CN210664670U - 一种雷达物位计 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种雷达物位计，涉及物位计技术领域，解决了现有技术中存在的雷达物位计共用一条电磁波的传输通路容易导致近端测量不准确的技术问题。该雷达物位计包括表头、波导装置和锥面填料，波导装置内设置有波导通路，表头位于所述波导通路入口侧，锥面填料位于波导通路出口侧，波导通路包括接收通路和发射通路，接收通路仅用于接收电磁波，发射通路仅用于发射电磁波；波导装置的出口内壁截面为上小下大结构，锥面填料包括上锥面段，上锥面段的形状与波导装置的出口内壁的形状相匹配，上锥面段能塞入波导装置的出口并且与波导装置的出口内壁相抵接。本实用新型用于提供一种能够承受高压工况的雷达物位计。

Description

一种雷达物位计

技术领域

本实用新型涉及物位计技术领域，尤其是涉及一种雷达物位计。

背景技术

雷达物位计是一种非接触式物位测量装置，主要由波导、天线、传感器、电子单元组件等部件构成，其工作原理是：雷达物位计通过波导将电磁波传输到天线，再由发射出极窄的电磁波，而该电磁波会在空间中传播，当遇到被测介质表面时，该电磁波的一部分能量会被反射回来，并被同一天线接收；发射电磁波和接收电磁波的时间间隔与天线到被测介质表面的距离成正比；通过识别发射电磁波与接收电磁波的时间间隔就可以计算出天线到被测介质表面的距离，从而实现物位测量。

然而，在测量过程中，雷达物位计会受到测量介质的很大影响，例如，当雷达物位计的测量介质中具有水蒸气、粉尘(例如：石灰粉)、腐蚀性物质(例如：硫酸、盐酸、氢氧化钠等或冷凝汽体时，如果这些物质附着、覆盖或者腐蚀雷达物位计的天线，那么雷达物位计的电磁波传输路径会受到阻碍或破坏，从而会导致测量结果出现误差，甚至无法正常测量；

现有雷达物位计的防护设施是增设防护罩，将伸入储罐内的金属喇叭天线整体罩在防护罩内，这种防护罩采用聚四氟乙烯制成，具有很高的耐腐蚀能力，而在金属喇叭天线的大口端位置处的防护设计成了外凸角或内凹角，这有利于蒸汽凝结成水滴后的水滴滴落，更有利于粉尘的滑落，但是因为防护罩是罩在金属喇叭天线上的，防护罩的内凹角底端或外凸角底端是不能与金属喇叭天线的内部相贴合的，因此当雷达物位计的测量介质中存在压力时，防护罩的内凹角底端或外凸角底端会受压力的挤压而变形，甚至会发生破裂，从而会使防护罩失去保护功能。

本申请人发现现有技术至少存在以下技术问题：

1.现有的防护罩不能与金属喇叭天线的内部相贴合，在防护罩外部受到压力时，防护罩会受压力的挤压而变形，影响防护罩的保护效果。

2.现有的雷达物位计共用一条电磁波的传输通路容易导致近端测量不准确。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种雷达物位计，以解决现有技术中存在的雷达物位计共用一条电磁波的传输通路容易导致近端测量不准确的技术问题。本实用新型提供的诸多技术方案中的优选技术方案所能产生的诸多技术效果详见下文阐述。

为实现上述目的，本实用新型提供了以下技术方案：

本实用新型提供的雷达物位计，包括表头、波导装置和锥面填料，所述波导装置内设置有波导通路，所述表头位于所述波导通路入口侧，所述锥面填料位于所述波导通路出口侧，

所述波导通路包括接收通路和发射通路，所述接收通路仅用于接收电磁波，所述发射通路仅用于发射电磁波；

所述波导装置的出口内壁截面为上小下大结构，所述锥面填料包括上锥面段，所述上锥面段的形状与所述波导装置的出口内壁的形状相匹配，所述上锥面段能塞入所述波导装置的出口并且与所述波导装置的出口内壁相抵接。

优选地，在所述波导装置内设置有隔板，在所述锥面填料上设置有开口槽，所述隔板插入所述开口槽内且所述开口槽与所述隔板相匹配，所述隔板将所述波导通路分为所述接收通路和所述发射通路，所述锥面填料位于所述开口槽两侧的部分分别位于所述接收通路和所述发射通路内。

优选地，所述波导装置包括过程密封天线，在所述过程密封天线内设置有第一腔室和第二腔室，在所述第一腔室内设置有波导结构，所述波导结构和所述第二腔室相连通形成所述波导通路；

所述表头与所述过程密封天线顶部连接，所述波导结构的顶端向上延伸伸入所述表头内，所述锥面填料与所述过程密封天线底部连接，所述锥面填料与所述第二腔室的内壁相抵接；

在所述过程密封天线的底端还套设有法兰盘，所述法兰盘的底面不高于所述过程密封天线的下端面。

优选地，所述隔板包括波导隔板和天线隔板，所述波导隔板与所述天线隔板在同一平面上，所述波导隔板将所述波导结构分为接收波导和发射波导，所述天线隔板将所述第二腔室分为接收天线和发射天线；

所述接收波导与所述接收天线之间连通形成为所述接收通路，所述发射波导与所述发射天线之间连通形成为所述发射通路。

优选地，所述接收波导和所述发射波导的截面是多边形、矩形、圆形、不规则形状中的任意一种。

优选地，所述锥面填料包括第一部分和第二部分，在所述第一部分上设置有第一缺口，在所述第二部分上设置有第二缺口，在所述第一部分与所述第二部分相贴合时，所述第一缺口与所述第二缺口相贴合形成为所述开口槽。

优选地，所述波导装置的出口设置有第一连接结构，在上锥面段上对应设置有第二连接结构，所述第一连接结构与所述第二连接结构能互相配合，将所述锥面填料与所述波导装置固定。

优选地，所述锥面填料还包括平面段，所述上锥面段位于所述平面段上方，所述平面段的上端面与所述法兰盘的下端面相抵接；在所述锥面填料底部还设置有内凹或者外凸结构。

优选地，所述过程密封天线外壁上设置有第一环状凸台，所述表头与所述过程密封天线顶部连接，且抵接在所述第一环状凸台上。

优选地，在所述第一腔室的内壁上设置有第三连接结构，在所述波导结构的外壁上设置有第二环状凸台，在所述第二环状凸台上设置有与所述第三连接结构相匹配的第四连接结构，通过将所述第三连接结构与所述第四连接结构将所述第二环状凸台与所述第一腔室连接。

本实用新型的有益效果是：本实用新型提供的雷达物位计，采用锥面填料取代防护罩，将锥面填料与波导通路内壁相抵接，使锥面填料与波导装置的内部相贴合，在锥面填料外部受到压力时，锥面填料能够凭借波导装置的支撑，减小变形量，从而提高锥面填料的保护效果，使得锥面填料能够经受高压工况；另外，发射通路和接收通路相互分隔，从而可以避免发射信号和接收信号相互干扰的情况发生，进而解决了近端盲区的精准度，使测量精度更高。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型的立体图；

图2是本实用新型的剖视图(一)；

图3是本实用新型的爆炸图；

图4是本实用新型爆炸图的剖视图；

图5是本实用新型波导结构的剖面图(一)；

图6是本实用新型波导结构的剖面图(二)；

图7是本实用新型波导结构的剖面图(三)；

图8是本实用新型波导结构的剖面图(四)；

图9是本实用新型波导结构的剖面图(五)；

图10是本实用新型的剖视图(二)。

图中1、波导结构；2、过程密封天线；3、锥面填料；4、表头；5、隔板；6、连接组件；11、接收波导；12、发射波导；13、第二环状凸台；20、第二腔室；21、接收天线；22、发射天线；23、第一环状凸台；24、第一腔室；25、限位柱；26、第二限位卡环槽；27、法兰盘；31、上锥面段；32、平面段；34、开口槽；35、限位柱槽；36、第一限位卡环槽；51、波导隔板；52、天线隔板；61、环形挡圈。

具体实施方式

下面可以参照附图图1～图10以及文字内容理解本实用新型的内容以及本实用新型与现有技术之间的区别点。下文通过附图以及列举本实用新型的一些可选实施例的方式，对本实用新型的技术方案(包括优选技术方案)做进一步的详细描述。需要说明的是：本实施例中的任何技术特征、任何技术方案均是多种可选的技术特征或可选的技术方案中的一种或几种，为了描述简洁的需要本文件中无法穷举本实用新型的所有可替代的技术特征以及可替代的技术方案，也不便于每个技术特征的实施方式均强调其为可选的多种实施方式之一，所以本领域技术人员应该知晓：可以将本实用新型提供的任一技术手段进行替换或将本实用新型提供的任意两个或更多个技术手段或技术特征互相进行组合而得到新的技术方案。本实施例内的任何技术特征以及任何技术方案均不限制本实用新型的保护范围，本实用新型的保护范围应该包括本领域技术人员不付出创造性劳动所能想到的任何替代技术方案以及本领域技术人员将本实用新型提供的任意两个或更多个技术手段或技术特征互相进行组合而得到的新的技术方案。

本实用新型提供了一种锥面填料与波导装置能够相互贴合，使其能够承受高压工况，从而提高锥面填料的使用寿命的雷达物位计。

下面结合图1～图10对本实用新型提供的技术方案进行更为详细的阐述。

本实用新型提供了一种雷达物位计，包括表头、波导装置和锥面填料，所述波导装置内设置有波导通路，所述表头位于所述波导通路入口侧，所述锥面填料位于所述波导通路出口侧，

所述波导通路包括接收通路和发射通路，所述接收通路仅用于接收电磁波，所述发射通路仅用于发射电磁波；

所述波导装置的出口内壁截面为上小下大结构，所述锥面填料包括上锥面段，所述上锥面段的形状与所述波导装置的出口内壁的形状相匹配，所述上锥面段能塞入所述波导装置的出口并且与所述波导装置的出口内壁相抵接。

本实用新型提供的雷达物位计，采用锥面填料取代防护罩，将锥面填料与波导通路内壁相抵接，使锥面填料与波导装置的内部相贴合，在锥面填料外部受到压力时，锥面填料能够凭借波导装置的支撑，减小变形量，从而提高锥面填料的保护效果，使得锥面填料能够经受高压工况；另外，隔板将波导通路分为发射通路和接收通路，发射通路和接收通路相互分隔，一部分用于接收电磁波，另一部分用于发射电磁波，从而可以避免发射信号和接收信号相互干扰的情况发生，进而解决了近端盲区的精准度，使测量精度更高。

作为可选地实施方式，在所述波导装置内设置有隔板，在所述锥面填料上设置有开口槽，所述隔板插入所述开口槽内且所述开口槽与所述隔板相匹配，所述隔板将所述波导通路分为所述接收通路和所述发射通路，所述锥面填料位于所述开口槽两侧的部分分别位于所述接收通路和所述发射通路内。

波导装置可以为整体结构，也可以采用分体结构相贴合，形成接收通路和发射通路。采用整体结构时，在波导装置内设置隔板，使其分隔为接收通路和发射通路。例如，下文中波导结构，波导隔板将波导结构分为接收波导和发射波导，接收波导和发射波导分别为接收通路和发射通路，用于接收和发射电磁波，波导隔板向下延伸与所述开口槽配合，此时，也可以不设置开口槽；或者在第二腔室内设置天线隔板，天线隔板和波导隔板处于同一平面内，天线隔板将第二腔室分为接收天线和发射天线，所述接收波导与所述接收天线之间连通形成为所述接收通路，所述发射波导与所述发射天线之间连通形成为所述发射通路。

作为可选地实施方式，所述波导装置包括过程密封天线，在所述过程密封天线内设置有第一腔室和第二腔室，在所述第一腔室内设置有波导结构，所述波导结构和所述第二腔室相连通形成所述波导通路；

所述表头与所述过程密封天线顶部连接，所述波导结构的顶端向上延伸伸入所述表头内，所述锥面填料与所述过程密封天线底部连接，所述锥面填料与所述第二腔室的内壁相抵接。

波导结构与表头连接，用于传输从表头发射的电磁波或者将接收到的电磁波反馈至表头进行处理，第二腔室设置成开口逐渐变大的喇叭形结构，用于增加电磁波发射的面积。

作为可选地实施方式，在所述过程密封天线的底端还套设有法兰盘，所述法兰盘的底面不高于所述过程密封天线的下端面。法兰盘用于与容器相连接。

作为可选地实施方式，所述隔板包括波导隔板和天线隔板，所述波导隔板与所述天线隔板在同一平面上，所述波导隔板将所述波导结构分为接收波导和发射波导，所述天线隔板将所述第二腔室分为接收天线和发射天线；

所述接收波导与所述接收天线之间连通形成为所述接收通路，所述发射波导与所述发射天线之间连通形成为所述发射通路。

对应地，将隔板也分为两部分，分别为波导隔板和天线隔板，波导隔板与波导结构相配合，天线隔板与第二腔室相配合，分别装配，再将波导隔板与天线隔板对接，从而减轻安装以及生产工序。波导隔板与天线隔板设置在同一平面上，减少两者之间连接点的不匹配带来的反射波，导致近端测量不准确的问题出现。

作为可选地实施方式，所述接收波导和所述发射波导的截面是多边形、矩形、圆形、不规则形状中的任意一种。接收波导和发射波导也可以是空心圆管，两个空心圆管对接形成波导结构。

作为可选地实施方式，所述锥面填料包括第一部分和第二部分，在所述第一部分上设置有第一缺口，在所述第二部分上设置有第二缺口，在所述第一部分与所述第二部分相贴合时，所述第一缺口与所述第二缺口相贴合形成为所述开口槽。

锥面填料可以为整体，也可以做成分体，然后进行对接，方便安装。

作为可选地实施方式，所述波导装置的出口内壁上还设置有第一连接结构，在上锥面段上对应设置有第二连接结构，所述第一连接结构与所述第二连接结构能互相配合，将所述锥面填料与所述波导装置固定。

具体地，可以通过设置限位柱和限位柱槽将锥面填料与波导装置进行固定，保障锥面填料与波导装置连接的稳定性。

作为可选地实施方式，所述锥面填料还包括平面段，所述上锥面段位于所述平面段上方，所述平面段的上端面与所述法兰盘的下端面相抵接；在所述锥面填料底部还设置有内凹或者外凸结构。

上述结构将所述锥面填料分成三部分，平面段与波导装置相抵接，将波导装置与容器内部隔离；凹面结构或者凸面结构，有利于蒸汽凝结成水滴后的水滴滴落，更有利于粉尘的滑落；上锥面段用于与所述波导通路内壁相抵接，使得锥面填料能够经受高压工况；上锥面段顶部为锥形结构，锥形结构能够更好的匹配传输信号，而从上锥面段向平面段方向，口径逐渐增大，使电磁波向四周的散射范围增加，进而增加雷达物位计的测量范围，进一步提高雷达物位计的测量效果。

作为可选地实施方式，在所述上锥面段还设置有第一限位卡环槽，在所述波导装置上与所述上锥面接触的对应位置处设置有第二限位卡环槽，环形挡圈设置在所述第一限位卡环槽和所述第二限位卡环槽内。

以上结构，环形挡圈设置在波导装置与上锥面段之间，用于将波导装置与锥面填料进一步固定，避免限位柱失效后，锥面天线脱离过程密封天线。

作为可选地实施方式，所述过程密封天线外壁上设置有第一环状凸台，所述表头与所述过程密封天线顶部连接，且抵接在所述第一环状凸台上。

作为可选地实施方式，在所述第一腔室的内壁上设置有第三连接结构，在所述波导结构的外壁上设置有第二环状凸台，在所述第二环状凸台上设置有与所述第三连接结构相匹配的第四连接结构，通过将所述第三连接结构与所述第四连接结构将所述第二环状凸台与所述第一腔室连接。

具体，所述第二环状凸台与所述第一腔室可以采用螺纹连接。表头与过程密封天线之间的连接、波导结构与第一腔室的连接，通过上述结构的设计使得他们之间的连接更加牢固。

实施例1:

本实用新型提供的雷达物位计，如图1-10所示，包括表头4、波导装置和锥面填料3，所述波导装置内设置有波导通路，所述表头4位于所述波导通路入口侧，所述锥面填料3位于所述波导通路出口侧，在所述波导装置内还设置有隔板5，所述隔板5将所述波导通路分为用于接收电磁波的接收通路和用于发射电磁波的发射通路。

所述波导装置包括过程密封天线2，所述表头4与所述过程密封天线2顶部连接，所述锥面填料3与所述过程密封天线2底部连接，在所述过程密封天线2内设置有波导结构1，所述波导结构1的顶端向上延伸伸入所述表头4内，所述波导结构1和所述过程密封天线2内部相连通形成所述波导通路。

所述过程密封天线2外壁上设置有第一环状凸台23，所述表头4与所述过程密封天线2顶部连接，且抵接在所述第一环状凸台23上；所述表头4与所述过程密封天线2之间还设置有第一密封结构。

所述过程密封天线2从顶端中部向下延伸形成有第一腔室24，在所述第一腔室24的内壁上设置有内螺纹，在所述波导结构1的外壁上设置有与所述内螺纹相匹配的外螺纹，所述波导结构1与所述第一腔室24螺纹连接。

或者在所述第一腔室24的内壁上设置有内螺纹，在所述波导结构1的外壁上设置有第二环状凸台13，在所述第二环状凸台13上设置有与所述内螺纹相匹配的外螺纹，所述第二环状凸台13与所述第一腔室24螺纹连接。

所述第一腔室24的下方为向下开口的喇叭形结构的第二腔室20，所述第二腔室20的最小口径小于所述第一腔室24的口径。优选为，所述波导结构1的口径与所述第二腔室20的口径相同。

所述隔板5包括波导隔板51和天线隔板52，所述波导隔板51将所述波导结构1分为接收波导11和发射波导12，所述天线隔板52将所述第二腔室20分为接收天线21和发射天线22；

所述接收波导11与所述接收天线21之间连通形成为所述接收通路，所述发射波导12与所述发射天线22之间连通形成为所述发射通路。

所述接收波导11和所述发射波导12可以是由如上所述一个完整的管道，从中间插入隔板5，通过隔板5将管道分为所述接收波导11和所述发射波导12。

所述接收波导11和所述发射波导12也可以是由两段半圆柱形的管道，平面部分相互贴紧形成完整的圆柱形的管道。

所述波导结构1为金属材质，例如铝、304不锈钢、316不锈钢、316L不锈钢等。

所述过程密封天线2为金属材质，例如碳钢、合金钢、304不锈钢、316不锈钢、316L不锈钢等。

所述锥面填料3为非金属材质，例如pfa、ptfe、pvdf、pet、pp等。本实用新型提供的雷达物位计应用在高温工况时，锥面填料3材质优选为ptfe四氟。

隔板5采用金属板，例如铝板，也可以使用非金属板涂附导电涂料、pp板涂附导电涂料、不锈钢板等。

所述接收波导11和所述发射波导12的截面可以是多边形、矩形、圆形、不规则形状中的任意一种。

所述波导隔板51与所述天线隔板52在同一平面上。

所述波导隔板51与所述天线隔板52之间采用插接、胶接或者卡接连接。

所述锥面填料3包括上锥面段31、平面段32，所述上锥面段31位于所述平面段32上方，在所述锥面填料底部还设置有内凹或者外凸结构。

所述上锥面段31与所述过程密封天线2能够相互配合，所述上锥面段31的外侧壁能够与所述第二腔室20的内壁相抵触，在所述上锥面段31上设置有开口槽34，所述开口槽34与所述天线隔板52相配合，所述天线隔板52插入所述开口槽34，所述上锥面段31位于所述开口槽34两侧的部分分别位于所述接收通路和所述发射通路内；

在所述上锥面段31与所述过程密封天线2之间设置有连接组件6，所述连接组件6包括设置在所述过程密封天线2上的限位柱25和设置在所述上锥面段31上的与所述限位柱25相配合的限位柱槽35。

所述连接组件6还包括环形挡圈61、设置在所述上锥面段31的第一限位卡环槽36以及设置在所述过程密封天线2上的第二限位卡环槽26，所述第一限位卡环槽36和第二限位卡环槽26对应设置，所述环形挡圈61固定在所述第一限位卡环槽36和第二限位卡环槽26内。

在所述过程密封天线2的底端还套设有法兰盘27，所述法兰盘27的底面不高于所述过程密封天线2的下端面；所述平面段32的上端面与所述法兰盘27的下端面相抵触；最好是所述法兰盘27的底面与所述过程密封天线2的下端面平齐。

所述法兰盘27与所述过程密封天线2螺纹连接，且在所述法兰盘27与所述过程密封天线2连接处还设置有第二密封结构。具体地，第二密封结构采用焊接密封，使得法兰盘27与过程密封天线2固定为一体。采用焊接密封，能够适应高压工况。

以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种雷达物位计，其特征在于，包括表头、波导装置和锥面填料，所述波导装置内设置有波导通路，所述表头位于所述波导通路入口侧，所述锥面填料位于所述波导通路出口侧，

所述波导通路包括接收通路和发射通路，所述接收通路仅用于接收电磁波，所述发射通路仅用于发射电磁波；

所述波导装置的出口内壁截面为上小下大结构，所述锥面填料包括上锥面段，所述上锥面段的形状与所述波导装置的出口内壁的形状相匹配，所述上锥面段能塞入所述波导装置的出口并且与所述波导装置的出口内壁相抵接。

2.根据权利要求1所述的雷达物位计，其特征在于，在所述波导装置内设置有隔板，在所述锥面填料上设置有开口槽，所述隔板插入所述开口槽内且所述开口槽与所述隔板相匹配，所述隔板将所述波导通路分为所述接收通路和所述发射通路，所述锥面填料位于所述开口槽两侧的部分分别位于所述接收通路和所述发射通路内。

3.根据权利要求2所述的雷达物位计，其特征在于，所述波导装置包括过程密封天线，在所述过程密封天线内设置有第一腔室和第二腔室，在所述第一腔室内设置有波导结构，所述波导结构和所述第二腔室相连通形成所述波导通路；

所述表头与所述过程密封天线顶部连接，所述波导结构的顶端向上延伸伸入所述表头内，所述锥面填料与所述过程密封天线底部连接，所述锥面填料与所述第二腔室的内壁相抵接；

在所述过程密封天线的底端还套设有法兰盘，所述法兰盘的底面不高于所述过程密封天线的下端面。

4.根据权利要求3所述的雷达物位计，其特征在于，所述隔板包括波导隔板和天线隔板，所述波导隔板与所述天线隔板在同一平面上，所述波导隔板将所述波导结构分为接收波导和发射波导，所述天线隔板将所述第二腔室分为接收天线和发射天线；

所述接收波导与所述接收天线之间连通形成为所述接收通路，所述发射波导与所述发射天线之间连通形成为所述发射通路。

5.根据权利要求4所述的雷达物位计，其特征在于，所述接收波导和所述发射波导的截面是多边形、矩形、圆形、不规则形状中的任意一种。

6.根据权利要求2所述的雷达物位计，其特征在于，所述锥面填料包括第一部分和第二部分，在所述第一部分上设置有第一缺口，在所述第二部分上设置有第二缺口，在所述第一部分与所述第二部分相贴合时，所述第一缺口与所述第二缺口相贴合形成为所述开口槽。

7.根据权利要求1所述的雷达物位计，其特征在于，所述波导装置的出口设置有第一连接结构，在上锥面段上对应设置有第二连接结构，所述第一连接结构与所述第二连接结构能互相配合，将所述锥面填料与所述波导装置固定。

8.根据权利要求3所述的雷达物位计，其特征在于，所述锥面填料还包括平面段，所述上锥面段位于所述平面段上方，所述平面段的上端面与所述法兰盘的下端面相抵接；在所述锥面填料底部还设置有内凹或者外凸结构。

9.根据权利要求3所述的雷达物位计，其特征在于，所述过程密封天线外壁上设置有第一环状凸台，所述表头与所述过程密封天线顶部连接，且抵接在所述第一环状凸台上。

10.根据权利要求3所述的雷达物位计，其特征在于，在所述第一腔室的内壁上设置有第三连接结构，在所述波导结构的外壁上设置有第二环状凸台，在所述第二环状凸台上设置有与所述第三连接结构相匹配的第四连接结构，通过将所述第三连接结构与所述第四连接结构将所述第二环状凸台与所述第一腔室连接。

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