CN210693892U - 一种可同时测试多路adc和多路dac性能的测试设备 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种可同时测试多路ADC和多路DAC性能的测试设备，包括射频模块、频谱仪、网络交换模块、显控模块和信号源，所述显控模块与待测试板卡和所述网络交换模块电连接，所述网络交换模块通与所述信号源和所述频谱仪电连接，所述信号源和所述频谱仪均与所述射频模块电连接，所述射频模块与所述测试板卡电连接。本实用新型的有益效果将原来频繁的插拔射频线缆测试方式改成了只需要插拔一次线缆，实现除插拔线缆、开关电源、按启动测试按钮外的不要人参与的全自动化测试，能大大减少对测试、生产人员的能力要求，实现傻瓜化测试。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子设备，尤其涉及一种可同时测试多路ADC和多路DAC性能的测试设备。
背景技术
ADC是模拟数字转换器(英语：Analog to Digital Converter，英文缩写：ADC)是一种将模拟信号转换为数字信号的器件。DAC是数字模拟转换器(英语：Digital to AnalogConverter，英文缩写：DAC)是一种将数字信号转换为模拟信号的器件。
目前，现有的ADC测试方式是连接信号源和待测试板卡的ADC，信号源输出参考信号，控制待测试板卡采集该参考信号，手动将待测试板卡采集的数据导成文本形式文件，然后再在PC端使用matlab仿真工具进行分析。多通道测试时，测试过程为信号源连接一通道ADC，控制板卡相应通道采集该路信号，导出测试数据；断开上次连接的某通道，连接第N通道ADC，控制板卡相应通道采集该路信号，导出测试数据……整个测试过程需不断连接不同通道，测试方式操作复杂，容易出错，且实时性不高、测试时间长、人力设备资源消耗大、不支持ADC多通道同步性能测试、不支持多通道同时测试、无法诊断待测试板卡ADC接口链路故障。因此，需要设计一种ADC自动化测试设备解决现有ADC测试方式的弊端。
现有的DAC测试方式，需要通过待测试板卡的DAC输出信号,采用频谱仪人工测试DAC的输出性能。测试过程为连接一通道DAC，控制板卡相应通道输出信号，观测频谱仪波形并记录；断开上次连接的某通道，连接第N通道DAC，控制板卡相应通道输出信号，观测频谱仪波形并记录……整个测试过程需不断连接不同通道，且需人工测试，这种方式操作麻烦，容易出错，且实时性不高、测试时间长、人力设备资源消耗大。
实用新型内容
本实用新型的目的就在于为了解决上述问题而提供一种可同时测试多路ADC和多路DAC性能的测试设备。
本实用新型通过以下技术方案来实现上述目的：
一种可同时测试多路ADC和多路DAC性能的测试设备，包括射频模块、频谱仪、网络交换模块、显控模块和信号源，所述显控模块与待测试板卡和所述网络交换模块电连接，所述网络交换模块与所述信号源和所述频谱仪电连接，所述信号源和所述频谱仪均与所述射频模块电连接，所述射频模块与所述测试板卡电连接。
具体地，所述射频模块包括功分模块和开关模块，所述功分模块与所述信号源和所述待测试板卡电连接，所述开关模块与所述频谱仪和所述待测试板卡电连接。
具体地，所述显控模块通过控制网口与所述网络交换模块电连接，所述网络交换模块通过控制网口与所述信号源和所述频谱仪电连接，所述信号源的模拟信号端与所述功分模块的模拟信号输入端电连接，所述功分模块的多路模拟信号输出端与所述待测试板卡的多路ADC信号输入端电连接，所述频谱仪的射频信号端与所述开关模块的射频信号端电连接，所述开关模块的多路模拟信号输入端与所述待测试板卡的多路DAC信号输出端电连接。
优选地，所述显控模块为计算机，所述网络交换模块为网络交换机，所述功分模块为射频功分器，所述开关模块为射频开关，所述待测试板卡为包含ADC和/或DAC的板卡。
本实用新型的有益效果在于：多路测试时，将原来频繁的插拔射频线缆测试方式改成了只需要插拔一次线缆，即可多通道间任意顺序随机多次测试。通过对整套系统的协同控制和系统软件集成，实现除插拔线缆、开关电源、按启动测试按钮外的不要人参与的全自动化测试，能大大减少对测试、生产人员的能力要求，实现傻瓜化测试。能大大提升测试效率，提升测试质量，减少生产测试时间，通过自动化测试，实现几十上百倍量级速度提升，能严控测试质量，减少测试、生产人力投入，减少因人员测试能力导致的风险。
附图说明
图1是本实用新型所述的一种可同时测试多路ADC和多路DAC性能的测试设备的结构框图。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一种实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型的保护范围。
为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面结合图1对本实用新型作进一步说明：
一种可同时测试多路ADC和多路DAC性能的测试设备，包括射频模块、频谱仪、网络交换模块、显控模块和信号源，所述射频模块包括功分模块和开关模块，所述功分模块与所述信号源和所述待测试板卡电连接，所述开关模块与所述频谱仪和所述待测试板卡电连接。
所述显控模块通过控制网口与所述网络交换模块电连接，所述网络交换模块通过控制网口与所述信号源和所述频谱仪电连接，所述信号源的模拟信号端与所述功分模块的模拟信号输入端电连接，所述功分模块的多路模拟信号输出端与所述待测试板卡的多路ADC信号输入端电连接，所述频谱仪的射频信号端与所述开关模块的射频信号端电连接，所述开关模块的多路模拟信号输入端与所述待测试板卡的多路DAC信号输出端电连接。
设计多路射频开关和射频功分器，频谱仪通过射频开关连接多路DAC，信号源通过射频功分器连接多路ADC，通过信号源和频谱仪的远程控制功能，通过软件集成实现高效的ADC和DAC的自动化测试。ADC测试时，将信号源的输出射频信号通过功分模块实现一对多功能，实现待测试板卡多通道同时测试或者多张待测试板卡的多通道同时测试，且能实现多通道同步性能测试。DAC测试时，将多路DAC和射频开关连接，通过多路选通控制，实现某一路DAC选通后，通过频谱仪测试性能。将测试结果通过网络接口发送到显控模块显示。
本实用新型一种可同时测试多路ADC和多路DAC性能的测试设备的工作原理如下：
多路ADC测试时：显控模块通过控制网口经网络交换模块向信号源发出控制信号，信号源接收到控制信号后发出模拟信号，模拟信号输入至功分模块内，功分模块将一路模拟信号分成多路模拟信号，并将多路模拟信号输入至待测试板卡的多路ADC内，待测试板卡通过板载处理器运行信号分析算法分析多路ADC的各种性能，并将分析结果通过调试串口传回显控模块，实现测试结果显示、绘图、测试结果记录、故障诊断等功能。
多路DAC测试时：显控模块通过调试串口向待测试板卡的多路DAC发出控制信号，多路DAC输出多路模拟信号至开关模块内，开关模块选择需要测试的DAC通道，并传给频谱仪，显控模块通过控制网口经网络交换模块控制频谱仪对待测试测评信号进行性能分析，分析结果通过网络交换模块上传显控模块，实现测试结果显示、绘图、测试结果记录、故障诊断等。
频谱仪和信号源控制或测试使用标准SCPI命令协议，可通过该协议，实现频谱仪或/和信号源的功能控制。
SCPI(Standard Commands for Programmable Instruments——可程控设备的标准命令)是一种新的依照IEEE488.2标准控制设备的命令语言，其主要目的是为了使得同类设备有相同的程控命令，以实现程控命令的标准化。常规频谱仪和信号源能够识别和执行的SCPI命令信息，包括IEEE488.2通用命令和测量命令。
ADC性能分析时可根据自己需求选择常规性能分析算法，如SFDR算法等进行ADC性能分析。算法运行在板载处理器上。
射频模块内部包括功分模块和开关模块。功分模块实现一路转多路，开关模块实现多路转一路。显控模块指电脑，网络交换模块指网络交换机，功分模块指射频功分器，开关模块指射频开关。
待测试板卡指包含ADC或DAC或同时包括ADC和DAC的板卡，且包括处理器如DSP/ARM/PPC/MCU的板卡，待测试板卡通过运行算法功能模块实现板卡功能性能测试。PC机包含仪器控制模块、两个射频开关控制模块、测试结果显示模块、绘图模块、测试结果记录模块、故障诊断模块；
在以下描述中，对“一个实施例”、“实施例”、“一个示例”、“示例”等等的引用表明如此描述的实施例或示例可以包括特定特征、结构、特性、性质、元素或限度，但并非每个实施例或示例都必然包括特定特征、结构、特性、性质、元素或限度。另外，重复使用短语“根据本申请的一个实施例”虽然有可能是指代相同实施例，但并非必然指代相同的实施例。
对所公开的实施例的上述说明，是本领域专业技术人员能够实现或使用本实用新型。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将使显而易见的，本文所定义的一般原理可以在不脱离实用新型的精神或范围的情况下，在其他实施例中实现。因此，本实用新型将不会被限制与本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖性特点相一致的最宽的范围。
Claims (4)
1.一种可同时测试多路ADC和多路DAC性能的测试设备，其特征在于：包括射频模块、频谱仪、网络交换模块、显控模块和信号源，所述显控模块与待测试板卡和所述网络交换模块电连接，所述网络交换模块与所述信号源和所述频谱仪电连接，所述信号源和所述频谱仪均与所述射频模块电连接，所述射频模块与所述测试板卡电连接。
2.根据权利要求1所述的可同时测试多路ADC和多路DAC性能的测试设备，其特征在于：所述射频模块包括功分模块和开关模块，所述功分模块与所述信号源和所述待测试板卡电连接，所述开关模块与所述频谱仪和所述待测试板卡电连接。
3.根据权利要求2所述的可同时测试多路ADC和多路DAC性能的测试设备，其特征在于：所述显控模块通过控制网口与所述网络交换模块电连接，所述网络交换模块通过控制网口与所述信号源和所述频谱仪电连接，所述信号源的模拟信号端与所述功分模块的模拟信号输入端电连接，所述功分模块的多路模拟信号输出端与所述待测试板卡的多路ADC信号输入端电连接，所述频谱仪的射频信号端与所述开关模块的射频信号端电连接，所述开关模块的多路模拟信号输入端与所述待测试板卡的多路DAC信号输出端电连接。
4.根据权利要求3所述的可同时测试多路ADC和多路DAC性能的测试设备，其特征在于：所述显控模块为计算机，所述网络交换模块为网络交换机，所述功分模块为射频功分器，所述开关模块为射频开关，所述待测试板卡为包含ADC和/或DAC的板卡。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| CN202020032917.0U CN210693892U (zh) | 2020-01-08 | 2020-01-08 | 一种可同时测试多路adc和多路dac性能的测试设备 |
Applications Claiming Priority (1)
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| CN202020032917.0U CN210693892U (zh) | 2020-01-08 | 2020-01-08 | 一种可同时测试多路adc和多路dac性能的测试设备 |
Publications (1)
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| CN (1) | CN210693892U (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112834901A (zh) * | 2020-12-30 | 2021-05-25 | 华清瑞达（天津）科技有限公司 | 一种高速ad&da自动化测试平台 |
| CN113900006A (zh) * | 2021-08-26 | 2022-01-07 | 湖南艾科诺维科技有限公司 | 一种芯片故障测试装置、系统及方法 |
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2020
- 2020-01-08 CN CN202020032917.0U patent/CN210693892U/zh active Active
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