CN211698017U - 一种可控硅调光器检测装置、电路 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种可控硅调光器检测装置、电路，所述可控硅调光器检测电路包括整流桥、泄放模块、检测模块和负载；整流桥输出线电压至泄放模块和负载；泄放模块根据线电压输出采样信号至检测模块，并在线网中设置有可控硅调光器时为其提供泄放电流；检测模块根据采样信号与预设信号确定线网未设置可控硅调光器时，控制泄放模块关断，当确定线网有设置可控硅调光器时，控制泄放模块持续导通，采样信号的电压在线电压大于泄放模块的启动电压时恒定，在线电压小于所述启动电压时随线电压减小，进而实现了检测可控硅调光器的有无，以达到节约能耗的目的；同时，可有效避免检测结果受线网波动的影响并降低了成本。

Description

一种可控硅调光器检测装置、电路

技术领域

本实用新型涉及LED照明技术领域，特别涉及一种可控硅调光器检测装置、电路。

背景技术

随着LED照明的普及，LED灯逐渐替换白炽灯，白炽灯的使用环境中有些有可控硅调光器，用于调整白炽灯的亮度，有些无可控硅调光器。当有可控硅调光器时，LED灯需额外增加泄放电路，用于产生泄放电流来维持可控硅调光器正常工作。当无可控硅调光器时，如果泄放电路中的泄放电流依旧存在，将会降低灯具的效率，增加不必要的能源损耗。这就需要可控硅调光器检测电路，用于检测用电环境中是否接入可控硅调光器，根据检测结果来开启或关断泄放电流。

传统可控硅调光器检测方法中均需要使用分压电阻来采样整流桥输出的线电压，通过计算采样结果来判断线网中是否有可控硅调光器，但是现有的检测方法中存在以下问题：首先，LED灯板使用的PCB为单层板，分压电阻造成高成本及PCB布线困难；其次，高压用电环境及功耗原因，分压电阻取值大，大阻值及高压都不易于芯片集成；再次，芯片需增加一个PAD与分压电阻连接，成本增加，PCB布线困难；最后，随着线网电压的变化，容易引起误判，导致不该开启泄放电流时开启，浪费能源，该开启时不开启，导致可控硅调光器工作不正常，引起LED灯闪烁。

因而现有技术还有待改进和提高。

实用新型内容

鉴于上述现有技术的不足之处，本实用新型的目的在于提供一种可控硅调光器检测装置、电路，能够检测可控硅调光器的有无，相应开启或关断泄放电流，达到节约能耗的目的；同时还能够有效避免检测结果受线网波动的影响；可集成，更容易走线，降低了成本。

为了达到上述目的，本实用新型采取了以下技术方案：

一种可控硅调光器检测电路，包括整流桥、泄放模块、检测模块和负载；所述整流桥用于将输入的交流电整流后输出线电压至所述泄放模块和所述负载；所述泄放模块用于根据所述线电压输出采样信号至所述检测模块，并在线网中设置有可控硅调光器时为所述可控硅调光器提供泄放电流；所述检测模块用于根据所述采样信号与预设信号确定所述线网设置有可控硅调光器时，控制所述泄放模块持续导通，当所述线网未设置所述可控硅调光器时，控制所述泄放模块关断，所述采样信号的电压在所述线电压大于所述泄放模块的启动电压时恒定，在所述线电压小于所述启动电压时随所述线电压减小。

所述的可控硅调光器检测电路中，所述检测模块包括比较器、计时器和判断单元；所述比较器用于将所述采样信号与参考信号进行比较后输出比较信号至所述计时器，所述计时器用于对所述比较信号进行计时后输出计时信号至所述判断单元；所述判断单元用于判断出所述计时信号大于所述预设信号时，则确定所述线网未设置可控硅调光器，控制所述泄放模块关断，当判断出所述计时信号小于所述预设信号时，则确定所述线网设置有可控硅调光器，控制所述泄放模块持续导通。

所述的可控硅调光器检测电路中，所述检测模块包括比较器、计时器、判断单元和滤波单元；所述比较器用于将所述采样信号与参考信号进行比较后输出比较信号至所述判断单元；所述滤波单元用于对所述比较信号进行滤波处理；所述判断单元在所述计时器的预设计时时间内，当判断出所述比较信号大于所述预设信号时，则确定所述线网未设置可控硅调光器，控制所述泄放模块关断，当判断出所述比较信号小于所述预设信号时，则确定所述线网设置有可控硅调光器，控制所述泄放模块持续导通。

所述的可控硅调光器检测电路中，所述泄放模块包括第一运算放大器、第一MOS管、第一电阻和第一参考电压源；所述第一运算放大器的输出端连接所述第一MOS管的栅极，所述第一MOS管的源极连接所述第一电阻的一端、所述第一运算放大器的反相输入端和所述检测模块，所述第一运算放大器的正相输入端连接所述第一参考电压源的正极，所述第一电阻的另一端和所述第一参考电压源接地，所述第一MOS管的漏极连接所述整流桥。

所述的可控硅调光器检测电路中，所述负载包括LED灯串、第二MOS管、第二电阻、第二运算放大器和第二参考电压源；所述LED灯串的输入端连接所述整流桥，所述LED灯串的输出端连接所述第二MOS管的漏极，所述第二MOS管的源极连接所述第二运算放大器的反相输入端和所述第二电阻的一端，所述第二电阻的另一端和所述第二参考电压源的负极均接地；所述第二运算放大器的正相输入端连接所述第二参考电压源的正极。

所述的可控硅调光器检测电路中，所述负载包括LED灯串、第一二极管、第一电容、第二电容、第二二极管、第三电阻、电感和恒流驱动芯片；所述LED灯串的输入端、所述第二电容的一端、所述第二二极管的负极和所述第一电容的一端均连接所述第一二极管的负极，所述第一二极管的正极连接所述整流桥；所述第二二极管的正极和所述电感的一端连接所述恒流驱动芯片的第1脚，所述电感的另一端连接所述第二电容的另一端和所述LED灯串的负极；所述第一电容的另一端和所述第三电阻的一端均接地，所述第三电阻的另一端连接所述恒流驱动芯片的第2脚。

所述的可控硅调光器检测电路中，所述滤波单元包括第三电容，所述第三电容的一端连接所述比较器和所述判断单元，所述第三电容的另一端接地。

一种可控硅调光器检测装置，包括外壳，所述外壳内设置有PCB板，其特征在于，所述PCB板上设置有如上所述可控硅调光器检测电路。

相较于现有技术，本实用新型提供的一种可控硅调光器检测装置、电路，所述可控硅调光器检测电路包括整流桥、泄放模块、检测模块和负载；所述整流桥用于将输入的交流电整流后输出线电压至所述泄放模块和负载；所述泄放模块用于根据所述线电压输出采样信号至所述检测模块，并在线网中设置有可控硅调光器时为所述可控硅调光器提供泄放电流；所述检测模块用于根据所述采样信号与预设信号确定所述线网未设置可控硅调光器时，控制所述泄放模块关断，当确定所述线网设置有所述可控硅调光器时，控制所述泄放模块持续导通，其中，所述采样信号的电压在所述线电压大于所述泄放模块的启动电压时恒定，在所述线电压小于所述泄放模块的启动电压时随所述线电压减小，由此实现了检测可控硅调光器的有无，以达到节约能耗的目的；同时，可有效避免检测结果受线网波动的影响并降低了成本。

附图说明

图1为本实用新型提供的可控硅调光器检测电路的结构框图；

图2为本实用新型提供的可控硅调光器检测电路中第一实施例的电路原理图；

图3为本实用新型提供的可控硅调光器检测电路中第一实施例的线电压和采样信号的波形图；

图4为本实用新型提供的可控硅调光器检测电路中第二实施例的电路原理图；

图5为本实用新型提供的可控硅调光器检测电路中第二实施例的线电压和采样信号的波形图；

图6为本实用新型提供的可控硅调光器检测电路中第三实施例的电路原理图；

图7为本实用新型提供的可控硅调光器检测电路中第三实施例的线电压和采样信号的波形图；

图8为本实用新型提供的可控硅调光器检测电路中第四实施例的电路原理图；

图9为本实用新型提供的可控硅调光器检测电路中第五实施例的电路原理图。

具体实施方式

本实用新型的目的在于提供一种可控硅调光器检测装置、电路，能够检测可控硅调光器的有无，相应开启或关断泄放电流，达到节约能耗的目的；同时还能够有效避免检测结果受线网波动的影响；可集成，更容易走线，降低了成本。

为使本实用新型的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下参照附图并举实施例对本实用新型进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

请参阅图1，本实用新型提供的可控硅调光器检测电路，包括整流桥100、泄放模块200、检测模块300和负载400，所述整流桥100的输入端连接交流电源，所述整流桥100的输出端连接所述泄放模块200和所述负载400，所述泄放模块200还连接有所述检测模块300；其中，所述整流桥100为现有技术，因此本实施例中对所述整流桥100的具体连接关系不作赘述。

具体实施时，所述交流电源输出交流电至所述整流桥100，所述整流桥100用于将输入的交流电整流后输出线电压至所述泄放模块200和负载400，为所述负载400提供电能；上电之后，所述泄放模块200默认为导通，所述泄放电流开启，所述泄放模块200用于根据所述线电压输出采样信号至所述检测模块300，并在线网中设置有所述可控硅调光器时为所述可控硅调光器提供所述泄放电流，以便于维持所述可控硅调光器的正常工作；所述检测模块300用于根据所述采样信号与预设信号确定所述线网设置有所述可控硅调光器时，输出对应的控制信号至所述泄放模块200，以控制所述泄放模块200持续导通，由此所述泄放模块200为所述可控硅调光器持续提供泄放电流；而当确定所述线网未设置所述可控硅调光器时，输出对应的控制信号至所述泄放模块200控制所述泄放模块200关断，其中，所述采样信号的电压在所述线电压大于所述泄放模块300的启动电压时恒定，在所述线电压小于所述泄放模块300的启动电压时随所述线电压减小；由此实现了检测所述可控硅调光器的有无，相应开启或关断泄放电流，达到节约能耗的目的；同时还能够有效避免检测结果受线网波动的影响；相比于传统的检测技术，本实用新型提供的可控硅调光器检测电路可集成，更容易PCB走线，成本更低。

进一步地，请参阅图2，所述泄放模块200包括第一运算放大器OP1、第一MOS管Q1、第一电阻R1和第一参考电压源DC1；所述第一运算放大器OP1的输出端连接所述第一MOS管Q1的栅极，所述第一MOS管Q1的源极连接所述第一电阻R1的一端、所述第一运算放大器OP1的反相输入端和所述检测模块300，所述第一运算放大器OP1的正相输入端连接所述第一参考电压源DC1的正极，所述第一电阻R1的另一端和所述第一参考电压源DC1接地，所述第一MOS管Q1的漏极连接所述整流桥100，通过所述泄放模块200直接获取采样信号，可省去采样电阻和芯片采样PAD。

具体地，所述泄放模块200为一恒流源，串接在线电压和地之间，用于产生恒定的泄放电流，接收所述检测模块300输出的控制信号来打开或关断泄放电流，并输出所述采样信号至所述检测模块300；当所述线电压大于所述恒流源的启动电压时，所述恒流源的泄放电流恒定，所述采样信号的电压恒定；当所述线电压小于所述恒流源的启动电压时，泄放电流减小，所述采样信号的电压也随之减小；线网接入所述可控硅调光器时，所述泄放电流的持续时间短，所述采样信号的电压恒定时间短，线网未接入所述可控硅调光器时，所述泄放电流的持续时间长，所述采样信号的电压恒定时间长；由此利用所述泄放模块200本身具有的恒流源及恒流电阻的结构产生采样信号，通过检测该采样信号，进而得到所述泄放电流在一个或多个线电压周期内的持续时间，通过该电流的持续时间可以精确判断线网中是否接入了所述可控硅调光器，与传统检测方法相比，所述泄放模块200直接输出采样信号，省了采样电阻和芯片采样PAD，并且因为恒流源的作用，所述采样信号不随市电的波动而变化，能得到更精确的检测结果。

进一步地，请继续参阅图2，在本实用新型的第一实施例中，所述检测模块300包括比较器OP3、计时器和判断单元；所述比较器OP3用于将所述采样信号与参考信号进行比较后输出比较信号至所述计时器，所述计时器用于对所述比较信号进行计时后输出计时信号至所述判断单元；所述判断单元用于判断出所述计时信号大于所述预设信号时，则确定所述线网未设置所述可控硅调光器，控制所述泄放模块200关断，无需为所述可控硅调光器提供泄放电流，当判断出所述计时信号小于所述预设信号时，则确定所述线网设置有所述可控硅调光器，控制所述泄放模块200持续导通，为所述可控硅调光器提供泄放电流。

本实施例中，所述采样信号为所述采样信号的电压值，所述参考信号为预设电压Vref3；所述计时信号为所述比较信号的持续时长，预设信号为设定时长T；上电之后，所述比较器OP3比较采样信号的电压值与预设电压Vref3的大小后输出到计时器，所述计时器计时比较信号的高电平持续时长，将当前计时的持续时长输出到所述判断单元，所述判断单元将持续时长与设定时长T比较，之后得到控制信号后保存并输出到所述泄放模块200控制泄放电流的开启或关断。

进一步地，请一并参阅图3，所述线网中有所述可控硅调光器时市电被切掉部分相位，和无所述可控硅调光器时相比，其采样信号的持续时长T1小于无所述可控硅调光器时的采样信号的持续时长T2，通过预先的设定时长T，使得T1<T<T2，可精确检测出所述线网是否接入所述可控硅调光器；具体地，在当前检测的持续时长Tx>T时，则代表所述线网中无所述可控硅调光器，输出控制信号到泄放模块200控制其关断；当当前检测的持续时长Tx<T时，代表线网中有所述可控硅调光器，输出控制信号到泄放模块200控制其持续导通,持续为所述可控硅调光器提供泄放电流，由此实现了检测所述可控硅调光器的有无，相应开启或关断泄放电流，达到节约能耗的目的；其中，所述采样信号的持续时长T1代表了泄放电流在一个线电压周期内的持续时长。

需要说明的是，也可计算上电后的一个所述线电压周期内的泄放电流的持续时间来做判断，也可计算多个所述线电压周期内的泄放电流持续时间后求平均持续时间来做判断，当然也可计算上电后的一段时间内的泄放电流持续时间来做判断，本实施例中对此不做具体的设定。本实施例中，所述采样信号随所述线电压周期变化，所述比较器OP3的输出的比较信号也随所述线电压周期变化，所述计时器计时高电平的持续时间和计时低电平的持续时间等价，都可检测出有无所述可控硅调光器。

进一步地，请继续参阅图2，本实施例中，所述负载400包括LED灯串、第二MOS管Q2、第二电阻R2、第二运算放大器OP2和第二参考电压源DC2；所述LED灯串的输入端连接所述整流桥100，所述LED灯串的输出端连接所述第二MOS管Q2的漏极，所述第二MOS管Q2的源极连接所述第二运算放大器OP2的反相输入端和所述第二电阻R2的一端，所述第二电阻R2的另一端和所述第二参考电压源DC2的负极均接地；所述第二运算放大器OP2的正相输入端连接所述第二参考电压源DC2的正极，其中，所述LED灯串的电压由用户根据用电环境确定，在220V的交流应用中，灯串电压可使用240V～260V。

进一步地，请参阅图4，本实用新型的第二实施例中，所述检测模块300包括比较器OP3、计时器、判断单元和滤波单元；所述比较器OP3用于将所述采样信号与参考信号进行比较后输出比较信号至所述判断单元；所述滤波单元用于对所述比较信号进行滤波处理；所述判断单元在所述计时器的预设计时时间内，当判断出所述比较信号大于所述预设信号时，则确定所述线网未设置所述可控硅调光器，控制所述泄放模块200关断，当判断出所述比较信号电压小于所述预设信号时，则确定所述线网设置有所述可控硅调光器，控制所述泄放模块200持续导通，为所述可控硅调光器提供泄放电流。

本实施例中，所述比较信号为平均电压，所述预设信号为设定电压U，所述参考信号为预设电压Vref3；上电后，所述计时器便开始计时，所述比较器OP3比较所述采样信号的电压值与预设电压Vref3的大小后输出，经所述滤波单元滤波后将所述平均电压输出至所述判断单元，所述判断单元在所述计时器的预设计时时间内，比较所述平均电压与所述设定电压U的大小，进而得到控制信号后保存并输出到所述泄放模块200控制所述泄放电流的开启或关断。

进一步地，请继续参阅图4，本实施例中，所述滤波单元包括第三电容C3，所述第三电容C3的一端连接所述比较器OP3和所述判断单元，所述第三电容C3的另一端接地，通过所述第三电容C3对所述平均电压进行滤波处理，以便于达到稳定的比较信号。

进一步地，请一并参阅图5，所述线网中有所述可控硅调光器时市电被切掉部分相位，和所述无可控硅调光器时相比，所述比较器OP3输出的平均电压U1低于无所述可控硅调光器时所述比较器OP3输出的平均电压U2，通过设置的设定电压U，使得U1<U<U2，可精确检测出所述线网是否接入所述可控硅调光器。具体地，当当前检测到的平均电压Ux>U时，代表所述线网中无所述可控硅调光器，进而由所述判断单元输出控制信号到所述泄放模块200控制其关断；当当前检测到的平均电压Ux<U时，代表线网中有所述可控硅调光器，进而由所述判断单元输出控制信号到所述泄放模块200控制其持续导通,为所述可控硅调光器持续提供所述泄放电流，由此实现检测所述可控硅调光器的有无，相应开启或关断所述泄放电流，达到节约能耗的目的。

进一步地，请参阅图6，本实用新型的第三实施例中，所述负载400中的第二电阻R2的一端连接所述泄放模块200、所述检测模块300和所述第二MOS管Q2的源极，所述第二电阻R2的另一端接地；因此与第一实施例相比区别在于本实施例中所述泄放模块200的地经由所述第二电阻R2到地，使得泄放模块200和负载400串联。

具体地，本实施例中，当所述线电压低于所述LED灯串的电压时，泄放模块200有所述泄放电流流过，负载400无电流，所述检测模块300检测所述泄放电流的持续时间来判断是否有所述可控硅调光器接入；当所述线电压等于或高于所述LED灯串的电压时，所述泄放模块200的所述泄放电流被关断，所述负载400电流被打开，一方面所述负载400电流充当所述泄放电流的作用维持所述可控硅调光器的正常工作，一方面所述负载400电流用于点亮所述LED灯串。相比于第一实施例，在有所述可控硅调光器的应用场景时，所述泄放模块200的所述泄放电流的持续时间短，电源转换效率更高。

进一步地，请一并参阅图7，当所述线网中未设置所述可控硅调光器时，所述线电压小于所述LED灯串的电压时，所述泄放电流维持时间在一个所述线电压周期内被分割成对称的两部分，分别对应所述线电压上升时和下降时；当所述线网中设置有所述可控硅调光器，所述线电压上升且小于LED灯串的电压部分被完全切相，所述泄放模块200的所述泄放电流的持续时间T1为0，所述线电压下降且小于所述LED灯串的电压，所述泄放电流的持续时间T2和无所述可控硅调光器时的持续时间T1一样，即T1＝T2。通过设置的设定时长T，使得在所述线电压上升时，T1<T<T2，可精确检测出所述线网是否接入所述可控硅调光器。具体地，当当前检测的持续时长Tx>T时，代表所述线网中无所述可控硅调光器，进而由所述判断单元输出控制信号到泄放模块200，控制所述泄放模块200关断；当当前检测的持续时长Tx<T时，代表所述线网中有所述可控硅调光器，进而由所述判断单元输出控制信号到所述泄放模块200控制其持续输出所述泄放电流，以此实现检测所述可控硅调光器的有无。

需要说明的是，可计算上电后的一个所述线电压周期内上升时的电流的持续时间来做判断，也可计算多个所述线电压周期内上升时的电流的持续时间后求平均持续时间来做判断，当然也可计算上电后的一段时间内的电流的持续时间来做判断，本实施例中对此不做具体的设定。当然通过等价原理，也可计算没有电流的时间来做判断。

进一步地，请参阅图8，本实用新型的第四实施例中，所述负载400包括LED灯串、第一二极管D1、第一电容C1、第二电容C2、第二二极管D2、第三电阻R3、电感L1和恒流驱动芯片U1；所述LED灯串的输入端、所述第二电容C2的一端、所述第二二极管D2的负极和所述第一电容C1的一端均连接所述第一二极管D1的负极，所述第一二极管D1的正极连接所述整流桥100；所述第二二极管D2的正极和所述电感L1的一端连接所述恒流驱动芯片U1的第1脚，所述电感L1的另一端连接所述第二电容C2的另一端和所述LED灯串的负极；所述第一电容C1的另一端和所述第三电阻R3的一端均接地，所述第三电阻R3的另一端连接所述恒流驱动芯片U1的第2脚；本实施中的所述可控硅调光器的检测原理与第一实施的检测原理相同，由于上述对第一实施例的检测原理进行了详细说明，在此不再赘述。

本实施例中与第一实施例中的区别在于，所述负载400使用拓扑结构为BUCK的降压型开关电源，所述第一二极管D1为隔离二极管，用于隔离所述泄放模块200从所述第一电容C1上拉电流，所述第二二极管D2为快恢复二极管，所述第一电容C1和所述第二电容C2为高压电解滤波电容，其中所述恒流驱动芯片U1的型号为BP2865S。

进一步地，请参阅图9，本实用新型的第五实施例中，所述检测模块300包括计时器和判断单元；所述计时器用于对所述采样信号进行计时后输出计时信号至所述判断单元；所述判断单元用于判断出所述计时信号大于所述预设信号时，则确定所述线网未设置可控硅调光器，控制所述泄放模块200关断；当判断出所述计时信号小于所述预设信号时，则确定所述线网设置有可控硅调光器，控制所述泄放模块200持续导通，相对于第一实施例而言，本实用新型中也可直接对所述采样信号进行计时得到计时信号，无需设计比较器以及对应的参考电压源，进而结合所述预设信号来判断是否有所述可控硅调节器，并相应开启或关断泄放电流，达到节约能耗的目的。

具体地，本实用新型提供的一种可控硅调光器检测电路的工作原理为:所述整流桥将输入的交流电整流后输出线电压至所述泄放模块和负载；所述泄放模块根据所述线电压输出采样信号至所述检测模块，并在线网中设置有可控硅调光器时为所述可控硅调光器提供泄放电流；所述检测模块根据所述采样信号与预设信号确定所述线网未设置可控硅调光器时，控制所述泄放模块关断，当所述线网设置有所述可控硅调光器时，控制所述泄放模块持续导通。

本实用新型还相应提供一种可控硅调光器检测装置，包括外壳，所述外壳内设置有PCB板，所述PCB板上设置有如上所述的可控硅调光器检测电路，由于上文已对所述可控硅调光器检测电路进行了详细介绍，此处不再详述。

综上所述，本实用新型提供的一种可控硅调光器检测装置、电路，所述可控硅调光器检测电路包括整流桥、泄放模块、检测模块和负载；所述整流桥用于将输入的交流电整流后输出线电压至所述泄放模块和负载；所述泄放模块用于根据所述线电压输出采样信号至所述检测模块，并在线网中设置有可控硅调光器时为所述可控硅调光器提供泄放电流；所述检测模块用于根据所述采样信号与预设信号确定所述线网未设置可控硅调光器时，控制所述泄放模块关断，当所述线网设置有所述可控硅调光器时，控制所述泄放模块持续导通，其中，所述采样信号的电压在所述线电压大于所述泄放模块的启动电压时恒定，在所述线电压小于所述泄放模块的启动电压时随所述线电压减小，进而实现了检测可控硅调光器的有无，以达到节约能耗的目的；同时，可有效避免检测结果受线网波动的影响并降低了成本。

可以理解的是，对本领域普通技术人员来说，可以根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，而所有这些改变或替换都应属于本实用新型所附的权利要求的保护范围。

Claims (9)

1.一种可控硅调光器检测电路，其特征在于，包括整流桥、泄放模块、检测模块和负载；所述整流桥用于将输入的交流电整流后输出线电压至所述泄放模块和所述负载；所述泄放模块用于根据所述线电压输出采样信号至所述检测模块，并在线网中设置有可控硅调光器时为所述可控硅调光器提供泄放电流；所述检测模块用于根据所述采样信号与预设信号确定所述线网设置有可控硅调光器时，控制所述泄放模块持续导通，当确定所述线网未设置所述可控硅调光器时，控制所述泄放模块关断；所述采样信号的电压在所述线电压大于所述泄放模块的启动电压时恒定，在所述线电压小于所述泄放模块的启动电压时随所述线电压减小。

2.根据权利要求1所述的可控硅调光器检测电路，其特征在于，所述检测模块包括比较器、计时器和判断单元；所述比较器用于将所述采样信号与参考信号进行比较后输出比较信号至所述计时器，所述计时器用于对所述比较信号进行计时后输出计时信号至所述判断单元；所述判断单元用于判断出所述计时信号大于所述预设信号时，则确定所述线网未设置可控硅调光器，控制所述泄放模块关断，当判断出所述计时信号小于所述预设信号时，则确定所述线网设置有可控硅调光器，控制所述泄放模块持续导通。

3.根据权利要求1所述的可控硅调光器检测电路，其特征在于，所述检测模块包括比较器、计时器、判断单元和滤波单元；所述比较器用于将所述采样信号与参考信号进行比较后输出比较信号至所述判断单元；所述滤波单元用于对所述比较信号进行滤波处理；所述判断单元在所述计时器的预设计时时间内，当判断出所述比较信号大于所述预设信号时，则确定所述线网未设置可控硅调光器，控制所述泄放模块关断，当判断出所述比较信号小于所述预设信号时，则确定所述线网设置有可控硅调光器，控制所述泄放模块持续导通。

4.根据权利要求1所述的可控硅调光器检测电路，其特征在于，所述检测模块包括计时器和判断单元；所述计时器用于对所述采样信号进行计时后输出计时信号至所述判断单元；所述判断单元用于判断出所述计时信号大于所述预设信号时，则确定所述线网未设置可控硅调光器，控制所述泄放模块关断；当判断出所述计时信号小于所述预设信号时，则确定所述线网设置有可控硅调光器，控制所述泄放模块持续导通。

5.根据权利要求1所述的可控硅调光器检测电路，其特征在于，所述泄放模块包括第一运算放大器、第一MOS管、第一电阻和第一参考电压源；所述第一运算放大器的输出端连接所述第一MOS管的栅极，所述第一MOS管的源极连接所述第一电阻的一端、所述第一运算放大器的反相输入端和所述检测模块，所述第一运算放大器的正相输入端连接所述第一参考电压源的正极，所述第一电阻的另一端和所述第一参考电压源接地，所述第一MOS管的漏极连接所述整流桥。

6.根据权利要求1所述的可控硅调光器检测电路，其特征在于，所述负载包括LED灯串、第二MOS管、第二电阻、第二运算放大器和第二参考电压源；所述LED灯串的输入端连接所述整流桥，所述LED灯串的输出端连接所述第二MOS管的漏极，所述第二MOS管的源极连接所述第二运算放大器的反相输入端和所述第二电阻的一端，所述第二电阻的另一端和所述第二参考电压源的负极均接地；所述第二运算放大器的正相输入端连接所述第二参考电压源的正极。

7.根据权利要求1所述的可控硅调光器检测电路，其特征在于，所述负载包括LED灯串、第一二极管、第一电容、第二电容、第二二极管、第三电阻、电感和恒流驱动芯片；所述LED灯串的输入端、所述第二电容的一端、所述第二二极管的负极和所述第一电容的一端均连接所述第一二极管的负极，所述第一二极管的正极连接所述整流桥；所述第二二极管的正极和所述电感的一端连接所述恒流驱动芯片的第1脚，所述电感的另一端连接所述第二电容的另一端和所述LED灯串的负极；所述第一电容的另一端和所述第三电阻的一端均接地，所述第三电阻的另一端连接所述恒流驱动芯片的第2脚。

8.根据权利要求3所述的可控硅调光器检测电路，其特征在于，所述滤波单元包括第三电容，所述第三电容的一端连接所述比较器和所述判断单元，所述第三电容的另一端接地。

9.一种可控硅调光器检测装置，包括外壳，所述外壳内设置有PCB板，其特征在于，所述PCB板上设置有如权利要求1-8任意一项所述可控硅调光器检测电路。

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