CN211293106U - 一种晶体振荡器测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种晶体振荡器测试装置，包括连接装置、连接柱和上料装置，所述连接装置活动接触在上料装置的侧面，所述连接装置的内部固定安装有连接杆，所述连接杆的两端固定连接有第一气缸，所述固定外壳的外表面活动连接有调节螺栓，所述固定外壳的一端面开设有刻度线，所述固定外壳的另一端内部固定安装有导线，所述限位槽的内部固定安装有导电条，所述挤压块的外侧面固定连接有弹簧，所述上料装置的内部固定安装有传送带。本实用新型可以在第一气缸的推动下，使固定外壳与传送带侧面的晶体振荡器相电性连接，从而对晶体振荡器进行测试，有效的避免人工对晶体振荡器的安装连接，提高晶体振荡器的测试效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及晶体振荡器测试设备技术领域，具体为一种晶体振荡器测试装置。
背景技术
晶体振荡器在生产加工后，需要对晶体振荡器进行性能测试，目前晶体振荡器在测试时，需要人工手动将晶体振荡器的两脚与测试器的连接口进行连接，然后等待上一个晶体振荡器测试完成后再对下一个晶体振荡器进行测试，由于手动连接晶体振荡器的工作效率低，使得晶体振荡器的测试效率低，导致晶体振荡器的测试费事费力，所以需要一种晶体振荡器测试装置，以解决上述提出的问题。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种晶体振荡器测试装置，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种晶体振荡器测试装置，包括连接装置、连接柱和上料装置，所述连接装置活动接触在上料装置的侧面，所述连接装置的内部固定安装有连接杆，所述连接杆的两端固定连接有第一气缸，所述连接杆的外表面固定连接有插接装置，所述插接装置的内部固定安装有固定外壳，所述固定外壳的内部活动安装有连接块，所述固定外壳的外表面活动连接有调节螺栓，所述固定外壳的内表面固定安装有限位板，所述固定外壳的外表面开设有螺纹孔，所述固定外壳的一端面开设有刻度线，所述固定外壳的另一端内部固定安装有导线，所述连接块的外表面开设有卡接槽，所述连接块的一端面开设有限位槽，所述限位槽的内部固定安装有导电条，所述导电条的一端固定连接有挤压块，所述挤压块的外侧面固定连接有弹簧，所述上料装置的内部固定安装有传送带，所述传送带的侧面开设有凹槽，所述传送带的侧面位于凹槽的边缘开设有卡槽，所述卡槽的内部固定安装有第二气缸，所述凹槽的内部插接有晶体振荡器。
优选的，所述连接块在固定外壳的内部一端分为两组，所述限位槽开设在连接块的一端边缘。
优选的，所述调节螺栓通过螺纹孔和插接孔与连接块的外表面相活动连接。
优选的，所述连接块通过卡接槽和限位板与固定外壳的内部相活动卡接。
优选的，所述导线的一端在连接块的内部与导电条的一端相电性连接，所述连接柱的一端与测试器相电性连接。
优选的，所述挤压块之间的孔直径相晶体振荡器的两脚直径两毫米，所述晶体振荡器在传送带的外表面与固定外壳的一端相对齐。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：
本实用新型通过连接块在固定外壳的内部一端分为两组，能够便于与晶体振荡器的两脚进行电性连接，限位槽开设在连接块的一端边缘，能够避免两组限位槽相距较远，从而扩大对晶体振荡器测试的类型，调节螺栓通过螺纹孔和插接孔与连接块的外表面相活动连接，从而能够改变两组连接块在固定外壳内部一端的位置，连接块通过卡接槽和限位板与固定外壳的内部相活动卡接，从而能够对连接块在滑动时起到限制作用，避免连接块在滑动时发生偏移现象，导线的一端在连接块的内部与导电条的一端相电性连接，从而使挤压块通电对晶体振荡器进行测试，连接柱的一端与测试器相电性连接，从而能够显示对晶体振荡器的性能进行检测信息，挤压块之间的孔直径相晶体振荡器的两脚直径两毫米，从而能够使挤压块与晶体振荡器两脚外表面相紧密接触，保证接触良好，晶体振荡器在传送带的外表面与固定外壳的一端相对齐，保证固定外壳在靠近晶体振荡器时能够相插接。
附图说明
图1为本实用新型的主体结构示意图；
图2为本实用新型的连接装置结构示意图；
图3为本实用新型的插接装置结构示意图；
图4为本实用新型的插接装置剖切示意图；
图5为本实用新型的固定外壳剖切示意图；
图6为本实用新型的连接块结构示意图；
图7为本实用新型的上料装置结构示意图。
图中：1-连接装置、2-上料装置、3-插接装置、4-第一气缸、5-连接杆、 6-固定外壳、7-连接块、8-调节螺栓、9-导线、10-螺纹孔、11-刻度线、12- 限位板、13-连接柱、14-卡接槽、15-导电条、16-弹簧、17-限位槽、18-挤压块、19-插接孔、20-凹槽、21-卡槽、22-传送带、23-晶体振荡器、24-第二气缸。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-7，本实用新型提供的一种实施例：一种晶体振荡器测试装置，包括连接装置1、连接柱13和上料装置2，连接装置1活动接触在上料装置2 的侧面，连接装置1的内部固定安装有连接杆5，连接杆5的两端固定连接有第一气缸4，连接杆5的外表面固定连接有插接装置3，插接装置3的内部固定安装有固定外壳6，固定外壳6的内部活动安装有连接块7，固定外壳6的外表面活动连接有调节螺栓8，固定外壳6的内表面固定安装有限位板12，固定外壳6的外表面开设有螺纹孔10，固定外壳6的一端面开设有刻度线11，固定外壳6的另一端内部固定安装有导线9，连接块7的外表面开设有卡接槽 14，连接块7的一端面开设有限位槽17，限位槽17的内部固定安装有导电条 15，导电条15的一端固定连接有挤压块18，挤压块18的外侧面固定连接有弹簧16，上料装置2的内部固定安装有传送带22，传送带22的侧面开设有凹槽20，传送带22的侧面位于凹槽20的边缘开设有卡槽21，卡槽21的内部固定安装有第二气缸24，凹槽20的内部插接有晶体振荡器23，连接块7 在固定外壳6的内部一端分为两组，能够便于与晶体振荡器23的两脚进行电性连接，限位槽17开设在连接块7的一端边缘，能够避免两组限位槽17相距较远，扩大对晶体振荡器23测试的类型，调节螺栓8通过螺纹孔10和插接孔19与连接块7的外表面相活动连接，从而能够改变两组连接块7在固定外壳6内部一端的位置，连接块7通过卡接槽14和限位板12与固定外壳6 的内部相活动卡接，从而能够对连接块7在滑动时起到限制作用，避免连接块7在滑动时发生偏移现象，导线9的一端在连接块7的内部与导电条15的一端相电性连接，从而使挤压块18通电对晶体振荡器23进行测试，连接柱 13的一端与测试器相电性连接，从而能够显示对晶体振荡器23的性能进行检测信息，挤压块18之间的孔直径相晶体振荡器23的两脚直径两毫米，从而能够使挤压块18与晶体振荡器23两脚外表面相紧密接触，保证接触良好，晶体振荡器23在传送带22的外表面与固定外壳6的一端相对齐，保证固定外壳6在靠近晶体振荡器23时能够相插接，第一气缸4和第二气缸24属于现有技术，所以在此本文不做详细介绍。
连接块7在固定外壳6的内部一端分为两组，限位槽17开设在连接块7 的一端边缘，调节螺栓8通过螺纹孔10和插接孔19与连接块7的外表面相活动连接，连接块7通过卡接槽14和限位板12与固定外壳6的内部相活动卡接，导线9的一端在连接块7的内部与导电条15的一端相电性连接，连接柱13的一端与测试器相电性连接，挤压块18之间的孔直径相晶体振荡器23 的两脚直径两毫米，晶体振荡器23在传送带22的外表面与固定外壳6的一端相对齐。
工作原理：在需要对晶体振荡器23进行测试前，先测量晶体振荡器23 的两脚之间的距离，然后对连接块7在固定外壳6内部一端的位置进行调节，先转动调节螺栓8与螺纹孔10相螺旋转动，推动连接块7在固定外壳6的内部相互靠近，并观察刻度线11使连接块7之间的距离等于晶体振荡器23的两脚距离为止，然后将晶体振荡器23安装在传送带22侧面凹槽20的内部，再启动第一气缸4推动连接杆5横向移动，并且向上料装置2的侧面靠近，直至晶体振荡器23的两脚插接进挤压块18之间，同时挤压块18在限位槽17 的内部向两侧偏移挤压弹簧16，而挤压块18会在弹簧16的弹力作用下始终保持与晶体振荡器23的两脚相紧密接触，在晶体振荡器23的两脚插接进限位槽17内部时，第二气缸24会启动回缩远离晶体振荡器23的外表面，在晶体振荡器23的两脚完全插接到限位槽17的内部后，晶体振荡器23通过挤压块18和导线9与连接柱13一端连接在测试器相连接，从而对晶体振荡器23 的性能进行测试，在测试后晶体振荡器23性能有问题的会在第一气缸4的带动下留在固定外壳6的一端，而正常的晶体振荡器23会在第二气缸24的挤压作用下，脱离限位槽17的内部并在被传送带22传送离开，有问题的晶体振荡器23会被工作人员从固定外壳6的内部收走，然后继续对晶体振荡器23 进行测试，在第一气缸4的推动下，使固定外壳6与传送带22侧面的晶体振荡器23相电性连接，从而对晶体振荡器23进行测试，有效的避免人工对晶体振荡器23的安装连接，提高晶体振荡器23的测试效率。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (6)
1.一种晶体振荡器测试装置，包括连接装置(1)、连接柱(13)和上料装置(2)，其特征在于：所述连接装置(1)活动接触在上料装置(2)的侧面，所述连接装置(1)的内部固定安装有连接杆(5)，所述连接杆(5)的两端固定连接有第一气缸(4)，所述连接杆(5)的外表面固定连接有插接装置(3)，所述插接装置(3)的内部固定安装有固定外壳(6)，所述固定外壳(6)的内部活动安装有连接块(7)，所述固定外壳(6)的外表面活动连接有调节螺栓(8)，所述固定外壳(6)的内表面固定安装有限位板(12)，所述固定外壳(6)的外表面开设有螺纹孔(10)，所述固定外壳(6)的一端面开设有刻度线(11)，所述固定外壳(6)的另一端内部固定安装有导线(9)，所述连接块(7)的外表面开设有卡接槽(14)，所述连接块(7)的一端面开设有限位槽(17)，所述限位槽(17)的内部固定安装有导电条(15)，所述导电条(15)的一端固定连接有挤压块(18)，所述挤压块(18)的外侧面固定连接有弹簧(16)，所述上料装置(2)的内部固定安装有传送带(22)，所述传送带(22)的侧面开设有凹槽(20)，所述传送带(22)的侧面位于凹槽(20)的边缘开设有卡槽(21)，所述卡槽(21)的内部固定安装有第二气缸(24)，所述凹槽(20)的内部插接有晶体振荡器(23)。
2.根据权利要求1所述的一种晶体振荡器测试装置，其特征在于：所述连接块(7)在固定外壳(6)的内部一端分为两组，所述限位槽(17)开设在连接块(7)的一端边缘。
3.根据权利要求1所述的一种晶体振荡器测试装置，其特征在于：所述调节螺栓(8)通过螺纹孔(10)和插接孔(19)与连接块(7)的外表面相活动连接。
4.根据权利要求1所述的一种晶体振荡器测试装置，其特征在于：所述连接块(7)通过卡接槽(14)和限位板(12)与固定外壳(6)的内部相活动卡接。
5.根据权利要求1所述的一种晶体振荡器测试装置，其特征在于：所述导线(9)的一端在连接块(7)的内部与导电条(15)的一端相电性连接，所述连接柱(13)的一端与测试器相电性连接。
6.根据权利要求1所述的一种晶体振荡器测试装置，其特征在于：所述挤压块(18)之间的孔直径相晶体振荡器(23)的两脚直径两毫米，所述晶体振荡器(23)在传送带(22)的外表面与固定外壳(6)的一端相对齐。
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2019
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