CN210773716U - 导弹测试系统用发射机构测试单元 - Google Patents
导弹测试系统用发射机构测试单元 Download PDFInfo
- Publication number
- CN210773716U CN210773716U CN201921799086.3U CN201921799086U CN210773716U CN 210773716 U CN210773716 U CN 210773716U CN 201921799086 U CN201921799086 U CN 201921799086U CN 210773716 U CN210773716 U CN 210773716U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- path
- relay
- grounded
- power supply
- double
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 188
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 title claims abstract description 138
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 34
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 33
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 11
- 230000008569 process Effects 0.000 claims abstract description 9
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 82
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 74
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 56
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 25
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 19
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims description 18
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 16
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 16
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 16
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 claims description 12
- 230000004913 activation Effects 0.000 claims description 9
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 claims description 9
- 238000004088 simulation Methods 0.000 claims description 9
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 8
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000002457 bidirectional effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 3
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims description 2
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000011056 performance test Methods 0.000 abstract description 7
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 abstract description 4
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 abstract description 3
- 238000009434 installation Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 230000006870 function Effects 0.000 description 7
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 5
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 5
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 3
- 101000634707 Homo sapiens Nucleolar complex protein 3 homolog Proteins 0.000 description 2
- 102100029099 Nucleolar complex protein 3 homolog Human genes 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004677 Nylon Substances 0.000 description 1
- 239000012190 activator Substances 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 1
- 238000007405 data analysis Methods 0.000 description 1
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000002360 explosive Substances 0.000 description 1
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 1
- 230000000977 initiatory effect Effects 0.000 description 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 1
- 238000007726 management method Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 229920001778 nylon Polymers 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
本实用新型公开了一种导弹测试系统用发射机构测试单元，所述发射机构测试单元包括发射机构测试单元箱体，发射机构安装板通过锁紧装置固定在上盖板上，用于安装被测试发射机构，且所述上盖板可上下转动，在所述安装板上设置有倾角传感器，发射机构在测试过程中，解除锁紧装置，即可将发射机构倾斜，用来对发射机构内部倾角传感器性能进行测试；在进行发射机构内部倾角传感器性能测试时，利用外置的倾角检测芯片实时检测发射机构的倾斜角度，与内部发射机构倾角传感器输出数据进行对比，达到测试目的；发射机构测试单元通过与计算机测控单元配合，接收所述计算机测控单元下传的控制命令，完成导弹发射机构的性能测试，提高了故障诊断率和维修效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及导弹测试装置技术领域，尤其涉及一种导弹测试系统用发射机构测试单元。
背景技术
导弹地面测试装置是在导弹发射前，对弹上各分系统及其总体进行全面的功能检查与监视，装定飞行参数，使导弹处于待命状态。导弹在发射前，虽已经过全面、细致的单元测试和综合测试，但为了保证导弹可靠且安全发射，在进入发射场之后，仍需进行一次测试，但测试项目要少而精。主要关键的检查项目包括弹上电源供电系统检查、火工品点火通路检查、通路阻值检查、点火时序测试和小回路动态测试等，如果在测试过程中发现参数超差或故障，应仔细分析，进行故障定位，并采取有效措施排除故障。
早期的导弹地面综合测试系统采用手动测试或半自动测试，缺点是测试系统的体积大、便携性较差、测试过程复杂、所需设备较多、需要人为参与、效率低、测试与发射控制间隔时间长，并且人与被测导弹距离较近，存在安全性隐患。随着导弹自动测试技术的进步，由传统的手动或半自动测试转变为简洁的自动化测试势在必行。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是如何提供一种能够提高故障诊断率和维修效率的导弹测试系统用发射机构测试单元。
为解决上述技术问题，本实用新型所采取的技术方案是：一种导弹测试系统用发射机构测试单元，其特征在于：所述发射机构测试单元包括发射机构测试单元箱体，发射机构安装板通过锁紧装置固定在上盖板上，用于安装被测试发射机构，且所述上盖板可上下转动，在所述安装板上设置有倾角传感器，发射机构在测试过程中，解除锁紧装置，即可将发射机构倾斜，用来对发射机构内部倾角传感器性能进行测试；在进行发射机构内部倾角传感器性能测试时，利用外置的倾角检测芯片实时检测发射机构的倾斜角度，与内部发射机构倾角传感器输出数据进行对比，达到测试目的；
第三交流输入接口内嵌到所述发射机构测试单元箱体上，第三交流输入接口经第三电源开关与第三开关电源的电源输入端连接，所述第三开关电源的输出端与第二DC-DC转换电路的一个电源输入端连接，所述第二DC-DC转换电路的输出端的第一路与第三电源处理电路的输入端连接，所述第二DC-DC转换电路的输出端的第二路与数据采集卡的电源输入端连接，所述第二DC-DC 转换电路的输出端的第三路与绝缘测试电路板的电源输入端连接，第三直流电源插座内嵌在所述发射机构测试单元箱体上，所述第三直流电源插座与所述第二DC-DC转换电路的另一个输入端连接，所述第三电源处理电路的输出端分为若干路，通过所述第三电源处理电路为所述发射机构测试单元中需要供电的其他单元提供工作电源；第三主控芯片模块分别与第二导通测量电路、第二信号自检电路、第二信号处理电路以及第二通信电路双向连接，第三数据采集接口内嵌在所述发射机构测试单元箱体上，通过连接线与计算机测控单元上的数据下传接口连接，通过数据采集卡的IO口与第三主控芯片模块进行串行通信，将命令转发至第三主控芯片模块，第三主控芯片模块将命令转换为相应的动作信号或CAN通信命令；发控接口内嵌到所述箱体上，倾角传感器的输出端通过线缆与发控接口连接，所述发控接口与所述信号处理电路双向连接，所述第二信号处理电路通过所述第二信号自检电路与第二通道选择电路双向连接，所述第二通道选择模块通过所述第二导通测量电路与所述第三主控芯片模块双向连接；
所述第三电源处理电路包括+5V及+3.3V电源变换电路和+12V电源变换电路，所述+5V及+3.3V电源变换电路包括VRB24S05-6W型电源变换芯片U2，所述U2的2脚接+24V电源，所述U2的1脚接地，所述U2的3脚与继电器 K1中双刀双掷开关的一个常开分触点连接，所述U2的5脚与继电器K1中双刀双掷开关的另一个常开分触点连接，继电器K1中双刀双掷开关的一个常闭触点接内部+5V电源，继电器K1中双刀双掷开关的另一个常闭触点接地，继电器K1中双刀双掷开关的一个公共触点接地，继电器K1中双刀双掷开关的另一个公共触点分为四路，第一路为+5V电源输出端，第二路经电容C3接地，第三路经电容C1接地，第四路与AMS1117-3.3V电源模块U1的3脚连接，所述U1的1脚接地，所述U1的2脚分为四路，所述继电器K1的线圈的一端接直流+20V电源，另一端接地；第一路经电容C4接地，第二路经电容C2接地，第三路为+3.3V电源输出端，第四路依次经电阻R1以及发光二极管LED1后接地；
所述+12V电源变换电路包括VRB24S12-10W型电源变换芯片U3，所述 U3的1脚接地，所述U3的2脚接+24V电源，所述U3的5脚接地，所述U3 的3脚分为三路，第一路为+12V电源输出端，第二路经电容C10接地，第三路经电容C9接地；
所述第三主控芯片模块包括AT90CAN32型主控芯片U21，所述U21的PB5 端口以及PB6端口通过数据采集电缆与数据采集卡的DO口相连，所述U21 的PB7端口与数据采集卡的DI口相连，通过模拟SPI通信格式与上位机软件实现数据传输；四个MC1413型继电器驱动芯片分别通过一个74HC245型缓冲器与主控芯片的IO端口连接，实现继电器的控制；所述U21通过PA0、PA1、 PA2端口实现时钟芯片的初始化配置及时钟读取。
采用上述技术方案所产生的有益效果在于：测试系统采用上位机+下位机程序控制的方式，降低了系统对上位机软件及数据采集卡硬件资源的依赖。将系统功能进行划分，上位机软件负责总体流程控制、数据处理及显示，下位机程序负责本单元内部的控制；该模式便于后期系统扩展，新的测试单元内部主要控制工作由内部下位机程序实现，通过通信接口与转台控制单元内的数据采集卡完成数据传输，降低对公共单元(转台控制)的硬件依赖。确保后期扩展过程中，转台控制单元能够满足系统需求。
在发射机构安装板上，安装有倾角检测芯片，在进行发射机构内部倾角传感器性能测试时，利用外置的倾角检测芯片实时检测发射机构的倾斜角度，与内部发射机构倾角传感器输出数据进行对比，达到测试目的，测试方便。发射机构测试单元通过与计算机测控单元配合，接收所述计算机测控单元下传的控制命令，完成完成导弹发射机构的性能测试，提高了故障诊断率和维修效率。
附图说明
下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明。
图1是本实用新型实施例所述测试系统的结构示意图；
图2是本实用新型实施例中发射机构测试系统的原理框图；
图3是本实用新型实施例中发射机构测试单元的整体结构示意图；
图4是本实用新型实施例中发射机构测试单元的电气原理框图；
图5是本实用新型实施例中内部电源处理电路的原理图；
图6是本实用新型实施例中发射机构测试单元主控电路原理图；
图7是本实用新型实施例中发射机构测试单元导通测量电路原理图；
图8是本实用新型实施例中发射机构测试单元绝缘测量电路原理图；
图9是本实用新型实施例中发射机构测试单元供电及模拟负载电路原理图；
图10是本实用新型实施例中发射机构测试单元电流检测电路原理图；
图11a-11b是本实用新型实施例中发射机构测试单元信号处理电路原理图；
图12a-12b是本实用新型实施例中发射机构测试单元自检电路原理图；
图13是本实用新型实施例中发射机构测试单元内部程序流程图；
图14是本实用新型实施例中发射机构测试单元内部掉电检测中断程序流程图；
其中：1、系统箱体；2、计算机测控单元；3、转台控制单元；4、导弹性能测试单元；5、发射机构测试单元；6、目标模拟转台；7、气瓶；11、发射机构测试单元箱体；12、发射机构安装板；13、上盖板。
具体实施方式
下面结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型，但是本实用新型还可以采用其他不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本实用新型内涵的情况下做类似推广，因此本实用新型不受下面公开的具体实施例的限制。
如图1所示，公开了一种导弹测试系统，包括系统箱体1，所述系统箱体内设置有计算机测控单元放置格、转台控制单元放置格、导弹性能测试单元放置格、发射机构测试单元放置格、目标模拟转台放置格、气瓶放置格、气路附件放置格、气瓶支架放置格、配套连接线缆放置格以及转台附件放置格。计算机测控单元2位于所述计算机测控单元放置格内，转台控制单元3位于所述转台控制单元放置格内，导弹性能测试单元4位于所述导弹性能测试单元放置格内，发射机构测试单元5位于所述发射机构测试单元放置格内，目标模拟转台 6放置在所述目标模拟转台放置格内，气瓶7放置在所述气瓶放置格内，气路附件位于所述气路附件放置格内，气瓶支架位于所述气瓶支架放置格内，配套连接线缆位于所述配套连接线缆放置格内，转台附件位于所述转台附件放置格内，通过所述计算机测控单元2、转台控制单元3、导弹性能测试单元4以及气源组件的配合完成导弹性能的测试；通过所述计算机测控单元2以及发射机构测试单元5的配合完成导弹发射机构的测试。
使用笔记本作为所述计算机测控单元的主体，所述计算机测控单元2作为系统的上位机实现系统中各部分硬件功能控制、数据采集、系统维护及数据库管理功能；计算机测控单元通过USB接口与转台控制单元或发射机构测试单元进行通信，实现数据传输。
如图2所示，发射机构测试系统包括计算机测控单元2和发射机构测试单元5，所述计算机测控单元2通过电源适配器与交流电源连接，所述发射机构测试单元通过交流电源连接线与交流电源连接，所述发射机构测试单元5通过直流电源连接线与直流供电单元连接，所述发射机构测试单元5用于接收所述计算机测控单元下传的控制命令，完成完成导弹发射机构的性能测试。
发射机构测试系统的工作流程如下：
1)将计算机测控单元、发射机构测试单元从储运箱中取出，在操作台上正确展开。
2)将发射机构测试单元通过交流电源线接入到市电中，也可通过直流供电电缆接入到24V直流电源(输出电流大于5A)中。
3)运行计算机测控单元上的发射机构测试软件，完成发射机构测试单元自检。
4)自检完成后，将发射机构按要求安装到发射机构测试单元上。
5)点击开始按钮，按照流程开始测试，测试过程中根据软件提示，由操作人员配合完成对应动作。
6)测试完成后，保存测试结果，并给出是否合格的结论。
发射机构测试单元：
发射机构测试单元完成导弹发射机构的性能测试。由于发射机构测试单元和导弹性能测试单元相对独立，发射机构测试单元内部单独放置数据采集卡，与计算机测控单元直接连接。
发射机构测试单元整体结构如图3所示，箱体整体结构与转台控制单元一致，导弹性能测试单元整体尺寸为330*225*110mm(不含提手)，重量≯8Kg。发射机构安装板直接放置在箱体上盖板上，可以直接用来安装发射机构。在安装板上设置有倾角传感器，发射机构安装板通过锁紧装置固定在上盖板上，在测试过程中，解除锁紧装置，即可将发射机构倾斜，用来对发射机构内部倾角传感器性能进行测试。测试单元内部放置电源、数据采集卡、主控电路板、绝缘测试电路板等功能电路，用来实现导通及电性能测试。机箱进行喷漆处理，颜色为GY06，设备侧面印有名称、研制生产单位等标志。
进一步的，所述发射机构测试单元包括发射机构测试单元箱体11，发射机构安装板12通过锁紧装置固定在上盖板13上，用于安装被测试发射机构，且所述上盖板13可上下转动，在所述安装板上设置有倾角传感器，发射机构在测试过程中，解除锁紧装置，即可将发射机构倾斜，用来对发射机构内部倾角传感器性能进行测试；在进行发射机构内部倾角传感器性能测试时，利用外置的倾角检测芯片实时检测发射机构的倾斜角度，与内部发射机构倾角传感器输出数据进行对比，达到测试目的；
如图4所示，第三交流输入接口内嵌到所述发射机构测试单元箱体上，第三交流输入接口经第三电源开关与第三开关电源的电源输入端连接，所述第三开关电源的输出端与第二DC-DC转换电路的一个电源输入端连接，所述第二 DC-DC转换电路的输出端的第一路与第三电源处理电路的输入端连接，所述第二DC-DC转换电路的输出端的第二路与数据采集卡的电源输入端连接，所述第二DC-DC转换电路的输出端的第三路与绝缘测试电路板的电源输入端连接，第三直流电源插座内嵌在所述发射机构测试单元箱体上，所述第三直流电源插座与所述第二DC-DC转换电路的另一个输入端连接，所述第三电源处理电路的输出端分为若干路，通过所述第三电源处理电路为所述发射机构测试单元中需要供电的其他单元提供工作电源；第三主控芯片模块分别与第二导通测量电路、第二信号自检电路、第二信号处理电路以及第二通信电路双向连接，第三数据采集接口内嵌在所述发射机构测试单元箱体上，通过连接线与计算机测控单元上的数据下传接口连接，通过数据采集卡的IO口与第三主控芯片模块进行串行通信，将命令转发至第三主控芯片模块，第三主控芯片模块将命令转换为相应的动作信号或CAN通信命令；发控接口内嵌到所述箱体上，倾角传感器的输出端通过线缆与发控接口连接，所述发控接口与所述信号处理电路双向连接，所述第二信号处理电路通过所述第二信号自检电路与第二通道选择电路双向连接，所述第二通道选择模块通过所述第二导通测量电路与所述第三主控芯片模块双向连接。
表1发射机构测试单元对外接口
| 序 | 接口 | 接口功能 | 连接对象 | 备注 |
| 1 | 交流电源 | 220V电源输入接口 | 220V交流电源 | |
| 2 | 直流电源 | 直流电源输入接口 | +24V直流电源 | Y11B-1207ZJ |
| 3 | 发控接口 | 连接发射机构 | 发射机构 | YQ49-30ZK |
| 4 | USB接口 | 与上位机软件进行通 | 计算机测控单元 | B型母座 |
配套外部电缆：
表2发射机构测试单元对外接口
| 序号 | 电缆名称 | 接口类型 | 规格/型号 |
| 1 | 交流电源线 | 三芯 | 220V/10A 3m |
| 2 | 直流电源线 | Y11B-1207TK-红、黑铜鼻子 | 3m |
| 3 | USB线 | A型公头-B型公头 | 1.5m |
交流电源线及USB线采用标准货架产品，直流电源线采用AFK-250高温导线进行电缆制作，电缆尾部套装绿色的锦纶丝套管。发射机构测试单元配套电缆随测试单元一起放置在储运箱中，配套电缆总重量≯1Kg。
内部电缆连接：为了提高发射机构测试单元的可靠性，降低电装接线复杂度，对内部电缆连接关系及连接方式进行优化，提高装配、调试效率。将数据采集卡的DI及DO引出口，通过电路板转换为21芯插座，通过21芯插头接入到电路板组合的21芯插座上，提供IO控制接口。数据采集卡的68芯采集接口通过电路板转接为37芯插座，通过插头连接到电路板组合上的37芯插座上，进行模拟量采集。绝缘测电路板与电路板组合间通过单独的线束进行连接，传输控制信号及高压信号。内部DC-DC电路的供电线束单独制作，连接到电路板组合上。安装在箱体上的各插座及开关，均制作单独的线束后，再将插座及开关安装到箱体上，内部通过接插件进行连接，取消各插座及开关间直接采用导线相互连接的情况，便于装配。
表3内部转接电缆
| 序号 | 电缆名称 | 接口类型 | 备注 |
| 1 | 交流电源转接电缆 | 三芯电源插座-3芯接插件 | AFK-250 0.75 |
| 2 | 开关转接电缆 | 开关-3芯接插件 | AFK-250 0.75 |
| 3 | 直流电源转接电缆 | Y11B-1207ZJ-6芯接插件 | AFK-250 0.75 |
| 4 | 发控接口转接电缆 | J30J-37TJ-YQ49-30TJ-倾角传感器 | AFK-250 0.75 |
| 5 | 开关电源输出电缆 | U型端子-8芯接插件 | AFK-250 0.75 |
| 6 | 绝缘电路板信号线 | J30J-15TJ-J30J-15TJ | 自带导线 |
| 7 | 数据采集卡IO电缆 | J30J-21TJ-J30J-21TJ | |
| 8 | 数据采集卡AD电缆 | J30J-37TJ-J30J-37TJ | |
| 9 | 绝缘电压传输线 | 3芯接插件-3芯接插件 | |
| 10 | 电路板组合供电电缆1 | J30J-15TJ-8芯接插件 | 自带导线 |
| 11 | USB数据转接线 | B型母座(带安装孔)-B型公头 | 公头90度直角 |
| 12 | 数据采集卡供电电缆 | 2芯接插件-2芯接插件 | AFK-250 0.3 |
内部工作流程：发射机构测试单元通过数据采集卡接收上位机的控制命令，通过数据采集卡的IO口与主控芯片进行串行通信，将命令转发至主控芯片，主控芯片将命令转换为相应的动作信号或CAN通信命令。电路板组合在控制信号的作用下，由内部电源提供发射机构及测试单元内部所需的电压，控制发射机构完成激活器测试、模拟起转功能、起转电流、稳速电流、信号检测、Can 通信功能及手动和自动发射流程测试，主控芯片通过CAN通信模块接收发射机内部CAN接口发送的数据，并转发至上位机进行处理。
电路组合上设计有自检信号源发生电路及自检切换电路，在上位机软件的控制下，能够按照程序，将自检信号依次送入各信号通道，完成内部自检工作。
主控芯片连接有时钟芯片，上电后自动计时，每次开机时，主控芯片存储上次测试时间，将测试时间进行累计存储，同时主控芯片内的EPPROM存储设备累计自检及测试次数，便于后期对设备可靠性进行统计分析。
内部电源处理电路原理如图5所示，所述第三电源处理电路包括+5V及 +3.3V电源变换电路和+12V电源变换电路，所述+5V及+3.3V电源变换电路包括VRB24S05-6W型电源变换芯片U2，所述U2的2脚接+24V电源，所述U2 的1脚接地，所述U2的3脚与继电器K1中双刀双掷开关的一个常开分触点连接，所述U2的5脚与继电器K1中双刀双掷开关的另一个常开分触点连接，继电器K1中双刀双掷开关的一个常闭触点接内部+5V电源，继电器K1中双刀双掷开关的另一个常闭触点接地，继电器K1中双刀双掷开关的一个公共触点接地，继电器K1中双刀双掷开关的另一个公共触点分为四路，第一路为+5V电源输出端，第二路经电容C3接地，第三路经电容C1接地，第四路与 AMS1117-3.3V电源模块U1的3脚连接，所述U1的1脚接地，所述U1的2 脚分为四路，所述继电器K1的线圈的一端接直流+20V电源，另一端接地；第一路经电容C4接地，第二路经电容C2接地，第三路为+3.3V电源输出端，第四路依次经电阻R1以及发光二极管LED1后接地；
所述+12V电源变换电路包括VRB24S12-10W型电源变换芯片U3，所述 U3的1脚接地，所述U3的2脚接+24V电源，所述U3的5脚接地，所述U3 的3脚分为三路，第一路为+12V电源输出端，第二路经电容C10接地，第三路经电容C9接地。
发射机构测试单元可使用外部交流电源或24V直流电源供电，内部直流电源处理部分由两部分组成。
电源选择电路：采用三个继电器实现内、外部电源供电切换，继电器均采用24V继电器，继电器线圈与外部供电回路连接。当测试单元使用外部24V电源供电时，电源选择继电器闭合，将24V电源送入到DC-DC模块中，转换为符合要求的+20V、-20V及+5V电源电路，为测试单元供电。该类型DC-DC模块具有19～36V宽范围的电压输入，能够较好的适应外部电源的变化。当测试单元使用内部开关电源供电时，电源选择继电器不动作，开关电源输出的+20V、 -20V及+5V电源为测试单元供电。
电源转换电路：利用+24V输入电压或+20V输入电压，通过DC-DC模块转换出电路板组合所需的±12V、+5V及+3.3V电压供电路板组合使用。
主控电路：主控芯片接收数据采集卡IO发出的通信命令，将串口命令转换为继电器控制信号。同时主控芯片完成自检波形的产生及时钟信号的读取。主控芯片外围电路如图6所示。所述第三主控芯片模块包括AT90CAN32型主控芯片U21，所述U21的PB5端口以及PB6端口通过数据采集电缆与数据采集卡的DO口相连，所述U21的PB7端口与数据采集卡的DI口相连，通过模拟SPI通信格式与上位机软件实现数据传输；四个MC1413型继电器驱动芯片分别通过一个74HC245型缓冲器与主控芯片的IO端口连接，实现继电器的控制；所述U21通过PA0、PA1、PA2端口实现时钟芯片的初始化配置及时钟读取。
主控芯片的PB5、PB6端口通过数据采集电缆与数据采集卡的DO口相连， PB7与数据采集卡的DI口相连，通过模拟SPI通信格式与上位机软件实现数据传输。继电器驱动芯片MC1413通过缓冲器74HC245与主控芯片的IO端口连接，实现继电器的控制。主控芯片通过PA0、PA1、PA2端口实现时钟芯片的初始化配置及时钟读取。主控芯片的EPPROM中利用30个字节存储发射机构测试单元累计运行时间、自检合格次数、自检不合格次数、测试次数、最后三次测试时间。
通信模块：通信模块内部与主控芯片连接，接受主控芯片的控制，外部通讯接口与发射机构CAN接口连接，在主控芯片的程序控制下，实现发射机构数据的解析，能够通过数据分析判断发射机构的发射状态。主控芯片通过模拟 SPI接口与数据采集卡完成串口通信，最终数据转发至上位机进行显示。
导通测量电路：导通测量电路采用同导弹性能测试单元内同样导通原理进行测试。根据发射机构导通测试技术要求及测试结果，将导通测试量程分为4 挡，第一挡为100Ω/300Ω挡，第二挡为10KΩ/30KΩ，第三挡为100KΩ/300KΩ，第四挡为1000KΩ/3MΩ/10MΩ，即可实现导弹发射机构15项导通项目测试。利用数据采集卡DA通道产生的电压作为导通测试的电压源，通过量程选择继电器切换对应的基准电阻，通过通道切换继电器将被测回路串联至测量回路中，在电压源端及被测回路高端读取模拟量电压，利用比率法进行计算，即可得出被测回路阻值。
具体电路如图7所示，所述第二导通测试电路包括基准电压模块、标准电阻选择模块以及若干个通道切换继电器模块，数据采集卡的DA输出电压与所述基准电压模块中的输入端DA0连接，所述DA0分为四路，第一路经电容C13 接地，第二路经电容C12接地，第三路经反向二极管D3接地，第四路经电阻 R4与TL072型低噪声放大器U4A的同相输入端连接，所述U4A的反相输入端与所述U4A的输出端连接，所述U4A的电源输入端分为三路，第一路接+5V电源，第二路经电容C7接地，第三路经电容C5接地；所述U4A的接地端接地，所述U4A的输出端分为两路，第一路经电容C11接地，第二路与所述标准电阻选择模块的输入端连接；
所述标准电阻选择模块的输入端分为五路，第一路经标准电阻R10后又分为两路，第一路与继电器K15中双刀双掷开关的一个常开分触点连接，第二路与所述继电器K15中双刀双掷开关的另一个常开分触点连接，所述继电器K15 中双刀双掷开关的两个常闭分触点悬空，所述继电器K15中双刀双掷开关的一个公共触点与另一个公共触点连接，所述继电器K15的线圈的一端接+12V直流电源，所述继电器K15的线圈的另一端与所述MC1413型继电器驱动芯片的一个驱动输出端连接；
第二路经标准电阻R23后又分为两路，第一路与继电器K20中双刀双掷开关的一个常开分触点连接，第二路与所述继电器K20中双刀双掷开关的另一个常开分触点连接，所述继电器K20中双刀双掷开关的两个常闭分触点悬空，所述继电器K20中双刀双掷开关的一个公共触点与另一个公共触点连接，所述继电器K20的线圈的一端接+12V直流电源，所述继电器K20的线圈的另一端与所述MC1413型继电器驱动芯片的一个驱动输出端连接；
第三路经标准电阻R33后又分为两路，第一路与继电器K24中双刀双掷开关的一个常开分触点连接，第二路与所述继电器K24中双刀双掷开关的另一个常开分触点连接，所述继电器K24中双刀双掷开关的两个常闭分触点悬空，所述继电器K24中双刀双掷开关的一个公共触点与另一个公共触点连接，所述继电器K24的线圈的一端接+12V直流电源，所述继电器K24的线圈的另一端与所述MC1413型继电器驱动芯片的一个驱动输出端连接；
第四路经标准电阻R34后又分为两路，第一路与继电器K25中双刀双掷开关的一个常开分触点连接，第二路与所述继电器K25中双刀双掷开关的另一个常开分触点连接，所述继电器K25中双刀双掷开关的两个常闭分触点悬空，所述继电器K25中双刀双掷开关的一个公共触点与另一个公共触点连接，所述继电器K25的线圈的一端接+12V直流电源，所述继电器K25的线圈的另一端与所述MC1413型继电器驱动芯片的一个驱动输出端连接；
第五路与继电器K16中双刀双掷开关的一个常闭触点连接，所述K16中双刀双掷开关的另一个常闭触点接地，所述K16中双刀双掷开关的一个常开分触点与火线L连接，所述K16中双刀双掷开关的另一个常开分触点与零线N连接，所述K16中线圈的一端接+12V电源，所述继电器K16中线圈的另一端与所述MC1413型继电器驱动芯片的一个驱动输出端连接；所述继电器K16中双刀双掷开关的两个公共触点分别与若干个通道切换继电器模块中继电器的两个公共触点连接，通道切换继电器模块中继电器的两个常闭分触点悬空，通道切换继电器模块中继电器的一个常开分触点与信号处理电路中的一个信号输入端连接，通道切换继电器模块中继电器的另一个常开分触点接地。
表4发射机构测试单元导通测量控制
DA输出电压送至AD24进行确认，确保输出电压的准确型及稳定性，通过AD24及AD25采样的结果，根据公式换算即可得出被测回路阻值。导通测量电路单独占用主控芯片的21个IO口，数据采集卡的1个DA通道，2个AD 通道。
绝缘测试电路：绝缘测试电路采用隔离的结构设计，使用100V的高压电源模块产品测试电压，内部采用高精度AD转换芯片进行电压采集，利用比率法计算得出绝缘电阻，具体电路如图8所示。
如图8所示，所述绝缘测试电路包括电源变换模块和模数转换模块，所述电源变换模块包括VRB1212YMD-6WR3型直流电源变换芯片U2，所述U2的 1脚接地，所述U2的2脚接+20V电源，所述U2的3脚分为四路，其中第一路+12V电源输出端与继电器K1中双刀双掷开关的两个公共触点连接，第二路经电容C2接地，第三路经电容C3接地，第四路与AD7609型模数转换芯片 U3的+12V电源输入端连接，所述U2的5脚接地，试营业继电器K1中继电器 K1中双刀双掷开关的两个常闭分触点悬空，继电器K1中双刀双掷开关的两个常开分触点与二极管D1的正极连接，继电器K1中线圈的一端接+20V电源，线圈的另一端接MC1413型继电器驱动芯片的一个驱动输出端连接；所述二极管D1的负极分为三路，第一路经电容C15接地，第二路经电容C16接地，第三与KDHM-C-12S400P-R-J型高压电源芯片U4的1脚连接，所述U4的2脚接地，所述U4的3脚经电阻R13后与可变电阻RW1的一端连接，可变电阻 RW1的另一端接地，所述U4的4脚与所述可变电阻RW1的活动端连接，所述U4的6脚接地；
所述U4的5脚分为三路，第一路与高压模块的供电端连接，第二路与继电器K3中双刀双掷开关的一个公共触点连接，继电器K3中双刀双掷开关的两个常闭分触点悬空，继电器K3中双刀双掷开关的另一个公共触点接地，所述继电器K3中双刀双掷开关的一个常开分触点经电阻R25与另一个常开分触点连接，继电器K3中线圈的一端接+20V电源，另一端接MC1413型继电器驱动芯片的一个驱动输出端连接；第三路与继电器K4中双刀双掷开关的一个公共触点连接，继电器K4中双刀双掷开关的两个常闭分触点悬空，继电器K4中双刀双掷开关的另一个公共触点接地，所述继电器K4中双刀双掷开关的一个常开分触点经电阻R27与另一个常开分触点连接，继电器K4中线圈的一端接 +20V电源，另一端接MC1413型继电器驱动芯片的一个驱动输出端连接；
量程切换模块的输入端与继电器K2中双刀双掷开关的两个公共触点连接，继电器K2中双刀双掷开关的一个常闭分触点分为四路，第一路与继电器K2 中双刀双掷开关的另一个常闭分触点连接，第二路经电阻R16接地，第三路经电容C23接地，第四路与电阻R15的一端连接，继电器K2中双刀双掷开关的一个常开分触点分为三路，第一路与继电器K2中双刀双掷开关的另一个常开分触点连接，第二路经电阻R21接地，第三路经电容C22接地；所述电阻R15 的另一端分为三路，第一路经二极管D2接+12V电源，第二路经二极管D3接地，第三路与TL072型运算放大器U5A的同相输入端连接，所述U5A的反相输入端经电阻与所述U5A的输出端连接，所述U5A的输出端分为两路，第一路经电容C21接地，第二路与AD7609型模数转换芯片U3的49脚连接；
所述模数转换模块包括AD7609型模数转换芯片U3，所述U3的1脚接+5V 电源，所述U3的2脚接地，所述U3的3脚经电阻R6接+5V电源，所述U3 的4脚经电阻R5接+5V电源，所述U3的5脚接地，所述U3的6脚经电阻 R4接+5V电源，所述U3的7脚经电阻R3接+5V电源，所述U3的8脚与 IS281-4GB型光耦模块U7的2脚连接，所述U3的9脚和10脚与IS281-4GB 型光耦模块U7的4脚连接，所述U3的11脚与IS281-4GB型光耦模块U7的6 脚连接，所述U3的12脚与IS281-4GB型光耦模块U7的8脚连接；所述U3 的13脚与IS281-4GB型光耦模块U9的2脚连接，所述U3的14脚与IS281-4GB 型光耦模块U9的4脚连接，所述U3的15脚与IS281-4GB型光耦模块U9的 6脚连接，所述U3的24脚与IS281-4GB型光耦模块U9的8脚连接。
继电器K1实现高压模块供电控制，继电器K2实现量程切换。继电器K3、 K4实现绝缘测试电路自检，光耦U7及U9实现数据端口隔离。绝缘测电路主要实现导通表中第17项地面±20V地及地面±5V地之间的绝缘电阻测试。
供电电路及模拟负载电路：供电电路及模拟负载电路含发射机构供电控制电路及模拟负载电路，供电采用普军级继电器实现控制，采用大功率电阻作为模拟负载，接入起转回路中。具体电路如图9所示。
所述发射机构测试单元还包括电流检测电路，电流检测电路采用霍尼韦尔的电流传感器实现上+20V及-20V供电回路的电流检测，检测电流范围为0～6A。输出端经运放处理后，送入数据采集卡的AD通道进行模数转换。具体电路如图10所示。
如图10所述，所述电流检测电路包括+20V电流检测电路和-20V电流检测电路，电流检测电路采用电流传感器实现+20V和-20V供电回路的电流检测，所述电流检测电路的输出端经运算放大器处理后，送入数据采集卡的AD通道进行模数转换；所述+20V电流检测电路包括CSNE151-100型电流采集芯片U9，所述U9的1脚为+20V电流采样输入端，所述U9的9脚分为三路，第一路接 -12V电源，第二路经电容C45接地，第三路经电容C47接地，所述U9的10脚分为三路，第一路与+12V电源连接，第二路经电容C40接地，第三路经电容C41接地，所述U9的11脚分为三路，第一路经电阻R44接地，第二路经电容C45接地，第三路经电阻R43与TL072型低噪声运算放大器U6A的同相输入端连接，所述U6A的反相输入端与所述U6A的输出端连接，所述U6A的 4脚分为三路，第一路与+12V电源连接，第二路经电容C38接地，第三路经电容C39接地；所述U6A的11脚分为三路，第一路与-12V电源连接，第二路经电容C46接地，第三路经电容C48接地，所述U6A的输出端经电阻R42后分为两路，第一路经电容C42接地，第二路为所述+20V电流检测电路的输出端。
信号处理电路：信号处理电路单独占用数据采集卡的12个AD通道，信号处理电路主要由运放及外围电路组成，根据测试项目要求，主要完成上激活信号、起转信号、角位置传感器信号、声信号、光信号、起转切除、气瓶激活、电池激活、挡销及发动机点火、筒识别信号1、筒识别信号2、筒识别信号3 共12路信号处理。具体电路如图11a-图11b所示。
如图11a-图11b所示，所述信号处理电路包括上激活信号处理模块、起转信号处理模块、角位置传感器信号处理模块、声信号处理模块、光信号处理模块、起转切除信号处理模块、气瓶激活信号处理电路、电池激活信号处理电路、挡销及发动机点火信号处理电路、第一筒识别信号处理电路、第二筒识别信号处理电路和第三筒识别信号处理电路；所述信号处理电路包括运算放大器和与其连接的外围电路，所述角位置传感器信号处理模块包括电阻R37，所述电阻 R37的一端为所述角位置传感器信号处理模块的信号输入端，所述角位置传感器信号处理模块的信号输入端接角位置传感器的信号输出端，所述电阻R37的另一端分为两路，第一路经电阻R39接地，第二路与TL072型运算放大器U8A 的同相输入端连接，所述U8A的反相输入端分为两路，第一路经电阻R35接地，第二路经电阻R32与+20V电源连接，所述U8A的接地端接地，所述U8A 的电源输入端分为三路，第一路与+20V电源连接，第二路经电容C35接地，第三路经电容C36接地，所述U8A的输出端分为两路，第一路依次经电阻R38、电阻R41接地，第二路与电阻R36的一端连接，所述电阻R36的另一端分为两路，第一路经电容C37接地，第二路为所述信号处理电路的输出端。
自检电路：自检电路为了实现发射机构测试单元内部电源、电路板组合性能是否正常，同时对内部导线连接关系是否正常进行检测。确保在进行发射机构性能测试前，设备状态完好。内部自检按照组成情况主要分电源自检、电流检测电路自检、供电及模拟负载电路自检、导通测量电路自检、绝缘测量电路自检、信号处理电路自检及通信模块自检七部分。
将各路电源电压通过电阻分压至-10V～+10V范围内，送入到数据采集卡的 AD端口进行模数转换。电流检测电路及模拟负载自检时，供电继电器闭合，同时K4闭合将模拟负载接入到供电回路中，测量电流传感器的输出信号。导通测量电路自检时，继电器K32、K33、K34、K35继电器闭合，将各测试项目回路短接，通过闭合量程选择继电器及通道选择继电器，测量各回路短接状态，判断导通测试电路的工作状态。绝缘测量电路通过闭合K3或K4继电器，接入标准电阻，完成绝缘电路自检工作。信号处理电路自检时，闭合K33、K34及 K35继电器，主控芯片的OC2A产生100HZ的方波，经处理后，产生幅值为±8V，频率为100HZ的双极性波形，送入到各信号处理电路，数据采集的对应AD输入通道应能检测到符合要求的波形。通信模块通过主控芯片能否完成内部初始化配置完成自检。自检电路原理图如图12a-图12b所示。
如图12a-图12b所示，所述信号自检电路所述自检电路包括开关切换电路以及自检信号处理电路，所述自检信号处理电路包括电阻R86，所述电阻R86 的一端为所述自检信号处理电路的信号输入端，所述信号输入端接主控芯片的 OC2A引脚，所述电阻R86的另一端与TL072型运算放大器U26A的同相输入端连接，所述U26A的反相输入端分为两路，第一路经电阻R81接地，第二路经电阻R80与+12V电源连接；所述U26A的电源输入端分为三路，第一路接 +12V电源，第二路经电容C95接地，第三路经电容C94接地，所述U26A的接地端分为三路，第一路与-12V电源连接，第二路经电容C104接地，第三路经电容C103接地，所述U26A的输出端经电阻R85后分为两路，第一路与TL072 型运算放大器U26B的同相输入端连接，第二路经电阻R88接地，所述U26B 的反相输入端接与所述U26B的输出端连接，所述U26B的输出端与电阻R83 的一端连接，所述电阻R83的另一端分为三路，第一路经电容C102接地，第二路与第一开关切换电路的输入端连接，第三路与第二开关切换电路的输入端连接；
所述第一开关切换电路的输入端分为五路，分别与继电器K33中第一六刀双掷开关的五个常开触点连接，所述继电器K33中第一六刀双掷开关的五个常闭触点分别与数据采集卡的信号输出端连接，所述继电器K33中第一六刀双掷开关的五个公共触点分别与相应的信号处理模块的输入端连接，所述继电器K33中线圈的一端接+12V电源，所述继电器K33中线圈的另一端与所述 MC1413型继电器驱动芯片的一个驱动输出端连接；
所述第二开关切换电路的输入端分为六路，分别与继电器K34中第二六刀双掷开关的六个常开触点连接，所述继电器K34中第二六刀双掷开关的六个常闭触点分别与数据采集卡的信号输出端连接，所述继电器K34中第二六刀双掷开关的六个公共触点分别与相应的信号处理模块的输入端连接，所述继电器 K34中线圈的一端接+12V电源，所述继电器K34中线圈的另一端与所述 MC1413型继电器驱动芯片的一个驱动输出端连接。
发射机构测试单元采用的主要器件和转台控制单元及导弹性能测试单元中的器件一致。
内部软件设计：主控芯片内的程序采用C语言进行编写，使用AVR Studio 集成开发环境进行开发。发射机构测试单元内部程序流程如图13所示。上电初始化完成后，主控芯片读取内部导弹PROM上次运行时间存储数据，进行累计存储。主控程序等待上位机软件的命令，根据命令执行相应的控制程序。
主芯片外部中断接有掉电检测电路，当外部掉电，触发外部中断时，进入中断程序，执行连续运行时间读取及存储程序，完成数据存储，中断流程图如图14所示。
Claims (6)
1.一种导弹测试系统用发射机构测试单元，其特征在于：所述发射机构测试单元包括发射机构测试单元箱体（11），发射机构安装板（12）通过锁紧装置固定在上盖板（13）上，用于安装被测试发射机构，且所述上盖板（13）可上下转动，在所述安装板上设置有倾角传感器，发射机构在测试过程中，解除锁紧装置，即可将发射机构倾斜，用来对发射机构内部倾角传感器性能进行测试；在进行发射机构内部倾角传感器性能测试时，利用外置的倾角检测芯片实时检测发射机构的倾斜角度，与内部发射机构倾角传感器输出数据进行对比，达到测试目的；
第三交流输入接口内嵌到所述发射机构测试单元箱体上，第三交流输入接口经第三电源开关与第三开关电源的电源输入端连接，所述第三开关电源的输出端与第二DC-DC转换电路的一个电源输入端连接，所述第二DC-DC转换电路的输出端的第一路与第三电源处理电路的输入端连接，所述第二DC-DC转换电路的输出端的第二路与数据采集卡的电源输入端连接，所述第二DC-DC转换电路的输出端的第三路与绝缘测试电路板的电源输入端连接，第三直流电源插座内嵌在所述发射机构测试单元箱体上，所述第三直流电源插座与所述第二DC-DC转换电路的另一个输入端连接，所述第三电源处理电路的输出端分为若干路，通过所述第三电源处理电路为所述发射机构测试单元中需要供电的其他单元提供工作电源；第三主控芯片模块分别与第二导通测量电路、第二信号自检电路、第二信号处理电路以及第二通信电路双向连接，第三数据采集接口内嵌在所述发射机构测试单元箱体上，通过连接线与计算机测控单元上的数据下传接口连接，通过数据采集卡的IO口与第三主控芯片模块进行串行通信，将命令转发至第三主控芯片模块，第三主控芯片模块将命令转换为相应的动作信号或CAN通信命令；发控接口内嵌到所述箱体上，倾角传感器的输出端通过线缆与发控接口连接，所述发控接口与所述信号处理电路双向连接，所述第二信号处理电路通过所述第二信号自检电路与第二通道选择电路双向连接，所述第二通道选择模块通过所述第二导通测量电路与所述第三主控芯片模块双向连接；
所述第三电源处理电路包括+5V及+3.3V电源变换电路和+12V电源变换电路，所述+5V及+3.3V电源变换电路包括VRB24S05-6W型电源变换芯片U2，所述U2的2脚接+24V电源，所述U2的1脚接地，所述U2的3脚与继电器K1中双刀双掷开关的一个常开分触点连接，所述U2的5脚与继电器K1中双刀双掷开关的另一个常开分触点连接，继电器K1中双刀双掷开关的一个常闭触点接内部+5V电源，继电器K1中双刀双掷开关的另一个常闭触点接地，继电器K1中双刀双掷开关的一个公共触点接地，继电器K1中双刀双掷开关的另一个公共触点分为四路，第一路为+5V电源输出端，第二路经电容C3接地，第三路经电容C1接地，第四路与AMS1117-3.3V电源模块U1的3脚连接，所述U1的1脚接地，所述U1的2脚分为四路，所述继电器K1的线圈的一端接直流+20V电源，另一端接地；第一路经电容C4接地，第二路经电容C2接地，第三路为+3.3V电源输出端，第四路依次经电阻R1以及发光二极管LED1后接地；
所述+12V电源变换电路包括VRB24S12-10W型电源变换芯片U3，所述U3的1脚接地，所述U3的2脚接+24V电源，所述U3的5脚接地，所述U3的3脚分为三路，第一路为+12V电源输出端，第二路经电容C10接地，第三路经电容C9接地；
所述第三主控芯片模块包括AT90CAN32型主控芯片U21，所述U21的PB5端口以及PB6端口通过数据采集电缆与数据采集卡的DO口相连，所述U21的PB7端口与数据采集卡的DI口相连，通过模拟SPI通信格式与上位机软件实现数据传输；四个MC1413型继电器驱动芯片分别通过一个74HC245型缓冲器与主控芯片的IO端口连接，实现继电器的控制；所述U21通过PA0、PA1、PA2端口实现时钟芯片的初始化配置及时钟读取。
2.如权利要求1所述的导弹测试系统用发射机构测试单元，其特征在于：所述第二导通测试电路包括基准电压模块、标准电阻选择模块以及若干个通道切换继电器模块，数据采集卡的DA输出电压与所述基准电压模块中的输入端DA0连接，所述DA0分为四路，第一路经电容C13接地，第二路经电容C12接地，第三路经反向二极管D3接地，第四路经电阻R4与TL072型低噪声放大器U4A的同相输入端连接，所述U4A的反相输入端与所述U4A的输出端连接，所述U4A的电源输入端分为三路，第一路接+5V电源，第二路经电容C7接地，第三路经电容C5接地；所述U4A的接地端接地，所述U4A的输出端分为两路，第一路经电容C11接地，第二路与所述标准电阻选择模块的输入端连接；
所述标准电阻选择模块的输入端分为五路，第一路经标准电阻R10后又分为两路，第一路与继电器K15中双刀双掷开关的一个常开分触点连接，第二路与所述继电器K15中双刀双掷开关的另一个常开分触点连接，所述继电器K15中双刀双掷开关的两个常闭分触点悬空，所述继电器K15中双刀双掷开关的一个公共触点与另一个公共触点连接，所述继电器K15的线圈的一端接+12V直流电源，所述继电器K15的线圈的另一端与所述MC1413型继电器驱动芯片的一个驱动输出端连接；
第二路经标准电阻R23后又分为两路，第一路与继电器K20中双刀双掷开关的一个常开分触点连接，第二路与所述继电器K20中双刀双掷开关的另一个常开分触点连接，所述继电器K20中双刀双掷开关的两个常闭分触点悬空，所述继电器K20中双刀双掷开关的一个公共触点与另一个公共触点连接，所述继电器K20的线圈的一端接+12V直流电源，所述继电器K20的线圈的另一端与所述MC1413型继电器驱动芯片的一个驱动输出端连接；
第三路经标准电阻R33后又分为两路，第一路与继电器K24中双刀双掷开关的一个常开分触点连接，第二路与所述继电器K24中双刀双掷开关的另一个常开分触点连接，所述继电器K24中双刀双掷开关的两个常闭分触点悬空，所述继电器K24中双刀双掷开关的一个公共触点与另一个公共触点连接，所述继电器K24的线圈的一端接+12V直流电源，所述继电器K24的线圈的另一端与所述MC1413型继电器驱动芯片的一个驱动输出端连接；
第四路经标准电阻R34后又分为两路，第一路与继电器K25中双刀双掷开关的一个常开分触点连接，第二路与所述继电器K25中双刀双掷开关的另一个常开分触点连接，所述继电器K25中双刀双掷开关的两个常闭分触点悬空，所述继电器K25中双刀双掷开关的一个公共触点与另一个公共触点连接，所述继电器K25的线圈的一端接+12V直流电源，所述继电器K25的线圈的另一端与所述MC1413型继电器驱动芯片的一个驱动输出端连接；
第五路与继电器K16中双刀双掷开关的一个常闭触点连接，所述K16中双刀双掷开关的另一个常闭触点接地，所述K16中双刀双掷开关的一个常开分触点与火线L连接，所述K16中双刀双掷开关的另一个常开分触点与零线N连接，所述K16中线圈的一端接+12V电源，所述继电器K16中线圈的另一端与所述MC1413型继电器驱动芯片的一个驱动输出端连接；所述继电器K16中双刀双掷开关的两个公共触点分别与若干个通道切换继电器模块中继电器的两个公共触点连接，通道切换继电器模块中继电器的两个常闭分触点悬空，通道切换继电器模块中继电器的一个常开分触点与信号处理电路中的一个信号输入端连接，通道切换继电器模块中继电器的另一个常开分触点接地。
3.如权利要求1所述的导弹测试系统用发射机构测试单元，其特征在于：所述绝缘测试电路包括电源变换模块和模数转换模块，所述电源变换模块包括VRB1212YMD-6WR3型直流电源变换芯片U2，所述U2的1脚接地，所述U2的2脚接+20V电源，所述U2的3脚分为四路，其中第一路+12V电源输出端与继电器K1中双刀双掷开关的两个公共触点连接，第二路经电容C2接地，第三路经电容C3接地，第四路与AD7609型模数转换芯片U3的+12V电源输入端连接，所述U2的5脚接地，试营业继电器K1中继电器K1中双刀双掷开关的两个常闭分触点悬空，继电器K1中双刀双掷开关的两个常开分触点与二极管D1的正极连接，继电器K1中线圈的一端接+20V电源，线圈的另一端接MC1413型继电器驱动芯片的一个驱动输出端连接；所述二极管D1的负极分为三路，第一路经电容C15接地，第二路经电容C16接地，第三与KDHM-C-12S400P-R-J型高压电源芯片U4的1脚连接，所述U4的2脚接地，所述U4的3脚经电阻R13后与可变电阻RW1的一端连接，可变电阻RW1的另一端接地，所述U4的4脚与所述可变电阻RW1的活动端连接，所述U4的6脚接地；
所述U4的5脚分为三路，第一路与高压模块的供电端连接，第二路与继电器K3中双刀双掷开关的一个公共触点连接，继电器K3中双刀双掷开关的两个常闭分触点悬空，继电器K3中双刀双掷开关的另一个公共触点接地，所述继电器K3中双刀双掷开关的一个常开分触点经电阻R25与另一个常开分触点连接，继电器K3中线圈的一端接+20V电源，另一端接MC1413型继电器驱动芯片的一个驱动输出端连接；第三路与继电器K4中双刀双掷开关的一个公共触点连接，继电器K4中双刀双掷开关的两个常闭分触点悬空，继电器K4中双刀双掷开关的另一个公共触点接地，所述继电器K4中双刀双掷开关的一个常开分触点经电阻R27与另一个常开分触点连接，继电器K4中线圈的一端接+20V电源，另一端接MC1413型继电器驱动芯片的一个驱动输出端连接；
量程切换模块的输入端与继电器K2中双刀双掷开关的两个公共触点连接，继电器K2中双刀双掷开关的一个常闭分触点分为四路，第一路与继电器K2中双刀双掷开关的另一个常闭分触点连接，第二路经电阻R16接地，第三路经电容C23接地，第四路与电阻R15的一端连接，继电器K2中双刀双掷开关的一个常开分触点分为三路，第一路与继电器K2中双刀双掷开关的另一个常开分触点连接，第二路经电阻R21接地，第三路经电容C22接地；所述电阻R15的另一端分为三路，第一路经二极管D2接+12V电源，第二路经二极管D3接地，第三路与TL072型运算放大器U5A的同相输入端连接，所述U5A的反相输入端经电阻与所述U5A的输出端连接，所述U5A的输出端分为两路，第一路经电容C21接地，第二路与AD7609型模数转换芯片U3的49脚连接；
所述模数转换模块包括AD7609型模数转换芯片U3，所述U3的1脚接+5V电源，所述U3的2脚接地，所述U3的3脚经电阻R6接+5V电源，所述U3的4脚经电阻R5接+5V电源，所述U3的5脚接地，所述U3的6脚经电阻R4接+5V电源，所述U3的7脚经电阻R3接+5V电源，所述U3的8脚与IS281-4GB型光耦模块U7的2脚连接，所述U3的9脚和10脚与IS281-4GB型光耦模块U7的4脚连接，所述U3的11脚与IS281-4GB型光耦模块U7的6脚连接，所述U3的12脚与IS281-4GB型光耦模块U7的8脚连接；所述U3的13脚与IS281-4GB型光耦模块U9的2脚连接，所述U3的14脚与IS281-4GB型光耦模块U9的4脚连接，所述U3的15脚与IS281-4GB型光耦模块U9的6脚连接，所述U3的24脚与IS281-4GB型光耦模块U9的8脚连接。
4.如权利要求1所述的导弹测试系统用发射机构测试单元，其特征在于：所述发射机构测试单元还包括电流检测电路，所述电流检测电路包括+20V电流检测电路和-20V电流检测电路，电流检测电路采用电流传感器实现+20V和-20V供电回路的电流检测，所述电流检测电路的输出端经运算放大器处理后，送入数据采集卡的AD通道进行模数转换；所述+20V电流检测电路包括CSNE151-100型电流采集芯片U9，所述U9的1脚为+20V电流采样输入端，所述U9的9脚分为三路，第一路接-12V电源，第二路经电容C45接地，第三路经电容C47接地，所述U9的10脚分为三路，第一路与+12V电源连接，第二路经电容C40接地，第三路经电容C41接地，所述U9的11脚分为三路，第一路经电阻R44接地，第二路经电容C45接地，第三路经电阻R43与TL072型低噪声运算放大器U6A的同相输入端连接，所述U6A的反相输入端与所述U6A的输出端连接，所述U6A的4脚分为三路，第一路与+12V电源连接，第二路经电容C38接地，第三路经电容C39接地；所述U6A的11脚分为三路，第一路与-12V电源连接，第二路经电容C46接地，第三路经电容C48接地，所述U6A的输出端经电阻R42后分为两路，第一路经电容C42接地，第二路为所述+20V电流检测电路的输出端。
5.如权利要求1所述的导弹测试系统用发射机构测试单元，其特征在于：所述信号处理电路包括上激活信号处理模块、起转信号处理模块、角位置传感器信号处理模块、声信号处理模块、光信号处理模块、起转切除信号处理模块、气瓶激活信号处理电路、电池激活信号处理电路、档销及发动机点火信号处理电路、第一筒识别信号处理电路、第二筒识别信号处理电路和第三筒识别信号处理电路；所述信号处理电路包括运算放大器和与其连接的外围电路，所述角位置传感器信号处理模块包括电阻R37，所述电阻R37的一端为所述角位置传感器信号处理模块的信号输入端，所述角位置传感器信号处理模块的信号输入端接角位置传感器的信号输出端，所述电阻R37的另一端分为两路，第一路经电阻R39接地，第二路与TL072型运算放大器U8A的同相输入端连接，所述U8A的反相输入端分为两路，第一路经电阻R35接地，第二路经电阻R32与+20V电源连接，所述U8A的接地端接地，所述U8A的电源输入端分为三路，第一路与+20V电源连接，第二路经电容C35接地，第三路经电容C36接地，所述U8A的输出端分为两路，第一路依次经电阻R38、电阻R41接地，第二路与电阻R36的一端连接，所述电阻R36的另一端分为两路，第一路经电容C37接地，第二路为所述信号处理电路的输出端。
6.如权利要求1所述的导弹测试系统用发射机构测试单元，其特征在于：所述信号自检电路所述自检电路包括开关切换电路以及自检信号处理电路，所述自检信号处理电路包括电阻R86，所述电阻R86的一端为所述自检信号处理电路的信号输入端，所述信号输入端接主控芯片的OC2A引脚，所述电阻R86的另一端与TL072型运算放大器U26A的同相输入端连接，所述U26A的反相输入端分为两路，第一路经电阻R81接地，第二路经电阻R80与+12V电源连接；所述U26A的电源输入端分为三路，第一路接+12V电源，第二路经电容C95接地，第三路经电容C94接地，所述U26A的接地端分为三路，第一路与-12V电源连接，第二路经电容C104接地，第三路经电容C103接地，所述U26A的输出端经电阻R85后分为两路，第一路与TL072型运算放大器U26B的同相输入端连接，第二路经电阻R88接地，所述U26B的反相输入端接与所述U26B的输出端连接，所述U26B的输出端与电阻R83的一端连接，所述电阻R83的另一端分为三路，第一路经电容C102接地，第二路与第一开关切换电路的输入端连接，第三路与第二开关切换电路的输入端连接；
所述第一开关切换电路的输入端分为五路，分别与继电器K33中第一六刀双掷开关的五个常开触点连接，所述继电器K33中第一六刀双掷开关的五个常闭触点分别与数据采集卡的信号输出端连接，所述继电器K33中第一六刀双掷开关的五个公共触点分别与相应的信号处理模块的输入端连接，所述继电器K33中线圈的一端接+12V电源，所述继电器K33中线圈的另一端与所述MC1413型继电器驱动芯片的一个驱动输出端连接；
所述第二开关切换电路的输入端分为六路，分别与继电器K34中第二六刀双掷开关的六个常开触点连接，所述继电器K34中第二六刀双掷开关的六个常闭触点分别与数据采集卡的信号输出端连接，所述继电器K34中第二六刀双掷开关的六个公共触点分别与相应的信号处理模块的输入端连接，所述继电器K34中线圈的一端接+12V电源，所述继电器K34中线圈的另一端与所述MC1413型继电器驱动芯片的一个驱动输出端连接。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201921799086.3U CN210773716U (zh) | 2019-10-24 | 2019-10-24 | 导弹测试系统用发射机构测试单元 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201921799086.3U CN210773716U (zh) | 2019-10-24 | 2019-10-24 | 导弹测试系统用发射机构测试单元 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN210773716U true CN210773716U (zh) | 2020-06-16 |
Family
ID=71047290
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201921799086.3U Active CN210773716U (zh) | 2019-10-24 | 2019-10-24 | 导弹测试系统用发射机构测试单元 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN210773716U (zh) |
-
2019
- 2019-10-24 CN CN201921799086.3U patent/CN210773716U/zh active Active
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN110749253B (zh) | 导弹测试系统用导弹性能测试单元 | |
| CN111260989B (zh) | 一种自动灭火抑爆装置实训台 | |
| CN206638742U (zh) | 便携式电子装备自动测试仪 | |
| CN106443545B (zh) | 一种纯电动汽车电池管理系统故障诊断与定位系统及方法 | |
| CN110736396B (zh) | 导弹测试系统 | |
| CN110736395B (zh) | 导弹测试系统用发射机构测试单元 | |
| CN112666412A (zh) | 一种飞机总线线缆测试设备及测试方法 | |
| CN206557318U (zh) | 便携式电子装备综合测试装置 | |
| CN108226700A (zh) | 一种配电自动化终端二次电缆核线仪 | |
| CN210773716U (zh) | 导弹测试系统用发射机构测试单元 | |
| CN104569679A (zh) | 一种电动工具和园林工具的空载耐久测试系统 | |
| CN104330262A (zh) | 航空发动机燃滑油系统试验装置 | |
| CN207573313U (zh) | 一种基于电阻计算的光伏组串故障诊断与监测装置 | |
| CN203858316U (zh) | 一种检查5芯电缆通路、断路及短路情况的便携式仪器 | |
| CN202443330U (zh) | 一种组合控制单元检测仪 | |
| CN110657720B (zh) | 导弹性能测试系统用转台控制单元 | |
| CN205679718U (zh) | 发动机电缆故障诊断系统 | |
| CN204165752U (zh) | 航空发动机燃滑油系统试验装置 | |
| CN114279574A (zh) | 一种适用于受限空间的红外可见光复合智能监测系统 | |
| CN207817117U (zh) | 一种配电自动化终端二次电缆核线仪 | |
| CN210741272U (zh) | 导弹测试系统用导弹性能测试单元 | |
| CN109613910B (zh) | 信号检测仪和信号检测方法 | |
| CN206470364U (zh) | 便携式电子装备测试适配器 | |
| CN211603938U (zh) | 一种控制电路综合检查仪 | |
| CN210802242U (zh) | 导弹性能测试系统用转台控制单元 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |