CN211577288U - 一种保护跳闸出口测试辅助装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种保护跳闸出口测试辅助装置，包括开关量测试输入电路、保护跳闸出口回路和滤波器件，其中：所述开关量测试回路的输入端与保护跳闸出口回路的输出电连接，所述开关量测试回路的输出端与继保测试仪器连接，由继保测试仪器测量保护跳闸出口回路的状态；所述滤波器件将保护跳闸出口回路的输出中的杂质电流进行旁路减弱后输入至开关量测试回路。本发明利用滤波器件消除继保测试仪测试保护跳闸出口回路时输入端连接在不同直流系统进行测试的误动作，提高保护跳闸出口回路测试的准确性。所安装的滤波器件不影响变电站内直流系统正常运行及继保测试仪的测试功能。

Description

一种保护跳闸出口测试辅助装置

技术领域

本实用新型涉及变电站定检试验技术领域，更具体地，涉及一种保护跳闸出口测试辅助装置。

背景技术

变电站继电保护装置定检试验中，要对保护跳闸出口回路进行测试，以检验保护装置跳闸出口回路动作及动作时间的正确性，当前对保护跳闸出口回路进行测试采用的方式将保护跳闸出口回路接入到继保测试仪器的开关量输入端进行测试。由于当前110kV及以上变电站内均配置了两段直流系统分裂运行供电，如果在测试过程中，测试的跳闸出口回路，与测试的公共端正电源不是取自同一段直流系统，由于变电站直流系统对地电容的存在，会对保护跳闸出口回路测试过程造成干扰。

实用新型内容

本实用新型提供一种保护跳闸出口测试辅助装置，消除继保测试仪测试保护跳闸出口回路时输入端连接在不同直流系统进行测试时的误动作，提高保护跳闸出口回路测试的准确性。

为解决上述技术问题，本实用新型的技术方案如下：

一种保护跳闸出口测试辅助装置，包括开关量测试输入电路、保护跳闸出口回路和滤波器件，其中：

所述开关量测试回路的输入端与保护跳闸出口回路的输出电连接，所述开关量测试回路的输出端与继保测试仪器连接，由继保测试仪器测量保护跳闸出口回路的状态；

所述滤波器件将保护跳闸出口回路的输出中的杂质电流进行旁路减弱后输入至开关量测试回路。

优选地，所述开关量测试输入电路包括电阻R3、电阻R4、电阻R5以及光电耦合器，其中：

所述电阻R3的一端与保护跳闸出口回路的输出电连接，电阻R3的另一端分别与电阻R4的一端、光电耦合器的第一输入端电连接；

所述电阻R4的另一端、光电耦合器的第二输入端和光电耦合器的第二输出端均接地；

光电耦合器的第一输出端作为开光量测试输入电路的输出，与继保测试仪器连接，同时还与电阻R5的一端连接，电阻R5的另一端与继保测试仪器的VD端电连接。

优选地，所述光电耦合器包括发光器件和光敏器件，其中，发光器件的两端分别为光电耦合器的第一输入端和第二输入端，发光器件被光电耦合器的输入激发发光，光敏器件接收发光器件的光，光敏器件作为光电耦合器第一输出端和第二输出端倪。

优选地，所述发光器件为发光二极管，发光二极管的正极为光电耦合器的第一输入端，发光二极管的负极为光电耦合器的第二输入端。

优选地，所述光敏器件为光敏晶体管，所述光敏晶体管的基极接收发光器件发出的光，光敏晶体管的集电极作为光电耦合器的第一输出端，光敏晶体管的发射极作为光电耦合器的第二输出端。

优选地，所述保护跳闸出口回路包括低压侧开关跳闸回路、高压侧跳闸回路以及连接低压侧开关跳闸回路和高压侧跳闸回路的对地电容。

优选地，所述低压侧开关跳闸回路包括与继保测试仪器的VC端连接的+1KM端、继电保护装置以及跳闸压板1LP1，其中：

所述+1KM端与继电保护装置的一端连接，继电保护装置的另一端与跳闸压板1LP1连接，跳闸压板1LP1为保护跳闸出口回路的输出，与开关量测试输入电路连接。

优选地，所述低压侧开关跳闸回路包括与继保测试仪器的VC端连接的+2KM端、继电保护装置以及跳闸压板1LP2，其中：

所述+2KM端与继电保护装置的一端连接，继电保护装置的另一端与跳闸压板1LP2连接，跳闸压板1LP2为保护跳闸出口回路的输出，与开关量测试输入电路连接。

优选地，所述连接低压侧开关跳闸回路和高压侧跳闸回路的对地电容包括电阻R1、电容C1、电阻R2、电容C2，其中：

+1KM端分别与电阻R1的一端、电容C1的一端连接；

+2KM端分别与电阻R2的一端、电容C2的一端连接；

电阻R1的另一端、电容C1的另一端、电阻R2的另一端、电容C2的另一端均接地。

优选地，所述滤波器件为一阶低通滤波器或二阶有源滤波电路。

与现有技术相比，本实用新型技术方案的有益效果是：

本发明利用滤波器件消除继保测试仪测试保护跳闸出口回路时输入端连接在不同直流系统进行测试的误动作，提高保护跳闸出口回路测试的准确性。所安装的滤波器件不影响变电站内直流系统正常运行及继保测试仪的测试功能。

附图说明

图1为实施例中的保护跳闸出口测试辅助装置电路示意图。

图2为传统的变电站内继电保护装置跳闸出口回路测试示意图。

图3为变电站内两段分裂运行的直流系统示意图。

图4为测量某主变保护高、低压侧开关跳闸回路试验接线示意图。

图5为公共端在+1KM测量变压器保护低压侧开关跳闸回路。

图6为两段直流系统对地电容示意图。

具体实施方式

附图仅用于示例性说明，不能理解为对本专利的限制；

为了更好说明本实施例，附图某些部件会有省略、放大或缩小，并不代表实际产品的尺寸；

对于本领域技术人员来说，附图中某些公知结构及其说明可能省略是可以理解的。

下面结合附图和实施例对本实用新型的技术方案做进一步的说明。

实施例1

本实施例提供一种保护跳闸出口测试辅助装置，如图1，包括开关量测试输入电路、保护跳闸出口回路和滤波器件，其中：

所述开关量测试回路的输入端与保护跳闸出口回路的输出电连接，所述开关量测试回路的输出端与继保测试仪器连接，由继保测试仪器测量保护跳闸出口回路的状态；

所述滤波器件将保护跳闸出口回路的输出中的杂质电流进行旁路减弱后输入至开关量测试回路。

所述开关量测试输入电路包括电阻R3、电阻R4、电阻R5以及光电耦合器，其中：

所述电阻R3的一端与保护跳闸出口回路的输出电连接，电阻R3的另一端分别与电阻R4的一端、光电耦合器的第一输入端电连接；

所述电阻R4的另一端、光电耦合器的第二输入端和光电耦合器的第二输出端均接地；

光电耦合器的第一输出端作为开光量测试输入电路的输出，与继保测试仪器连接，同时还与电阻R5的一端连接，电阻R5的另一端与继保测试仪器的VD端电连接。

所述光电耦合器包括发光器件和光敏器件，其中，发光器件的两端分别为光电耦合器的第一输入端和第二输入端，发光器件被光电耦合器的输入激发发光，光敏器件接收发光器件的光，光敏器件作为光电耦合器第一输出端和第二输出端倪。

所述发光器件为发光二极管，发光二极管的正极为光电耦合器的第一输入端，发光二极管的负极为光电耦合器的第二输入端。

所述光敏器件为光敏晶体管，所述光敏晶体管的基极接收发光器件发出的光，光敏晶体管的集电极作为光电耦合器的第一输出端，光敏晶体管的发射极作为光电耦合器的第二输出端。

所述保护跳闸出口回路包括低压侧开关跳闸回路、高压侧跳闸回路以及连接低压侧开关跳闸回路和高压侧跳闸回路的对地电容。

所述低压侧开关跳闸回路包括与继保测试仪器的VC端连接的+1KM端、继电保护装置以及跳闸压板1LP1，其中：

所述+1KM端与继电保护装置的一端连接，继电保护装置的另一端与跳闸压板1LP1连接，跳闸压板1LP1为保护跳闸出口回路的输出，与开关量测试输入电路连接。

所述低压侧开关跳闸回路包括与继保测试仪器的VC端连接的+2KM端、继电保护装置以及跳闸压板1LP2，其中：

所述+2KM端与继电保护装置的一端连接，继电保护装置的另一端与跳闸压板1LP2连接，跳闸压板1LP2为保护跳闸出口回路的输出，与开关量测试输入电路连接。

所述连接低压侧开关跳闸回路和高压侧跳闸回路的对地电容包括电阻R1、电容C1、电阻R2、电容C2，其中：

+1KM端分别与电阻R1的一端、电容C1的一端连接；

+2KM端分别与电阻R2的一端、电容C2的一端连接；

电阻R1的另一端、电容C1的另一端、电阻R2的另一端、电容C2的另一端均接地。

所述滤波器件为一阶低通滤波器或二阶有源滤波电路。

在具体实施过程中，如图2所示。通常继保测试仪的开关量输入端一端是接在所需测试的保护跳闸出口回路正电源端+1KM上，另一端接在保护跳闸出口回路的跳闸压板1LP1上。如图3所示的两段直流系统分裂运行供电，根据继电保护技术规范的要求，有些继电保护装置的不同跳闸出口回路所采用的直流电源是不同的，即一套保护装置所驱动的跳闸出口回路既有用Ⅰ段直流系统供电的，也有用Ⅱ段直流系统供电的，这时需要继保测试人员根据所测试的跳闸出口回路将继保测试仪对应的开关量输入端进行切换，如图4所示，分别测试某主变保护跳高压侧开关和跳低压侧开关时继保测试仪开关量输入端连接线的对应切换情况。

如果在测试过程中，测试的跳闸出口回路，与测试的公共端正电源不是取自同一段直流系统，如图5所示，测试变压器低压侧开关跳闸出口回路，公共端接在+1KM，另一端接在取用不同直流系统电源的跳闸出口回路压板1LP2，按照回路接线情况，保护跳闸出口继电器接点CJ1-2接通时，接入继保测试仪的开关量回路是不导通的，对应继保测试仪的开关量不应动作，但由于变电站直流系统对地电容的存在，如图6变电站直流系统对地电容示意图所示，得出造成在图5测试接线情况下继保测试仪测试保护跳闸出口动作的开关量输入误动作的主要原因是由于变电站内直流系统对地电容造成测试干扰。因此需要对保护跳闸出口回路测试过程中的干扰进行过滤，以提高保护跳闸出口。通过滤波器件对继保测试仪上由于干扰产生的杂质电流Ic进行旁路减弱，确保继保测试仪测试保护跳闸出口回路时输入端连接在不同直流系统进行测试不会误动作。利用在继保测试仪开关量输入电路上并接滤波元件以消除继保测试仪测试保护跳闸出口回路时输入端连接在不同直流系统进行测试的误动作，提高保护跳闸出口回路测试的准确性。

相同或相似的标号对应相同或相似的部件；

附图中描述位置关系的用语仅用于示例性说明，不能理解为对本专利的限制；

显然，本实用新型的上述实施例仅仅是为清楚地说明本实用新型所作的举例，而并非是对本实用新型的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型权利要求的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种保护跳闸出口测试辅助装置，其特征在于，包括开关量测试输入电路、保护跳闸出口回路和滤波器件，其中：

所述开关量测试回路的输入端与保护跳闸出口回路的输出电连接，所述开关量测试回路的输出端与继保测试仪器连接，由继保测试仪器测量保护跳闸出口回路的状态；

所述滤波器件将保护跳闸出口回路的输出中的杂质电流进行旁路减弱后输入至开关量测试回路。

2.根据权利要求1所述的保护跳闸出口测试辅助装置，其特征在于，所述开关量测试输入电路包括电阻R3、电阻R4、电阻R5以及光电耦合器，其中：

所述电阻R3的一端与保护跳闸出口回路的输出电连接，电阻R3的另一端分别与电阻R4的一端、光电耦合器的第一输入端电连接；

所述电阻R4的另一端、光电耦合器的第二输入端和光电耦合器的第二输出端均接地；

光电耦合器的第一输出端作为开光量测试输入电路的输出，与继保测试仪器连接，同时还与电阻R5的一端连接，电阻R5的另一端与继保测试仪器的VD端电连接。

3.根据权利要求2所述的保护跳闸出口测试辅助装置，其特征在于，所述光电耦合器包括发光器件和光敏器件，其中，发光器件的两端分别为光电耦合器的第一输入端和第二输入端，发光器件被光电耦合器的输入激发发光，光敏器件接收发光器件的光，光敏器件作为光电耦合器第一输出端和第二输出端倪。

4.根据权利要求3所述的保护跳闸出口测试辅助装置，其特征在于，所述发光器件为发光二极管，发光二极管的正极为光电耦合器的第一输入端，发光二极管的负极为光电耦合器的第二输入端。

5.根据权利要求4所述的保护跳闸出口测试辅助装置，其特征在于，所述光敏器件为光敏晶体管，所述光敏晶体管的基极接收发光器件发出的光，光敏晶体管的集电极作为光电耦合器的第一输出端，光敏晶体管的发射极作为光电耦合器的第二输出端。

6.根据权利要求5所述的保护跳闸出口测试辅助装置，其特征在于，所述保护跳闸出口回路包括低压侧开关跳闸回路、高压侧跳闸回路以及连接低压侧开关跳闸回路和高压侧跳闸回路的对地电容。

7.根据权利要求6所述的保护跳闸出口测试辅助装置，其特征在于，所述低压侧开关跳闸回路包括与继保测试仪器的VC端连接的+1KM端、继电保护装置以及跳闸压板1LP1，其中：

所述+1KM端与继电保护装置的一端连接，继电保护装置的另一端与跳闸压板1LP1连接，跳闸压板1LP1为保护跳闸出口回路的输出，与开关量测试输入电路连接。

8.根据权利要求6所述的保护跳闸出口测试辅助装置，其特征在于，所述低压侧开关跳闸回路包括与继保测试仪器的VC端连接的+2KM端、继电保护装置以及跳闸压板1LP2，其中：

所述+2KM端与继电保护装置的一端连接，继电保护装置的另一端与跳闸压板1LP2连接，跳闸压板1LP2为保护跳闸出口回路的输出，与开关量测试输入电路连接。

9.根据权利要求7或8所述的保护跳闸出口测试辅助装置，其特征在于，所述连接低压侧开关跳闸回路和高压侧跳闸回路的对地电容包括电阻R1、电容C1、电阻R2、电容C2，其中：

+1KM端分别与电阻R1的一端、电容C1的一端连接；

+2KM端分别与电阻R2的一端、电容C2的一端连接；

电阻R1的另一端、电容C1的另一端、电阻R2的另一端、电容C2的另一端均接地。

10.根据权利要求9所述的保护跳闸出口测试辅助装置，其特征在于，所述滤波器件为一阶低通滤波器或二阶有源滤波电路。

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