CN210466368U - 一种ddr4 so-dimm测试诊断卡 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提出的一种DDR4 SO‑DIMM测试诊断卡，包括：电路板、连接端口、第一灯光指示模块、第二灯光指示模块、第一开关、第二开关和电源模块；第一灯光指示模块和第一开关均安装在电路板第一表面，第二灯光指示模块和第二开关均安装在电路板第二表面；电源和连接端口均安装在电路板上；第一灯光指示模块和第二灯光指示模块上均包含与待测试CPU上各测试支路一一对应的指示灯；所述测试诊断卡正插状态下，第一灯光指示模块朝上；所述测试诊断卡反插状态下，第二灯光指示模块朝上。
Description
技术领域
本实用新型涉及笔记本技术领域，尤其涉及一种DDR4 SO-DIMM测试诊断卡。
背景技术
现有笔记本内存槽测试时，要么测试方式复杂，要么测试工具成本高昂。另外，还有一些用于测试内存槽的诊断卡，虽然测试方便，但是当诊断卡反插时，指示灯朝下，不利于观察。
实用新型内容
基于背景技术存在的技术问题，本实用新型提出了一种DDR4 SO-DIMM测试诊断卡。
本实用新型提出的一种DDR4 SO-DIMM测试诊断卡，包括：电路板、连接端口、第一灯光指示模块、第二灯光指示模块、第一开关、第二开关和电源模块；
第一灯光指示模块和第一开关均安装在电路板第一表面，第二灯光指示模块和第二开关均安装在电路板第二表面；电源和连接端口均安装在电路板上；
第一灯光指示模块和第二灯光指示模块上均包含与待测试CPU上各测试支路一一对应的指示灯；
所述测试诊断卡正插状态下，第一灯光指示模块朝上，第一灯光指示模块中各指示灯与待测试CPU上对应的测试支路连接，且第一开关闭合状态下，电源模块通过连接端口连接待测试CPU，电源模块、待测试CPU、第一灯光指示模块和第一开关依次串联形成闭合回路；
所述测试诊断卡反插状态下，第二灯光指示模块朝上，第二灯光指示模块中各指示灯与待测试CPU上对应的测试支路连接，且第二开关闭合状态下，电源模块通过连接端口连接待测试CPU，电源模块、待测试CPU、第二灯光指示模块和第二开关依次串联形成闭合回路。
优选的，指示灯采用LED灯。
优选的，电源模块的负极分别通过第一开关和第二开关接地，电源模块的正极与连接端口连接；第一灯光指示模块中，各指示灯的负极均接地，各指示灯的正极均与连接端口连接；第二灯光指示模块中，各指示灯的负极均接地，各指示灯的正极均与连接端口连接。
优选的，第一开关第一端连接电源模块，第一开关第二端接地，第一灯光指示模块中，各指示灯的负极与第一开关的第二端等电位连接。
优选的，第二开关第一端连接电源模块，第一开关第二端接地，第一灯光指示模块中，各指示灯的负极与第一开关的第二端等电位连接。
优选的，第一灯光指示模块中和第二灯光指示模块中连接同一测试支路的指示灯的正极等电位连接。
优选的，电源模块采用电池。
优选的，电源模块采用蓄电池或者拆装电池。
本实用新型提出的一种DDR4 SO-DIMM测试诊断卡，通过第一灯光指示模块和第二灯光指示模块的设置，使得内存槽采用任一封装方向时，在通过该测试诊断卡测试时，均可实现指示灯朝上，从而方便观察测试结果。通过第一开关和第二开关的设置，可通过在该测试诊断卡正插时关闭第二开关，反插时关闭第一开关；从而避免第一灯光指示模块和第二灯光指示模块的相互串扰。
本实用新型中，通过电路板、连接端口、第一灯光指示模块和第二灯光指示模块的集合，形成诊断卡，方便测试时的正反插，且不会造成干涉。
附图说明
图1为本实用新型提出的一种DDR4 SO-DIMM测试诊断卡模块示意图；
图2为图1所示测试诊断卡正插工作原理图；
图3为图1所示测试诊断卡反插工作原理图。
具体实施方式
参照图1，本实用新型提出的一种DDR4 SO-DIMM(small outline dual in-linememory module，小外形双列直插式内存模块)测试诊断卡，包括：电路板、连接端口、第一灯光指示模块、第二灯光指示模块、第一开关K1、第二开关K2和电源模块BT1。
第一灯光指示模块和第一开关K1均安装在电路板第一表面，第二灯光指示模块和第二开关K2均安装在电路板第二表面。电源和连接端口均安装在电路板上。
第一灯光指示模块和第二灯光指示模块上均包含与待测试CPU上各测试支路一一对应的指示灯。
参照图2，所述测试诊断卡正插状态下，第一灯光指示模块朝上，第一灯光指示模块中各指示灯与待测试CPU上对应的测试支路连接，且第一开关K1闭合状态下，电源模块BT1通过连接端口连接待测试CPU，电源模块BT1、待测试CPU、第一灯光指示模块和第一开关K1依次串联形成闭合回路。
如此，测试诊断卡正插且第一开关K1闭合时，电源模块BT1给CPU供电，CPU进一步给第一灯光指示模块中各指示灯供电；当测试支路正常，则电源模块BT1的电流经CPU流向对应的指示灯正极，然后从指示灯负极到地，形成完整的电流回路，指示灯亮起，表明此路信号从CPU到SO-DIMM槽连接性没有问题；反之，如果任意测试支路对应的指示灯不亮，则表明此信号从CPU出来到SO-DIMM槽之间是没有连通的。
参照图3，所述测试诊断卡反插状态下，第二灯光指示模块朝上，第二灯光指示模块中各指示灯与待测试CPU上对应的测试支路连接，且第二开关K2闭合状态下，电源模块BT1通过连接端口连接待测试CPU，电源模块BT1、待测试CPU、第二灯光指示模块和第二开关K2依次串联形成闭合回路。
如此，测试诊断卡反插且第二开关K2闭合时，电源模块BT1给CPU供电，CPU进一步给第二灯光指示模块中各指示灯供电；当测试支路正常，则电源模块BT1的电流经CPU流向对应的指示灯正极，然后从指示灯负极到地，形成完整的电流回路，指示灯亮起，表明此路信号从CPU到SO-DIMM槽连接性没有问题；反之，如果任意测试支路对应的指示灯不亮，则表明此信号从CPU出来到SO-DIMM槽之间是没有连通的。
本实施方式中，测试诊断卡正反插由SO-DIMM DDR4内存槽的封装方向决定。本实施方式中，通过第一灯光指示模块和第二灯光指示模块的设置，使得内存槽采用任一封装方向时，在通过该测试诊断卡测试时，均可实现指示灯朝上，从而方便观察测试结果。通过第一开关K1和第二开关K2的设置，可通过在该测试诊断卡正插时关闭第二开关K2，反插时关闭第一开关K1；从而避免第一灯光指示模块和第二灯光指示模块的相互串扰。
本实施方式中，指示灯采用LED灯。
本实施方式中，电源模块BT1的负极分别通过第一开关K1和第二开关K2接地，电源模块BT1的正极与连接端口连接。第一灯光指示模块中，各指示灯的负极均接地，各指示灯的正极均与连接端口连接。以便在该测试诊断卡正插时，各指示灯通过连接端口与对应的测试支路连接。同理，第二灯光指示模块中，各指示灯的负极均接地，各指示灯的正极均与连接端口连接。
具体的，本实施方式中，第一开关K1第一端连接电源模块BT1，第一开关K1第二端接地，第一灯光指示模块中，各指示灯的负极与第一开关K1的第二端等电位连接。第二开关K2第一端连接电源模块BT1，第一开关K1第二端接地，第一灯光指示模块中，各指示灯的负极与第一开关K1的第二端等电位连接。
本实施方式中，第一灯光指示模块中和第二灯光指示模块中连接同一测试支路的指示灯的正极等电位连接，以方便连接端口的设置。
本实施方式汇总，电源模块BT1采用电池，具体的电源模块BT1的负极通过电阻R1分别连接第一开关K1和第二开关K2。具体的，电源模块BT1采用蓄电池或者拆装电池。
以上所述，仅为本实用新型涉及的较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种DDR4SO-DIMM测试诊断卡，其特征在于，包括：电路板、连接端口、第一灯光指示模块、第二灯光指示模块、第一开关(K1)、第二开关(K2)和电源模块(BT1)；
第一灯光指示模块和第一开关(K1)均安装在电路板第一表面，第二灯光指示模块和第二开关(K2)均安装在电路板第二表面；电源和连接端口均安装在电路板上；
第一灯光指示模块和第二灯光指示模块上均包含与待测试CPU上各测试支路一一对应的指示灯；
所述测试诊断卡正插状态下，第一灯光指示模块朝上，第一灯光指示模块中各指示灯与待测试CPU上对应的测试支路连接，且第一开关(K1)闭合状态下，电源模块(BT1)通过连接端口连接待测试CPU，电源模块(BT1)、待测试CPU、第一灯光指示模块和第一开关(K1)依次串联形成闭合回路；
所述测试诊断卡反插状态下，第二灯光指示模块朝上，第二灯光指示模块中各指示灯与待测试CPU上对应的测试支路连接，且第二开关(K2)闭合状态下，电源模块(BT1)通过连接端口连接待测试CPU，电源模块(BT1)、待测试CPU、第二灯光指示模块和第二开关(K2)依次串联形成闭合回路。
2.如权利要求1所述的DDR4SO-DIMM测试诊断卡，其特征在于，指示灯采用LED灯。
3.如权利要求1所述的DDR4SO-DIMM测试诊断卡，其特征在于，电源模块(BT1)的负极分别通过第一开关(K1)和第二开关(K2)接地，电源模块(BT1)的正极与连接端口连接；第一灯光指示模块中，各指示灯的负极均接地，各指示灯的正极均与连接端口连接；第二灯光指示模块中，各指示灯的负极均接地，各指示灯的正极均与连接端口连接。
4.如权利要求3所述的DDR4SO-DIMM测试诊断卡，其特征在于，第一开关(K1)第一端连接电源模块(BT1)，第一开关(K1)第二端接地，第一灯光指示模块中，各指示灯的负极与第一开关(K1)的第二端等电位连接。
5.如权利要求4所述的DDR4SO-DIMM测试诊断卡，其特征在于，第二开关(K2)第一端连接电源模块(BT1)，第一开关(K1)第二端接地，第一灯光指示模块中，各指示灯的负极与第一开关(K1)的第二端等电位连接。
6.如权利要求3所述的DDR4SO-DIMM测试诊断卡，其特征在于，第一灯光指示模块中和第二灯光指示模块中连接同一测试支路的指示灯的正极等电位连接。
7.如权利要求1所述的DDR4SO-DIMM测试诊断卡，其特征在于，电源模块(BT1)采用电池。
8.如权利要求7所述的DDR4SO-DIMM测试诊断卡，其特征在于，电源模块(BT1)采用蓄电池或者拆装电池。
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