CN210441992U - 一种防干扰的测温装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型属于测温领域，具体涉及一种防干扰的测温装置，具有测温仪，所述测温仪的前端为测温端，所述测温端具有一加长保护管，所述加长保护管的近端套设在测温端上，加长保护管的远端装有滤光片机构，所述加长保护管与测温仪同轴；垂直于加长保护管远端管口的光线通过所述滤光片机构进入加长保护管，从而解决现有技术中目标和测温仪受所在的环境条件的影响，导致被测目标测量值的不准确的问题，实现在强光及太阳光下，对金属表面温度进行准确测量的目的。
Description
技术领域
本实用新型涉及测温领域，具体涉及一种防干扰的测温装置。
背景技术
红外测温仪由光学系统、光电探测器、信号放大器及信号处理、显示输出等部分组成。光学系统汇集其视场内的目标红外辐射能量，视场的大小由测温仪的光学零件以及位置决定。红外能量聚焦在光电探测仪上并转变为相应的电信号。该信号经过放大器和信号处理电路按照仪器内部的算法和目标发射率校正后转变为被测目标的温度值。但是，在使用红外测温仪测温时，由于目标和测温仪所在的环境条件，会经常受到如温度、气氛、污染、强光及太阳光等因素的干扰，从而影响被测目标测量值的准确性。
实用新型内容
针对现有技术的不足，本实用新型提出一种防干扰的测温装置，具体为在现有的红外测温仪的测温前端加装一段加长保护管，大大降低光源对测温仪的干扰，以及在测温前，在保护管上再加装一块带通滤光片，进一步来减少光源干扰，从而解决现有技术中目标和测温仪受所在的环境条件的影响，导致被测目标测量值的不准确的问题。
本实用新型的技术方案是这样实现的：
一种防干扰的测温装置，具有测温仪，所述测温仪的前端为测温端，所述测温端具有一加长保护管，所述加长保护管的近端套设在测温端上，加长保护管的远端装有滤光片机构，所述加长保护管与测温仪同轴；垂直于加长保护管远端管口的光线通过所述滤光片机构进入加长保护管，实现在强光及太阳光下，对金属表面温度进行准确测量的目的。
所述的一种防干扰的测温装置，所述滤光片机构具有滤光片和壳体，所述壳体分为连接段和装镜段，所述滤光片安装在壳体的装镜段内，所述壳体通过连接段安装在加长保护管的远端。
所述的一种防干扰的测温装置，所述滤光片为带通滤光片。
所述的一种防干扰的测温装置，所述的带通滤光片为近红外窄带滤光片。
所述的一种防干扰的测温装置，所述带通滤光片的波长与测温仪的波长参数相适配。
所述的一种防干扰的测温装置，所述连接段的管壁上设有螺纹结构Ⅰ，对应的，所述加长保护管远端的管壁上设有与螺纹结构Ⅰ对应的螺纹结构Ⅱ，所述滤光片机构通过螺纹结构Ⅰ和螺纹结构Ⅱ的配合安装在加长保护管的远端，并通过螺纹结构调节滤光片与加长保护管远端之间的距离。
所述的一种防干扰的测温装置，所述加长保护管的长度为150-300mm。
所述的一种防干扰的测温装置，所述加长保护管为金属制加长保护管，其壁厚为0.1mm-5mm。
所述的一种防干扰的测温装置，测温时，滤光片机构距离待测金属表面100mm-200mm。
本实用新型具有以下有益效果：
本实用新型一种防干扰的测温装置在测温前加装一段与其同轴的加长保护管，只有垂直于管口的光线才可以进入，大大降低光源对测温仪的干扰。进一步地，在测温前，在保护管上再加装一块带通滤光片，令一定波长的光才能通过，其它波长的光不能通过，来减少光源干扰；从而实现该防干扰的测温装置在强光及太阳光下可对金属表面进行温度准确测量的目的。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型防干扰的测温装置的结构示意图；
图2为图1所示测温仪示意图。
图3为图1所示滤光片机构示意图。
附图标识：1-测温仪；2-测温端；3-加长保护管；4-滤光片机构，41-连接段，42-装镜段。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
如图1所示一种防干扰的测温装置，具有测温仪1，所述测温仪1的前端为测温端2，所述测温端2具有一加长保护管3，所述加长保护管3的近端套设在测温端2上，加长保护管3的远端装有滤光片机构4，所述加长保护管3与测温仪同轴；垂直于加长保护管3远端管口的光线通过所述滤光片机构4进入加长保护管3，实现在强光及太阳光下，对金属表面温度进行准确测量的目的。所述滤光片机构4具有滤光片和壳体，所述壳体分为连接段41和装镜段42，所述滤光片安装在壳体的装镜段42内，所述壳体通过连接段41安装在加长保护管3的远端。优选地，所述连接段41的外壁设有螺纹结构Ⅰ，对应的，所述加长保护管3远端的管内壁设有与螺纹结构Ⅰ对应的螺纹结构Ⅱ，所述滤光片机构4通过螺纹结构Ⅰ和螺纹结构Ⅱ的配合安装在加长保护管3的远端，并通过螺纹结构调节滤光片与加长保护管3远端之间的距离。滤光片机构4与加长保护管3远端之间的连接方式不限于螺纹结构连接，只要能实现二者安装固定，并可调节二者之间远近距离的结构均可。所述加长保护管3的长度为150-300mm，优选为200mm。加长保护管3的长度在此范围内，可达到有效降低光源对测温仪的干扰。所述加长保护管3为金属制加长保护管，其壁厚为0.1mm-5mm，优选为0.8mm。
所述滤光片为带通滤光片。所述带通滤光片的波长与测温仪1的波长参数相适配。所述的带通滤光片为近红外窄带滤光片，令一定波长的光才能通过，其它波长的光不能通过，来减少光源干扰。
测温时，滤光片机构4距离待测金属表面100mm-200mm。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (9)
1.一种防干扰的测温装置，具有测温仪，所述测温仪的前端为测温端，其特征在于，所述测温端具有一加长保护管，所述加长保护管的近端套设在测温端上，加长保护管的远端装有滤光片机构，所述加长保护管与测温仪同轴；垂直于加长保护管远端管口的光线通过所述滤光片机构进入加长保护管，实现在强光及太阳光下，对金属表面温度进行准确测量的目的。
2.如权利要求1所述的一种防干扰的测温装置，其特征在于，所述滤光片机构具有滤光片和壳体，所述壳体分为连接段和装镜段，所述滤光片安装在壳体的装镜段内，所述壳体通过连接段安装在加长保护管的远端。
3.如权利要求2所述的一种防干扰的测温装置，其特征在于，所述滤光片为带通滤光片。
4.如权利要求3所述的一种防干扰的测温装置，其特征在于，所述的带通滤光片为近红外窄带滤光片。
5.如权利要求3所述的一种防干扰的测温装置，其特征在于，所述带通滤光片的波长与测温仪的波长参数相适配。
6.如权利要求2所述的一种防干扰的测温装置，其特征在于，所述连接段的管壁上设有螺纹结构Ⅰ，对应的，所述加长保护管远端的管壁上设有与螺纹结构Ⅰ对应的螺纹结构Ⅱ，所述滤光片机构通过螺纹结构Ⅰ和螺纹结构Ⅱ的配合安装在加长保护管的远端，并通过螺纹结构调节滤光片与加长保护管远端之间的距离。
7.如权利要求1所述的一种防干扰的测温装置，其特征在于，所述加长保护管的长度为150-300mm。
8.如权利要求1所述的一种防干扰的测温装置，其特征在于，所述加长保护管为金属制加长保护管，其壁厚为0.1mm-5mm。
9.如权利要求1所述的一种防干扰的测温装置，其特征在于，测温时，滤光片机构距离待测金属表面100mm-200mm。
Priority Applications (1)
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2019
- 2019-10-21 CN CN201921766269.5U patent/CN210441992U/zh active Active
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