CN211263640U - 一种电子元器件测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及电子元器件技术领域，尤其为一种电子元器件测试装置，包括测试箱，所述测试箱的右侧外壁底端固定设有排水阀，所述测试箱的正面外壁中部固定设有可视窗，所述测试箱正面外壁的右侧顶端嵌入式安装有PLC控制面板，所述测试箱的顶壁中部固定安装有引水管，所述测试箱的背面外壁通过合页连接有密封门，所述测试箱的内部固定设有测试仓，所述测试仓的底壁中部固定设有承载台的内部中间固定设有储水腔，所述承载台的右侧侧壁底端螺纹连接有排水管，所述承载台的顶壁中部固定连接有定位板，所述承载台的顶壁两端均开设有入水口，所述测试仓的右侧内壁安装有冷凝器，结构设计科学合理，功能实用性较强，具有一定的使用价值和推广价值。

Description

一种电子元器件测试装置

技术领域

本实用新型涉及电子元器件技术领域，具体为一种电子元器件测试装置。

背景技术

电子元器件是电子元件和电小型的机器、仪器的组成部分，其本身常由若干零件构成，可以在同类产品中通用；常指电器、无线电、仪表等工业的某些零件，如电容、晶体管、游丝、发条等子器件的总称。常见的有二极管等。

随着我国电子产品行业的高速发展，对电子元器件的测试要求也越来越高，在对三极管新型环境试验测试时较为不便，难以通过同一装置进行多种环境因素的测试处理。因此，需要一种电子元器件测试装置来解决现有技术中所存在的不足之处。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种电子元器件测试装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种电子元器件测试装置，包括测试箱，所述测试箱的右侧外壁底端固定设有排水阀，所述测试箱的正面外壁中部固定设有可视窗，所述测试箱正面外壁的右侧顶端嵌入式安装有PLC控制面板，所述测试箱的顶壁中部固定安装有引水管，所述测试箱的背面外壁通过合页连接有密封门，所述测试箱的内部固定设有测试仓，所述测试仓的底壁中部固定设有承载台的内部中间固定设有储水腔，所述承载台的右侧侧壁底端螺纹连接有排水管，所述承载台的顶壁中部固定连接有定位板，所述承载台的顶壁两端均开设有入水口，所述测试仓的右侧内壁安装有冷凝器，所述测试仓的左侧内壁安装有电磁加热器，所述测试仓的内部靠近冷凝器与电磁加热器的一侧均固定设有栅板，所述引水管的底端穿至测试仓后螺纹连接有横水管，所述横水管的底壁通口螺纹连接有多个洒水头，所述横水管的顶壁两端均固定连接有定位杆，所述测试仓的顶壁左端通过螺钉连接有湿度传感器，所述测试仓的顶壁右端通过螺钉连接有温度传感器。

优选的，所述有PLC控制面板电性连接于冷凝器、电磁加热器、湿度传感器、温度传感器。

优选的，所述引水管远离横水管的一端连接有引水泵。

优选的，所述定位杆的顶端铰接于测试仓的顶壁。

优选的，所述湿度传感器的型号为HMT334。

优选的，所述温度传感器的型号为WRF2-101。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1、本实用新型中，通过设置的PLC控制面板作为本装置的控制结构，以此PLC控制面板电性连接于冷凝器、电磁加热器、湿度传感器、温度传感器，在控制使用上非常便捷，自动化程度较高。

2、本实用新型中，通过设置的冷凝器、电磁加热器、洒水头、湿度传感器以及温度传感器组成本装置的环境测试机构，能够通过本装置对电子元器件进行高温、试验以及潮态测试试验，功能性较强，空间结构设计科学合理。

3、本实用新型中，通过设置的整体结构较为科学合理，通过结构上的改进和创新，有效解决了现有技术中所存在的一些不足之处，并且整体的原理较为简单，功能易于实现，具有一定的使用价值和推广价值。

附图说明

图1为本实用新型整体结构主视图；

图2为本实用新型整体结构后视图；

图3为本实用新型整体结构主视剖面图。

图中：1-测试箱、2-排水阀、3-可视窗、4-PLC控制面板、5-引水管、6-密封门、7-测试仓、8-承载台、9-储水腔、10-排水管、11-定位板、12-入水口、13-冷凝器、14-电磁加热器、15-栅板、16-横水管、17-洒水头、18-定位杆、19-湿度传感器、20-温度传感器。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例,基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-3，本实用新型提供一种技术方案：

一种电子元器件测试装置，包括测试箱1，测试箱1的右侧外壁底端固定设有排水阀2，测试箱1的正面外壁中部固定设有可视窗3，测试箱1正面外壁的右侧顶端嵌入式安装有PLC控制面板4，通过PLC控制面板4作为本装置的控制结构，以此PLC控制面板4电性连接于冷凝器13、电磁加热器14、湿度传感器19、温度传感器20，在控制使用上非常便捷，自动化程度较高，测试箱1的顶壁中部固定安装有引水管5，测试箱1的背面外壁通过合页连接有密封门6，测试箱1的内部固定设有测试仓7，测试仓7的底壁中部固定设有承载台8的内部中间固定设有储水腔9，承载台8的右侧侧壁底端螺纹连接有排水管10，承载台8的顶壁中部固定连接有定位板11，承载台8的顶壁两端均开设有入水口12，测试仓7的右侧内壁安装有冷凝器13，测试仓7的左侧内壁安装有电磁加热器14，测试仓7的内部靠近冷凝器13与电磁加热器14的一侧均固定设有栅板15，引水管5的底端穿至测试仓7后螺纹连接有横水管16，横水管16的底壁通口螺纹连接有多个洒水头17，横水管16的顶壁两端均固定连接有定位杆18，测试仓7的顶壁左端通过螺钉连接有湿度传感器19，测试仓7的顶壁右端通过螺钉连接有温度传感器20，通过冷凝器13、电磁加热器14、洒水头17、湿度传感器19以及温度传感器20组成本装置的环境测试机构，能够通过本装置对电子元器件进行高温、试验以及潮态测试试验，功能性较强，空间结构设计科学合理，通过整体结构较为科学合理，通过结构上的改进和创新，有效解决了现有技术中所存在的一些不足之处，并且整体的原理较为简单，功能易于实现，具有一定的使用价值和推广价值。

本实用新型工作原理：使用时，通过将密封门6打开，然后将待测试的电子元器件(三极管)一一固定放置在定位板11的上方，然后将密封门6密闭，使引水管5远离横水管16的一端接通于引水泵(图中未出示)，然后根据实际测试需要选择具体测试的先后顺序，进行高温测试时：通过PLC控制面板4控制开启电磁加热器14，以此通过电磁加热器14对测试仓7进行持续加温处理，并且通过温度传感器20将测试仓7的实时温度信息反馈至PLC控制面板4，当测试仓7内部的温度上升到指定温度(电子元器件标准规格的温度测试值)时，通过PLC控制面板4控制关闭电磁加热器14；进行低温测试时：通过PLC控制面板4控制开启冷凝器13，由冷凝器13对测试仓7进行降温处理，并通过上述高温测试的相同原理完成低温测试；最后进行潮态测试时：通过PLC控制面板4控制开启连接于引水管5的引水泵(图中未出示)开始供水，以此通过引水管5和横水管16将水导至洒水头17，并通过洒水头17对对测试仓7内的环境进行潮态处理，并通过湿度传感器19对湿度信息进行实时反馈，当测试仓7内部的湿度上升到指定数值(电子元器件标准规格的湿度测试值)时，通过PLC控制面板4控制关闭引水泵(图中未出示)；以此通过上述结构完成对电子元器件多种环境调节的测试工作。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (6)

1.一种电子元器件测试装置，包括测试箱(1)，其特征在于：所述测试箱(1)的右侧外壁底端固定设有排水阀(2)，所述测试箱(1)的正面外壁中部固定设有可视窗(3)，所述测试箱(1)正面外壁的右侧顶端嵌入式安装有PLC控制面板(4)，所述测试箱(1)的顶壁中部固定安装有引水管(5)，所述测试箱(1)的背面外壁通过合页连接有密封门(6)，所述测试箱(1)的内部固定设有测试仓(7)，所述测试仓(7)的底壁中部固定设有承载台(8)的内部中间固定设有储水腔(9)，所述承载台(8)的右侧侧壁底端螺纹连接有排水管(10)，所述承载台(8)的顶壁中部固定连接有定位板(11)，所述承载台(8)的顶壁两端均开设有入水口(12)，所述测试仓(7)的右侧内壁安装有冷凝器(13)，所述测试仓(7)的左侧内壁安装有电磁加热器(14)，所述测试仓(7)的内部靠近冷凝器(13)与电磁加热器(14)的一侧均固定设有栅板(15)，所述引水管(5)的底端穿至测试仓(7)后螺纹连接有横水管(16)，所述横水管(16)的底壁通口螺纹连接有多个洒水头(17)，所述横水管(16)的顶壁两端均固定连接有定位杆(18)，所述测试仓(7)的顶壁左端通过螺钉连接有湿度传感器(19)，所述测试仓(7)的顶壁右端通过螺钉连接有温度传感器(20)。

2.根据权利要求1所述的一种电子元器件测试装置，其特征在于：所述有PLC控制面板(4)电性连接于冷凝器(13)、电磁加热器(14)、湿度传感器(19)、温度传感器(20)。

3.根据权利要求1所述的一种电子元器件测试装置，其特征在于：所述引水管(5)远离横水管(16)的一端连接有引水泵。

4.根据权利要求1所述的一种电子元器件测试装置，其特征在于：所述定位杆(18)的顶端铰接于测试仓(7)的顶壁。

5.根据权利要求1所述的一种电子元器件测试装置，其特征在于：所述湿度传感器(19)的型号为HMT334。

6.根据权利要求1所述的一种电子元器件测试装置，其特征在于：所述温度传感器(20)的型号为WRF2-101。

Images