CN210516674U - 一种红外接收芯片测试修调系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种红外接收芯片测试修调系统，包括测试机、红外发光二极管和探针卡，所述测试机分别连接红外发光二极管和探针卡，待测的红外接收芯片放在探针卡上，所述红外接收芯片具有多个修调管脚，相邻的两个修调管脚之间接有二极管，还包括修调电路，所述修调电路包括多个模拟修调开关和多个实际修调开关，所述红外接收芯片中相邻的两个修调管脚分别连接一个模拟修调开关的两端，且分别经两个同步开闭的实际修调开关连接外部电源的正负两极，所述两个同步开闭的实际修调开关闭合则接通所述外部电源把对应两个修调管脚之间的二极管击穿。本系统可在测试出劣品红外接收芯片后，通过修调电路将劣品红外接收芯片的中频修调至标准值。

Description

一种红外接收芯片测试修调系统

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，特别涉及一种红外接收芯片测试修调系统。

背景技术

红外接收芯片内部集成有红外接收电路，红外接收芯片在接收到红外信号后，通过红外接收电路把红外信号调制成电流信号，从而把红外信号转换成所需要的遥控码，输出相应的功能。红外接收芯片的中频一般设为标准值37.5KHz，中频的计算公式为：中频＝(初始接收频率+截止接收频率)/2，其中初始接收频率是红外接收芯片初始接收到红外光时红外光的发光频率，即红外接收芯片能接收到红外光的最小发光频率，截止接收频率是红外接收芯片由接收到红外光变为接收不到红外光时红外光的发光频率，即红外接收芯片能接收到红外光的最大发光频率。

红外接收芯片在封装后需对其性能进行测试，以区分开中频为37.5KHz的良品红外接收芯片和中频不是37.5KHz的劣品红外接收芯片。现有测试方案为测试机直接控制红外发光二极管发出红外光至红外接收芯片，红外接收芯片对红外光进行解码并将解码数据反馈至测试机，以确定红外接收芯片的中频是否为37.5KHz，从而区分出良品和劣品。上述测试方案中，仅对红外接收芯片进行简单区分而不能对劣品红外接收芯片的中频进行修调，因此区分出劣品红外接收芯片后只能丢弃劣品，造成资源浪费。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是为软件工程师提供一种红外接收芯片测试系统的硬件结构，以使得软件工程师对该硬件结构中的测试机进行编程后，该测试系统能对红外接收芯片进行中频修调。

为解决上述技术问题，本实用新型提供一种红外接收芯片测试修调系统，包括测试机、红外发光二极管和探针卡，所述测试机分别连接红外发光二极管和探针卡，待测的红外接收芯片放在探针卡上，所述红外接收芯片具有多个修调管脚，相邻的两个修调管脚之间接有二极管，还包括修调电路，所述修调电路包括多个模拟修调开关和多个实际修调开关，所述红外接收芯片中相邻的两个修调管脚分别连接一个模拟修调开关的两端，且分别经两个同步开闭的实际修调开关连接外部电源的正负两极，所述两个同步开闭的实际修调开关闭合则接通所述外部电源把对应两个修调管脚之间的二极管击穿。

优选地，所述修调电路包括模拟修调继电器组和实时修调继电器组，所述模拟修调继电器组包括多个常开继电器，所述实时修调继电器组包括多个双刀切换继电器，所述模拟修调开关是常开继电器的常开触点开关，所述两个同步开闭的实际修调开关是双刀切换继电器的两个同步开闭的切换触点开关。

优选地，“所述两个同步开闭的实际修调开关闭合则外部电源把所述相邻的两个修调管脚之间的二极管击穿”的具体实施结构是：同一个双刀切换继电器中，第一个切换触点开关的切换端连接相邻两个修调管脚中的第一个修调管脚，常开端连接外部电源的正极，第二个切换触点开关的切换端连接相邻两个修调管脚中的第二个修调管脚，常开端连接外部电源的负极；相邻两个修调管脚之间的二极管负极连接第一个修调管脚，正极连接第二个修调管脚。

优选地，同一个双刀切换开关中，第一个切换触点开关的常闭端连接测试机，第二个切换触点开关的常闭端悬空。

优选地，所述多个常开继电器的线圈连接测试机。

优选地，所述多个双刀切换继电器的线圈连接测试机。

优选地，所述测试机是chroma测试机。

本实用新型提供的硬件结构具有以下有益效果：在软件工程师对硬件结构中的测试机进行编程后，在测出劣品红外接收芯片后，可通过测试机控制模拟修调开关闭合来模拟不同修调管脚之间短路，从而获得多组不同中频的修调管脚组合，其中必有一组修调管脚组合的中频接近标准值，测试机把该中频接近标准值的修调管脚组合记为最佳组合，然后测试机控制模拟修调开关重新断开，然后按照最佳组合来控制实际修调开关接通，则外部电源对最佳组合的修调管脚之间的二极管施加高压以将其击穿，从而完成修调动作，修调完成后的红外接收芯片的中频为标准值。

附图说明

图1是红外接收芯片测试修调系统的结构示意图；

图2是测试机与红外发光二极管的电路连接原理图；

图3是修调电路连接红外接收芯片的电路原理图。

附图标记说明：1-测试机；2-红外发光二极管；3-探针卡；4-红外接收芯片；5-模拟修调继电器组；6-实际修调继电器组。

具体实施方式

红外接收芯片测试修调系统如图1所示，包括测试机1、红外发光二极管2和探针卡3，测试机1分别连接红外发光二极管2和探针卡3，待测的红外接收芯片4放在探针卡3上，红外发光二极管2对准红外接收芯片4，探针卡3上的探针直接接触红外接收芯片4的管脚，从而把测试机1和红外接收芯片4连接起来，便于测试机1接收红外接收芯片4的解码数据。本实施例中，测试机1优选为chroma测试机。

测试机1与红外发光二极管2的电路连接原理图如图2所示，图2中的二极管D1是图1中的红外发光二极管2，二极管D1正极经电阻R1连接+5V电源，负极连接三极管Q1的集电极，三极管Q1基极连接图1中的测试机1的CH接口(CH是channel的缩写，意为输出通道)，发射极接地。测试机1通过IO控制来输出频率从5KHz逐步增加至60KHz的方波到三极管Q1的基极，则三极管Q1的发射频率从5KHz到60KHz逐步递增，使得二极管D1的发光频率也从5KHz到60KHz逐步递增，实现测试机1控制红外发光二极管2发出频率从5KHz到60KHz逐步递增的红外光至红外接收芯片4上。红外接收芯片4能对频率在其初始接收频率与截止接收频率之间的红外光进行解码，而红外接收芯片4的初始接收频率一般大于5KHz，截止接收频率一般小于60KHz，因此红外接收芯片4在接收到从5KHz到60KHz逐步递增的红外光后，能对位于初始接收频率与截止接收频率之间的红外光自行解码，例如，若红外接收芯片4的初始接收频率为10KHz，截止接收频率为40KHz，则红外接收芯片4能对10～40KHz区间中的红外光进行解码，并将解码数据反馈给测试机1，测试机1根据反馈回来的解码数据判断红外接收芯片4是否为良品，具体地，红外接收芯片4的中频计算公式为：中频＝(初始接收频率+截止接收频率)/2，若解码数据中红外光的中频为37.5KHz，则判断红外接收芯片4为良品；若解码数据中红外光的中频不是37.5KHz，则判断红外接收芯片4不是良品，此时对红外接收芯片4进行修调，从而将红外接收芯片4的中频调整至标准值37.5KHz。

如图3所示，红外接收芯片4内部设有六个修调管脚Trim1～Trim6，Trim1与Trim2之间、Trim2与Trim3之间、Trim3与Trim4之间、Trim4与Trim5之间、Trim5与Trim6之间各接有一个二极管，具体地：Trim1与Trim2之间的二极管D2正极连接Trim2，负极连接Trim1；Trim2与Trim3之间的二极管D3正极连接Trim3，负极连接Trim2；Trim3与Trim4之间的二极管D4正极连接Trim4，负极连接Trim3；Trim4与Trim5之间的二极管D5正极连接Trim5，负极连接Trim4；Trim6与Trim5之间的二极管D6正极连接Trim6，负极连接Trim5。通过击穿相邻修调管脚之间的二极管，可以使得这两个修调管脚相互短路，进而改变红外接收芯片4中的内部电路结构，使对红外接收芯片4的中频发生改变。

修调电路包括模拟修调继电器组5和实际修调继电器组6。模拟修调继电器组5包括五个常开继电器K1、K2、K3、K4和K5，常开继电器K1的常开触点两端分别连接Trim1和Trim2，常开继电器K2的常开触点两端分别连接Trim2和Trim3，常开继电器K3的常开触点两端分别连接Trim3和Trim4，常开继电器K4的常开触点两端分别连接Trim4和Trim5，常开继电器K5的常开触点两端分别连接Trim5和Trim6。常开继电器K1、K2、K3、K4和K5的线圈(图中未示出)得电则常开触点闭合，失电则常开触点保持断开，线圈连接测试机1，则线圈的得失电情况受测试机1控制，这属于现有常规技术，故在此不再赘述。

实际修调继电器组6包括五个双刀切换继电器K6、K7、K8、K9和K10，每个双刀切换继电器具有两个同步开闭的切换开关。继电器K6的第一个切换开关的切换端连接Trim1，常闭端连接测试机1的CH接口，常开端连接外部电源正极，第二个切换开关的切换端连接Trim2，常闭端悬空，常开端连接外部电源负极；继电器K7的第一个切换开关的切换端连接Trim2，常闭端连接测试机1的CH接口，常开端连接外部电源正极，第二个切换开关的切换端连接Trim3，常闭端悬空，常开端连接外部电源负极；继电器K8的第一个切换开关的切换端连接Trim3，常闭端连接测试机1的CH接口，常开端连接外部电源正极，第二个切换开关的切换端连接Trim4，常闭端悬空，常开端连接外部电源负极；继电器K9的第一个切换开关的切换端连接Trim4，常闭端连接测试机1的CH接口，常开端连接外部电源正极，第二个切换开关的切换端连接Trim5，常闭端悬空，常开端连接外部电源负极；继电器K10的第一个切换开关的切换端连接Trim5，常闭端连接测试机1的CH接口，常开端连接外部电源正极，第二个切换开关的切换端连接Trim6，常闭端连接测试机1的CH接口，常开端连接外部电源负极。继电器K6、K7、K8、K9和K10的线圈(图中未示出)得电则两个切换开关接通常开端，失电则两个切换开关保持接通常闭端，线圈连接测试机1，则线圈的得失电情况受测试机1控制，这属于现有常规技术，故在此不再赘述。

修调电路在初始状态时，双刀切换继电器K6～K10的两个切换开关都接常闭端，此时通过控制常开继电器K1～K5中的各个常开触点闭合来模拟不同修调管脚之间短路，即相当于模拟不同修调管脚之间的二极管被击穿短路，而不同修调管脚之间的短路情况会使得红外接收芯片4的中频发生相应改变，如此，通过依次测试常开继电器K1～K5所构成的2⁵＝32组修调管脚组合，在测试过程中不断通过测试机读取组合对应的中频，并从中找去中频接近标准值37.5KHz的修调管脚组合，从而获得2⁵＝32组不同中频的修调管脚组合，其中必有一组修调管脚组合的中频接近标准值37.5KHz，测试机1把该中频接近37.5KHz的修调管脚组合记为最佳Trim组合。

当得到最佳Trim组合后，测试机1控制常开继电器K1～K5的常开触点重新断开，然后按照最佳Trim组合来控制相应的双刀切换继电器K6～K10切换到常开端，则外部电源对最佳Trim组合的修调管脚之间的二极管施加12V高压以将其击穿，从而完成修调动作，修调完成后的红外接收芯片4的中频为37.5KHz。例如，若最佳Trim组合为Trim1+Trim2+Trim3，则需要击穿二极管D2和D3，因此测试机1先后控制双刀切换继电器K6和K7的两个切换开关切换到常开端，这样就分别对二极管D2和D3施加了12V高压以将其击穿，从而完成修调动作，修调完成后的红外接收芯片4的中频为37.5KHz。

由于在双刀切换继电器K6～K10接常闭端时，红外接收芯片4的修调管脚接通测试机1的CH接口，因此测试机1可以检测继电器K6～K10是否坏掉，具体地，若某个修调管脚始终连接测试机1，则证明对应该管脚的继电器始终处于闭合状态，即继电器已坏掉。例如，若Trim3始终连接测试机1，则证明继电器K8始终处于闭合状态，即继电器K8已坏掉，可能会导致红外接收芯片4误烧。

Claims (7)

1.一种红外接收芯片测试修调系统，包括测试机、红外发光二极管和探针卡，所述测试机分别连接红外发光二极管和探针卡，待测的红外接收芯片放在探针卡上，所述红外接收芯片具有多个修调管脚，相邻的两个修调管脚之间接有二极管，其特征是：还包括修调电路，所述修调电路包括多个模拟修调开关和多个实际修调开关，所述红外接收芯片中相邻的两个修调管脚分别连接一个模拟修调开关的两端，且分别经两个同步开闭的实际修调开关连接外部电源的正负两极，所述两个同步开闭的实际修调开关闭合则接通所述外部电源把对应两个修调管脚之间的二极管击穿。

2.根据权利要求1所述的红外接收芯片测试修调系统，其特征是：所述修调电路包括模拟修调继电器组和实时修调继电器组，所述模拟修调继电器组包括多个常开继电器，所述实时修调继电器组包括多个双刀切换继电器，所述模拟修调开关是常开继电器的常开触点开关，所述两个同步开闭的实际修调开关是双刀切换继电器的两个同步开闭的切换触点开关。

3.根据权利要求2所述的红外接收芯片测试修调系统，其特征是，“所述两个同步开闭的实际修调开关闭合则外部电源把所述相邻的两个修调管脚之间的二极管击穿”的具体实施结构是：同一个双刀切换继电器中，第一个切换触点开关的切换端连接相邻两个修调管脚中的第一个修调管脚，常开端连接外部电源的正极，第二个切换触点开关的切换端连接相邻两个修调管脚中的第二个修调管脚，常开端连接外部电源的负极；相邻两个修调管脚之间的二极管负极连接第一个修调管脚，正极连接第二个修调管脚。

4.根据权利要求3所述的红外接收芯片测试修调系统，其特征是：同一个双刀切换开关中，第一个切换触点开关的常闭端连接测试机，第二个切换触点开关的常闭端悬空。

5.根据权利要求2所述的红外接收芯片测试修调系统，其特征是：所述多个常开继电器的线圈连接测试机。

6.根据权利要求2或5所述的红外接收芯片测试修调系统，其特征是：所述多个双刀切换继电器的线圈连接测试机。

7.根据权利要求1所述的红外接收芯片测试修调系统，其特征是：所述测试机是chroma测试机。

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