CN210243778U - 一种mos管检测装置 - Google Patents

Abstract

本申请提供一种MOS管检测装置，包括分压模块、多路采集开关模块以及主控模块；所述多路采集开关模块连接所述分压模块以及所述主控模块；所述分压模块，包括一个或多个输出端，用于在检测一个或多个MOS管时，每个所述输出端对应连接每个被检测的MOS管的漏极；所述多路采集开关模块，用于接收所述分压模块在检测一个或多个MOS管时输出的所有分压信号，以及在接收到所述主控模块发送的控制信号后，在所述控制信号的指示下，向所述主控模块输出其中一路分压信号；所述主控模块根据所述多路采集开关模块输出的一路分压信号，判断对应的MOS管的阻抗是否正常，实现自动检测MOS管的过程。

Description

一种MOS管检测装置

技术领域

本申请涉及电子元件技术领域，尤其涉及一种MOS管检测装置。

背景技术

随着液晶电视机等显示设备技术的更新换代，对液晶显示器的背光电源也提出了新的需求；目前市面上新流行的背光亮度调节使用PWM状态电流调节， PWM调光方式的电路最明显的特点是在LED电流的回路多了一颗开关管(即 MOS管)，该MOS管主要作用是控制流过LED电流的通断以达到PWM状态电流调光的效果。

但是，发明人在实现本申请的过程中，发现：正常工作过程中，电流回路中会串联很多颗LED灯，但是，当电路板在工厂生产测试、老化过程中，为了节约测试、老化成本，通常使用电子负载替代真实的LED灯珠负载，但由于电子负载本身特性在电路板开机、关机或者PWM调光状态时候容易导致通道 MOS管过压击穿损坏，或者损伤，或者MOS管器件本来来料异常；以上异常情况均无法避免且部分损伤状态无法通过工厂测试、老化排查出来，造成终端用户使用不良率较高；而现今PCBA加工厂基本无相应筛选设备或成熟的方法，故为了筛选出通道MOS管异常的产品，通常在电路板包装前安排人工用万用表对MOS管逐个进行检测来筛查，但所述人工筛查方法效率低下，筛查成功率受人为因素影响大，且操作性不强。

实用新型内容

有鉴于此，本申请提供一种MOS管检测装置，包括分压模块、多路采集开关模块以及主控模块；

所述多路采集开关模块连接所述分压模块以及所述主控模块；

所述分压模块，包括一个或多个输出端，用于在检测一个或多个MOS管时，每个所述输出端对应连接每个被检测的MOS管的漏极；

所述多路采集开关模块，用于接收所述分压模块在检测一个或多个MOS管时输出的所有分压信号，以及在接收到所述主控模块发送的控制信号后，在所述控制信号的指示下，向所述主控模块输出其中一路分压信号；

所述主控模块根据所述多路采集开关模块输出的一路分压信号，判断对应的MOS管的阻抗是否正常。

可选地，还包括电容充电模块；

所述电容充电模块，包括一个或多个输出端，用于在检测一个或多个带缓冲电容保护模块的MOS管时，每个所述输出端对应连接每个所述缓冲电容保护模块，以对所述缓冲电容保护模块进行充电。

可选地，还包括电源模块；

所述电源模块分别连接所述电容充电模块、所述分压模块、所述多路采集开关模块以及所述主控模块。

可选地，所述电容充电模块包括一个或多个电容充电电路；

所述电容充电电路由二极管和电阻串联组成；

所述电阻的输入端连接所述电源模块的输出端，且其输出端连接所述二极管的正极；

所述二极管的负极，用于在检测带缓冲电容保护模块的MOS管时，连接所述缓冲电容保护模块。

可选地，所述分压模块包括一个或多个分压电阻；

在检测一个或多个MOS管时，每个分压电阻对应连接每个被检测的MOS 管的漏极。

可选地，还包括至少一个滤波电容；所述滤波电容的数量对应于所述分压电阻的数量；

所述滤波电容的一端连接在所述分压电阻与所述多路采集开关模块之间，另一端接地。

可选地，还包括RC滤波模块；

所述RC滤波模块的一端连接在所述主控模块与所述多路采集开关模块之间，另一端接地；

所述主控模块通过所述RC滤波模块向所述多路采集开关模块输出控制信号。

可选地，所述RC滤波模块包括至少一个RC滤波电路；

所述RC滤波电路包括一电阻以及一电容，所述电阻串联在所述主控模块与所述多路采集开关模块之间，所述电容的一端连接所述电阻，另一端接地。

可选地，还包括第一去耦电容和第二去耦电容；

所述第一去耦电容的一端连接在所述电源模块与所述主控模块之间，另一端接地；

所述第二去耦电容的一端连接在所述电源模块与所述多路开关采集模块之间，另一端接地。

可选地，所述多路采集开关模块为N选1模拟开关芯片；N为大于1的整数；

所述主控模块为具有模数转换功能的芯片。

可选地，所述多路采集开关模块为N选1模拟开关芯片；N为大于1的整数；

所述主控模块不具有模数转换功能，所述装置还包括模数转换模块；

所述模数转换模块连接在所述多路采集开关模块与所述主控模块之间；

所述主控模块，还用于向所述模数转换模块发送转换控制信号以及输出控制信号；所述转换控制信号用于指示所述模数转换模块对输入的一路分压信号进行模数转换；所述输出控制信号，用于指示所述模数转换模块输出转换后的所述分压信号；

所述多路采集开关模块，还用于基于所述控制信号，向所述模数转换模块输出对应的一路分压信号；

所述模数转换模块，用于接收所述多路采集开关模块输出的一路分压信号；基于所述转换控制信号，将所述多路采集开关模块输出的一路分压信号从模拟信号转换为数字信号；以及根据所述输出控制信号，将转换后的分压信号发送给所述主控模块。

本申请实施例具有如下有益效果：

本申请实施例所提供的MOS管检测装置包括分压模块、多路采集开关模块以及主控模块，在检测MOS管时，所述分压模块连接MOS管的漏极，然后所述多路采集开关模块接收所述分压模块输出的所有分压信号，并在所述主控模块发送的控制信号的指示下，向所述主控模块输出其中一路分压信号，从而使得所述主控模块能够根据所述分压信号判断对应的MOS管的阻抗是否正常，实现了对MOS管的自动检测；在本申请实施例中，首先，实现基于所述主控模块对所述MOS管的阻抗的自动检测与分析，以确定所述MOS管是否功能正常，替代了原有人工手动检测，自动化测试方案有效提高了生产效率；其次，所述分压模块包括一个或多个输出端，在检测一个或多个MOS管时，每个所述输出端对应连接每个被检测的MOS管的漏极，使得所述分压模块在包括多个输出端时，可以同时检测多个MOS管，从而提高了MOS管检测装置的可拓展性和检测效率。

附图说明

图1为本申请示出的相关技术中模拟调电流调光方式与PWM电流调光方式结构对比示意图。

图2为本申请一示例性实施例示出的MOS管检测装置的结构图。

图3为本申请一示例性实施例示出的MOS管检测装置的第二种结构图。

图4为本申请一示例性实施例示出的MOS管检测装置的第三种结构图。

图5为本申请一示例性实施例示出的MOS管检测装置的第四种结构图。

图6为本申请一示例性实施例示出的MOS管检测装置的第五种结构图。

图7为本申请一示例性实施例示出的MOS管检测装置的第六种结构图。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本申请相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本申请的一些方面相一致的装置和方法的例子。

在本申请使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本申请。在本申请和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解，本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。

应当理解，尽管在本申请可能采用术语第一、第二、第三等来描述各种信息，但这些信息不应限于这些术语。这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区分开。例如，在不脱离本申请范围的情况下，第一信息也可以被称为第二信息，类似地，第二信息也可以被称为第一信息。取决于语境，如在此所使用的词语“如果”可以被解释成为“在……时”或“当……时”或“响应于确定”。

随着液晶电视机等显示设备技术的更新换代，对液晶显示器的背光电源也提出了新的需求；请参阅图1，传统的方式是背光电流大小是恒定的，通过调节电流的大小来调节LED的发光强度，但显示效果较差；而目前市面上新流行的背光亮度调节使用PWM状态电流调节，即通过背光LED灯的电流为PWM状态，通过调节PWM状态电流的占空比来调节实际显示的亮暗程度，该调光方式巧妙地利用了人眼的图像暂存效应，在视觉效果上降低背光亮度的同时，尽可能地保持最高的色彩真实度，保持屏幕的高质量显示效果。

如图1所示，PWM调光方式的电路最明显的特点是在LED电流的回路多了一颗开关管Q1(即MOS管)，该MOS管主要作用是控制流过LED电流的通断以达到PWM状态电流调光的效果。正常工作过程中，电流回路中会串联很多颗LED灯，但是，当电路板在工厂生产测试、老化过程中，为了节省测试、老化成本，通常使用电子负载替代真实的LED灯珠负载，但由于电子负载本身特性在电路板开机、关机或者PWM调光状态时候会导致通道MOS管过压击穿损坏，或者损伤，或者MOS管器件本来来料异常；以上异常情况均无法避免且部分损伤状态无法通过工厂测试、老化排查出来，造成终端用户使用不良率较高；而现今PCBA加工厂基本无相应筛选设备或成熟的方法，故为了筛选出通道 MOS管异常的产品通常在电路板包装前安排人工用万用表对MOS管逐个进行检测来筛查，但所述人工筛查方法效率低下，筛查成功率受人为因素影响大，且操作性不强。

本申请发明人发现正常情况下MOS管的漏极、源极间的阻抗为10兆欧姆以上甚至无穷大，在损伤、击穿损坏情况下MOS管的漏极、源极间的阻抗基本为2兆欧姆以下甚至更小，因此基于现有技术存在的上述问题，本申请实施例提供了一种MOS管检测装置，请参阅图2，为本申请一示例性实施例示出的 MOS管检测装置的结构图。

图2所示的实施例中，所述MOS管检测装置包括分压模块11、多路采集开关模块12以及主控模块13。

所述多路采集开关模块12连接所述分压模块11以及所述主控模块13。

所述分压模块11，包括一个或多个输出端，用于在检测一个或多个MOS 管时，每个所述输出端对应连接每个被检测的MOS管的漏极，且所述被检测的 MOS管的源极接地；其中，图2中的分压模块11的输出端处的序号标记“N”为大于1的整数。

所述多路采集开关模块12，用于接收所述分压模块11在检测一个或多个 MOS管时输出的所有分压信号，以及在接收到所述主控模块13发送的控制信号后，在所述控制信号的指示下，向所述主控模块13输出其中一路分压信号。

所述主控模块13根据所述多路采集开关模块12输出的一路分压信号，判断对应的MOS管的阻抗是否正常。

需要说明的是，所述MOS管检测装置还可包括电源模块14，所述电源模块 14分别连接所述分压模块11、所述多路采集开关模块12以及所述主控模块13，以分别为所述分压模块11、所述多路采集开关模块12以及所述主控模块13供电；可以理解的是，供电电压的具体数值根据实际的电路芯片进行具体设置，本申请对此不做任何限制，比如可以设置所述电源模块14提供3.3V的电压；另外，所述多路采集开关模块12与所述主控模块13接地。

在本实施例中，当检测一个或多个MOS管时，所述分压模块11的每个输出端对应连接每个被检测的MOS管的漏极，然后向所述多路采集开关模块12 输出所有的分压信号，并且所述主控模块13用于向所述多路采集开关模块12 发送控制信号，所述控制信号用于指示所述多路采集开关模块12输出其中一路分压信号，然后所述多路采集开关模块12在所述控制信号的指示下，基于从分压模块11接收的所有分压信号，输出对应的一路分压信号，最后所述主控模块 13根据所述多路采集开关模块12输出的一路分压信号，判断对应的MOS管的阻抗是否正常，实现对MOS的自动分析与检测，以所述电源模块14提供3.3V 的电压为例进行说明，根据电阻分压的特点，若被测MOS管正常，阻抗较大，则所述分压模块11输出的分压电压应该在3.3/2＝1.65V以上甚至接近3.3V，若 MOS管损坏或者损伤，阻抗较小，则所述分压模块11输出的分压电压(分压信号)在1.65V以下甚至接近0V；本实施例中所述多路采集开关模块12可以接收所述分压模块11输出的所有分压信号，所述主控模块13控制所述多路采集开关模块12的输出，且一次输出一路分压信号，使得所述主控模块13可以检测多个测试通道的MOS管的阻抗是否正常，且各通道之间的分压电压(即分压信号)互不影响，从而提高系统的集成性。

其中，所述多路采集开关模块12可以为N选1模拟开关芯片，N为大于1 的整数，即所述多路采集开关模块12向所述主控模块13输出的分压信号为模拟信号，所述主控模块13可以为具有模数转换功能的芯片，能够将所述分压信号从模拟信号转换为数字信号后进行逻辑分析处理，以确定对应的MOS的阻抗是否正常，可以理解的是，本申请对于所述多路采集开关模块12以及所述主控模块13的具体类型不做任何限制，可依据实际情况进行具体设置，例如所述多路采集开关模块12可以是8选1开关74HC4051，所述主控模块13可以是STM32芯片或者MSP430芯片等，其内部集成了AD转换器，如STM32芯片35、36、 37号为内部AD转换器的输入引脚。

在一种可能的实现方式中，所述主控模块13，还用于连接后端设备，以基于对MOS管的检测输出相应的检测结果；以加工厂流水线上通道MOS管检测为例进行说明，所述后端设备可以是显示报警设备，如电脑、平板等，所述主控模块13可以向所述后端设备输出所述MOS管的检测结果，或者在判断被测 MOS管的阻抗异常时，向所述后端设备输出报警信号；所述后端设备也可以是机械臂等抓取设备，所述主控模块13在判断被测MOS管的阻抗异常时，可以向所述后端设备发送抓取信号，以使所述后端设备在所述抓取信号的指示下，将异常的MOS管、PCBA板等移出产线；可以理解的是，所述主控模块13与后端设备的连接方式可依据实际情况进行具体设置，本申请对此不做任何限制，例如所述主控通信可以包括有通信接口(如STM32芯片上的串口通信接口 UART)，然后通过所述通信接口连接所述后端设备，或者也可以通过蓝牙、WIFI 等无线方式连接。

综上，在本申请实施例中，首先，实现基于所述主控模块13对所述MOS 管的电压的自动检测与分析，以确定所述MOS管是否功能正常，替代了原有人工手动检测，自动化测试方案有效提高了生产效率；其次，所述分压模块11包括一个或多个输出端，可依据实际情况设置具体数量的输出端，使得所述MOS 管检测装置可同时测试多个MOS管，并且具有可拓展性；并且，所述分压模块 11以及多路采集开关模块12可以作为一个整体移植到多种测试系统当中，搭配不同的主控电路组成新的测试电路，具有可移植性；需要说明的是，本实施例的装置不仅可用于测试任何用于显示设备如智能平板、液晶显示屏等的背光通道MOS管，还可用于其他功率MOS管、三极管的阻抗测试筛选，半导体IC引脚阻抗测试筛选等，具有可兼容性。

考虑到在实际应用过程中，可能基于实际情况采用或者选择了不具有模数转换功能的芯片，基于此，请参阅图3，为本申请一示例性实施例示出的MOS 管检测装置的第二种结构图。

图3所示的实施例中，所述主控模块13为不具有模数转换功能的芯片，所述MOS管检测装置包括分压模块11、多路采集开关模块12、模数转换模块15 以及主控模块13。

所述多路采集开关模块12与所述分压模块11、所述模数转换模块15以及所述主控模块13连接；所述模数转换模块连接在所述多路采集开关模块12与所述主控模块13之间。

所述分压模块11，包括一个或多个输出端，用于在检测一个或多个MOS 管时，每个所述输出端对应连接每个被检测的MOS管的漏极，且所述被检测的 MOS管的源极接地。

所述主控模块13用于向所述多路采集开关模块12发送控制信号，向所述模数转换模块15发送转换控制信号以及输出控制信号；所述控制信号用于指示所述多路采集开关模块12输出其中一路分压信号；所述转换控制信号用于指示所述模数转换模块15对输入的一路分压信号进行模数转换；所述输出控制信号，用于指示所述模数转换模块15输出转换后的所述分压信号。

所述多路采集开关模块12，用于接收所述分压模块11在检测一个或多个 MOS管时输出的所有分压信号，以及在接收到所述主控模块13发送的控制信号后，在所述控制信号的指示下，向所述模数转换模块15输出其中一路分压信号。

所述模数转换模块15，用于接收所述多路采集开关模块12输出的一路分压信号；基于所述转换控制信号，将所述多路采集开关模块12输出的一路分压信号从模拟信号转换为数字信号；以及根据所述输出控制信号，将转换后的分压信号发送给所述主控模块13。

所述主控模块13根据所述模数转换模块15输出的一路分压信号，判断对应的MOS管的阻抗是否正常。

需要说明的是，所述MOS管检测装置还包括电源模块14，所述电源模块 14分别连接所述分压模块11、所述多路采集开关模块12、所述模数转换模块 15以及所述主控模块13，以分别为所述分压模块11、所述多路采集开关模块 12、所述模数转换模块15以及所述主控模块13供电；并且，所述多路采集开关模块12、所述模数转换模块15与所述主控模块13接地。

可以理解的是，所述模数转换模块15的具体类型可依据实际情况进行具体设置，本申请对此不做任何限制，例如所述模数转换模块15可以为ADC0804 等；作为例子，所述转换控制信号可以为高电平，当转换控制信号变换为低电平时，触发所述模数转换模块15将当前所述多路采集开关模块12送来的模拟信号转换为数字信号；所述输出控制信号可以为高电平，当输出控制信号变换为低电平时，触发所述模数转换模块15将转换后的数字信号输送给所述主控模块13。

考虑到实际情况还存在带缓冲电容保护模块的MOS管，所述缓冲电容保护模块的作用是防止使用、生产、测试过程中的瞬态尖峰电压导致MOS管过压击穿损坏，加入该缓冲电容保护模块后，瞬态的尖峰电压通过二极管优先导到缓冲电容端，保护通道MOS管，但如果基于如图2或图3所示的MOS检测装置对带缓冲电容保护模块的MOS管进行检测，则会导致每个MOS管的测试时间加长，且采集的电压可能有一些偏差，原因在于(以电源模块14提供3.3V的电压为例进行说明)：分压的电阻较大，分压的总电压为3.3V，测试过程中若通道MOS管正常，阻抗较大，而缓冲电容上没有存储电压(测MOS管阻抗的时候，电路不工作)，导致分压电压优先给缓冲电容(通常100uF以上)充电，充电非常缓慢，可能导致采集的电压准确率下降，测试时间加长，效率不高；基于此，请参阅图4，为本申请一示例性实施例示出的MOS管检测装置的第三种结构图。

图4所示的实施例中，所述MOS检测装置包括电容充电模块16、分压模块 11、多路采集开关模块12以及主控模块13。

所述电容充电模块16，包括一个或多个输出端，用于在检测一个或多个带缓冲电容保护模块的MOS管时，每个所述输出端对应连接每个所述缓冲电容保护模块，以对所述缓冲电容保护模块进行充电；其中，图4中的电容充电模块 16的输出端处的序号标记“N”为大于1的整数。

所述分压模块11，包括一个或多个输出端，用于在检测一个或多个MOS 管时，每个所述输出端对应连接每个被检测的MOS管的漏极，且所述被检测的 MOS管的源极接地。

所述多路采集开关模块12，用于接收所述分压模块11在检测一个或多个 MOS管时输出的所有分压信号，以及在接收到所述主控模块13发送的控制信号后，在所述控制信号的指示下，向所述主控模块13输出其中一路分压信号。

所述主控模块13根据所述多路采集开关模块12输出的一路分压信号，判断对应的MOS管的阻抗是否正常。

需要说明的是，所述MOS管检测装置还包括电源模块14，所述电源模块 14分别连接所述电容充电模块16、所述分压模块11、所述多路采集开关模块 12以及所述主控模块13，以分别为所述电容充电模块16、所述分压模块11、所述多路采集开关模块12以及所述主控模块13供电；可以理解的是，供电电压的具体数值根据实际的电路芯片进行具体设置，本申请对此不做任何限制，比如可以设置所述电源模块14提供3.3V的电压；并且，所述多路采集开关模块12与所述主控模块13接地。

本申请实施例通过设置电容充电模块16，实现在测试带缓冲电容保护模块的MOS管时，能够对所述缓冲电容保护模块进行充电，避免在测试过程中分压电压优先给缓冲电容充电，从而缩短了测试时间，提高了测试准确率；而且，本申请实施例的MOS检测装置对于带或不带缓冲电容保护模块的MOS管都可以测试，具有兼容性。

请参阅图5，为本申请一示例性实施例示出的MOS管检测装置的第四种结构图。

图5所示的实施例中，以所述多路采集开关模块12(图5以多路采集开关电路为例进行说明)为8选1开关74HC4051，所述主控模块13(图5以主控电路为例进行说明)为STM32芯片，所述MOS管检测装置同时检测一个带缓冲电容保护模块的MOS管和一个不带缓冲电容保护模块的MOS管为例进行说明：

在本实施例中，所述分压模块11包括一个或多个分压电路，所述分压电路包括一分压电阻，在检测一个或多个MOS管时，每个分压电阻对应连接每个被检测的MOS管的漏极，且所述MOS管的源极接地，使得基准电压一致；可以理解的是，本申请对于所述分压电路的数量不做具体限制，比如图5示例性的MOS管检测装置中包括2个分压电路，分别由电阻R2、电阻R3构成的分压电阻，实际应用中可以基于实际情况设置更多数量的分压电路，从而使得本申请的MOS管检测装置具有可拓展性。

在本实施例中，所述电容充电模块16包括一个或多个电容充电电路，每个电容充电电路相互独立，互不影响，可以理解的是，本申请对于所述电容充电电路的数量不做具体限制，可以基于实际情况设置具体数量的电容充电电路，使得本申请的MOS管检测装置具有可拓展性。

其中，每个电容充电电路由二极管和电阻串联组成，比如图5所示的MOS 管检测装置中包括2个电容充电电路，由电阻R0和二极管D0构成的电容充电电路以及由电阻R1和二极管D1构成的电容充电电路；所述电阻的输入端连接所述电源模块14的输出端，且其输出端连接所述二极管的正极；所述二极管的负极，用于在检测带缓冲电容保护模块的MOS管时，连接所述缓冲电容保护模块，具体地，所述电源模块14通过所述电阻以及所述二极管接到MOS管的缓冲电容上，以给所述缓冲电容充电，其中，所述电容充电电路的二极管起到防止缓冲电容上的电压反冲导致所述MOS检测装置过压损坏的作用，所述电阻起到限流作用；需要说明的是，图5以所述缓冲电容保护模块为二极管DB1导向的电解电容CB1为例进行说明，在测试过程中，所述二极管D0的负极连接所述电解电容CB1，所述缓冲电容保护模块中的二极管DB1处于反偏状态，不导通，对测试无影响。

在一种可能的实现方式中，所述MOS管检测装置还包括至少一个滤波电容，所述滤波电容的数量取决于所述分压电路的数量；所述滤波电容的一端连接在所述分压电路与所述多路采集开关模块12之间，另一端接地，用于从分压信号中滤除干扰信号，使得分压信号更加稳定，比如图5所示的MOS检测装置中，包括两个分压电路，则相应有2个滤波电容，分别为电容CB109和电容CB110。

作为一种可能，如图5所示，所述MOS管检测装置还包括第一去耦电容 C1和第二去耦电容C2；所述第一去耦电容C1的一端连接在所述电源模块14 与所述主控模块13之间，另一端接地；所述第二去耦电容C2的一端连接在所述电源模块14与所述多路开关采集模块之间，另一端接地；所述第一去耦电阻 C1和第二去耦电阻C2均起到抗干扰的作用，保证电源模块14提供的电压的稳定性。

另外，如图5所示的MOS管检测装置，所述主控模块13通过3个引脚(引脚44、45、46)与所述多路采集开关模块12的3个引脚(引脚S0、S1、S2) 的连接，实现控制信号的输出，所述主控模块13通过控制3个引脚的电压状态 (高/低电平，以1表示高电平，0表示低电平)向所述多路采集开关模块输出相应的控制信号，3个引脚的电压状态自由组合，可以得出2³＝8种组合，请参阅表1(结合图5)，为所述主控模块13输出的控制信号的控制逻辑。

其中，所述多路采集开关模块12可以为N选1模拟开关芯片，N为大于1的整数，即所述多路采集开关模块12向所述主控模块13输出的分压信号为模拟信号，所述主控模块13为具有模数转换功能的芯片，能够将所述分压信号从模拟信号转换为数字信号后进行逻辑分析处理，以确定对应的MOS 的阻抗是否正常。

在一种可能的实现方式中，如图5所示，所述MOS管检测装置还包括RC 滤波模块，所述RC滤波模块的一端连接在所述主控模块13与所述多路采集开关模块12之间，另一端接地；所述主控模块13通过所述RC滤波模块向所述多路采集开关模块12输出控制信号；具体地，所述RC滤波模块包括至少一个RC 滤波电路，所述RC滤波电路的数量取决于所述主控模块13确定控制信号的引脚数量，比如图5中所述主控模块13由3个引脚确定控制信号，则相应有3个 RC滤波电路，且所述RC滤波电路包括一电阻以及一电容，所述电阻串联在所述主控模块13与所述多路采集开关模块12之间，所述电容的一端连接所述电阻，另一端接地，分别为电阻R4和电容C5组成的RC滤波电路、电阻R5和电容C4组成的RC滤波电路以及电阻R6和电容C3组成的RC滤波电路。

考虑到在实际应用过程中，可能基于实际情况采用或者选择了不具有模数转换功能的芯片，基于此，请参阅图6，为本申请一示例性实施例示出的MOS 管检测装置的第五种结构图。

图6所示的实施例中，所述主控模块13为不具有模数转换功能的芯片，所述MOS管检测装置包括电容充电模块16、分压模块11、多路采集开关模块12、模数转换模块15以及主控模块13。

所述多路采集开关模块12与所述分压模块11、所述模数转换模块15以及所述主控模块13连接；所述模数转换模块连接在所述多路采集开关模块12与所述主控模块13之间。

所述电容充电模块16，包括一个或多个输出端，用于在检测一个或多个带缓冲电容保护模块的MOS管时，每个所述输出端对应连接每个所述缓冲电容保护模块，以对所述缓冲电容保护模块进行充电。

所述分压模块11，包括一个或多个输出端，用于在检测一个或多个MOS 管时，每个所述输出端对应连接每个被检测的MOS管的漏极，且所述被检测的 MOS管的源极接地。

所述主控模块13用于向所述多路采集开关模块12发送控制信号，以及向所述模数转换模块15发送转换控制信号以及输出控制信号；所述控制信号用于指示所述多路采集开关模块12输出其中一路分压信号；所述转换控制信号用于指示所述模数转换模块15对输入的一路分压信号进行模数转换；所述输出控制信号，用于指示所述模数转换模块15输出转换后的所述分压信号。

所述多路采集开关模块12，用于接收所述分压模块11在检测一个或多个 MOS管时输出的所有分压信号，以及在接收到所述主控模块13发送的控制信号后，在所述控制信号的指示下，向所述模数转换模块15输出其中一路分压信号。

所述模数转换模块15，用于接收所述多路采集开关模块12输出的一路分压信号；基于所述转换控制信号，将所述多路采集开关模块12输出的一路分压信号从模拟信号转换为数字信号；以及根据所述输出控制信号，将转换后的分压信号发送给所述主控模块13。

所述主控模块13根据所述模数转换模块15输出的一路分压信号，判断对应的MOS管的阻抗是否正常。

需要说明的是，所述MOS管检测装置还包括电源模块14，所述电源模块 14分别连接所述电容充电模块16、所述分压模块11、所述多路采集开关模块12、所述模数转换模块15以及所述主控模块13，以分别为所述电容充电模块 16、所述分压模块11、所述多路采集开关模块12、所述模数转换模块15以及所述主控模块13供电；并且，所述多路采集开关模块12、所述模数转换模块 15与所述主控模块13接地。

请参阅图7，为本申请一示例性实施例示出的MOS管检测装置的第六种结构图。

图7所示的MOS管检测装置相对于图5所示的MOS管检测装置，在结构上增加上模数转换模块15(图7以ADC0804模数转换电路为例进行说明)，其他结构与图5类似，此处不再赘述。

图7所示的实施例中，所述模数转换模块15的CLK-R引脚以及CLK-IN引脚外接一RC时钟电路，以产生所述模数转换模块所需的时钟信号，其中时钟频率CLK＝1/1.1RC，频率范围在100KHZ～1.28MHZ之间，所述RC时钟电路包括一电阻R7以及一电容C6，所述电容C6的一端接地。

其中，所述ADC0804模数转换电路的CS引脚为芯片片选信号，低电平有效，即/CS＝0,该芯片才能正常工作；WR引脚启动ADC0804进行ADC采样，该信号低电平有效，即/WR信号由高电平变成低电平时，触发一次ADC转换；RD 引脚低电平有效，即/RD＝0时，可以通过数据端口DB0～DB7读出本次的采样结果；引脚Vin(+)和引脚Vin(-)模拟电压输入端，模拟电压输入接Vin(+) 端，Vin(-)端接地，双边输入时Vin(+)、Vin(-)分别接模拟电压信号的正端和负端；引脚V_REF/2参考电压接入引脚，该引脚可外接电压也可悬空，若外界电压，则ADC的参考电压为该外界电压的两倍，如不外接，则此时ADC的参考电压即为电源电压Vcc的值；引脚A-GND接模拟地；引脚INTR中断请求信号输出引脚，该引脚低电平有效，当一次A/D转换完成后，将引起/INTR＝0，实际应用时，该引脚应与微处理器的外部中断输入引脚相连，当产生/INTR信号有效时，还需等待/RD＝0才能正确读出A/D转换结果；引脚DB0～DB7用于输出A/D转换后的8位二进制结果。

其中，所述转换控制信号通常为高电平，当转换控制信号变换为低电平时，触发所述模数转换模块15将当前所述多路采集开关模块12送来的模拟信号转换为数字信号；所述输出控制信号通常为高电平，当输出控制信号变换为低电平时，触发所述模数转换模块15将转换后的数字信号输送给所述主控模块13。

虽然本说明书包含许多具体实施细节，但是这些不应被解释为限制任何实用新型的范围或所要求保护的范围，而是主要用于描述特定实用新型的具体实施例的特征。本说明书内在多个实施例中描述的某些特征也可以在单个实施例中被组合实施。另一方面，在单个实施例中描述的各种特征也可以在多个实施例中分开实施或以任何合适的子组合来实施。此外，虽然特征可以如上所述在某些组合中起作用并且甚至最初如此要求保护，但是来自所要求保护的组合中的一个或多个特征在一些情况下可以从该组合中去除，并且所要求保护的组合可以指向子组合或子组合的变型。

类似地，虽然在附图中以特定顺序描绘了操作，但是这不应被理解为要求这些操作以所示的特定顺序执行或顺次执行、或者要求所有例示的操作被执行，以实现期望的结果。在某些情况下，多任务和并行处理可能是有利的。此外，上述实施例中的各种系统模块和组件的分离不应被理解为在所有实施例中均需要这样的分离，并且应当理解，所描述的程序组件和系统通常可以一起集成在单个软件产品中，或者封装成多个软件产品。

由此，主题的特定实施例已被描述。其他实施例在所附权利要求书的范围以内。在某些情况下，权利要求书中记载的动作可以以不同的顺序执行并且仍实现期望的结果。此外，附图中描绘的处理并非必需所示的特定顺序或顺次顺序，以实现期望的结果。在某些实现中，多任务和并行处理可能是有利的。

以上所述仅为本申请的较佳实施例而已，并不用以限制本申请，凡在本申请的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请保护的范围之内。

Claims (11)

1.一种MOS管检测装置，其特征在于，包括分压模块、多路采集开关模块以及主控模块；

所述多路采集开关模块连接所述分压模块以及所述主控模块；

所述分压模块，包括一个或多个输出端，用于在检测一个或多个MOS管时，每个所述输出端对应连接每个被检测的MOS管的漏极；所述多路采集开关模块，用于接收所述分压模块在检测一个或多个MOS管时输出的所有分压信号，以及在接收到所述主控模块发送的控制信号后，在所述控制信号的指示下，向所述主控模块输出其中一路分压信号；

所述主控模块根据所述多路采集开关模块输出的一路分压信号，判断对应的MOS管的阻抗是否正常。

2.根据权利要求1所述的MOS管检测装置，其特征在于，还包括电容充电模块；

所述电容充电模块，包括一个或多个输出端，用于在检测一个或多个带缓冲电容保护模块的MOS管时，每个所述输出端对应连接每个所述缓冲电容保护模块，以对所述缓冲电容保护模块进行充电。

3.根据权利要求2所述的MOS管检测装置，其特征在于，还包括电源模块；

所述电源模块分别连接所述电容充电模块、所述分压模块、所述多路采集开关模块以及所述主控模块。

4.根据权利要求3所述的MOS管检测装置，其特征在于，所述电容充电模块包括一个或多个电容充电电路；

所述电容充电电路由二极管和电阻串联组成；

所述电阻的输入端连接所述电源模块的输出端，且其输出端连接所述二极管的正极；

所述二极管的负极，用于在检测带缓冲电容保护模块的MOS管时，连接所述缓冲电容保护模块。

5.根据权利要求1所述的MOS管检测装置，其特征在于，所述分压模块包括一个或多个分压电阻；

在检测一个或多个MOS管时，每个分压电阻对应连接每个被检测的MOS管的漏极。

6.根据权利要求5所述的MOS管检测装置，其特征在于，还包括至少一个滤波电容；所述滤波电容的数量对应于所述分压电阻的数量；

所述滤波电容的一端连接在所述分压电阻与所述多路采集开关模块之间，另一端接地。

7.根据权利要求1所述的MOS管检测装置，其特征在于，还包括RC滤波模块；

所述RC滤波模块的一端连接在所述主控模块与所述多路采集开关模块之间，另一端接地；

所述主控模块通过所述RC滤波模块向所述多路采集开关模块输出控制信号。

8.根据权利要求7所述的MOS管检测装置，其特征在于，所述RC滤波模块包括至少一个RC滤波电路；

所述RC滤波电路包括一电阻以及一电容，所述电阻串联在所述主控模块与所述多路采集开关模块之间，所述电容的一端连接所述电阻，另一端接地。

9.根据权利要求3所述的MOS管检测装置，其特征在于，还包括第一去耦电容和第二去耦电容；

所述第一去耦电容的一端连接在所述电源模块与所述主控模块之间，另一端接地；

所述第二去耦电容的一端连接在所述电源模块与所述多路采集开关模块之间，另一端接地。

10.根据权利要求1所述的MOS管检测装置，其特征在于，所述多路采集开关模块为N选1模拟开关芯片；N为大于1的整数；

所述主控模块为具有模数转换功能的芯片。

11.根据权利要求1所述的MOS管检测装置，其特征在于，所述多路采集开关模块为N选1模拟开关芯片；N为大于1的整数；

所述主控模块不具有模数转换功能，所述装置还包括模数转换模块；

所述模数转换模块连接在所述多路采集开关模块与所述主控模块之间；

所述主控模块，还用于向所述模数转换模块发送转换控制信号以及输出控制信号；所述转换控制信号用于指示所述模数转换模块对输入的一路分压信号进行模数转换；所述输出控制信号，用于指示所述模数转换模块输出转换后的所述分压信号；

所述多路采集开关模块，还用于基于所述控制信号，向所述模数转换模块输出对应的一路分压信号；

所述模数转换模块，用于接收所述多路采集开关模块输出的一路分压信号；基于所述转换控制信号，将所述多路采集开关模块输出的一路分压信号从模拟信号转换为数字信号；以及根据所述输出控制信号，将转换后的分压信号发送给所述主控模块。

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