与维护。将保偏光纤112的插芯113表面贴装在输出四分之一波片114上,一方面是使整体结构更紧凑,另一方面使保偏光纤112与输出四分之一波片114一体化设置,光路传输更稳定。
优选地,所述输出四分之一波片114的快慢轴方向与保偏光纤112的熊猫眼方向成45度角。其目的是与光芯片210上待检测四分之一波片220配合,形成入射光检测模块130的线偏光的快慢轴方向具有更大差异,提高整个装置的检测结果精确程度。具体的,所述待检测四分之一波片220在安装正确时的快慢轴方向与输出四分之一波片114的快慢轴方向垂直,且所述偏振片120只允许通过快慢轴方向与保偏激光器111输出光源的快慢轴方向相同的线偏光;或者,所述待检测四分之一波片220在安装正确时的快慢轴方向与输出四分之一波片114的快慢轴方向一致,且所述偏振片120只允许通过快慢轴方向与保偏激光器111输出光源的快慢轴方向垂直的线偏光。
更具体地,可参考图4和图5,所述输出四分之一波片114的快慢轴方向与保偏光纤112的熊猫眼方向成45度角,是顺时针的45度角,所述待检测四分之一波片220在安装正确时的快慢轴方向与输出四分之一波片114的快慢轴方向垂直,且入射至输出四分之一波片114的线偏光310为垂直方向的,形成圆偏振光320,经过待检测四分之一波片220输出的线偏光330也为垂直方向的;以及,所述待检测四分之一波片220在安装错误时的快慢轴方向与输出四分之一波片114的快慢轴方向一致,入射至输出四分之一波片114的线偏光310为垂直方向的,形成圆偏振光320,经过待检测四分之一波片220输出的线偏光340为水平方向的。以及,偏振片120至允许通过为垂直方向的线偏光。
在本实施例中,所述输出四分之一波片114与待检测四分之一波片220之间设有准直透镜150。准直透镜150是指能将来自孔径栏中每一点的光线变成一束平行的准直光柱的仪器,若输出四分之一波片114和待检测四分之一波片220足够靠近,可不需要设置准直透镜150。
在本实施例中,所述保偏激光器111为1550nm保偏激光器。具备以下几个优势:1、高功率、短脉冲;2、高光束质量;3、可靠性高、价格低廉;4、体积大小。
以上所述者,仅为本实用新型最佳实施例而已,并非用于限制本实用新型的范围,凡依本实用新型申请专利范围所作的等效变化或修饰,皆为本实用新型所涵盖。