CN211603465U - 一种键盘按键抖动测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种结构简单、体积小、成本低且全自动对按键进行检测的键盘按键抖动测试装置。该电路包括按键接口（1），用于与待测键盘按键（2）进行连接，并与待测键盘按键（2）构成开闭回路；MCU（3），用于控制ADC采样电路（4）实时采集在待测键盘按键构成的开闭回路上的某一点的电平，并根据电平判断待测键盘按键是否在稳定区间有抖动，并且根据不同按键特性过滤掉前沿抖动和后沿抖动；ADC采样电路（4），通过SPI总线与所述MCU连接，用于采集在待测键盘按键构成的开闭回路上的某一点的电平数据，并提供给所述MCU进行读取；及电源（VCC），所述电源为整个测试装置提供电源。本实用新型用于测试领域。
Description
技术领域
本实用新型涉及测试领域，尤其涉及一种键盘按键抖动测试装置。
背景技术
常规按键在按下后会出现抖动的现象，原因是通常的按键所用开关为机械弹性开关，当机械触点断开、闭合时，由于机械触点的弹性作用，一个按键开关在闭合时不会马上稳定地接通，在断开时也不会一下子断开。因而在闭合及断开的瞬间均伴随有一连串的抖动，抖动时间的长短由按键的机械特性决定，一般为5ms～10ms。这是一个很重要的时间参数，在很多场合都要用到。按键稳定闭合时间的长短则是由操作人员的按键动作决定的，一般为零点几秒至数秒。按键抖动会引起一次按键被误读多次。为确保CPU对键的一次闭合仅作一次处理，必须去除键抖动。在键闭合稳定时读取键的状态，并且必须判别到键释放稳定后再作处理。
以上抖动属于按键正常抖动（如图1所示），可以通过程序进行消抖处理。另外一种抖动会出现在按键稳定区间（如图2所示），这种抖动一般属于按键不良导致的，就是在按键按下过程中接触不良而导致的按键抖动，而这种抖动程序就不能做处理，且抖动会引起一次按键被误读多次，进而导致按键产品不良。所以检测出这种不良按键就成了检测该按键产品是否合格的关键因素。
现有的检测方式大多是通过示波器来捕捉每个按键按下时的压降波形，观察键按下区间是否稳定。此种方式可以直观看到按键按下后的压降变化，从而对按键的品质进行判断。但是，一般示波器价格昂贵且体积比较庞大，且检测效率过低，并不适合应用在工业生产检测方面。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足,提供一种结构简单、体积小、成本低且全自动对按键进行检测的键盘按键抖动测试装置。
本实用新型所采用的技术方案是：本实用新型包括按键接口，用于与待测键盘按键进行连接，并与待测键盘按键构成开闭回路；
MCU，用于控制ADC采样电路实时采集在待测键盘按键构成的开闭回路上的某一点的电平，并根据电平判断待测键盘按键是否在稳定区间有抖动，并且根据不同按键特性过滤掉前沿抖动和后沿抖动；
ADC采样电路，通过SPI总线与所述MCU连接，用于采集在待测键盘按键构成的开闭回路上的某一点的电平数据，并提供给所述MCU进行读取；及
电源，所述电源为整个测试装置提供电源。
上述方案可见，本实用新型将按键接入到接口电路中，在不按按键状态时设定的A点是高电平，当按键按下后A点变为低电平，MCU控制ADC采样电路实时采集A点的电平变化数据，然后再通过分析采集的数据进行判断按键是否在稳定区间有抖动，并且根据不同按键特性过滤掉前沿抖动和后沿抖动，与现有的采用昂贵的示波器相比，本实用新型系统结构简单，体积小，方便移动，且成本低，能够实现全自动化测试，减少人工的误判。
进一步地，所述电源的输出端设置有分压电阻。从而使得输出电压符合装置的要求。
再进一步地，所述MCU的型号为STM32F103RCT6。从而保证了整个系统的稳定性和可靠性。
此外，所述ADC采样电路采用的芯片型号为AD7175-2BRUZ。从而保证了采集的精度和灵敏度，提高了装置的测试精度。
附图说明
图1是按键发生正常抖动的过程示意图；
图2是按键发生异常抖动的过程示意图；
图3是本实用新型的原理框图；
图4是所述MCU的电路原理图；
图5是所述ADC测量电路的原理图；
图6是所述MCU进行数据处理的模型示意图，其中，横坐标表示时间t，纵坐标表示电压值V，A表示前沿抖动截止点，B表示后沿抖动起始点，C表示高低电平分界点。
具体实施方式
如图1至图6所示，本实用新型包括按键接口1、MCU3、ADC采样电路4及电源VCC。按键接口1用于与待测键盘按键2进行连接，并与待测键盘按键2构成开闭回路。所述MCU3用于控制ADC采样电路4实时采集在待测键盘按键2构成的开闭回路上的某一点的电平，并根据电平判断待测键盘按键2是否在稳定区间有抖动，并且根据不同按键特性过滤掉前沿抖动和后沿抖动。所述ADC采样电路4通过SPI总线与所述MCU3连接，用于采集在待测键盘按键2构成的开闭回路上的某一点的电平数据，并提供给所述MCU3进行读取。所述电源VCC为整个测试装置提供电源。具体地，所述电源VCC的输出端设置有分压电阻R1。所述MCU3的型号为STM32F103RCT6。所述ADC采样电路4采用的芯片型号为AD7175-2BRUZ。
本实用新型中，MCU是系统的核心单元，主要完成硬件层的资源调用和调配，对采集数据的处理分析，以及与其他控制单元的通信。所述ADC采样电路4为由24位高精度ADC芯片AD7175-2BRUZ为核心组成的测量电路，其由MCU控制该部分电路完成按键电路高低电平的数据采集，然后再由MCU读取数据并处理。
在本实用新型中，不同的键盘按键的前沿抖动时间和后沿抖动时间会不一样，而时间需要检测的按键抖动会出现在图6中的A点和B点之间，而C电平线是按键抖动是否会引起一次按键被误读多次的关键参数，只有抖动电平超过C线，按键才会被多次误读。由此，可根据不同性能按键的测试去更改A、B、C三个位置的参数值，实现不同按键定制化测试，进而提高本实用新型的适用性。
Claims (4)
1.一种键盘按键抖动测试装置，其特征在于：它包括
按键接口（1），用于与待测键盘按键（2）进行连接，并与待测键盘按键（2）构成开闭回路；
MCU（3），用于控制ADC采样电路（4）实时采集在待测键盘按键（2）构成的开闭回路上的某一点的电平，并根据电平判断待测键盘按键（2）是否在稳定区间有抖动，并且根据不同按键特性过滤掉前沿抖动和后沿抖动；
ADC采样电路（4），通过SPI总线与所述MCU（3）连接，用于采集在待测键盘按键（2）构成的开闭回路上的某一点的电平数据，并提供给所述MCU（3）进行读取；
及电源（VCC），所述电源（VCC）为整个测试装置提供电源。
2.根据权利要求1所述的一种键盘按键抖动测试装置，其特征在于：所述电源（VCC）的输出端设置有分压电阻（R1）。
3.根据权利要求1所述的一种键盘按键抖动测试装置，其特征在于：所述MCU（3）的型号为STM32F103RCT6。
4.根据权利要求1所述的一种键盘按键抖动测试装置，其特征在于：所述ADC采样电路（4）采用的芯片型号为AD7175-2BRUZ。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN201922487677.3U CN211603465U (zh) | 2019-12-31 | 2019-12-31 | 一种键盘按键抖动测试装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
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| CN211603465U true CN211603465U (zh) | 2020-09-29 |
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Family Applications (1)
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| CN201922487677.3U Active CN211603465U (zh) | 2019-12-31 | 2019-12-31 | 一种键盘按键抖动测试装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
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| CN (1) | CN211603465U (zh) |
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2019
- 2019-12-31 CN CN201922487677.3U patent/CN211603465U/zh active Active
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