CN211627684U - 一种电导性测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种电导性测试装置，属于机械技术领域。它解决了现有测试装置使用效果差等技术问题。本电导性测试装置，包括底座，其特征在于，所述底座上设置有测量座一、安装座和测量座二，测量座一和测量座二分别位于安装座两侧，测量座一固定在底座上，测量座二与一调节结构相连接，测量座一和测量座二上还分别固定有若干测量结构，安装座上还设置有若干吸盘结构。本实用新型具有使用效果好的优点。

Description

一种电导性测试装置

技术领域

本实用新型属于机械技术领域，涉及一种测试装置，特别是一种电导性测试装置。

背景技术

多晶硅片中的金属杂质大多来源于铸造过程中的坩埚污染造成的，其中原料多晶硅中的金属杂质含量占据主要部分，生产多晶硅中产生的体金属，容易通过精馏方法将其他元素去除，但是无法完全移除，在生产过程中，金属杂质往往会影响多晶硅片的电学性能，在研究金属杂质对多晶硅片电学性能的时，需要对多晶硅片进行测量其电导性指标，在现有技术中，测试装置并不完全适用于多晶硅片，使用效果差，因此设计出一种电导性测试装置是很有必要的。

实用新型内容

本实用新型的目的是针对现有的技术存在上述问题，提出了一种电导性测试装置，具有使用效果好的优点。

本实用新型的目的可通过下列技术方案来实现：一种电导性测试装置，包括底座，其特征在于，所述底座上设置有测量座一、安装座和测量座二，测量座一和测量座二分别位于安装座两侧，测量座一固定在底座上，测量座二与一调节结构相连接，测量座一和测量座二上还分别固定有若干测量结构，安装座上还设置有若干吸盘结构。

所述调节结构包括螺纹杆和滑杆，螺纹杆的一端转动设置在底座上，螺纹杆的另一端与调节手把相连接，滑杆固定在底座上，测量座二的一端套设在滑杆上，测量座二的另一端通过螺母和螺纹杆相配合连接。

所述测量结构包括支杆、压片、接触片和压紧螺杆，压片通过若干弹簧一和支杆相连接，支杆上开设有螺纹孔，压紧螺杆穿过螺纹孔且和螺纹孔相配合，压紧螺杆的一端和压片相抵靠，压紧螺杆的另一端连接有调节转盘，接触片固定在压片上，且接触片还与一导电性测试仪相连接。

所述吸盘结构包括吸盘座、吸嘴和若干弹簧二，吸盘座设置在安装座上，且吸盘座与一负压风机相连通，吸盘座上固定有若干下限位杆，吸嘴滑动设置在吸盘座上，吸嘴上固定有与下限位杆相对应的若干上限位杆，弹簧二的一端和吸盘座相连接，弹簧二的另一端和吸嘴相连接，在弹簧二的弹力下，上限位杆和下限位杆相抵靠。

所述吸盘座上还固定有用于防止弹簧二压缩过量的若干限位块。

所述吸嘴采用绝缘材料。

本实用新型的工作原理如下：多晶硅片放置在吸盘结构上，在吸嘴吸力的作用下将多晶硅片固定，通过设置弹簧二、上限位杆和下限位杆，可有效预防多晶硅片压碎，转动调节手把，将测量座二调节至适当位置进行测量，转动调节转盘调节压片的高度，直至接触片和多晶硅片相抵靠。

与现有技术相比，本实用新型具有以下优点：多晶硅片放置在吸盘结构上，在吸嘴吸力的作用下将多晶硅片固定，通过设置弹簧二、上限位杆和下限位杆，可有效预防多晶硅片压碎，转动调节手把，将测量座二调节至适当位置进行测量，转动调节转盘调节压片的高度，直至接触片和多晶硅片相抵靠，具有使用效果好的优点。

附图说明

图1是本实用新型的平面结构示意图。

图2是本实用新型的剖面结构示意图。

图3是本实用新型的测量结构的平面结构示意图。

图4是本实用新型的吸盘结构的结构示意图。

图中，1、底座；2、测量座一；3、安装座；4、测量座二；5、螺纹杆；6、滑杆；7、调节手把；8、支杆；9、压片；10、接触片；11、压紧螺杆；12、弹簧一；13、调节转盘；14、吸盘座；15、吸嘴；16、弹簧二；17、下限位杆；18、上限位杆；19、限位块。

具体实施方式

以下是本实用新型的具体实施例并结合附图，对本实用新型的技术方案作进一步的描述，但本实用新型并不限于这些实施例。

如图1-4所示，本电导性测试装置，包括底座1，在本实施例中，底座1上设置有测量座一2、安装座3和测量座二4，测量座一2和测量座二4分别位于安装座3两侧，测量座一2固定在底座1上，测量座二4与一调节结构相连接，测量座一2和测量座二4上还分别固定有若干测量结构，在本实施例中，测量结构的总数为四个，其中测量座一2上固定有两个，测量座二4上固定有两个，安装座3上还设置有若干吸盘结构，在本实施例中，吸盘结构的数量为四个。

调节结构包括螺纹杆5和滑杆6，螺纹杆5的一端转动设置在底座1上，螺纹杆5的另一端与调节手把7相连接，滑杆6固定在底座1上，测量座二4的一端套设在滑杆6上，测量座二4的另一端通过螺母和螺纹杆5相配合连接。

测量结构包括支杆8、压片9、接触片10和压紧螺杆11，在本实施例中，两根支杆8固定在测量座一2上，两根支杆8固定在测量座二4上，支杆8压片9通过若干弹簧一12和支杆8相连接，在本实施例中，弹簧一12的数量为两个，支杆8上开设有螺纹孔，压紧螺杆11穿过螺纹孔且和螺纹孔相配合，压紧螺杆11的一端和压片9相抵靠，压紧螺杆11的另一端连接有调节转盘13，接触片10固定在压片9上，且接触片10还与一导电性测试仪相连接。

吸盘结构包括吸盘座14、吸嘴15和若干弹簧二16，在本实施例中，弹簧二16的数量为两个，吸盘座14设置在安装座3上，且吸盘座14与一负压风机相连通，吸盘座14上固定有若干下限位杆17，在本实施例中，下限位杆17的数量为两个，吸嘴15滑动设置在吸盘座14上，吸嘴15上固定有与下限位杆17相对应的若干上限位杆18，在本实施例中，上限位杆18的数量为两个，弹簧二16的一端和吸盘座14相连接，弹簧二16的另一端和吸嘴15相连接，在弹簧二16的弹力下，上限位杆18和下限位杆17相抵靠。

吸盘座14上还固定有用于防止弹簧二16压缩过量的若干限位块19，在本实施例中，限位块19的数量为两个。

吸嘴15采用绝缘材料。

本实用新型的工作原理如下：多晶硅片放置在吸盘结构上，在吸嘴15吸力的作用下将多晶硅片固定，通过设置弹簧二16、上限位杆18和下限位杆17，可有效预防多晶硅片压碎，转动调节手把7，将测量座二4调节至适当位置进行测量，转动调节转盘13调节压片9的高度，直至接触片10和多晶硅片相抵靠。

本文中所描述的具体实施例仅仅是对本实用新型精神作举例说明。本实用新型所属技术领域的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，但并不会偏离本实用新型的精神或者超越所附权利要求书所定义的范围。

Claims (6)

1.一种电导性测试装置，包括底座，其特征在于，所述底座上设置有测量座一、安装座和测量座二，测量座一和测量座二分别位于安装座两侧，测量座一固定在底座上，测量座二与一调节结构相连接，测量座一和测量座二上还分别固定有若干测量结构，安装座上还设置有若干吸盘结构。

2.根据权利要求1所述的电导性测试装置，其特征在于，所述的调节结构包括螺纹杆和滑杆，螺纹杆的一端转动设置在底座上，螺纹杆的另一端与调节手把相连接，滑杆固定在底座上，测量座二的一端套设在滑杆上，测量座二的另一端通过螺母和螺纹杆相配合连接。

3.根据权利要求1所述的电导性测试装置，其特征在于，所述的测量结构包括支杆、压片、接触片和压紧螺杆，压片通过若干弹簧一和支杆相连接，支杆上开设有螺纹孔，压紧螺杆穿过螺纹孔且和螺纹孔相配合，压紧螺杆的一端和压片相抵靠，压紧螺杆的另一端连接有调节转盘，接触片固定在压片上，且接触片还与一导电性测试仪相连接。

4.根据权利要求1所述的电导性测试装置，其特征在于，所述的吸盘结构包括吸盘座、吸嘴和若干弹簧二，吸盘座设置在安装座上，且吸盘座与一负压风机相连通，吸盘座上固定有若干下限位杆，吸嘴滑动设置在吸盘座上，吸嘴上固定有与下限位杆相对应的若干上限位杆，弹簧二的一端和吸盘座相连接，弹簧二的另一端和吸嘴相连接，在弹簧二的弹力下，上限位杆和下限位杆相抵靠。

5.根据权利要求4所述的电导性测试装置，其特征在于，所述的吸盘座上还固定有用于防止弹簧二压缩过量的若干限位块。

6.根据权利要求4所述的电导性测试装置，其特征在于，所述的吸嘴采用绝缘材料。

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