CN211527795U - 一种键盘性能测试设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种键盘性能测试设备，包括外罩，设置在所述外罩内部的固定机构以及光电对管组件，其特征在于，所述固定机构从顶部至底部依次设置有音圈电机、连接机构、压力传感器以及打键触头组件，所述固定机构和所述连接机构之间设置有滑轨组件。音圈电机、连接机构、压力传感器以及打键触头组件从顶部至底部依次设置在固定机构上，结构简单，操作简便高效；采用音圈电机加上滑轨结构，可以精准控制打键触头组件的打键行程，保证其线性运动的垂直精度；此外，压力传感器还可精准实时监控打键触头组件打键的力度，从而实现快速简单精准操作的目的。

Description

一种键盘性能测试设备

技术领域

本实用新型涉及测试设备技术领域，具体涉及一种键盘性能测试设备。

背景技术

在现今资讯化的社会中，键盘几乎是各种电子设备不可或缺的数据输入装置，例如常见的台式电脑、笔记本电脑等，皆以键盘作为控制命令或数据输入的主要装置，键盘功能的正常与否将直接影响到输入电脑设备内的信号，因此确有必要对键盘进行测试以判断按键的功能是否正常。此外，目前很多的键盘生产商，对于键盘上每个按键反馈力的范围都有着自己的一套测量标准。由于键盘上按键的反馈力直接影响着键盘的操作手感，因此对于键盘按键反馈力的检测也十分必要。

传统的键盘性能测试设备采用步进电机或其他电机驱动，传动的按键测试组件采用气动方式，不易对力度进行调控，无法达不到理想的测试精度；且传统的键盘性能测试设备采用多个模块组合，结构复杂，不易操作，不利于实现键盘测试机械动作的自动化。

实用新型内容

为了解决现有键盘性能测试设备不易对力度进行调控，无法达不到理想的测试精度以及难以实现测试设备机械动作自动化的问题，本实用新型提供了一种键盘性能测试设备。

一种键盘性能测试设备，包括外罩，设置在所述外罩内部的固定机构以及光电对管组件，其特征在于，所述固定机构从顶部至底部依次设置有音圈电机、连接机构、压力传感器以及打键触头组件，所述固定机构和所述连接机构之间设置有滑轨组件。

进一步的，所述音圈电机通过若干个螺丝固定设置在所述连接机构的内表面，所述连接机构通过若干个螺丝固定设置在所述音圈电机的底部，所述压力传感器通过若干个螺丝固定设置在所述连接机构的底部，所述打键触头组件通过若干个螺丝固定设置在所述压力传感器的底部。

进一步的，所述光电对管组件通过若干个螺丝固定设置在所述固定机构的内表面，所述光电对管组件为U型结构，所述光电对管组件的凹陷部与所述连接机构相对应设置。

进一步的，所述连接机构的外表面设置有编码器，所述编码器用于将所述打键触头组件获取的位移数据转换为电信号。

进一步的，所述连接机构为倒L型结构，所述压力传感器固定设置在所述倒L型结构的一端，所述编码器固定设置在所述倒L型结构的另一端。

进一步的，所述外罩的外表面固定设置有转接板，所述转接板用于承载外部设备的高电流。

进一步的，所述滑轨组件包括滑轨和滑块，所述滑轨固定设置在所述外罩的内表面，所述滑块固定设置在所述连接机构的外表面，所述滑块可沿着所述滑轨上下移动。

进一步的，所述滑轨设有凹槽，所述滑块设有凸起，所述凸起与所述凹槽配合，保证所述滑块沿着所述滑轨在竖直方向上下移动，限制所述滑块在水平方向的移动。

本实用新型提供的键盘性能测试设备，包括外罩、设置在所述外罩内部的固定机构以及光电对管组件，音圈电机、连接机构、压力传感器以及打键触头组件从顶部至底部依次设置在固定机构上，结构简单，操作简便高效；采用音圈电机加上滑轨结构，可以精准控制打键触头组件的打键行程，保证其线性运动的垂直精度；此外，压力传感器还可精准实时监控打键触头组件打键的力度，从而实现快速简单精准操作的目的。

附图说明

图1是本实用新型的键盘性能测试设备的整体结构的示意图；

图2是本实用新型的键盘性能测试设备的内部结构的示意图；

图3是本实用新型的键盘性能测试设备的滑轨组件的示意图；

附图标记说明：1、外罩；2、固定机构；3、音圈电机；4、连接机构；5、压力传感器；6、打键触头组件；7、编码器；8、光电对管组件；9、转接头；10、滑轨；11、滑块。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

参见图1所示，根据本实用新型的实施例，键盘性能测试设备由外罩1和内部结构2组成，外罩1的侧表面设置有转接板9，二者通过2个内六角螺丝连接，转接板9用于承载与该键盘测试设备相连接的外部设备的高电流。

参见图2所示，根据本实用新型的实施例，键盘性能测试设备的内部有设置在外罩1内部的固定机构2以及光电对管组件8，固定机构2从顶部至底部依次设置有音圈电机3、连接机构3、压力传感器5以及打键触头组件6，该四个部件从上到下依次设置，且彼此都是通过螺丝连接，无论是装配还是拆卸都非常方便。

音圈电机3位于顶部，通过若干个螺丝固定设置在固定机构2的内表面，单相两极装置给电机线圈施加电压在线圈里产生电流，进而在线圈上产生与电流成比例的力，使线圈在气隙内沿轴向运动，可精准实时监控打键触头组件6的打键力度；此外，音圈电机3可以控制每次打键触头组件打键6下压的行程一致，保证下压行程的精度；音圈电机3运动频率快，所以可缩短打键测试周期。

压力传感器5通过若干个螺丝固定设置在连接机构4的底部，打键触头组件6通过若干个螺丝固定设置在压力传感器5的底部，压力传感器5和打键触头组件6的组合可以实时监控打键触头组件6的打键力度，保证测试的准确率。

固定机构2的内表面设置有光电对管组件6，二者通过若干个内六角螺丝连接，光电对管组件8为U型结构，其凹陷部朝向固定机构，光电对管组件8通过集聚光线来控制其光敏三极管的导通与截止，从而将光信号转换为电信号，输出电信号。

连接机构4的外表面设置有编码器7，二者通过若干个内六角螺丝连接，编码器7本质是一种将位移转换成一串数字脉冲信号的旋转式传感器，这些脉冲能用来控制角位移，测量直线位移，转换为电信号。

连接机构4为倒L型结构，压力传感器5通过若干螺丝固定设置在该倒L型结构的一端，编码器7通过若干螺丝固定设置在该倒L型结构的另一端，因此连接机构不必采用整块板状结构，在节省材料的同时，保证压力传感器5和连接机构4连接的位置具有足够空间。

参见图2所示，根据本实用新型的实施例，音圈电机3和压力传感器5之间通过滑轨组件或其他高精度运动轨道方式连接，滑轨组件包括滑轨10和滑块11，滑轨10固定设置在外罩1的内表面，滑块11固定设置在连接机构4的外表面，滑轨10表面设置有凹槽(图中未标出)，滑块11表面设置有凸起(图中未标出)，凹槽刚好能卡住凸起，保证滑块11只可沿着滑轨10在Y轴方向移动。

本实用新型的键盘性能测试设备工作时，使用音圈电机1可以控制每次打键下压的行程一致，保证下压行程精度；音圈电机3+连接机构4+滑轨组件+压力传感器5的线性运动方式可保证打键的垂直精度，实现测试设备机械动作的自动化；压力传感器5+打键触头组件6的组合可实时监控打键力度，从而保证测试的准确率。测试时，需要对待测键盘中的每一个按键连续下压两次，压力传感器5可自动获取两次的压力值，并和设定的标准压力值进行对比，迅速做出相应的判断，得出最优且最准确的压力值。

当然，以上是本实用新型的优选实施方式。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型基本原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也视为本实用新型的保护范围。

Claims (8)

1.一种键盘性能测试设备，包括外罩，设置在所述外罩内部的固定机构以及光电对管组件，其特征在于，所述固定机构从顶部至底部依次设置有音圈电机、连接机构、压力传感器以及打键触头组件，所述固定机构和所述连接机构之间设置有滑轨组件。

2.根据权利要求1所述的键盘性能测试设备，其特征在于，所述音圈电机通过若干个螺丝固定设置在所述连接机构的内表面，所述连接机构通过若干个螺丝固定设置在所述音圈电机的底部，所述压力传感器通过若干个螺丝固定设置在所述连接机构的底部，所述打键触头组件通过若干个螺丝固定设置在所述压力传感器的底部。

3.根据权利要求2所述的键盘性能测试设备，其特征在于，所述光电对管组件通过若干个螺丝固定设置在所述固定机构的内表面，所述光电对管组件为U型结构，所述光电对管组件的凹陷部与所述连接机构相对应设置。

4.根据权利要求2所述的键盘性能测试设备，其特征在于，所述连接机构的外表面设置有编码器，所述编码器用于将所述打键触头组件获取的位移数据转换为电信号。

5.根据权利要求4所述的键盘性能测试设备，其特征在于，所述连接机构为倒L型结构，所述压力传感器固定设置在所述连接机构的一端，所述编码器固定设置在所述连接机构的另一端。

6.根据权利要求1所述的键盘性能测试设备，其特征在于，所述外罩的外表面固定设置有转接板，所述转接板用于承载外部设备的高电流。

7.根据权利要求1所述的键盘性能测试设备，其特征在于，所述滑轨组件包括滑轨和滑块，所述滑轨固定设置在所述外罩的内表面，所述滑块固定设置在所述连接机构的外表面，所述滑块可沿着所述滑轨在竖直方向上下移动。

8.根据权利要求7所述的键盘性能测试设备，其特征在于，所述滑轨设有凹槽，所述滑块设有凸起，所述凸起与所述凹槽配合，保证所述滑块沿着所述滑轨在竖直方向上下移动，限制所述滑块在水平方向的移动。

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