CN211740535U - 一种用于长管道非接触涂层测漏的检测装置 - Google Patents
一种用于长管道非接触涂层测漏的检测装置 Download PDFInfo
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Abstract
本实用新型涉及管道涂层侧漏检测技术领域，具体涉及一种用于长管道非接触涂层测漏的检测装置。为解决现有技术无法检测到管道内部的防腐涂层侧漏的问题。本实用新型采用的技术方案包括电源模块、高压模块、检测模块、接口电路模块、CPU主控模块、存储模块、线性光耦驱动模块和显示模块；所述的电源模块、高压模块、检测模块、接口电路模块、存储模块、线性光耦驱动模块和显示模块分别与CPU主控模块连接，所述的电源模块、检测模块分别与高压模块连接，所述CPU主控模块的型号为STM32F030K。
Description
技术领域
本实用新型涉及管道涂层侧漏检测技术领域，具体涉及一种用于长管道非接触涂层测漏的检测装置。
背景技术
近些年对长输管线的完整性提出了更高的要求，尤其是针对输送石油天然气的管线。这类管线在建设施工前就要求对单根管道涂覆内防腐层，现场焊接施工时还将进行焊缝处内防腐补口，保证长输管线的内防腐层是一个连续整体。如若内涂层存在裂隙和针孔等缺陷，会导致钢管本体的腐蚀，大大缩减长输管线的使用寿命。管道内防腐技术的实施与发展，已大大提升石油管道的寿命，减轻由于介质腐蚀带来的一系列经济损失，对减少原油泄漏造成的环境严重污染起到了非常重要的作用。因此，对于管道内防腐技术的监控与把关也就尤为重要。
管道内防腐涂层漏点的检测，目前的检测方法是在管道两端10米范围内利用电火花拖线的方式进行检测，但是对于管道内部内防腐工艺的质量没有合适的检测装置。
实用新型内容
有鉴于此，为解决现有技术无法检测到管道内部的防腐涂层侧漏的问题，本实用新型提供一种用于长管道非接触涂层测漏的检测装置。
为解决现有技术存在的问题，本实用新型的技术方案是：一种用于长管道非接触涂层测漏的检测装置，其特征在于：包括电源模块、高压模块、检测模块、接口电路模块、CPU主控模块、存储模块、线性光耦驱动模块和显示模块；
所述的电源模块、高压模块、检测模块、接口电路模块、存储模块、线性光耦驱动模块和显示模块分别与CPU主控模块连接，所述的电源模块、检测模块分别与高压模块连接。
进一步，CPU主控模块的型号为STM32F030K。
与现有技术相比，本实用新型的优点如下：
1、本实用新型实现了管道全程的漏点检测，为内挤涂工艺的可靠性实施提供了检测依据。
2、本实用新型实现了长距离管道检测的数据传输问题，CPU主控模块在检测的过程中把数据保存至存储模块，检测完成后通过USB数据线下载存储模块的数据后通过接口电路传输给电脑系统。
3、本实用新型通过高压模块把电源模块的低电压升至3kV~20kV的高压后以输入到检测模块中，通过高压击穿的原理检测管道涂层中存在的漏点。
附图说明：
图1为本实用新型的结构框图；
图2为系统整体组装示意图；
图3为本实用新型的电路图；
图中：1、电源模块，2、高压模块，3、检测模块，4、接口电路模块，5、CPU主控模块，6、存储模块，7、线性光耦驱动模块，8、显示模块。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
本实施例提供一种用于长管道非接触涂层测漏的检测装置，如图1所示，包括电源模块1、高压模块2、检测模块3、接口电路模块4、CPU主控模块5、存储模块6、线性光耦驱动模块7和显示模块8；
上述电源模块1、高压模块2、检测模块3、接口电路模块4、存储模块6、线性光耦驱动模块7和显示模块8分别与CPU主控模块5连接，所述的电源模块1、检测模块3分别与高压模块2连接。
上述CPU主控模块5的型号为STM32F030K。
本实用新型的工作过程：
参见图2，一种用于供长管道非接触涂层测漏的系统装置，用封气皮碗作为动力，依靠空压机推动本实用新型在管道中前进。检测前先在被检测管道两端安装发射器和接收器，通过发射器将本实用新型放入被检测管道中，用空压机推动本实用新型在管道内以2000m/h速度行进。在检测过程中，电池输出64V电压，高压模块2通过线性光耦驱动模块7后将电压升至3kV~20kV的高压输入给金属刷，同时电源模块1给CPU主控模块5和其他模块提供所需的工作电压，当涂层符合标准要求时，因两个金属刷之间涂层的绝缘作用而使得高压模块2电压幅值很大但电流很小；当存在漏点或者漏涂时，高压金属刷处于涂层损坏处时，因绝缘层厚度即两个金属刷电极之间的绝缘层厚度之和不足而使得金属刷上的高压在损坏处形成回路产生放电现象，放电时高压模块2的电压幅度突然下降，当检测模块3检测到电压突然变化，即表示该处涂层受损。CPU主控模块5经过内部处理后把缺陷信息和对应的里程信息储存到存储模块6中。
待检测完成后，通过USB数据线，上位机发送传输指令给数控核心模块5，数控核心模块5访问存储模块6并将数据传输给上位机系统。上位机系统经过内部的处理，并经过计算刻度，将管道的涂层漏点通过可视化曲线呈现出来。
参见图3：CPU主控模块5主要有电源模块1供电，主要负责控制线性光耦驱动模块7完成高压模块2高压的产生，通过检测模块3完成涂层漏点的检查，把检测到的缺陷信息存到到存储模块6中，最好通过显示模块8显示出来，并通过接口电路模块4发送给电脑系统。
以上所述仅是本实用新型的优选实施例，并非用于限定本实用新型的保护范围，应当指出，对本技术领域的普通技术人员在不脱离本实用新型原理的前提下，对其进行若干改进与润饰，均应视为本实用新型的保护范围。
Claims (2)
1.一种用于长管道非接触涂层测漏的检测装置，其特征在于：包括电源模块（1）、高压模块（2）、检测模块（3）、接口电路模块（4）、CPU主控模块（5）、存储模块（6）、线性光耦驱动模块（7）和显示模块（8）；
所述的电源模块（1）、高压模块（2）、检测模块（3）、接口电路模块（4）、存储模块（6）、线性光耦驱动模块（7）和显示模块（8）分别与CPU主控模块（5）连接，所述的电源模块（1）、检测模块（3）分别与高压模块（2）连接。
2.根据权利要求1所述的一种用于长管道非接触涂层测漏的检测装置，其特征在于：所述的CPU主控模块（5）的型号为STM32F030K。
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Cited By (2)
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